| 例文 (210件) |
フィードバック制御有の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 210件
半導体回路において、非線形の抵抗特性を持つ回路と同一の特性を持つインピーダンス調整回路４０は、基準抵抗との動作点をフィードバック制御で自動的に求める動作点算出回路５０と、この動作点算出回路５０で求めた動作点でのインピーダンスを算出するインピーダンス算出回路６０とを有する。例文帳に追加
In a semiconductor circuit, an impedance adjustment circuit 40 having the characteristics same as those of a circuit having the nonlinear resistance characteristics includes an operating point calculation circuit 50 automatically calculating an operating point with a reference resistance through feedback control, and an impedance calculation circuit 60 calculating the impedance at the operating point found by the operating point calculation circuit 50. - 特許庁
また、１以上の受信アンテナを有する移動局は、受信した前記パイロット信号より送信アンテナ及び受信アンテナごとのダウンリンクチャンネル特性に相当する第１特性を決定し、第１特性を反映してダウンリンク電力制御情報を決定し、決定された情報をフィードバック信号に変換して基地局に送信する。例文帳に追加
The mobile station with at least one reception antenna determines a first characteristic corresponding to the channel downlink characteristics for each of the transmission and reception antennas from the received pilot signals, determines downlink power control information, which reflects the first characteristic, converts the determined pieces of information into the feedback signal and transmits the feedback signal to the base station. - 特許庁
走査型プローブ顕微鏡は、試料１２に対向する探針２０を有するカンチレバー２１、探針が試料の表面を走査するとき探針と試料の間で生じる原子間力等を測定する測定部（光てこ式光学顕微鏡やフィードバックサーボ制御ループ）、探針と試料の位置を相対的に変化させ走査動作を行わせる移動機構を備える。例文帳に追加
This scanning type probe microscope is provided with a cantilever 21 having a probe 20 opposed to a sample 12, a measuring part (optical lever type optical microscope and feedback servo control loop) for measuring interatomic force or the like generated between the probe and the sample when the probe scans a surface of the sample, and a moving mechanism for varying relatively positions of the probe and the sample to conduct a scanning operation. - 特許庁
フィルタ（Ｆ）の実際の周波数特性における通過周波数帯域のピークを検出し、この検出された通過周波数帯域のピークがフィルタ（Ｆ）固有の周波数特性における通過周波数帯域のピークに保たれるように冷凍機（Ｒ）における圧縮機（１）への出力電圧をフィードバック制御する。例文帳に追加
Output voltage to a compressor (1) in the refrigerating machine (R) is fed back such that a peak of a frequency pass band in an actual frequency characteristic of the filter (F) is detected, and the detected peak of the frequency pass band is kept at the peak of the frequency pass band in an inherent frequency characteristic of the filter (F). - 特許庁
駆動用振動が励起される振動体に接触体を加圧接触させ、相対移動させる振動波モータ１と、前記駆動用振動を励起するために前記振動体に駆動信号を出力してフィードバック制御を行う駆動制御部（４０４、４１２）とを少なくとも有する振動波駆動装置において、前記駆動制御部は、動作中の駆動周波数の変動に対して、制御を可能とする下限の制限値を設定した。例文帳に追加
An oscillatory wave driver comprises an oscillatory wave motor 1 for moving an oscillator exciting a driving oscillation relatively by bringing a contactor into pressure contact therewith, and drive control sections 404, 412 performing feedback control by delivering a drive signal to the oscillator in order to excite driving oscillation wherein the drive control section is set with a lower limit of controlling the fluctuation of driving frequency during operation. - 特許庁
原子間力顕微鏡において、探針１２を有するカンチレバー１０と、カンチレバー１０を自励振動させるアクチュエータ２０と、カンチレバー１０の振動速度を検出する振動速度検出器３０と、カンチレバー１０の振動変位を算出する変位算出器３２と、アクチュエータ２０を駆動するための信号を生成する制御器４０とから、カンチレバー制御装置１を構成し、フィードバック制御信号Ｓを（Ｋ−Ｇ・ｘ^2）・ｄｘ／ｄｔとする。例文帳に追加
