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M electronとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 M電子
「M electron」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 72件
A condenser lens 4, an electron beam deflector 5, and a mask M are arranged sequentially below the electron gun 3.例文帳に追加
電子銃3の下方には、順にコンデンサレンズ4、電子線偏向器5、マスクMが配置されている。 - 特許庁
The revolution orbit of the love of the electron of the first-generation star is 10^-14 m.例文帳に追加
1世代の星の電子のラブの公転軌道は10^−14mです。 - 特許庁
The alloying prevention layer 13 has an electron conductivity of 10^6 S/m or more and comprises a material which is not reactive with sulfide.例文帳に追加
この合金化防止層13は、電子伝導度が10^6S/m以上で、かつ硫化物と反応しない材料からなる。 - 特許庁
Various electron shells surrounding the nucleus are designated K, L, M … corresponding to the principal quantum numbers 1, 2, 3 … .発音を聞く 例文帳に追加
原子核を取り囲む様々な電子の殻は、主量子数1、2、3… に対応してK(殻)、L(殻)、M(殻)… と(記号で)示される。 - 科学技術論文動詞集
An abscissa shows a distance (m) from an irradiation point of an electron beam in a direction vertical to a light axis, and an ordinate shows a quantity of accumulated energy (J/m3) on the resist surface.例文帳に追加
横軸は電子線の入射点からの光軸に垂直な方向の距離[m]、縦軸はレジスト表面での蓄積エネルギー[J/m^3]を示す。 - 特許庁
The switching mechanism M may be a mechanical moving mechanism or an electron beam deflector.例文帳に追加
切り換え機構Mは、機械的移動機構でも電子ビーム偏向器でもよい。 - 特許庁
A molten part M is formed in the central part of a low vapor pressure metal in a crucible 121 by means of an electron beam 126 emitted from an electron gun 127, and a convection part C is formed in the vicinity of the part M.例文帳に追加
坩堝121内の低蒸気圧金属の中心部は電子銃127から放射される電子ビーム126によって溶融部Mを形成し、その周囲には対流部Cが形成される。 - 特許庁
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「M electron」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 72件
These electrons are generated as a result of electron avalanche in the p-D-M structure or injection process in the n^+-p-D-M structure.例文帳に追加
これらの電子は、p−D−M構造における電子なだれまたはn^+−p−D−M構造における注入プロセスの結果として生成される。 - 特許庁
The present circuit has m (m is an integral number more than 3) pieces of single electron transistors 20-23 having N (N is a natural number) pieces input gate electrodes 81, 82, and each single electron transistor is so adjusted so that input gate voltages Vin are adjusted different from each other to obtain the maximum conductance corresponding to m pieces of voltages.例文帳に追加
N(Nは自然数)個の入力ゲート電極81,82を有する単電子トランジスタ20〜23をm(mは3以上の整数)個備え、各単電子トランジスタは、m個の電圧値に対応してコンダクタンスが最大となる入力ゲート電圧Vinが互いに異なるように調整されている。 - 特許庁
P units of light steppers 7-17 having a throughput of M sheets per hour and Q units of electron beam exposure devices 2-4 having a throughput of (m) sheets per hour are used to manufacture a device.例文帳に追加
M枚/Hのスループットを持つ光ステッパー7〜17をP台と、m枚/Hのスループットを持つ電子線露光装置2〜4をQ台とを用いてデバイスを製造する。 - 特許庁
In formula (1), X is an electron withdrawing group without containing an aromatic ring; Y is a single bond or -(CH_2)_p- (p is 1-10); m+n+l=1; m>0; n>0; and 1≥0.例文帳に追加
[式(1)中、Xは芳香環を含まない電子求引基、Yは単結合又は−(CH_2)_p−(pは1〜10)であり、m+n+l=1、m>0、n>0、l≧0である。 - 特許庁
To provide an electron spectrometer capable of obtaining an image with a wide visual field even when an image magnification M of an input lens increases.例文帳に追加
インプットレンズの像倍率Mを大きくしても広い視野の像が得られる電子分光装置を提供すること。 - 特許庁
A sample for TEM observation employing fringes of equal thickness is obtained even in hexagonal system or orthorhombic system by setting the incident direction of an electron beam normal to face M or A.例文帳に追加
電子線の入射方向をM面あるいはA面に垂直方向とする事により、六方晶や斜方晶においても等厚干渉縞を用いたTEM観察用試料を得る。 - 特許庁
Here n is 1 to 3, M is a 13th group element (such as, B, Al), X an electron-attracting group (such as, OCOCF_3) and Y an oligo-ether group.例文帳に追加
nは1〜3、Mは13族元素(B,Al等)、Xは電子求引性基(OCOCF_3等)、Yはオリゴエーテル基である。 - 特許庁
Since the m surface is a non-polarised surface, unlike the C surface, when regrowing the GaN electron running layer 22 and the AlGaN electron supplying layer 26 with the m surface as a growth surface, a polarised charge of such as piezo charge does not grow on an interface of AlGaN/GaN hetero surface.例文帳に追加
m面は、C面とは異なり無極性面であるので、m面を成長面として、GaN電子走行層22、AlGaN電子供給層26を再成長させると、ピエゾ電荷等の分極電荷がAlGaN/GaNヘテロ界面に生じない。 - 特許庁
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