「さんじゅつへいきん」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

期日変更の申立て・法第九十三条例文帳に追加

Petition for Change of Date; Article 93 of the Code  - 日本法令外国語訳データベースシステム

ベース平面の表面粗さは算術平均粗さで０．８μｍ以下である。例文帳に追加

The surface roughness of the base plane is ≤0.8 μm in arithmetic average roughness. - 特許庁

附　則　〔平成十四年七月三十一日法律第九十六号〕〔抄〕例文帳に追加

Supplementary Provisions [Act No. 96 of July 31, 2002] [Extract]  - 日本法令外国語訳データベースシステム

附　則　〔平成十二年五月三十一日法律第九十一号〕例文帳に追加

Supplementary Provisions [Act No. 91 of May 31, 2000]  - 日本法令外国語訳データベースシステム

附　則　〔平成十二年五月三十一日法律第九十二号〕〔抄〕例文帳に追加

Supplementary Provisions [Act No. 92 of May 31, 2000] [Extract]  - 日本法令外国語訳データベースシステム

附　則　〔平成十二年五月三十一日法律第九十六号〕〔抄〕例文帳に追加

Supplementary Provisions [Act No. 96 of May 31, 2000] [Extract]  - 日本法令外国語訳データベースシステム

附　則　〔平成十二年五月三十一日法律第九十七号〕〔抄〕例文帳に追加

Supplementary Provisions [Act No. 97 of May 31, 2000] [Extract]  - 日本法令外国語訳データベースシステム

附　則　〔平成十六年三月三十一日法律第九号〕〔抄〕例文帳に追加

Supplementary Provisions [Act No. 9 of March 31, 2004] [Extract]  - 日本法令外国語訳データベースシステム

附　則　〔平成九年四月十一日法律第三十四号〕例文帳に追加

Supplementary Provisions [Act No. 34 of April 11, 1997]  - 日本法令外国語訳データベースシステム

附　則　〔平成九年四月九日法律第三十三号〕〔抄〕例文帳に追加

Supplementary Provisions [Act No. 33 of April 9, 1997] [Extract]  - 日本法令外国語訳データベースシステム

附則（平成十二年五月三十一日法律第九十一号）例文帳に追加

Supplementary Provisions (Act No. 91 of May 31, 2000) (Excerpt)  - 日本法令外国語訳データベースシステム

また、粗部１２の算術平均粗さＲａと、平滑部１１の算術平均粗さＲａとの差が、０．５〜１０．０μｍになされている。例文帳に追加

Further, the difference between arithmetic average roughness Ra of the rough part 12 and arithmetic average roughness Ra of the flat part 11 is within a range of 0.5-10.0 μm. - 特許庁

配布の中間からの逸脱の絶対値の算術平均例文帳に追加

the arithmetic mean of the absolute values of deviations from the mean of a distribution  - 日本語WordNet

Ｒａ（算術平均粗さ）≦２．０μｍＲｚ（十点平均粗さ）≦１０．０μｍＲｙ（最大高さ）≦１０．０μｍ例文帳に追加

(maximum height)≤10.0μm. - 特許庁

前記鋼板は表面の算術平均うねりWaが0.6μm以下である。例文帳に追加

The arithmetic mean waviness Wa of the surface of the steel sheet is ≤0.6 μm. - 特許庁

裏面側の酸化インジウム層９の算術平均粗さ（Ｒａ）は、表面側の酸化インジウム層５の算術平均粗さ（Ｒａ）より大きい。例文帳に追加

The arithmetical mean roughness (Ra) of the indium oxide layer 9 on the rear surface side is larger than the arithmetical mean roughness (Ra) of the indium oxide layer 5 on the surface side. - 特許庁

３）重量平均粒径と数平均粒径（Ｄ１）の比Ｄ４／Ｄ１が、１〜１．３。例文帳に追加

(3) The ratio D4/D1 of the weight average particle size to the number average particle size (D1) ranges 1 to 1.3. - 特許庁

高分子フィルム表面の算術平均粗さＲａは、トナー担持体１２表面の算術平均粗さＲａより小さい。例文帳に追加

The arithmetic average roughness Ra of the surface of the high polymer film is smaller than the arithmetic average roughness Ra of the surface of the toner carrier 12. - 特許庁

