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Repeated Defectの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 41件
A defect detection unit included in a defect correction device generates a defect region image being a difference image between a defect image of a repeated pattern in a multilayer substrate and a reference image.例文帳に追加
欠陥修正装置が備える欠陥検出部が、多層基板における繰り返しパターンの欠陥画像と参照画像との差画像である欠陥領域画像を生成する。 - 特許庁
When acquiring an image of a position specified by position information of a defect registered in the defect detection data by the imaging device, as for the repeated defect, control is performed, so as not to acquire repeatedly the image of the position of the repeated defect.例文帳に追加
欠陥検出データに登録されている欠陥の位置情報で特定される位置の画像を、撮像装置により取得する際に、重複欠陥については、当該重複欠陥の位置の画像を重複して取得しない制御を行う。 - 特許庁
A control device determines whether or not the same defect is registered repeatedly into at least two defect detection data, based on position information of each defect registered in the defect detection data respectively, and acknowledges that a defect acknowledged to be registered repeatedly is a repeated defect.例文帳に追加
制御装置が、欠陥検出データの各々に登録されている欠陥の位置情報に基づいて、同一の欠陥が少なくとも2つの欠陥検出データに重複して登録されているか否かを判定し、重複して登録されていると認定される欠陥を重複欠陥と認定する。 - 特許庁
To decide whether the defect generated on the surface of a substrate is the defect that arises from the defect existing on a prescribed pattern or not, in the substrate which is manufactured so that a repeated pattern is transferred on the major surface.例文帳に追加
主面に、繰り返しパターンが転写されて製造される基板において、その表面に生じる欠陥が、所定パターンに存在する欠陥に起因した欠陥であるか否かを確定する。 - 特許庁
The image blocks are compared relative to respective two adjacent repeated patterns, and a defect is detected from the difference between both blocks.例文帳に追加
この画像ブロックを、隣接する2つの繰返しパターン毎に比較し、両者の差から欠陥を検出する。 - 特許庁
A defect image of a repeated pattern in a multilayer substrate and a reference image are obtained, difference images between the obtained defect image and the reference image are generated by a control unit included in a defect correction device.例文帳に追加
多層基板における繰り返しパターンの欠陥画像と参照画像を取得し、欠陥修正装置が備える制御部により、取得された前記欠陥画像と前記参照画像の差分画像を生成する。 - 特許庁
To provide a defect inspection device capable of precise inspection of defects independent of pitch of repeated pattern on a substrate.例文帳に追加
基板に形成された繰り返しパターンのピッチによらず高精度な欠陥検査が行える欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
Thus, it is possible to seek again a target position by avoiding a servo data defect area, and to avoid the repeated occurrence of the seek error caused by the servo data defect area.例文帳に追加
これにより、サーボ・データ欠陥領域を避けてターゲット位置に再シークすることができ、サーボ・データ欠陥領域によりシーク・エラーが繰り返し発生することを避けることができる。 - 特許庁
To dispense with repeated ledger management and filing of document copies even concerning inquiry about a commodity defect and a commodity.例文帳に追加
商品不具合や商品に関する問い合わせについて、幾重もの台帳管理や、書類のコピーのファイルが行われることを不要とする。 - 特許庁
When performing detection/automatic classification of a defect of the inspection object 1 having a repeated pattern such as a liquid crystal display device or a semiconductor wafer, the repeated pattern is divided beforehand into a plurality domains, and databases 71, 72, 73 for automatic classification differentiated by a domain on the repeated pattern to which a defect portion detected from an inspection image belongs are created.例文帳に追加
液晶表示装置や半導体ウェハ等の繰り返しパターンを持つ検査対象物1の欠陥を検出・自動分類する際、繰り返しパターンを予め複数の領域に分割し、被検査画像から検出された欠陥部位が上記繰り返しパターンのどの領域に属するによって異なった自動分類用データベース71,72,73を作成しておく。 - 特許庁
Successively, a control unit included in the defect correction device generates a composite image for decision by compositing the defect region image with an image including information of a relevant equal potential plane of the repeated pattern.例文帳に追加
続いて、欠陥修正装置が備える制御部が、その欠陥領域画像と繰り返しパターンの該当する等電位面の情報を含む画像とを合成して判定用の合成画像を生成する。 - 特許庁
To provide a configuration inspection technique to conduct exact defect inspection even when there are noises between image patterns indicating repeated patterns.例文帳に追加
