「"けいこうえっくすせんぶんせきほう"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

蛍光Ｘ線分析方法および装置例文帳に追加

FLUORESCENCE X-RAY ANALYZING METHOD, AND FLUORESCENCE X-RAY ANALYZER - 特許庁

全反射蛍光Ｘ線分析方法および装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR TOTAL REFLECTION X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS - 特許庁

蛍光Ｘ線分析方法及び蛍光Ｘ線分析装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR X-RAY FLUORESCENCE ANALYZING - 特許庁

蛍光Ｘ線分析方法および装置例文帳に追加

FLUORESCENCE X-RAY SPECTROMETRY AND FLUORESCENCE X-RAY SPECTROMETER - 特許庁

メッキ皮膜の蛍光Ｘ線分析方法例文帳に追加

X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS METHOD FOR PLATING FILM - 特許庁

蛍光Ｘ線分析方法およびその装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS - 特許庁

蛍光Ｘ線分析方法および装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR FLUORESCENCE X-RAY ANALYSIS - 特許庁

波長分散型蛍光Ｘ線分析方法および装置例文帳に追加

WAVELENGTH DISPERSIVE TYPE FLUORESCENT X-RAY ANALYTICAL METHOD AND DEVICE - 特許庁

蛍光Ｘ線分析方法および蛍光Ｘ線分析装置例文帳に追加

FLUORESCENCE X-RAY ANALYZING METHOD AND FLUOROSCENCE X-RAY ANALYZER - 特許庁

蛍光Ｘ線分析装置、蛍光Ｘ線分析方法及びプログラム例文帳に追加

APPARATUS AND METHOD FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS AND PROGRAM - 特許庁

蛍光Ｘ線分析装置及び蛍光Ｘ線分析方法例文帳に追加

X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER AND FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS METHOD - 特許庁

蛍光Ｘ線分析方法及び試料構造の評価方法例文帳に追加

FLUORESCENCE X-RAY ANALYSIS METHOD AND EVALUATION METHOD OF SAMPLE STRUCTURE - 特許庁

蛍光Ｘ線分析装置及び蛍光Ｘ線分析方法例文帳に追加

FLUORESCENCE X-RAY ANALYZER AND FLUORESCENCE X-RAY ANALYSIS METHOD - 特許庁

全反射蛍光Ｘ線分析方法および気相分解処理装置例文帳に追加

TOTAL REFLECTION FLUORESCENT X-RAY ANALYZING METHOD AND GASEOUS PHASE DECOMPOSITION TREATMENT APPARATUS - 特許庁

蛍光Ｘ線分析方法および蛍光Ｘ線分析装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS - 特許庁

土壌中金属分析の前処理方法およびこれを用いた蛍光Ｘ線分析法例文帳に追加

PRETREATMENT METHOD OF ANALYSIS OF METAL IN SOIL AND FLUORESCENT X-RAY ANALYZING METHOD USING METHOD - 特許庁

蛍光Ｘ線分析用試料、蛍光Ｘ線分析装置、及び蛍光Ｘ線分析方法例文帳に追加

SAMPLE FOR FLUORESCENCE X-RAY ANALYSIS, FLUORESCENCE X-RAY ANALYZING APPARATUS, AND FLUORESCENCE X-RAY ANALYZING METHOD - 特許庁

分析位置設定手段を備えた蛍光Ｘ線分析方法およびその装置例文帳に追加

X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS METHOD PROVIDED WITH ANALYSIS POSITION SETTING MEANS AND DEVICE THEREFOR - 特許庁

蛍光Ｘ線分析用試料保持具ならびにそれを用いる蛍光Ｘ線分析方法および装置例文帳に追加

SAMPLE HOLDER FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS, AND METHOD AND DEVICE FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS USING THE SAME - 特許庁

水中微量元素の蛍光Ｘ線分析方法、該方法に用いるカラムおよびシステム例文帳に追加

FLUORESCENT X-RAY ANALYZING METHOD OF VERY SMALL AMOUNT OF ELEMENT IN WATER, AND COLUMN AND SYSTEM USED THEREIN - 特許庁

分析用の薄膜試料切断器およびそれを用いた蛍光Ｘ線分析方法例文帳に追加

THIN-FILM SAMPLE CUTTER FOR ANALYSIS AND FLUORESCENT X-RAY ANALYZING METHOD USING IT - 特許庁

蛍光Ｘ線分析用試料保持具ならびにそれを用いる蛍光Ｘ線分析方法および装置例文帳に追加

SAMPLE HOLDER FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS AND FLUORESCENT X-RAY ANALYZING METHOD USING IT AND FLUORESCENT X-RAY ANALYZER - 特許庁

