off-line testとは 意味・読み方・使い方

In a scan path test, the semiconductor integrated circuit device is provided with the number of the terminals of a test clock SCLK which is fewer than the number of domains of user clocks (UCLK1 to UCLK3) and comprises a test clock control circuit (TCLKCTL) for controlling whether a pulse of the test clock SCLK is allowed to propagate through a test clock line or to be cut off.例文帳に追加

スキャンパステストの際、ユーザクロック（ＵＣＬＫ１〜ＵＣＬＫ３）ドメイン数よりも少ない数のテストクロックＳＣＬＫの端子を確保し、テストクロックライン上にテストクロックＳＣＬＫのパルスを伝播するか遮断するかを制御するテストクロック制御回路（ＴＣＬＫＣＴＬ）を備えている。 - 特許庁

To provide a technique for properly managing a test of each modality in a medical system with the modalities enabling off-line operation.例文帳に追加

オフライン動作が可能なモダリティを備えた医療システムにおいて、各モダリティの検査を適切に管理可能とする技術を提供する。 - 特許庁

To provide a method which can test and confirm an off-line exchange structure used by a network exchange having a surplus exchange structure.例文帳に追加

余剰の交換機構造を有するネットワーク・交換機で使用するオフライン・交換機構造を試験し、確認することができる方法を提供する。 - 特許庁

A burn-in control circuit 30 turns off forcedly the transistor 103 in the local decoder corresponding to a word line to be activated at the burn-in test.例文帳に追加

バーンイン制御回路３０は、バーンイン試験時において、活性化の対象となるワード線に対応するローカルデコーダ内のトランジスタ１０３を強制的にターンオフする。 - 特許庁

The input termination control device of a semiconductor memory is constituted of an input termination for matching impedance when a signal is received at a transmission line, a test circuit receiving an input termination-off instruction and an off-release-instruction and outputting the input termination off-control signal, and first and second switch performing switching-on-off by the input termination on-off control signal of the test circuit.例文帳に追加

半導体メモリの入力ターミネーション制御装置において、伝送ラインに信号が受信されるときにインピーダンスをマッチングさせるための入力ターミネーションと、外部からテスト入力ピンを通して入力ターミネーションオフ命令及びオフ解除命令を受けて前記入力ターミネーションオン・オフ制御信号を出力するテスト回路と、前記テスト回路の入力ターミネーションオン・オフ制御信号によりスイッチングオン・オフする第１及び第２スイッチと、から構成される。 - 特許庁

To provide a foreign substance generation test method or the like, which can test easily off-line the generation status of foreign substances which are generated by the interaction of a functional liquid introduced into an ink-jet functional liquid drop discharge head with a tank pooling it.例文帳に追加

インクジェット方式の機能液滴吐出ヘッドに導入される機能液と、これを貯留するタンクとの相互作用により発生する異物の発生状況を、オフラインで簡単に試験することができる異物発生試験方法等を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of facilitating the measurement of pattern execution time performed for shortening test time and performing off-line measurement through the use of a simulator and to provide the simulator.例文帳に追加

テスト時間を短縮するために行うパターン実行時間の計測を、従来より容易に計測でき、更にシミュレータを用いてオフラインでも計測できる半導体試験装置及びそのシミュレータを提供する。 - 特許庁

At a retention test time, transistors Q21 and Q22 connected respectively to bit lines 2 and 3 are brought into an off state by a retention test signal RT, and one of the bit lines 2 and 3 is turned to a high impedance by a write driver 30 while '0' is outputted to the other bit line.例文帳に追加

リテンションテスト時に、リテンションテスト信号ＲＴによりビット線２，３にそれぞれ接続されたトランジスタＱ２１，Ｑ２２をオフ状態とするとともに、書き込みドライバ３０によりビット線２，３の一方をハイインピーダンスにし、かつ他方に「０」を出力するような構成とする。 - 特許庁