繰り返しパターンを表す画像のパターン間にノイズが存在する場合でも、正確な欠陥検査を行う形状検査手法を提供する。 - 特許庁
The cycle of the thermal wave motion is changed, the measurement is repeated, and the internal defect in the specimen can be quantitatively detected.例文帳に追加
前記熱波動の周期を変更して、計測を繰り返すことにより、被検査体における内部欠陥を定量的に検出することができる。 - 特許庁
This processing is implemented for the entire captured image plane of the inspected object, repeated patterns are removed, and only the defect region is extracted with sensitivity.例文帳に追加
この処理を被検査対象物を撮像画像の全面に施し、繰り返しパターンを除去し欠陥部分のみを感度良く抽出する。 - 特許庁
The count number of the defects and the like are reset simultaneously with writing the count number into the memory, and counting is similarly repeated when the next defect start position is detected.例文帳に追加
欠点のカウント数等は、カウント数をメモリに書き出すと同時にリセットし、次の欠点開始位置を検出したら同様にカウントを繰り返す。 - 特許庁
To prevent repeated rejection for the same reason by feeding back defect information on an application filed, in an electronic document examination/approval work system.例文帳に追加
電子文書の審査・承認ワークシステムにおいて、既に行われた申請における不具合情報をフィードバックして、同じ理由による却下の再発を防止する。 - 特許庁
A step from the selection of the section areas e to the image pick-up is repeated until the defect images of defects in all section areas are thoroughly acquired.例文帳に追加
すべての部分領域内の欠陥の欠陥画像が取得されるまで、部分領域の選択からeから撮像までの工程を繰り返す。 - 特許庁
When the coloring material is injected to the part from which the defect is removed by ink jet, injection and drying are repeated to perform correction with a high shape precision.例文帳に追加
欠陥が除去された部位にインクジェットにより着色材料を吐出させる際、吐出と乾燥を繰り返すことで、形状精度良く修正することが可能となる。 - 特許庁
To provide a curable composition for nanoimprint which causes no mold contamination or pattern defect even after repeated pattern transfer and excels in line edge roughness after dry etching.例文帳に追加
繰り返しパターン転写を行ってもモールド汚れ、パターン欠陥が発生せず、かつドライエッチング後のラインエッジラフネスに優れるナノインプリント用硬化性組成物を提供する。 - 特許庁
To provide a durable member hardly abraded by corrosion, and having repeated cryogenic durability and defect growth suppressing effect, and also to provide an open rack-type vaporizer using the same.例文帳に追加
腐食による損耗が生じにくく、また、繰り返し極低温耐久性や欠陥成長抑制効果を有する耐久性部材、および、これを用いたオープンラック式気化器を提供する。 - 特許庁
To provide an electrophotographic photoreceptor which provides an image of high resolution, reduces the occurrence of an image defect even in repeated use, makes such image defect inconspicuous even under severe conditions for the high resolution, and is excellent in electrical characteristics, and an image forming method using the electrophotographic photoreceptor.例文帳に追加
解像性の高い画像を得ることができ、繰り返し使用においても画像欠陥の発生が少なく、高解像性という厳しい条件下でも、かかる画像欠陥が目立たず、また電気特性に優れた電子写真プロセスを用いた画像形成方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a visual inspection device and a visual inspection method capable of defect detection even in a domain other than a repeated pattern domain without generating a reference image, when detecting a defect appearing in the appearance of a substrate on whose surface an electric pattern is to be formed or has been formed.例文帳に追加
表面に電気的パターンが形成される、又は形成された基板の外観に現れる欠陥を検出する際に、基準画像を生成することなく、繰り返しパターン領域以外の領域においても欠陥検出が可能な外観検査装置及び外観検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide a data erasing method of a nonvolatile semiconductor memory apparatus in which the occurrence of an infinitive loop in which erasure and write-in are repeated at the time of erasing data can be prevented and a products defect rate can be reduced.例文帳に追加
データ消去時に、消去と書き込みを繰り返す無限ループの発生を防止でき、製品不良率を低減できる不揮発性半導体記憶装置のデータ消去方法を提供する。 - 特許庁
To obtain three images which are to be compared in double detection through main scanning toward the same direction, and to perform main scanning in both the normal and reverse directions, in defect inspection for scanning a sample surface on which a repeated pattern where a plurality of basic patterns are repeated is formed, and comparing each image on corresponding parts of the plurality of respective basic patterns.例文帳に追加
