test callingとは 意味・読み方・使い方

A test signal generation circuit 23 generates a prescribed call signal 704 other than a call signal for calling another orderwire communication device 100, as a test signal and sends it to an orderwire line 310, and the prescribed call signal 704 is detected by a test signal detection circuit 20.例文帳に追加

テスト信号発生回路23が、他のオーダワイヤ通信装置100を呼び出す呼出信号以外の所定の呼出信号704をテスト用信号として発生してオーダワイヤ回線310に送出し、この所定の呼出信号704をテスト信号検出回路20が検出する。 - 特許庁

The test program is defined as a function with which the language for generating a test program is not provided, and a generic function is designated in a stack part 50 for calling a function with which the general function is provided, and the general argument is saved.例文帳に追加

テスト・プログラムは、テスト・プログラム作成用言語が備えていない関数であって、汎用関数が備えている関数を呼び出すべく、スタック部５０に汎用関数を指定し、汎用引数を待避させる。 - 特許庁

While the program is executing, test processing means 1d monitors whether the determined conditions are met, and if the conditions are met, the test processing means 1d refers to the definition information to perform an operation test of the program by calling the exception program components corresponding to the program.例文帳に追加

テスト処理手段１ｄは、当該プログラムの実行中に、特定した条件が満たされたかを監視し、当該条件が満たされると、定義情報を参照して、当該プログラムに対応する例外用プログラム部品を呼び出すことで当該プログラムの動作テストを行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing system for calling a generic function included in a test program generated by using language for generating a test program without especially generating for the general argument of the generic function.例文帳に追加

テスト・プログラム作成用言語を用いて作成されたテスト・プログラムに含まれる汎用関数を、その汎用関数の汎用引数について特別な準備をすることなく呼び出すことができる半導体試験システムを提供する。 - 特許庁

The method further comprises the steps of calling a subroutine (S2), and calculating an air force to be applied to the test model at next testing position and a deflecting amount of a supporting unit at this position from the air force.例文帳に追加

そして、サブルーチンが呼び出され（Ｓ２）、次の試験位置で試験模型に加わる空気力、この空気力から当該位置での支持装置の撓み量を算出する。 - 特許庁

A test program creation part 11 recognizes the hierarchical structure of the structure group received by a method of a test target and each value of a parameter inside the structure group based on the tag, and creates and outputs the test program 22 having a procedure of generating the structure group having the values and a procedure of calling the method of the test target with a structure positioned in the topmost position as an argument.例文帳に追加

テストプログラム作成部１１は、このタグに基づき、テスト対象のメソッドが受け取る構造体群の階層構造と構造体群中のパラメータの各値とを認識し、それらの値を持つ当該構造体群を生成する手続きと、最上位に位置する構造体を引数としてテスト対象のメソッドを呼び出す手続きとを有するテストプログラム２２を作成して出力する。 - 特許庁

An actual stub determining process 104 called from the tentative stub 103 when a test is conducted determines and executes the execution stubs a1 and a2 according to the argument values at the time of the tentative stub calling, the internal conditions, and the specific condition file 107.例文帳に追加

そして、テスト実施時に仮スタブ１０３から呼び出される実スタブ決定処理１０４が、仮スタブ呼び出し時の引数値及び内部条件と指定条件ファイル１０７とに基づいて、実行する実スタブａ１又はａ２を決定し、実行する。 - 特許庁