「"microscopic method"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

METHOD AND SYSTEM FOR PROVIDING USER GUIDE IN SCANNING TYPE MICROSCOPIC METHOD例文帳に追加

走査型顕微鏡法における使用者手引きのための方法およびシステム - 特許庁

To provide a projection microscopic method using a radiographic method.例文帳に追加

放射線法を用いる投影顕微鏡法を提供すること。 - 特許庁

QUANTUM LINE-SUPPORTED ATOMIC FORCE MICROSCOPIC METHOD, AND QUANTUM LINE-SUPPORTED ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

量子線支援原子間力顕微法および量子線支援原子間力顕微鏡 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING FLUORESCENCE IN CONFOCAL SCANNING MICROSCOPIC METHOD例文帳に追加

共焦点走査型顕微鏡法における蛍光の検出のための方法および装置 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPIC METHOD, CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPIC DEVICE, LENGTH MEASURING METHOD, AND LENGTH MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

荷電粒子線顕微方法、荷電粒子線顕微装置、測長方法及び測長装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR PHASE COMPENSATION OF POSITION SIGNAL AND DETECTION SIGNAL IN SCANNING MICROSCOPIC METHOD AND SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

走査型顕微鏡法における位置信号および検出信号の位相補正のための方法ならびに装置および走査型顕微鏡 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPE DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM APPLICATION DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPIC METHOD, CHARGED PARTICLE BEAM INSPECTION METHOD AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

荷電粒子線顕微鏡装置、荷電粒子線応用装置、荷電粒子線顕微方法、荷電粒子線検査方法、及び電子顕微鏡装置 - 特許庁

To provide a microscope which has the improved degree of freedom of microscopic observation, and can easily be applied to various microscopic method and made compact and lightweight.例文帳に追加

観察の自由度が高く様々な顕鏡方法に簡単に対応でき、しかも小型、軽量化を実現できる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The number of the fine particles contained in the liquid droplets discharged to the substrate is measured, in real time, using a dark field microscopic method.例文帳に追加

また、暗視野顕微鏡法を用いて、基板上に吐出された液滴中内の微粒子の個数を実時間で計測する。 - 特許庁

To provide a method and a device for optimizing or increasing the fluorescent light photon collection quantity of a fluorescent substance excited by multiple photon excitation so as to generate fluorescence in order to detect an optimum sample as to a method and a device for detecting fluorescence in a scanning microscopic method, especially a confocal scanning microscopic method.例文帳に追加

本発明は、走査型顕微鏡法、特に共焦点走査型顕微鏡法における蛍光の検出のための方法および装置に関し、最適な試料検出を可能にするため、多光子励起によって蛍光を発するように励起される蛍光物質の蛍光光子収量が、最適化または増大するような方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide an X-ray microscope for improving resolution of an X-ray image, and to provide a microscopic method using X rays.例文帳に追加

本発明はＸ線顕微鏡及びＸ線を用いた顕微方法に関し、Ｘ線画像の分解能を向上させることができるＸ線顕微鏡及びＸ線を用いた顕微方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide an evaluating method for the surface smoothness of a substrate at the micro-level of atomic arrangement by a method other than the probing method and the interatomic force microscopic method.例文帳に追加

探針法や原子間力顕微鏡法以外の方法による原子配列のミクロなレベルでの基板表面の平滑性の評価の方法の開発。 - 特許庁

To provide a method for detecting a Trichophyton fungus (trichophyton), by which the Trichophyton fungus can be detected in an extremely shorter time than by a culturing method requiring long time and more highly sensitively and more accurately than by the culturing method and a microscopic method.例文帳に追加

長時間を要する培養法に比べて、きわめて短時間でTrichophyton属菌（白癬菌）の検出が可能であり、また培養法・鏡検法に対して高感度かつ正確に同菌を検出する方法を提供する。 - 特許庁

To smoothly switch a microscopic method in what is called a virtual microscopic system with which the microscopic image of an observing body is provided in the form of image data.例文帳に追加

観察体の顕微鏡画像が画像データの形式で提供されるいわゆるバーチャル顕微鏡システムにおいて、検鏡法の切換えがスムーズに行えるようにする。 - 特許庁

The method and device for scanning the sample (i) by using the light beam (2) of the light source (3) preferably in a conforcal scanning type microscopic method, in which the light beam (2) is deflected by using a beam deflector (4) and the scanning operation is controlled by a controller (5).例文帳に追加

本発明は、好ましくは共焦点走査型顕微鏡法において、光源（３）の光ビーム（２）を用いて、試料（１）を走査するための方法および装置に関し、光ビーム（２）がビーム偏向装置（４）を用いて偏向され、走査動作が制御装置（５）によって制御される方法および装置に関する。 - 特許庁

A fine grain density to be measured when the substrate film is observed by a dark field microscopic method, is 200 to 20000 grain/mm^2 in 1 μm to 10 μm of grain size and ≤10 grain/mm^2 in >10 μm of grain size.例文帳に追加

暗視野顕微鏡法で基材フィルムを観察した際に測定される微細粒子密度は、粒径１μｍから１０μｍの微細粒子が２００から２００００個／ｍｍ^2であり、粒径１０μｍを越える微細粒子が１０個／ｍｍ^2以下。 - 特許庁

The composite stabilizer for a chlorine-containing polymer has a particle structure where calcium carbonate exists, as is measured by the electron microscopic method, on the surface of a particle of calcium hydroxide with a carbonation intensity ratio (RI_400), measured by the secondary ion mass spectrometric device(SIMS) and represented by a specific equation, in the range of at least 0.8.例文帳に追加

電子顕微鏡法で観察して水酸化カルシウムの粒子表面に炭酸カルシウムが存在する粒子構造を有し、且つ二次イオン質量分析装置（ＳＩＭＳ）で測定して、特定式で表される炭酸化強度比（ＲＩ_４００）が０．８以上の範囲である塩素含有重合体用複合安定剤。 - 特許庁

The biaxially oriented film for optical use comprises an aromatic polyester substantially free from metal elements of density ≥5.0 and the film has color b value of from -0.5 to 2.0 obtained by transmitted light measurement, and containing ≤195 particles/mm^2 of fine particles with particle diameter of 1-10 μm measured by a dark field microscopic method.例文帳に追加

比重５．０以上の金属元素を実質的に含有しない芳香族ポリエステルからなり、透過光測定によるカラーｂ^＊値が−０．５〜２．０、暗視野顕微鏡法により測定されるフィルム中に存在する触媒に起因する粒径１〜１０μｍの微細粒子が１９５個／ｍｍ^２以下であることを特徴とする、光学用二軸延伸フィルム。 - 特許庁

To provide a quantum line-supported atomic force microscopic method and a quantum line-supported atomic force microscope capable of performing simultaneously shape observation and elemental analysis in the atomic level by using the atomic force microscope, analyzing the chemical state on the sample surface, and performing the elemental analysis or chemical state analysis with respect to a biosample with a resolution in the atomic level because of being operable even in liquid.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を使って原子レベルでの形状観察と元素分析とを同時に行うことができ、さらには試料表面の化学状態を分析することが可能となり、また、液体中でも動作可能であるため生体試料に対する元素分析や化学状態分析を原子レベルの分解能で行うことが可能な量子線支援原子間力顕微法および量子線支援原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