複数の基本パターンが反復する反復パターンが形成された試料表面を走査し、複数の基本パターン相互の対応部分の画像同士を比較する欠陥検査において、ダブルデテクションで比較される3画像を同一方向に向かう主走査で取得しかつ正逆両方向において主走査を行う。 - 特許庁
To solve the problem wherein the access operation (track jump) of an optical pickup on an optical disk, when a light spot enters a defect position, is repeated with respect to the same position, or a servo is displaced and reproduction cannot be continued.例文帳に追加
光ディスクにおける光ピックアップのアクセス動作(トラックジャンプ)において、光スポットが傷位置へ突入すると、同じ位置へアクセス動作を繰り返したり、大きくサーボが外れて再生を継続できなくなる。 - 特許庁
To provide a processing method, not impairing the appearance even when washing is repeated without impairing the strength and the touch feeling by controlling fibrillation which is a defect of a polynosic fiber or a regenerated cellulose fiber produced by a solvent-spinning method.例文帳に追加
ポリノジック繊維や溶剤紡糸再生セルロース繊維の欠点であるフィブリル化を制御して、強度、風合いを損なうことなく、洗濯を繰り返しても外観を損なうことのない加工方法を提供する。 - 特許庁
A defect which is not repaired even after the forward bias Va and the reverse bias Vb are alternatively repeated several times onto the organic EL element 104, is repaired by emitting on it a third harmonic frequency of YAG laser from a laser device 24.例文帳に追加
有機EL素子104に順バイアスVaと逆バイアスVbを交互に複数回印加してもリペアされない欠陥に対して、レーザー装置24からYAGレーザーの第3高調波を出射してリペアする。 - 特許庁
Defect kind number distribution work is repeated when a plurality of defects of an inspection object exists after all is evaluation-finished, and a recipe file is output as the accumulated condition with the large defect signal intensity and an inspection condition item distribution as an inspection recipe to be provided to the inspection condition setting person.例文帳に追加
全て評価完了し、検査対象としたい欠陥が複数ある場合には欠陥種類数分作業を繰返し、蓄積された欠陥信号強度の大きい条件及び検査条件項目分布を検査条件レシピとして自動的にレシピファイルを出力して検査条件設定作業者に提供する。 - 特許庁
To provide a conductive endless belt having high durability enduring repeated continuous use and assuring a high quality image without inducing an image defect such as color dropping, and to provide an image forming apparatus using the belt.例文帳に追加
繰り返し連続使用に耐える高い耐久性を備え、色抜け等の画像不良を生ずることなく、高品質画像を確実に得ることができる高性能の導電性エンドレスベルトおよびこれを用いた画像形成装置を提供する。 - 特許庁
To provide a conductive endless belt having high durability enduring repeated continuous use and assuring a high-quality image without inducing an image defect such as color dropping, and to provide a method for manufacturing the belt and an image forming apparatus using the belt.例文帳に追加
繰り返し連続使用に耐えうる高い耐久性を備え、色抜け等の画像不良を生ずることなく、高品質画像を確実に得ることができる導電性エンドレスベルト、その製造方法およびそれを用いた画像形成装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing molding sand which is suitable to improve the dimensional stability in a casting, suitable to prevent the casting defect, such as mold cracking, veining, scab, burning, and has excellent heat- resistance, low thermal-expansion and regeneration efficiency in repeated use.例文帳に追加
鋳物の寸法安定性の改善や、型割れ、ベーニング、スクワレ、焼着などの鋳物欠陥防止に適した、耐熱性に優れ、低熱膨張性であり、かつ、再利用時の再生効率に優れた鋳型を得るための鋳物砂の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a thermal development apparatus which can prevent an image defect or carrying failure accompanying repeated use of the apparatus caused by condensation of a gas component generating from a heated film near the film exit opening.例文帳に追加
フィルムの出口開口近傍において加熱されたフィルムから発生するガス成分が凝集することに起因し装置の繰り返し使用に伴って発生し易い画像欠陥や搬送不良を未然に防止できる熱現像装置を提供する。 - 特許庁
When an inspection result indicating that a chip has a defect in electrical characteristics is repeated ten times continuously, whether the cause is due to adhesion or attachment of an insulating substance on the probe head or not is judged by conducting a needle-point test using the test pattern T.例文帳に追加
チップの電気的特性が不良であるという検査結果が、10回連続して得られた時には、その原因がプローブ先端への絶縁物の固着や付着にあるかどうかを、テストパターンTを使用した針先テストを行って判断する。 - 特許庁
An actual vehicle test is conducted using an ECU to analyze characteristics (S22), durability deterioration simulation is performed using a model while changing parameters (oil temperature TATF, etc.), to estimate gear shift defect event occurring in the simulation from model behavior changes (S26, S28), and endurance deterioration simulation is repeated until the gear shift defect event is removed to correct control algorithm (S30).例文帳に追加
