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applied voltage for testとは 意味・読み方・使い方
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「applied voltage for test」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 44件
The applied voltage is compared with the output voltage V for operational test.例文帳に追加
印加電圧と出力電圧Vとを比較して動作試験を行う。 - 特許庁
A DC unit 3 performs a DC test (DC current precision test) for measuring the output voltage, current applied voltage, and voltage applied current of the measured device 2.例文帳に追加
DCユニット3は、被測定デバイス2の出力電圧測定,電流印加電圧測定及び電圧印加電流測定を行うDCテスト(直流精度試験)を行う。 - 特許庁
This is the system for measuring maximum value of the source voltage applied as stress voltage in burn-in test of the semiconductor device.例文帳に追加
本発明は、半導体装置のバーンインテスト時にストレス電圧として印加される電源電圧の最大値を測定する装置に関する。 - 特許庁
The test strip and the test meter include structures for verifying the integrity of the test strip traces, to measure the parasitic resistance of the test strip traces, and to provide compensation in the voltage applied to the test strip deemed as parasitic resistive losses in the test strip traces.例文帳に追加
試験片と試験計器が試験片トレースの一体化を確証し、試験片トレースの寄生抵抗を測定し、さらに試験片トレース内の寄生抵抗損と見なす試験片に印加される電圧の補償を提供する構造を含む。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing apparatus and a test system for improving the stability in test quality by self-compensating the noise superimposed on a voltage applied to a device under test.例文帳に追加
半導体試験装置及びテストシステムに関し、被試験デバイスに印加する電圧に重畳されるノイズを自己補償して試験品質の安定性を向上する。 - 特許庁
To provide a signal measuring apparatus capable of shortening measuring time in measuring a signal output by a device under test for each voltage value when the voltage is applied to the device under test.例文帳に追加
電圧を試験対象機器に印加したときの電圧値毎に、試験対象機器が出力した信号を測定する際の測定時間を短縮することができる信号測定装置を提供すること。 - 特許庁
The test voltage 32 for testing the reliability of defect recognition at a predetermined level, duration, and frequency is applied to a fixed spark gap, and the pulse driving test voltages are generated by the high voltage generator 30 of the discharge tester.例文帳に追加
所定のレベルと持続時間と周波数での欠陥認識の信頼性を試験する試験電圧32を固定スパークギャップに印加し、これらのパルス駆動試験電圧を放電試験器の高電圧発生器30により生成する。 - 特許庁
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「applied voltage for test」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 44件
To provide a semiconductor device for performing a stress-applied test according to the voltage boosted in stress mode.例文帳に追加
ストレスモードにおいて昇圧された電圧に応じたストレス印加テストを行うことができる半導体装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
Preferably, a voltage is applied to wiring for test at a temperature of 60-125°C and at the relative humidity of 60-95% RH.例文帳に追加
配線に電圧を印加する際の試験環境は、温度60〜125℃、相対湿度60〜95%RHが好ましい。 - 特許庁
The voltage application part applies the voltage previously determined on a breakdown measurement circuit element 11 provided in the semiconductor integrated circuit and for measuring a test voltage applied to the semiconductor element.例文帳に追加
電圧印加部は、半導体集積回路に設けられた、半導体素子に印加する試験電圧を測定するための耐圧測定回路素子11に予め定められた電圧を印加する。 - 特許庁
To provide an X-ray protector apparatus for performing an X-ray protector operating test without increasing a voltage applied to a cathode ray tube and complicating control procedures for the test.例文帳に追加
X線プロテクタ動作試験を行うにあたり、ブラウン管に印加する電圧を増加させることなく、前記試験のための制御手順を複雑化させることもないX線プロテクタ装置を提供することである。 - 特許庁
The semiconductor integrated circuit incorporated with the circuit achieving the prescribed function includes: a test circuit simulating operation of the circuit; and a voltage control circuit for specifying a minimum voltage which is applied to the test circuit as drive power and wherein the operation of the circuit simulated by the test circuit is normal, and for setting a voltage of the drive power supplied to the circuit to be a value not less than the minimum voltage.例文帳に追加
所定の機能を実現する回路が組み込まれた半導体集積回路であって、前記回路の動作を模擬する試験回路と、前記試験回路に駆動電力として印加され、かつ前記試験回路によって模擬される前記回路の動作が正常である最小の電圧を特定し、前記回路に供給される駆動電力の電圧を前記最小の電圧以上の値に設定する電圧制御回路とを備える。 - 特許庁
Then, after the cable conductor is grounded, a prescribed voltage application pattern is applied in a plurality of times in the order from a low voltage side to a high voltage side as AC voltage application by a transformer 2 for a test, and the highest AC application voltage or field intensity by which the residual charge is measured and a residual charge total amount Q_E* are determined.例文帳に追加
ついで、ケーブル導体を接地した後に、試験用変圧器2により交流電圧課電として所定の課電パターンを低電圧側から高電圧側の順に複数回行い、残留電荷が測定される最高交流課電電圧あるいは電界強度と残留電荷総量Q_E ^* を求める。 - 特許庁
Or, the specific agent is added to the water for determining the presence or absence of corrosiveness by using the test electrode made of copper or a copper alloy, the counter electrode, the reference electrode, and the constant-current supply before the current value between the test and counter electrodes when a constant voltage is applied between the test and counter electrodes is measured.例文帳に追加
あるいは、銅または銅合金からなる試験極、対極、基準電極と定電流電源を用い、腐食性の有無を判定する水に特定の薬剤を添加したのち、試験極/対極の間に定電圧を印加したときの試験極/対極間の電流値を計測する。 - 特許庁
Almost equal voltage is applied to both of the source and the drain as test voltage for extracting the electric charges held in the gate from the floating gate.例文帳に追加
そのために、前記フローティングゲートから該ゲートに保持された前記電荷を引き抜くためのテスト電圧として、前記ソースおよび前記ドレインの両者にほぼ均等な電圧を印加する。 - 特許庁
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