conducting particleとは 意味・読み方・使い方

Desirably, the inorganic nano-particle bonded with the proton-conducting group is a product obtained by reacting a compound including a proton-conducting group with a precursor of a metal selected from Si, Ti, Zr, Al and B.例文帳に追加

望ましくは、プロトン伝導性基が結合された無機ナノ粒子は、Ｓｉ，Ｔｉ，Ｚｒ，ＡｌまたはＢから選ばれる金属の前駆体とプロトン伝導性基を含む化合物とを反応させた結果物である。 - 特許庁

To automatically detect the damaged site of a reticle in a charged-particle beam exposure device, regarding the device conducting an exposure by using charged-particle beams such as electron beams, ion beams or the like.例文帳に追加

本発明は、電子線、イオンビーム等の荷電粒子線を用いて露光を行う荷電粒子線露光装置に関し、レチクルの破損部位を装置内で自動的に検出することを目的とする。 - 特許庁

Catalyst supporting particles where a catalyst material 10 is supported on the surface of an electron conducting particle 1, and a catalyst, containing polymer electrolyte where a catalyst material 20, is dispersed in an ion conducting polymer 2 are present in mixture.例文帳に追加

電子伝導性粒子１の表面に触媒物質１０が担持された触媒担持粒子と、イオン伝導性ポリマー２中に触媒物質２０が分散した触媒含有高分子電解質とを混在させた。 - 特許庁

The method for measuring the particle size of the particle includes the first step of acquiring a specific Raman shift in the particle dispersed in the solid material, the second step of conducting the microscopic Raman spectroscopy for the solid material and performing a binarizing Raman chemical imaging on the basis of a prescribed Raman intensity threshold at the specific Raman shift for the particle, and the third step of calculating the particle size of the particle from a Raman chemical image obtained by the second step.例文帳に追加

固体材料中に分散した粒子に特異的なラマンシフトを得る第１工程と、該固体材料を顕微ラマン分光測定に付し、上記粒子に特異的なラマンシフトでの所定のラマン強度閾値に基づく２値化ラマンケミカルイメージングを行う第２工程と、該第２工程で得られたラマンケミカルイメージから上記粒子の粒径を算出する第３工程により、粒子の粒径を測定する。 - 特許庁

Since the conductive carbon is an ultrafine particle having such a primary particle diameter of 100 nm or smaller, a volume resistivity value of the carrier is reduced, and catalyst-electrode performance is improved by the improvement of electrical conducting property.例文帳に追加

１次粒子径１００ｎｍ以下というような極微細粒子状の導電性カーボンであれば、担体の体積固有抵抗値が低下し、電気伝導性が向上することにより、触媒・電極性能が向上する。 - 特許庁

To provide a focal evaluation method of charged particle beams and a charged particle beam device capable of conducting a quantitative focal evaluation of images without depending on an amount of patterns contained in a visual field.例文帳に追加

本発明は、視野内に含まれるパターンの量に依らず、画像の定量的な焦点評価を行うことが可能な荷電粒子ビームの焦点評価方法及び荷電粒子線装置の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide an indium oxide-based particle for forming a conducting film indicative of high transparency not only in the wavelength region of visible light but also in that of infrared light.例文帳に追加

可視光の波長領域のみならず、赤外光の波長領域において高透明性を示す導電膜を形成するための酸化インジウム系粒子を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a charged particle beam mask capable of manufacturing a charged particle beam mask in a good yield, by conducting an inspection of a foreign matter on the surface at the Si substrate side before an average surface roughness at the Si substrate side of a charged particle beam mask manufacturing substrate is defined and a prescribed position on the Si substrate is subjected to etching.例文帳に追加

荷電粒子線マスク製造用基板のＳｉ基板側の平均表面粗さを規定し、Ｓｉ基板の所定の箇所をエッチングする前に、Ｓｉ基板側表面の異物検査を行うことにより、荷電粒子線マスクを収率良く製造する荷電粒子線マスクの製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