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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > ひはかいしけんに関連した英語例文

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ひはかいしけんの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 5846



例文

非破壊試験装置例文帳に追加

NONDESTRUCTIVE TESTING DEVICE - 特許庁

今回の試験は非常に難しかった。例文帳に追加

Last examination was very difficult.  - Tanaka Corpus

半導体製品の試験回路例文帳に追加

TESTING CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR PRODUCTS - 特許庁

コンクリートの非破壊圧縮試験方法及び非破壊圧縮試験装置例文帳に追加

NONDESTRUCTIVE COMPRESSION TEST METHOD AND DEVICE FOR CONCRETE - 特許庁

例文

引張および破壊靭性試験方法例文帳に追加

TENSION AND FRACTURE TOUGHNESS TEST METHOD - 特許庁


例文

非破壊型ロールオーバー試験機例文帳に追加

NONDESTRUCTIVE ROLLOVER TESTING MACHINE - 特許庁

被膜付電線の絶縁破壊試験装置及び絶縁破壊試験方法例文帳に追加

DEVICE AND METHOD FOR DIELECTRIC BREAKDOWN TEST OF COATED WIRE - 特許庁

小型電気機械の非破壊絶縁試験方法および装置例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR NONDESTRUCTIVE INSULATION TESTING OF SMALL-SIZED ELECTRIC MACHINE - 特許庁

偏光回転子3は、試験光の偏光角度を制御する。例文帳に追加

A polarization rotor 3 controls a polarization angle of the test light. - 特許庁

例文

今回の試験は非常に難しかった。例文帳に追加

The last examination was very difficult. - Tatoeba例文

例文

応力腐食割れサンプルの作製方法および非破壊試験用試験片例文帳に追加

MANUFACTURING METHOD OF STRESS CORROSION CRACKING SAMPLE AND TEST PIECE FOR NON-DESTRUCTIVE TEST - 特許庁

本発明は、被試験対象を試験部により試験を行うICテスタに改良を加えたものである。例文帳に追加

This invention is obtained by improving an IC tester for testing the testing object by the testing part. - 特許庁

試験構成回路(10)は被試験部品(108)から実時間測定値(42)の現集合を取得する。例文帳に追加

A test constituting circuit 10 gains a present set of an actual time measurement value 42 from a tested part 108. - 特許庁

私は今までに6回くらい引越し経験がある。例文帳に追加

I've experienced moving about 6 times up til now.  - Weblio Email例文集

非破壊試験により、層構造を有する試料を試験する。例文帳に追加

To test a sample having a laminar structure through a nondestructive test. - 特許庁

変換装置システム1は、カップリングされた被試験用回転機21と被試験用回転機22とに対して、一方の被試験用回転機を駆動側、他方の被試験用回転機を発電側として、交互に実行する。例文帳に追加

The converter system 1 alternately performs a first case and a second case to the coupled rotary machine to be tested 21 and the rotary machine to be tested 22 with one rotary machine to be tested as a driving side and the other rotary machine to be tested as a power generation side. - 特許庁

電子回路等の被試験装置に試験信号を印加して被試験装置を監視することにより、被試験装置の1つ又は複数の電気特性を試験する試験回路及びシステムを提供する。例文帳に追加

To provide a test circuit and system that test one or more electric characteristics of a device to be tested by monitoring the device to be tested by applying a test signal to the device to be tested of an electric circuit, or the like. - 特許庁

光線路試験方法、波形解析装置およびプログラム例文帳に追加

BEAM PATH TESTING METHOD, WAVEFORM ANALYZER, AND PROGRAM - 特許庁

ソフトウェアかハードウェア製品の準備段階か試験段階例文帳に追加

preliminary or testing stage of a software or hardware product  - 日本語WordNet

電磁波供給部18は、被試験回路22に電磁波を供給する。例文帳に追加

The electromagnetic wave supply part 18 supplies an electromagnetic wave to the circuit 22 to be tested. - 特許庁