ECUを用いて実機テストを行って特性を解析し(S22)、パラメータ(油温TATFなど)を変化させつつ、モデルを用いて耐久劣化シミュレーションを実行し、よって生じる変速不具合事象をモデル挙動変化から予測し(S26,S28)、変速不具合事象が解消されるまで、耐久劣化シミュレーションを繰り返しつつ、制御アルゴリズムを修正する(S30)。 - 特許庁
To provide a cemented carbide which enhances the hardness and strength, thereby acquires superior defect resistance and wear resistance, and can make a drill even with an extremely small diameter have a high positioning accuracy to a hole, even after repeated cutting work with a high speed, and to provide a drill using it.例文帳に追加
硬度・強度を高めることができて耐欠損性および耐摩耗性に優れるとともに、極小径化、高速切削において繰り返し加工によっても穴位置精度の高いドリルを作製可能な超硬合金、およびそれを用いたドリルを提供する。 - 特許庁
To provide an electrophotographic photoconductor that suppresses degradation in the sensitivity of the photoconductor due to influences of temperature and humidity, and having less changes in the sensitivity during repeated use and having high sensitivity, high response and no image defect or fogging, and to provide an image forming apparatus that uses the electrophotographic photoconductor.例文帳に追加
感光体の感度の温湿度の影響による悪化を抑制し、繰り返し使用時に感度変化が少なく、高感度、高応答を示し、画像の欠陥やカブリの無い電子写真感光体及びその電子写真感光体を用いた画像形成装置を提供する。 - 特許庁
To provide a display medium which displays defective sector information, reloading frequency and utilization state of recording medium of an optical recording medium which is used for an information processor and enables repeated recording/reproducing by using a medium image chart and enables confirming the more detailed state of defect distribution.例文帳に追加
情報処理装置に使用される繰り返し記録/再生の可能な光記録媒体の欠陥セクタ情報、書き換え回数、記録媒体の利用状態を媒体イメージ図を用いて表示し、より詳細な欠陥分布状態を確認可能な表示手段を提供する。 - 特許庁
To provide a belt-like electrophotographic photoreceptor which is tough in repeated use for a long period, free from a crack and film separation, durable against a stress caused by tension at the time of drive and stop, and which is free from an image defect such as moire, and to provided an image forming method and device using the photoreceptor.例文帳に追加
長期の繰り返し使用においても強く、クラックや膜剥がれなどをせず、駆動時、静止時のテンションによる応力にも強く、モアレなどの画像欠陥のないベルト状の電子写真感光体及びそれを用いた画像形成方法及び画像形成装置を提供する。 - 特許庁
When the retry requirement-judging means 69 judges that a pattern defect exceeding an amount being specified within a region range that is specified in advance exists during inspection, the repeated inspection instruction means 61 automatically inspects a region including the range at least for two times.例文帳に追加
リトライ必要性判定手段69により、検査中にあらかじめ指定された領域範囲内に指定された量以上のパターン欠陥があると判定した場合に、繰り返し検査命令手段61によりそこを含む領域に関して、自動的に2回以上繰り返し検査する。 - 特許庁
To detect defects even in incomplete unit patterns, in which parts of a pattern are absent in defect inspection for detecting defects present in the surfaces of samples, by comparing corresponding parts with one another of unit patterns which repeatedly appear in correspondence, to repeated patterns in inspection images acquired by imaging the surfaces of the samples in which the repetitive patterns are formed.例文帳に追加
繰り返しパターンが形成された試料の表面を撮像して得られる検査画像において、この繰り返しパターンに対応して繰り返し現れる単位パターンのそれぞれの対応する部分同士を比較することにより、試料の表面に存在する欠陥を検出する欠陥検査において、一部のパターンが欠けた不完全な単位パターンにおいても欠陥検出を可能にする。 - 特許庁
To provide an electrophotographic photoreceptor having a high sensitivity, especially a high sensitivity to a characteristic in semiconductor laser wavelength range, voltage stability in repeated use and low in image defect, especially black macular fogging in inversion developing, and a phthalocyanine crystal capable of applying to the photoreceptor, and also to provide preparative method for the crystal, a process cartridge having the photoreceptor and an electrophotographic device.例文帳に追加
高感度、特に半導体レーザー波長領域で高感度特性を有し、繰り返し使用時の電位安定性、加えて画像欠陥、特に反転現象系における黒ポチの少ない電子写真感光体、該感光体を供給し得るフタロシアニン結晶、該フタロシアニン結晶の製造方法、該感光体を有するプロセスカートリッジおよび電子写真装置を提供することにある。 - 特許庁
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