試料基板と反射板を用いてＸ線が多重全反射して収束する構成にした全反射蛍光Ｘ線分析法および該分析装置例文帳に追加

TOTAL REFLECTION FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS METHOD AND APPARATUS HAVING CONFIGURATION USING SAMPLE SUBSTRATE AND REFLECTOR FOR ACHIEVING MULTIPLE TOTAL REFLECTION AND CONVERGENCE OF X RAYS - 特許庁

全反射蛍光Ｘ線分析方法、全反射蛍光Ｘ線分析前処理装置及び全反射蛍光Ｘ線分析装置例文帳に追加

TOTAL REFLECTION FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS METHOD, TOTAL REFLECTION FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS PRETREATMENT DEVICE, AND TOTAL REFLECTION FLUORESCENT X-RAY ANALYZER - 特許庁

全反射蛍光Ｘ線分析用試料点滴基板および全反射蛍光Ｘ線分析装置ならびに全反射蛍光Ｘ線分析方法例文帳に追加

SPECIMEN DRIP SUBSTRATE FOR TOTAL-REFLECTION FLUORESCENCE X-RAY ANALYSIS, TOTAL REFLECTION FLUORESCENT X-RAY ANALYZER, AND TOTAL REFLECTION FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS METHOD - 特許庁

さらに、蛍光Ｘ線分析法を用いて、熱処理前後の金属帯上の炭素量の差を求めることが好ましい。例文帳に追加

Preferably, using a fluorescent X-ray analysis, the difference between the carbon amounts on the metal band before and after the heat treatment is determined. - 特許庁

炭素質材料の蛍光Ｘ線分析方法、蛍光Ｘ線分析装置、その制御方法及びそのプログラム例文帳に追加

FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS METHOD OF CARBONACEOUS MATERIAL, FLUORESCENCE X-RAY ANALYZER, ITS CONTROL METHOD, AND ITS PROGRAM - 特許庁

亜鉛系めっき鋼板上の表面処理被膜付着量の蛍光Ｘ線分析法によるオンライン測定例文帳に追加

ON-LINE MEASUREMENT BY METHOD FOR X-RAY FLUORESCENCE ANALYZING SURFACE TREATING FILM ADHERING AMOUNT ON ZINC- PLATED STEEL SHEET - 特許庁

作業効率に優れ、かつ安全に試料測定を行える蛍光Ｘ線分析装置及び蛍光Ｘ線分析方法を提供する。例文帳に追加

To provide a fluorescent x-ray analysis apparatus and a fluorescent x-ray analysis method having excellent operation efficiency and capable of safely measuring a sample. - 特許庁

蛍光Ｘ線分析用のドリフト補正試料ならびにそれを用いる蛍光Ｘ線分析方法およびその作製方法例文帳に追加

DRIFT CORRECTION SAMPLE FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS, FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS METHOD USING THE SAME, AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME - 特許庁

対象とする部材の近傍又は下方に測定の邪魔となる物質（妨害物質）が存在していても、対象とする部材に含まれる元素を精度よく分析できる蛍光Ｘ線分析方法及びその蛍光Ｘ線分析方法を実現する蛍光Ｘ線分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide a fluorescent X-ray analysis method which enables the precise analysis of the elements contained in a target member, even if a substance that obstructs measurement (interefering substance) is present in the vicinity of or under the target member, and to provide a fluorescent X-ray analyzer that realizes the fluorescent X-ray analysis method. - 特許庁

エネルギー分解能および検出効率ともに優れた、超微量分析を実現することのできる、新しい全反射蛍光Ｘ線分析法およびその装置を提供する。例文帳に追加

To provide a new total reflection X-ray fluorescence analysis method and a device for it capable of achieving an ultramicroanalysis with excellent energy resolution and detection efficiency. - 特許庁

ガラスビード作製装置およびガラスビード作製方法ならびに前記装置または方法によって作製されたガラスビードを分析する蛍光Ｘ線分析装置および蛍光Ｘ線分析方法例文帳に追加

APPARATUS AND METHOD FOR MANUFACTURING GLASS BEAD, AND FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS DEVICE AND METHOD FOR ANALYZING GLASS BEAD MANUFACTURED BY THE APPARATUS AND METHOD - 特許庁

蛍光Ｘ線分析方法では、炭素に対する感度がないが、第２の測定方法を利用することにより、定量可能とし、試料に含まれている元素の定量を非破壊で迅速に行う。例文帳に追加

Though not having sensitivity to carbon, in the fluorescence X-ray analysis method, determination is possible by utilizing the second measuring method, and an element contained in the sample can be determined quickly and nondestructively. - 特許庁