電磁波供給部18は、被試験回路22に電磁波を供給する。例文帳に追加

The electromagnetic wave feeding part 18 feeds an electromagnetic wave to the circuit 22 to be tested. - 特許庁

試験回答用端末100から試験実施サーバに受験者の情報が送信され、試験実施サーバ40は受験者に応じた試験問題を試験回答用端末100に送信し、試験回答用端末100に試験問題が表示される。例文帳に追加

The examination conducting server 40 transmits examination questions responding to the examinee to the examination question answering terminal 100, and the examination questions are displayed on the examination question answering terminal 100. - 特許庁

新規な皮膜剤を開発し、化粧品に応用を図ることを目的とする。例文帳に追加

To develop a new film-forming agent and apply the film-forming agent to cosmetics. - 特許庁

非均質材CT試験片の破壊靭性特性評価方法および破壊靭性特性評価装置例文帳に追加

FRACTURE TOUGHNESS CHARACTERISTIC EVALUATING METHOD AND DEVICE FOR NON-HOMOGENEOUS MATERIAL CT TEST PIECE - 特許庁

安全性評価試験方法、安全性評価試験装置、および熱電対付破壊測定器具例文帳に追加

SAFETY EVALUATION TEST METHOD, SAFETY EVALUATION TEST DEVICE, AND DESTRUCTIVE MEASURING INSTRUMENT WITH THERMOCOUPLE - 特許庁

木材応力波非破壊試験の方法例文帳に追加

METHOD OF WOOD STRESS WAVE NONDESTRUCTIVE TEST - 特許庁

構成要素の非破壊試験装置及び方法例文帳に追加

NONDESTRUCTIVE TEST APPARATUS OF COMPONENT, - 特許庁

第一次世界大戦が勃発し、経済界は非常な好況期を迎えた。例文帳に追加

The outbreak of the World War I brought an unusual economic boom.  - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

本発明は、電源部より給電される試験部により、被試験対象の試験を行なう半導体試験装置に改良を加えたものである。例文帳に追加

An improved semiconductor test device performing test of an object to be tested by a test part to which electricity is supplied from a power source part is provided. - 特許庁

なお、左端検知回路の動作も上述した右端検出回路の動作と同様である。例文帳に追加

A left end detecting circuit operates the same as the above right end detecting circuit. - 特許庁

試験制御トランク40は、試験回線情報の解読を行い試験回線を認識して、試験回線の使用状態を監視し、回線が空きの場合は、試験中の回線閉塞を回避するための回線切替信号を送出して、試験制御を行う。例文帳に追加

A test control trunk 40 decodes the test line information, recognizes the test line, monitors the state of use of the test line, and transmits the line switching signal for avoiding the closing of the line during the test when the line is idle to perform test control. - 特許庁

被試験体に繰返し荷重を載荷することによって該被試験体に生じ得る疲労破壊の開始点と疲労破壊の進展の可否を特定することのできる疲労破壊特定システムおよび疲労破壊特定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a fatigue destruction specifying system capable of specifying the start point of fatigue destruction possible to occur in a test target and the presence of the progress of fatigue destruction by applying repeating load to the test target, and a fatigue destruction specifying method. - 特許庁

試験を開始するときは、試験条件ファイルを呼び出し、変更可能な試験条件欄31a,31b,31e,31fを表示モニタ22cの表示画面に表示する。例文帳に追加

When starting the test, the test condition file is called out, changeable test condition columns 31a, 31b, 31e, 31f are displayed on a display screen of a display monitor 22c. - 特許庁

発振周波数が低い場合でも、簡単な回路で発振開始検出回路を構成できるようにする。例文帳に追加

To constitute an oscillation start detecting circuit with a simple circuit even when a frequency is low. - 特許庁

判定部は、試験部による試験の結果に基づいて、回路ブロックの動作の良否を判定する。例文帳に追加

The determination unit determines the quality of the operation of the circuit block on the basis of the results of the test by the test unit. - 特許庁

