Defect Intensityとは 意味・読み方・使い方

To provide a defect inspection device and a defect inspection method capable of enlarging a taking range of light scattered from a fine defect, and heightening signal intensity.例文帳に追加

微細な欠陥から散乱した光の取込範囲を拡大し信号強度を高める欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspecting device capable of reducing a loss of signal intensity, and capable of inspecting a defect accurately and precisely.例文帳に追加

信号強度のロスが少なく、正確で精度の高い欠陥検査を行うことができる欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect inspection device, capable of implementing defect inspection with correct, high accuracy, and less loss in the signal intensity.例文帳に追加

信号強度のロスが少なく、正確で精度の高い欠陥検査を行うことができる欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁

The defect determination circuit 55 determines the presence or absence of defects, based on the maximum intensity information.例文帳に追加

欠陥判定回路５５は、最大強度情報に基づいて、欠陥の有無を判定する。 - 特許庁

When detecting a painting defect based on the intensity of the light reflected from the paint film of the base material, with each detection result of the light reflected having an intensity below the exception intensity is excluded.例文帳に追加

基材の塗膜からの反射光の強度に基づいて塗装不良を検出する際に、前記除外強度以下の強度の反射光の検出結果を除外する。 - 特許庁

To precisely detect a defect having a low reflection echo intensity existing in a body to be inspected.例文帳に追加

被検査体中に存在する反射エコー強度が弱い欠陥を精度よく検出する。 - 特許庁

The determination is carried out by discriminating an existence of a defect in the measurement position in accordance with whether or not the intensity of the P polarized light component is within the reference intensity range and whether or not the intensity of the S polarized light component is within the reference intensity range and discriminating the type when there is a defect.例文帳に追加

この判定は、Ｐ偏光成分の強度が基準強度範囲外であるか否かとＳ偏光成分の強度が基準強度範囲外であるか否かとに応じて、測定位置での欠陥の有無を判別し且つ欠陥がある場合にはその種類を判別することでなされる。 - 特許庁

To prevent defect determination by an influence of erroneous defect data by reducing the influence of the erroneous defect data from an intensity value, when calculating the intensity value of one pixel portion by using beam data acquired from a plurality of data detection domains of the pixel.例文帳に追加

画素の複数のデータ検出領域から取得したビームデータを用いて一画素分の強度値を算出する場合において、強度値から誤欠陥データの影響を低減し、誤欠陥データの影響による欠陥判定を防ぐ。 - 特許庁