LIMIT SAMPLEとは 意味・読み方・使い方

A chip/sample synergy is released in advance to limit dimension processing for a scanning line.例文帳に追加

走査線に対する限界寸法処理に先立って、チップ・試料相乗解除が行われる。 - 特許庁

A band limit discrimination circuit 10 discriminates whether or not each sample point before and after received data has already been band- limit-processed.例文帳に追加

帯域制限判別回路１０では、入力されたデータの前後の各々のサンプル点が、既に帯域制限処理されたものであるか否かを判断する。 - 特許庁

When the concentration of the compound in the sample exceeds the solubility limit, particles of the test compound precipitate.例文帳に追加

試料中の化合物の濃度が溶解度限界を超える場合、試験化合物の粒子が沈殿する。 - 特許庁

In this case, when the interval of a maximum sample value and a minimum sample value in the amplitude limit read sample value sequence is pertinent to a prescribed high band wavelength interval, a high band emphasized read sample value sequence for which a high band is emphasized by increasing the maximum sample value and the minimum sample value is obtained.例文帳に追加

ここで、かかる振幅制限読取サンプル値系列における極大のサンプル値と極小のサンプル値との間隔が所定の高域波長間隔に該当するときこれら極大のサンプル値及び極小のサンプル値を増大せしめて高域強調した高域強調読取サンプル値系列を得る。 - 特許庁

A focal position is regulated to arrange the surface of a sample in an upper limit position of the depth of a focus or in a position slightly lower than the upper limit position when observing the sample in this scanning charged corpuscular beam device.例文帳に追加

本発明の走査荷電粒子線装置によると、試料の観察時に、試料の表面が焦点深度の上限の位置に又は上限の位置より僅か下方に配置されるように、焦点位置を調整する。 - 特許庁

Then, the heating part 2 of the heater 3 is faced out of the sample 1, and when the temperature of the portion on the heater 3 side of the sample 1 reaches the lower limit value, the heating part 2 of the heater 3 is faced to the sample 1.例文帳に追加

この後、ヒータ３の加熱部２が試料１から外れるようにし、試料１のヒータ３側の部位の温度が下限値に達したならば、ヒータ３の加熱部２が試料１を向くようする。 - 特許庁

A limit data memory 11 stores high level and low level limit data DH, DL and an input data memory 12 at stores input data given to a tested sample 2.例文帳に追加

リミットデータメモリ１１に高レベル側及び低レベル側のリミットデータＤＨ，ＤＬを、また入力データメモリ１２に被試験試料２に与える入力データを格納する。 - 特許庁

Since compressive stress and elastic stress are measured, while exerting shearing stress by rotational motion and the sample is ruptured without having to compress the plunger to the limit of the sample, its rupture stress and elastic limit stress are measured.例文帳に追加

回転運動によるずり応力を加えながら、圧縮応力と弾性応力を測定する為、試料の極限までプランジャーを圧縮しなくとも試料が破断するので破断応力、弾性限界応力を測定出来る。 - 特許庁