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impurity distributionとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 不純物分布
「impurity distribution」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 155件
MANUFACTURING METHOD OF SAMPLE FOR MEASURING IMPURITY DISTRIBUTION OF SEMICONDUCTOR AND MEASURING METHOD OF IMPURITY DISTRIBUTION例文帳に追加
半導体の不純物分布測定用試料の製造方法および不純物分布測定方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING IMPURITY DISTRIBUTION OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の不純物分布測定方法 - 特許庁
METHOD FOR CALCULATING IMPURITY DISTRIBUTION AND ITS COMPUTER PROGRAM例文帳に追加
不純物分布計算方法およびそのコンピュータプログラム - 特許庁
Impurity concentration is low in a channel region along the trenches, and the impurity concentration distribution is flattened.例文帳に追加
トレンチに沿ったチャネル層では不純物濃度が低くなり濃度分布が平坦化する。 - 特許庁
METHODS OF MEASURING IMPURITY CONCENTRATION DISTRIBUTION IN SILICON CARBIDE MATERIAL OR SILICON NITRIDE MATERIAL, AND IMPURITY CONCENTRATION DISTRIBUTION IN CERAMICS例文帳に追加
炭化ケイ素材または窒化ケイ素材の不純物濃度分布測定方法ならびにセラミックスの不純物濃度分布測定方法 - 特許庁
To provide an impurity concentration measuring method for quantitatively measuring an impurity concentration and measuring an impurity concentration distribution in a minute area.例文帳に追加
不純物濃度の定量的な測定や、微小領域の不純物濃度分布を測定することができる不純物濃度測定方法を提供する。 - 特許庁
MULTI-STAGE ION IMPLANTATION METHOD AND METHOD OF SIMULATING IMPURITY CONCENTRATION DISTRIBUTION例文帳に追加
多段イオン注入方法及び不純物濃度分布のシミュレーション方法 - 特許庁
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「impurity distribution」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 155件
The concentration of the primary p-type impurity concentration distribution at the pn junction is higher than that of the secondary p-type impurity concentration distribution at the pn junction.例文帳に追加
第1のp型不純物濃度分布のpn接合部での濃度は第2のp型不純物濃度分布のpn接合部での濃度よりも高い。 - 特許庁
To uniform a potential distribution between a first impurity region and a second impurity region (for example, a source and a drain).例文帳に追加
第1不純物領域−第2不純物領域間(たとえば、ソース−ドレイン間)の電位分布を均一にすること。 - 特許庁
To perform process simulation with high impurity distribution precision in a short computation time.例文帳に追加
短い計算時間で不純物分布精度の高いプロセスシミュレーションを行う。 - 特許庁
The distribution of impurity concentrations is provided in a p-type group-III nitride semiconductor layer 8.例文帳に追加
p型のIII族窒化物半導体層8に不純物濃度の分布を設ける。 - 特許庁
METHOD OF MEASURING IMPURITY CONCENTRATION DISTRIBUTION OF SEMICONDUCTOR WAFER AND APPARATUS FOR THE SAME例文帳に追加
半導体ウェハの不純物濃度分布測定方法およびそのための装置 - 特許庁
To carry out device simulation on the basis of a changed impurity- concentration distribution after impurity simulation data is changed by a simple operation.例文帳に追加
不純物シミュレーションデータを簡単な操作で変更して、変更後の不純物濃度分布に基づきデバイスシミュレーションを行うこと。 - 特許庁
A process simulator 21 executes process simulation to calculate a shape/impurity distribution 23.例文帳に追加
プロセスシミュレータ21は、プロセスシミュレーションを実行して形状・不純物分布23を算出する。 - 特許庁
METHOD FOR OPTIMIZING DENSITY DISTRIBUTION OF IMPURITY IN SEMICONDUCTOR DEVICE, AND EQUIPMENT AND RECORDING MEDIA THEREFOR例文帳に追加
半導体素子の不純物濃度分布の最適化方法、装置および記録媒体 - 特許庁
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