electric screeningとは 意味・読み方・使い方

I will ask you about last week's rejection of an application from TCI (the Children's Investment Fund) to acquire additional shares in J-Power (Electric Power Development Co.). Regardless of the conclusion of the screening, I think that it may be argued that the decision will discourage foreign investment in Japan on the grounds that the screening process is not transparent. What do you think in this regard?発音を聞く 例文帳に追加

先週のＴＣＩ（ザ・チルドレンズ・インベストメント・ファンド）によるＪパワー（電源開発）の株買い増し申請の件が却下されたということで、審査結果はともかく審査過程が不透明であるということで、一部対日投資離れを招くという指摘もあるかと思いますが、その点について長官の考えをお聞かせください。 - 金融庁

In the fabrication process of a rewiring structure, electric connection of an element electrode 11bi for use in burn-in screening and a common interconnect line for use in burn-in screening is interrupted selectively only for a semiconductor chip 10b judged rejective in electrical characteristics inspection by using a negative photosensitive material.例文帳に追加

再配線構造の製造工程において、ネガ型の感光性材料を使用することにより、電気特性検査にて不良と判定された半導体チップ１０ｂについてのみ、バーンインスクリーニングで使用するための素子電極１１ｂｉとバーンインスクリーニングで使用する共通配線との電気的接続を選択的に遮断する。 - 特許庁

In the second selection, a characteristic distribution calculator 3 acquires the electric characteristic distribution from the electric characteristic values of the semiconductor chips passing through the Go/Nogo test, and a second discrimination section 4 particularizes the semiconductor chips whose electric characteristic distributions are not within the distribution above to apply elimination (screening) to the semiconductor chips.例文帳に追加

第２の選別では、特性分布算出部３によりＧｏ／Ｎｏｇｏ試験をクリアーした半導体チップの電気的特性値から電気的特性分布を取得し、第２の判定部４により、この電気的特性分布から規定外分布に該当する半導体チップを特定して、当該半導体チップを除去（スクリーニング）する。 - 特許庁

The screening method comprises a step of measuring electric characteristics of a semiconductor element about each of semiconductor devices formed on the periphery of the semiconductor wafer among a plurality of the semiconductor devices formed on the wafer, and deciding whether the semiconductor device is defective or not based on the measurement result.例文帳に追加

本発明のスクリーニング方法では、本発明の半導体装置が複数形成された半導体ウェハにおいて、半導体ウェハの外周部に形成された半導体装置の各々について、半導体素子の電気的特性の測定を行い、この測定結果に基づいて、半導体装置の良否を判定する。 - 特許庁

In this method for evaluating or screening an olfactory sensibility inhibitor, a material is evaluated or selected, which can inhibit an electric activity generated by a cation channel by adding a test material to a substrate having a potential-dependent cation channel.例文帳に追加

電位依存性カチオンチャネルを有する基質に被験物質を添加し、当該カチオンチャネルにより生じる電気的活動を抑制させる物質を評価又は選択することを特徴とする、嗅覚感度抑制剤の評価又はスクリーニング方法。 - 特許庁

A glass raw material powdery or granular material is mixed with 0.1-25 wt.% of powder of transparent electroconductive metal oxide, heated, melted and cooled to give glass having ultraviolet/infrared/X-ray screening function and electric conductivity.例文帳に追加

ガラス原料粉粒体に透明導電性金属酸化物の粉末を０．１〜２５重量％の範囲で添加し、これを加熱溶融し、冷却することにより、紫外線・赤外線・Ｘ線の遮蔽機能を有し、かつ導電性を有するガラスを得ることができる。 - 特許庁

In the screening power transmission system 1 for the vehicle in which an outer periphery of an electric wire 22 is surrounded by a pipe 23 in the non-ventilation state, an outside air introduction port 43 for feeding cooling air from a fan device 50 to the inside and an air-discharge port 45 for discharging air at the inside are provided on pipe 23.例文帳に追加

電線２２の外周をパイプ２３によって非通気状態で包囲してなる車両用シールド送電システム１において、パイプ２３には、送風装置５０からの冷却風を内部に送り込むための外気導入口４３と、内部の空気を排出する排気口４５とが備えられている。 - 特許庁

The wafer level burn-in device and the wafer level burn-in method have an electric load application apparatus 105 for distributing each chip on the semiconductor wafer 101 into at least two groups, and giving an electric load to the chip of each group asynchronously, thus screening the semiconductor chip.例文帳に追加

上記目的を達成するために、本発明のウエーハレベルバーンイン装置およびウエーハレベルバーンイン方法は、半導体ウエーハ１０１上の各チップを少なくとも２組のグループに分配し、各グループのチップへの電気的負荷を非同期で与える電気的負荷印加装置１０５を有し、半導体チップのスクリーニングを行う。 - 特許庁