In the atomic force microscope, the cantilever control device 1 is constituted of: the cantilever 10 having the probe 12; an actuator 20 for causing the self-oscillation of the cantilever 10; an oscillation speed detector 30 for detecting the oscillation speed of the cantilever 10; a displacement calculator 32 for calculating the oscillation displacement of the cantilever 10 and a controller 40 for forming a signal for driving the actuator 20. - 特許庁
回転子および、圧電体により円環上に進行波を励起するリング状振動子を有するとともに前記回転子に対して前記リング状振動子を加圧接触させて成る超音波モータと、前記回転子および前記リング状振動子のいずれかに触れた前記操作者に向けたフォースフィードバック制御用アクチュエータとしての前記超音波モータを制御する制御手段とを備えたことを特徴とする。例文帳に追加
This input device is provided with the ultrasonic motor having a rotor, and a ringlike oscillator for exciting a progressive wave on an annulus ring by a piezoelectric member, and constituted to bring the ringlike oscillator into pressure contact with the rotor, and a control means for controlling the ultrasonic motor serving as the actuator for the force feedback toward the operator contacting with either of the rotor or a ringlike oscillator. - 特許庁
半導体研磨装置のモニタリング装置は制御信号線から分岐した信号線で制御信号線へのフィードバック回路を有さない信号線にノイズ除去回路を有することを特徴としているので、ホストコンピューターに起因するシステムノイズの除去が可能であるために、研磨特性の変動や経時変化を迅速かつ正確に監視することができ、製造歩留りおよび生産性向上することが可能である。例文帳に追加
A monitoring device for a semiconductor polishing device has a noise removing circuit in a signal line that branches from a control signal line that has no feedback circuit to the control signal line, and can thus remove system noise caused by a host computer to quickly and accurately monitor a variation and a change with time in polishing characteristics and then improve a manufacturing yield and productivity. - 特許庁
装置は、広範囲のパワーレベルを有するエンコードされたディジタル・データ信号を減衰するための制御可変減衰器（１０８）と、このエンコードされたディジタル・データ信号のエンコードを元に戻すためのディジタル包絡線検出器（１１６）と、残留する望ましくないエンコードされた信号成分をフィルタ除去するためのノイズフィルタ処理回路（１０４）と、所望の信号レベルを維持するためのフィードバック・ループとを備え、エンコードされたディジタル・データ信号がＣＴ画像作成用の処理に適したエンコード前の状態に変換される。例文帳に追加
This device comprises a control variable attenuator 108 to attenuate the encoded digital data signal having the extensive power level, a digital envelope detector 116 to decode the encoded digital data signal, a noise filter processing circuit 104 to filter the residual undesired encoded signal component, and a feedback loop to maintain the desired signal level, and the encoded digital data signal is converted into the condition suitable for the processing for preparing the CT image. - 特許庁
上記課題を解決するために、本発明の実施形態における画像形成装置は、複数色のトナーのうちの少なくとも１色のトナーを用いて画像を形成する画像形成部と、特定パターンの画像濃度を検知するセンサと、センサの検知結果に基づいて作像条件にフィードバックする制御部と、フルカラーあるいはモノクロでの画像形成指示を受信する受信部と、フルカラー特定パターン形成モードか、モノクロ特定パターン形成モードかを選択する選択部とを有し、制御部は、モノクロ特定パターン形成モード選択中に、フルカラーでの画像形成指示を受信し、センサによるフルカラーでの特定パターンの濃度検知の実行条件が満足された場合、フルカラー特定パターン形成モードを実行する。例文帳に追加
When the control part receives the image formation instruction with full color while the monochrome specific pattern formation mode is selected and the execution condition of the density detection of the specific pattern with full color by the sensor is satisfied, the control part executes the full color specific pattern formation mode. - 特許庁
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