(開票の結果)最高点は伊藤氏、欠点は佐藤氏に帰した例文帳に追加

On the ballot being opened, Mr. Ito was found to have polled the largest number of votes, and Mr. Sato the second largest.  - 斎藤和英大辞典

MOS−FET駆動回路、ドライバ回路及び半導体試験装置例文帳に追加

MOS-FET DRIVE CIRCUIT, DRIVER CIRCUIT, AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE - 特許庁

金属管の浸炭層の発生を非破壊試験で検出する。例文帳に追加

To detect a carburizing layer of a metal tube by a nondestructive test. - 特許庁

被試験回路の波形は波形測定部で測定し、比較部にて基準波形との比較を行う。例文帳に追加

The waveform of a circuit which is to be tested is measured at a waveform measuring part, and compared with a reference waveform at a comparing part. - 特許庁

電流制御回路部5は、被試験電源1の電流を制御する。例文帳に追加

The current control circuit 5 controls the current of the electric power source 1. - 特許庁

三十一 ロケット若しくは航空機の開発若しくは試験に用いることができる振動試験装置、風洞、環境試験装置又はこれらの部分品例文帳に追加

(xxxi) Vibration test equipment, wind tunnels, environmental test equipment or components thereof that can be used for the development or testing of rockets or aircrafts  - 日本法令外国語訳データベースシステム

パーソナルコンピュータ1は、並列試験プログラムP−1〜P−Nを生成して並列試験装置2−1〜2−Nにそれぞれ送信した後、試験開始信号C−1〜C−Nを並列試験装置2−1〜2−Nにそれぞれ送信する。例文帳に追加

A personal computer 1 generates parallel testing programs P-1 to P-N for transmitting to parallel testing devices 2-1 to 2-N, and then transmits test start signals C-1 to C-N to the parallel testing devices 2-1 to 2-N. - 特許庁

本発明は、電子顕微鏡の解像力を適正に評価する電子顕微鏡画像評価装置、及び電子顕微鏡の提供を目的とする。例文帳に追加

To provide an electron microscope evaluation apparatus for properly evaluating the resolution of an electron microscope, and to provide an electron microscope. - 特許庁

筆記試験では一般的に女子の方が男子より得点が高い。例文帳に追加

Girls generally outscore boys on written tests.  - Weblio英語基本例文集

実施形態の電子機器は、回路基板と、電子部品とを含む。例文帳に追加

The electronic apparatus includes a circuit board and an electronic component. - 特許庁

リバウンドハンマーを用いた水中コンクリート構造物非破壊試験方法例文帳に追加

NONDESTRUCTIVE TESTING METHOD FOR UNDERWATER CONCRETE STRUCTURE USING REBOUND HAMMER - 特許庁

一実施形態において、回路基板302は表面と裏面とを有する。例文帳に追加

In one embodiment, a circuit board 302 has front and back surfaces. - 特許庁

被試験体Wを回転させたときの被試験体Wの釣合い状態を試験する横型釣合い試験機10は、被試験体Wを支持する支持部1と、被試験体Wを回転させる駆動手段と、駆動手段の駆動力を被試験体Wに伝達するベルト3と、を備えている。例文帳に追加

This horizontal balancing machine 10 for testing a balancing condition of a body W to be tested when rotating the body W is provided with a support part 1 for supporting the body W to be tested, a driving means for rotating the body W to be tested, and the belt 3 for transmitting driving force of the driving means to the body W to be tested. - 特許庁

本発明は、被試験対象をICテスタにより試験するテストシステムに改良を加えたものである。例文帳に追加

The present invention provides an improved system for testing a tested object by an IC tester. - 特許庁

例文

本発明は、被試験対象を試験するICテスタに改良を加えたものである。例文帳に追加

This IC tester is acquired by improving an IC tester for testing a test object. - 特許庁

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