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Repeated Defectとは 意味・読み方・使い方
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「Repeated Defect」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 41件
A defect detection unit included in a defect correction device generates a defect region image being a difference image between a defect image of a repeated pattern in a multilayer substrate and a reference image.例文帳に追加
欠陥修正装置が備える欠陥検出部が、多層基板における繰り返しパターンの欠陥画像と参照画像との差画像である欠陥領域画像を生成する。 - 特許庁
When acquiring an image of a position specified by position information of a defect registered in the defect detection data by the imaging device, as for the repeated defect, control is performed, so as not to acquire repeatedly the image of the position of the repeated defect.例文帳に追加
欠陥検出データに登録されている欠陥の位置情報で特定される位置の画像を、撮像装置により取得する際に、重複欠陥については、当該重複欠陥の位置の画像を重複して取得しない制御を行う。 - 特許庁
A control device determines whether or not the same defect is registered repeatedly into at least two defect detection data, based on position information of each defect registered in the defect detection data respectively, and acknowledges that a defect acknowledged to be registered repeatedly is a repeated defect.例文帳に追加
制御装置が、欠陥検出データの各々に登録されている欠陥の位置情報に基づいて、同一の欠陥が少なくとも2つの欠陥検出データに重複して登録されているか否かを判定し、重複して登録されていると認定される欠陥を重複欠陥と認定する。 - 特許庁
To decide whether the defect generated on the surface of a substrate is the defect that arises from the defect existing on a prescribed pattern or not, in the substrate which is manufactured so that a repeated pattern is transferred on the major surface.例文帳に追加
主面に、繰り返しパターンが転写されて製造される基板において、その表面に生じる欠陥が、所定パターンに存在する欠陥に起因した欠陥であるか否かを確定する。 - 特許庁
The image blocks are compared relative to respective two adjacent repeated patterns, and a defect is detected from the difference between both blocks.例文帳に追加
この画像ブロックを、隣接する2つの繰返しパターン毎に比較し、両者の差から欠陥を検出する。 - 特許庁
A defect image of a repeated pattern in a multilayer substrate and a reference image are obtained, difference images between the obtained defect image and the reference image are generated by a control unit included in a defect correction device.例文帳に追加
多層基板における繰り返しパターンの欠陥画像と参照画像を取得し、欠陥修正装置が備える制御部により、取得された前記欠陥画像と前記参照画像の差分画像を生成する。 - 特許庁
To provide a defect inspection device capable of precise inspection of defects independent of pitch of repeated pattern on a substrate.例文帳に追加
基板に形成された繰り返しパターンのピッチによらず高精度な欠陥検査が行える欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
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「Repeated Defect」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 41件
Thus, it is possible to seek again a target position by avoiding a servo data defect area, and to avoid the repeated occurrence of the seek error caused by the servo data defect area.例文帳に追加
これにより、サーボ・データ欠陥領域を避けてターゲット位置に再シークすることができ、サーボ・データ欠陥領域によりシーク・エラーが繰り返し発生することを避けることができる。 - 特許庁
To dispense with repeated ledger management and filing of document copies even concerning inquiry about a commodity defect and a commodity.例文帳に追加
商品不具合や商品に関する問い合わせについて、幾重もの台帳管理や、書類のコピーのファイルが行われることを不要とする。 - 特許庁
When performing detection/automatic classification of a defect of the inspection object 1 having a repeated pattern such as a liquid crystal display device or a semiconductor wafer, the repeated pattern is divided beforehand into a plurality domains, and databases 71, 72, 73 for automatic classification differentiated by a domain on the repeated pattern to which a defect portion detected from an inspection image belongs are created.例文帳に追加
液晶表示装置や半導体ウェハ等の繰り返しパターンを持つ検査対象物1の欠陥を検出・自動分類する際、繰り返しパターンを予め複数の領域に分割し、被検査画像から検出された欠陥部位が上記繰り返しパターンのどの領域に属するによって異なった自動分類用データベース71,72,73を作成しておく。 - 特許庁
Successively, a control unit included in the defect correction device generates a composite image for decision by compositing the defect region image with an image including information of a relevant equal potential plane of the repeated pattern.例文帳に追加
続いて、欠陥修正装置が備える制御部が、その欠陥領域画像と繰り返しパターンの該当する等電位面の情報を含む画像とを合成して判定用の合成画像を生成する。 - 特許庁
To provide a configuration inspection technique to conduct exact defect inspection even when there are noises between image patterns indicating repeated patterns.例文帳に追加
繰り返しパターンを表す画像のパターン間にノイズが存在する場合でも、正確な欠陥検査を行う形状検査手法を提供する。 - 特許庁
The cycle of the thermal wave motion is changed, the measurement is repeated, and the internal defect in the specimen can be quantitatively detected.例文帳に追加
前記熱波動の周期を変更して、計測を繰り返すことにより、被検査体における内部欠陥を定量的に検出することができる。 - 特許庁
This processing is implemented for the entire captured image plane of the inspected object, repeated patterns are removed, and only the defect region is extracted with sensitivity.例文帳に追加
この処理を被検査対象物を撮像画像の全面に施し、繰り返しパターンを除去し欠陥部分のみを感度良く抽出する。 - 特許庁
The count number of the defects and the like are reset simultaneously with writing the count number into the memory, and counting is similarly repeated when the next defect start position is detected.例文帳に追加
欠点のカウント数等は、カウント数をメモリに書き出すと同時にリセットし、次の欠点開始位置を検出したら同様にカウントを繰り返す。 - 特許庁
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