現像スリーブ２０３２の算術平均粗さは０．１５以上である。例文帳に追加

The arithmetic mean roughness of the developing sleeve 2032 is ≥0.15. - 特許庁

この層１２Ｂ_ｎの上面の算術平均粗さは２ｎｍ以下である。例文帳に追加

Arithmetic average roughness in the upper surface of the layer 12B_n is 2nm or less. - 特許庁

チューブの最内層は平滑であり、算術平均荒さ（Ｒａ）が０．３μｍ以下であることが好ましい。例文帳に追加

The innermost layer of the tube is preferably smooth, having an arithmetic average roughness (Ra) of ≤0.3 μm. - 特許庁

逆数の算術平均の逆数として表されるn個の数字の平均例文帳に追加

the mean of n numbers expressed as the reciprocal of the arithmetic mean of the reciprocals of the numbers  - 日本語WordNet

前記微細な凹凸は、その算術平均粗さRaが 0.5〜15μｍ、平均間隔Smが 0.5〜10μｍ、平均傾斜θa が45°以上、90°未満とすることが好ましい。例文帳に追加

The fine unevenness preferably has an arithmetical average roughness Ra of 0.5 to 15 μm, an average distance Sm of 0.5 to 10 μm, and an average inclination θa of ≥45° and <90°. - 特許庁

平均化回路１６から出力される算術平均後のラインデータを、ラインメモリ１４，１５に再度入力して繰り返し平均化回路１６による算術平均処理の対象とすることができる。例文帳に追加

Arithmetically averaged line data outputted from an averaging circuit 16 is inputted again to line memories 14 and 15 and subjected to arithmetic averaging by the iteration averaging circuit 16. - 特許庁

変性シロキサン重合体組成物、変性シロキサン重合体組成物から得られた封止材および封止材を含む電子デバイスを提供。例文帳に追加

To provide a modified siloxane polymer composition, an encapsulant obtained from the modified siloxane polymer composition, and an electronic device including the encapsulant. - 特許庁

次いで、三軸加速度センサの出力（検出値）の振幅を一定時間平均化する（Ｓ３２）。例文帳に追加

Next, the amplitude of the output (detection value) of the triaxial acceleration sensor is averaged for a fixed time (S32). - 特許庁

エンボスの凹凸の版については、その算術平均粗さを０．０５μｍ〜２．００μｍとし、平均周期を５０μｍ以下とする。例文帳に追加

Arithmetic average roughness is set from 0.05μm to 2.00μm and also average cycle is set ≤50μm for the unevenness of a plate used in the embossing. - 特許庁

そして、燃焼用混合空気１０は、ストーカ３上にある廃棄物層４へと供給される。例文帳に追加

The combustion mixed air 10 is supplied to a waste layer 4 on a stoker 3. - 特許庁

旧幕臣・宇都野鶴五郎と、十二世喜多六平太（能静）の三女・まつの間の次男。例文帳に追加

He was the second son between Tsurugoro UTSUNO, a former retainer of shogun, and Matsu, the third daughter of the twelfth Roppeita KITA (Nojo).  - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

算術平均粗さ（Ｒａ）が１μｍ〜３０μｍの凹凸を有する反射防止膜。例文帳に追加

The antireflection film has irregularities of 1 to 30 μm arithmetic mean roughness (Ra). - 特許庁

換算情報更新手段４３は、質量分布算出手段４１によって算出された平均値Ａ′と標準偏差σ′とから新たな換算情報を算出し、その算出された換算情報で個数換算手段２４に設定されている換算情報を更新する。例文帳に追加

A conversion information renewal means 43 calculates new conversion information from the mean value A' and the standard deviation σ' calculated by the mass distribution calculation means 41, and renews the conversion information set in the conversion means 24 of the number of articles by the calculated conversion information. - 特許庁

効率よく純度が高いトランス−１，４−シクロヘキサンジカルボン酸ジメチルを得ることができる製造方法及び高純度のトランス−１，４−シクロヘキサンジカルボン酸ジメチルを提供する。例文帳に追加

To provide a production method which can efficiently obtain high purity dimethyl trans-1,4-cyclohexanedicarboxylate, and to provide the high purity dimethyl trans-1,4-cyclohexanedicarboxylate. - 特許庁

３次元表面粗さ測定における算術平均粗さが２．０μｍ以上又は／及び十点平均粗さが１０．０μｍ以上であることを特徴とする凹凸表面を有する光拡散層２を透明支持体３上に積層する。例文帳に追加