シリコン基板１３表面に存在する金属不純物１６を全反射蛍光Ｘ線分析法により定量分析する前に基板１３表面にフッ化水素酸蒸気を１〜１０分間接触させる。例文帳に追加

Before the metal impurities 16 existing on the surface of the silicon substrate 13 are quantitatively analyzed by a total reflection X-ray fluorescence method, hydrofluoric acid vapor is brought into contact with the surface of the substrate 13 for one to ten minutes. - 特許庁

膨大な量のテーブルを記憶するデータベースが無くても、強度を正確に算出し、正確な定量値を算出することのできる蛍光Ｘ線分析方法を提供する。例文帳に追加

To provide a fluorescent X-ray analysis method in which an accurate quantitative value can be calculated by accurately calculating strength even without data base for storing a huge number of tables. - 特許庁

後分析工程として、固液分離されたうちの固体成分を試料として蛍光Ｘ線分析法により有害物質の含有量を分析する。例文帳に追加

In a post-analysis process, the hazardous material content is analyzed by the fluorescence X-ray analysis method using a solid component after the liquid-solid separation as the sample. - 特許庁

簡単な前処理だけで固体試料に含まれる元素の高感度な定性分析又は高精度な定量分析を可能とする蛍光Ｘ線分析方法を提供する。例文帳に追加

To provide a fluorescent X-ray analysis method which performs high-sensitivity qualitative analyses and high-accuracy quantitative analysis of elements contained in a solid sample, only by carrying out simple pretreatments. - 特許庁

散乱線内標準法を用いる蛍光Ｘ線分析方法において、油類、有機溶媒、水溶液などの液体試料における軽元素の濃度を正確に算出できる方法を提供する。例文帳に追加

To provide a fluorescent X-ray analysis method using scattered radiation internal standard method which correctly can compute concentration of light element in a liquid sample such as oil, organic solvent, and water solution. - 特許庁

平滑な表面を有する基板とその表面に付着した点状の被測定物とからなる試料を、検出器に対し十分正確に位置設定して分析を行える蛍光Ｘ線分析方法および装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and a device for fluorescent X-ray analysis for making an analysis by setting accurately, to a detector, the position of a sample comprising a substrate with a smooth surface and a dotted measured object stuck to the surface. - 特許庁

より高感度、高精度の定量測定が可能な気相分解−全反射蛍光Ｘ線分析法を可能とする全反射Ｘ線分析方法および分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide a total reflection X-ray analyzing method which enables a gaseous phase decomposition-total reflection fluorescent X-ray analyzing method capable of a quantitative measurement of higher sensitivity and precision, and an analyzer therefor. - 特許庁

よって、試料３を自動的に検査できるので、迅速な検査を実現できるので、管理者および管理区域を要さず、従来の蛍光Ｘ線分析法に比較して、低コスト且つ迅速に試料３を検査できる。例文帳に追加

Since a sample 3 is automatically inspected, it is possible to achieve speedy inspection and speedily inspect the sample 3 at low costs in comparison with a conventional fluorescent X-ray analysis method without requiring a supervisor or a controlled area. - 特許庁

蛍光Ｘ線分析方法及び蛍光Ｘ線分析装置に関し、バックグランドを低減して検出感度を向上するとともに、分析対象以外の部位に由来する妨害元素の検出を抑えて分析精度を向上する。例文帳に追加

To provide a fluorescent X-ray analysis method and a fluorescent X-ray analyzer capable of improving detection sensitivity by reducing background, and improving analysis accuracy by preventing detection of a disturbance element originated in a portion other than an analysis object. - 特許庁

フローハンダ付けプロセスにおいてハンダ槽を管理するための蛍光Ｘ線分析法による溶融ハンダ材料の組成の定量分析を、より迅速かつより簡便な操作にて行うために有用な方法の提供。例文帳に追加

To provide a method useful for determining quantitatively a composition of a fused solder material by a fluorescent X-ray spectrometry, with a quick and simple operation, in order to control a solder vessel in a flow-soldering process. - 特許庁

試料の厚みに特定した所定の試料の補正を考慮した場合に、複雑な工程を不要としながらも精度の高い蛍光Ｘ線分析方法を可能とする。例文帳に追加

To enable an accurate fluorescent X-ray analysis method without a necessity of a complicated process when a correction of a predetermined sample is considered and specialized for an thickness of the sample. - 特許庁