「"ELEMENT MAPPING"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide an element mapping device whereby an element mapping image can be easily obtained.例文帳に追加

元素マッピング像が簡便に得られる元素マッピング装置を提供する。 - 特許庁

X-RAY ELEMENT-MAPPING DEVICE FOR CYLINDRICAL SAMPLE例文帳に追加

円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置 - 特許庁

REFERENCE SAMPLE FOR ELEMENT MAPPING OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ELEMENT MAPPING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

透過電子顕微鏡の元素マッピング用の標準試料およびそれを利用した透過電子顕微鏡の元素マッピング法 - 特許庁

To reduce the dispersion of SN ratios at each measuring point in the element mapping.例文帳に追加

元素マッピング時の各測定点におけるＳＮ比のばらつきを低減する。 - 特許庁

The C.V. value is calculated from element mapping by an electron beam microanalyzer.例文帳に追加

Ｃ．Ｖ．値は、電子線マイクロアナライザーによる元素マッピングから算出される。 - 特許庁

Element mapping is performed in the region of 200 μm×200 μm on the surface of a thick film resistor.例文帳に追加

元素マッピングは、厚膜抵抗体表面の２００μｍ×２００μｍの領域について行う。 - 特許庁

A syntactic element mapping part 13 generates semantic ingredients for the syntactic elements.例文帳に追加

構文的要素写像部１３は、構文的要素に対して意味構成要素を生成する。 - 特許庁

To improve an element mapping image in appearance of a difference between element distribution states without restricting the number of distribution screens of the element mapping image etc. and without reducing their sizes, in order to grasp an element distribution state of an element correctly.例文帳に追加

元素マッピング像などの分布画面の数の制限やサイズが小さくなることなく、元素マッピング像の元素分布状態の差異の見栄えが大いに向上させ、元素の分布状態を正しく把握できるようにする。 - 特許庁

An electron beam transmitting through an object 5 to be analyzed in this scanning transmission electron microscope enters the element mapping device.例文帳に追加

走査透過型電子顕微鏡装置で分析対象物（５）を透過した電子線は元素マッピング装置に入射する。 - 特許庁

To perform high-accuracy composition even if no light-and-shade pattern exists in an overlapping portion of neighboring element mapping images.例文帳に追加

隣接する元素マッピング像のオーバーラップ部分に濃淡のパターンが存在しない場合でも精度の高い合成を可能とする。 - 特許庁

To provide a reference sample for element mapping of a transmission electron microscope, capable of being used for compensating results of SEM, EDS and EELS mappings of a multilayer nano thin film and capable of optimizing mapping conditions, and to provide an element mapping method for the transmission electron microscope using the reference sample.例文帳に追加

多層ナノ薄膜のＳＥＭ ＥＤＳ、ＥＥＬＳマッピング結果を補正するのに利用可能で、マッピング条件を最適化させることができる、透過電子顕微鏡の元素マッピング用の標準試料およびそれを利用した透過電子顕微鏡の元素マッピング法を提供する。 - 特許庁

To solve the problem that the accuracy of element mapping due to electron beam scanning is lowered because of the non-uniformity of the sensitivity distribution in the point focal region of a polycapillary for converging inherent X rays.例文帳に追加

固有Ｘ線を収束するポリキャピラリの点焦点領域内での感度分布の不均一性のために、電子線走査による元素マッピングの正確性が低下する。 - 特許庁

X-RAY BEAM SOURCE, X-RAY BEAM IRRADIATOR, X-RAY BEAM RADIOGRAPHIC DEVICE, X-RAY BEAM COMPUTER TOMOGRAPHY DEVICE, X-RAY ELEMENT MAPPING EXAMINATION APPARATUS AND X-RAY BEAM FORMING METHOD例文帳に追加

Ｘ線ビーム源、Ｘ線ビーム照射装置、Ｘ線ビーム透過撮影装置、Ｘ線ビームＣＴ装置、Ｘ線元素マッピング検査装置及びＸ線ビーム形成方法 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope for analysis having an analyzing function accurately performing element analysis and element mapping at a specific area of a sample at a correct analysis position (consonance of electron beam) with a simple constitution without providing an equivalent circuit on a scanning electron microscope side and an external analyzer side.例文帳に追加

走査電子顕微鏡本体側と外部分析装置側に同等の回路を備えることなく、簡単な構成により、試料の特定領域の元素分析や元素マッピングを正しい分析位置（電子ビーム一致）で正確に行うことができる分析機能を有した分析走査電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

A method and a device for determining a position to detect a charged particle by comparing a dyed optical microscopic image with an element mapping image formed based on a X-ray detected by irradiation of a charged particle beam are provided.例文帳に追加

本発明では、上記目的を達成するために、染色された光学顕微鏡像と、荷電粒子線の照射によって検出されるＸ線に基づいて形成される元素マッピング像を比較することによって、荷電粒子検出のための位置を決定する方法、及び装置を提供する。 - 特許庁

The total of the ratio occupied by a phase having a high Mg concentration and a phase having a high Al concentration than that of the host phase confirmed by a host phase confirmed by a COMP image of 500 magnifications by the EPMA of the cross-sectional structure in the alloy and the element mapping image of Mg and Al produced by a strip casting process is ≤5.0% in the whole.例文帳に追加

）で表される組成を有する水素吸蔵合金であって、ストリップキャスティング法により製造された、合金の断面組織のＥＰＭＡによる５００倍のＣＯＭＰ像およびＭｇとＡｌの元素マッピング像で確認される母相よりも、Ｍｇ濃度が高い相およびＡｌ濃度が高い相の占める割合の合計が全体の５．０％以下であることを特徴とする。 - 特許庁

The method of driving a color display having a color display element includes: receiving data containing descriptions of two or more component colors describing a state of a display element; determining a correspondence between one of the component colors and a particular subpixel of the color display element; mapping the component color to a waveform based on a property of the particular subpixel; and driving the subpixel with the mapped waveform.例文帳に追加

カラー表示素子を有するカラーディスプレイの駆動方法は、表示素子の状態を記述する、２つ以上の成分色の記述を含むデータを受信するステップと、成分色のうちの１つとカラー表示素子の特定のサブ画素との間の対応を決定するステップと、成分色を、特定のサブ画素の特性に基づいて、波形に対応付けるステップと、対応付けられた波形を用いてサブ画素を駆動するステップと、を含む。 - 特許庁