A light-diffusing layer 2 having a rough surface having ≥2.0 μm arithmetic average roughness and/or ≥10.0 μm ten point average roughness obtained by the three-dimensional surface roughness measurement is laminated on a transparent supporting body 3. - 特許庁

すなわち、画像解析部３２は、各テンプレート領域内の輝度成分の算術平均を取る。例文帳に追加

Namely, the image analysis portion 32 calculates an arithmetic mean value for lumimance components in each template region. - 特許庁

基板１の表面粗さ（算術平均粗さＲａ）が、Ｘμｍ≦Ｒａ≦０．１μｍの範囲内である。例文帳に追加

The surface roughness (arithmetic mean roughness Ra) of a substrate 1 is within the range of X μm≤Ra≤0.1 μm. - 特許庁

算術平均回路８に平均出力モニタ（APRM）増幅器９を接続し、APRM増幅器９にAPRM指示計10を接続する。例文帳に追加

An average power monitor (APRM) amplifier 9 is connected to the arithmetic average circuit 8 and an APRM indicator 10 is connected to the APRM amplifier 9. - 特許庁

第１の主面１０は、０．１５μｍ〜１．０μｍの算術平均高さ（Ｒａ）を有している。例文帳に追加

The first main surface 10 has an arithmetic mean height (Ra) of 0.15-1.0 μm. - 特許庁

前記薄膜は、算術平均粗さＲａが１μｍ以下の凹凸を表面に有することを特徴とする。例文帳に追加

The thin film has ruggedness with the arithmetic average roughness Ra of ≤1 μm, on the surface. - 特許庁

また、粗化部５の表面粗さ（算術平均高さ）Ｒａは、１μｍ〜３μｍであることが好ましい。例文帳に追加

Furthermore, the surface roughness (arithmetic mean height) Ra of the roughened part 5 is preferably 1-3 μm. - 特許庁

所定の算術平均粗さ（Ｒａ）の表面を有する金属基材１に、前記算術平均粗さの値よりも小さい平均粒子径を有する触媒粉末２が担持されてなることを特徴とする触媒エレメントを用いる。例文帳に追加

The catalyst element is used in which a metal substrate 1 with a surface having a predetermined arithmetical mean roughness (Ra) supports catalyst powder 2 having an average particle diameter smaller than a value of the arithmetical mean roughness. - 特許庁

その算術平均粗さＲａは０．３〜１．０μｍ、平均凹凸周期は５〜３０μｍ、ビッカース硬度は５００〜１０００Ｈｖである。例文帳に追加

The arithmetic mean roughness Ra of the embossing plate is 0.3 to 1.0 μm, the mean ruggedness period is 5 to 30 μm, and the Vickers hardness is 500 to 1,000 Hv. - 特許庁

凹凸２１ａは、算術平均粗さＲａが０．１μｍ以下で、その表面凹凸の平均間隔Ｓｍが１０〜６０μｍである。例文帳に追加

The irregularities 21a have an arithmetic average roughness Ra of ≤0.1 μm, and a mean interval Sm between the surface irregularities is 10-60 μm. - 特許庁

第百三十国立銀行（百三十銀行）→1923年に当行等11行保善銀行（安田、富士銀行を経て現在のみずほ銀行）に合併例文帳に追加

The 130th National Bank (Hyakusanju Bank) -> 11 banks including the 130th National Bank were merged into the Hozen Bank in 1923 (the current Mizuho Bank after the Yasuda and the Fuji Bank).  - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

基材フィルムにおける凹凸構造側の面は、算術平均粗さＲａが０．０５〜０．５μｍで、平均周期Ｓｍが１０〜２００μｍである。例文帳に追加

The rugged structure side surface in the base material film has a 0.05-0.5 μm mean average roughness Ra, and a 10-200 μm average cycle Sm. - 特許庁

樹脂フィルム１０としては、算術平均表面粗さ（Ｒａ）が０．１μｍ以下である平滑フィルム１０Ａと、算術平均表面粗さ（Ｒａ）が０．２〜２．０μｍである粗面フィルム１０Ｂとを組み合わせて用いる。例文帳に追加

A smooth film 10A having arithmetic average surface roughness Ra of 0.1 μm or less and a rough surface film 10B having arithmetic average surface roughness Ra of 0.2-2.0 μm are mutually combined for use as the resin-made film 10. - 特許庁