potential defectiveとは 意味・読み方・使い方

Then, the electrode images in the defective state and the potential images in the normal state are alternately displayed on a display.例文帳に追加

そして、故障状態の電位像と正常状態の電位像とを交互にディスプレイに表示する。 - 特許庁

At first, a correspondence relation (first calibration line) between a potential voltage contrast and the electric characteristics of a defective section is searched (S120 to S125), by using a reference material having a defective section whose configurations are known.例文帳に追加

先ず、構成が既知の欠陥部を有する参照試料を用いて、電位コントラストと、前記欠陥部の電気特性との対応関係（第１の検量線）を求める(S120-S125)。 - 特許庁

When a bit line BL is defective due to short-circuiting to the line of the ground potential GND, the P-channel MOS transistor 34 is made non-conductive, the current is prevented from leaking from the line of a power source potential VCC to the line of the ground potential GND through the defective bit line BL.例文帳に追加

ビット線ＢＬが接地電位ＧＮＤのラインにショートした不良ビット線である場合は、ＰチャネルＭＯＳトランジスタ３４は非導通になり、電源電位ＶＣＣのラインから不良ビット線ＢＬを介して接地電位ＧＮＤのラインに電流がリークすることが防止される。 - 特許庁

The potential contrast images of the uppermost interconnect lines 25 are changed corresponding to the layers where defective vias are located, so that all layers and spots where defective vias are located can be pinpointed on the basis of the potential contrast image.例文帳に追加

異常のあるビアの層に対応して最上層の配線２５の電位コントラスト像が変化されるので、当該電位コントラスト像から全ての層にわたって異常ビアの発生層と発生箇所を特定する事が可能になる。 - 特許庁

By performing actual measurement of the potential voltage contrast of the defective portion, it is possible to inspect the electric characteristics of the defective section actually included in a wafer to be inspected, by using the second calibration line (S132 to S133).例文帳に追加

欠陥部の電位コントラストを実測することにより、第２の検量線を用いて被検査ウエハに実際に含まれる欠陥部の電気特性を推定することができる(S132-S133)。 - 特許庁

To reduce a defective image due to the potential lowering when continuously charging a transfer memory, and to reduce defective transfer under a high humidity environment, as for an electrophotographic system using a positive charging organic photoreceptor.例文帳に追加

正帯電型有機感光体を用いた電子写真システムにおいて、転写メモリと連続帯電時の電位低下による画像不良の低減と、高湿下での転写不良を低減する。 - 特許庁

Due to this structure, gate pads 18 of cell blocks 12 of defective products can be wire-bonded to pads 19 having emitter potential.例文帳に追加

この構成の場合、不良品のセルブロック１２のゲートパッド１８を、エミッタ電位を有するパッド１９にワイヤボンディング可能となる。 - 特許庁

A sdefect detecting circuit 21 detects variation of the potential of a common node A, and detects whether defective multi-selection exists or not.例文帳に追加

不良検知回路２１は、共通ノードＡの電位変化を検出し、マルチ選択不良が存在するか否かを検出する。 - 特許庁