「レーザ分光計」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

光源レーザビームの周波数をシフトするテラヘルツ周波数領域の分光計例文帳に追加

SPECTROMETER FOR TERAHERTZ FREQUENCY DOMAIN FOR SHIFTING FREQUENCY OF LIGHT SOURCE LASER BEAM - 特許庁

レーザパルス分光計システムは、該レーザパルス分光計システムを制御するためにコンピュータ読み取り可能媒体上で具現化されるコンピュータプログラムを含む。例文帳に追加

A laser pulse spectrometer system includes a computer program which is embodied on a computer readable medium for controlling the laser pulse spectrometer system. - 特許庁

塩分濃度計測装置１１は、計測車両１の後部底面に設けられ、レーザ光によるレーザブレイクダウン分光法を用いて路面２の塩分濃度を計測する。例文帳に追加

The measuring device 11 is installed on the bottom face in the rear part of the measuring vehicle 1, and it measures the salinity concentration on the road surface 2, by using laser beakdown spectroscopy with a laser beam. - 特許庁

複数の計測点Ｓに向かってレーザー光Ｒ１を照射するレーザー光照射手段１０と、レーザー光Ｒ１を照射することによって計測点Ｓで発生する光Ｒ２を受光する受光手段１１と、受光手段１１で受光した光Ｒ２を分光する分光手段４と、分光手段４で分光した光の特性を検出する検出手段１２とを備える。例文帳に追加

A measurement device includes: a laser beam radiation means 10 radiating laser beam R1 toward a plurality of measurement points S; a light receiving means 11 receiving light R2 generated at the measurement points S by radiating the laser beam R1; a dispersing means 4 dispersing the light R2 received by the light receiving means 11; and a detection means 12 detecting property of the light dispersed by the dispersing means 4. - 特許庁

半導体レーザ分光法を用いた温度・濃度・化学種の高速計測方法および計測システム例文帳に追加

HIGH-SPEED MEASURING METHOD AND MEASURING SYSTEM FOR TEMPERATURE, CONCENTRATION AND CHEMICAL SPECIES BY USE OF SEMICONDUCTOR LASER SPECTROSCOPY - 特許庁

レーザ発振器１１からのレーザ光Ｌを分光する真直度干渉計１２と、真直度干渉計１２からのレーザ光Ｌ１ 、Ｌ２ の光路内に配設する第１の反射ミラー２１用のビームスプリッタ２１ａ、反射器１３、第２の反射ミラー２２とを設ける。例文帳に追加

This interferometer is provided with a straightness interferometer 12 for separating spectrally a laser beam L from a laser oscillator 11, a beam splitter 21a for the first reflecting mirror 21 arranged inside an optical path for laser beams L1, L2 from the straightness interferometer 12, a reflector 13 and the second reflecting mirror 22. - 特許庁

この方法は、レーザー発信装置、分光光度計、制御装置を基本構成要素とする装置で測定される。例文帳に追加

In the method, measurement is made by a device using a laser oscillating device, a spectrophotometer, and a controlling device as basic components. - 特許庁

光源にコヒーレント光を発するレーザ光源を用いても、干渉の起こりにくい分光計およびキュベットを提供する。例文帳に追加

To provide a spectrometer and a cuvette where interferences are less likely to be produced, even when using a laser light source emitting coherent light as a light source. - 特許庁

簡単な構成でレーザ光の偏光に対して結晶の方位を合わせることができ、適切な分光計測結果を得ることができる。例文帳に追加

To provide a total reflection spectroscopic measurement device having a simple structure, which can match a crystal orientation to polarization of a laser beam and can provide appropriate results of spectroscopic measurement. - 特許庁

波長が固定されたＤＦＢレーザーを、さらに多数同一基板上に集積化することによって、レーザー自体の波長掃引を行うことなく、これまでより広い自由度をもたせ、しかもナノ秒以下の極めて短時間の分光スペクトルの計測を可能にする分光計測装置を提供する。例文帳に追加

To provide a spectroscopic measuring instrument providing the degree of freedom wider than before without performing the wavelength sweeping of laser itself, by integrating a larger number of DFB lasers fixed in wavelength on the same substrate and capable of measuring a spectroscopic spectrum for an extremely short time of nano sec or less. - 特許庁

エタロン分光器３２によってレーザ光のスペクトル波形を計測する際には、入射したレーザ光のスペクトル波形ｇ（λ）に対して装置関数ｈ（λ）を用いたコンボリューション処理が施される。例文帳に追加

When an etalon spectroscope 32 measures the spectrum wavelength of laser light, convolution processing is performed which uses a device function (λ) for the spectrum waveform g (λ) of the incident light. - 特許庁

量子井戸構造、光閉じ込め型量子井戸構造、半導体レーザ、分布帰還型半導体レーザ、分光計測装置及び量子井戸構造の製造方法例文帳に追加

QUANTUM WELL STRUCTURE, OPTICAL CONFINEMENT TYPE QUANTUM WELL STRUCTURE, SEMICONDUCTOR LASER, DISTRIBUTED FEEDBACK SEMICONDUCTOR LASER, SPECTROGRAPH, AND MANUFACTURING METHOD OF THE QUANTUM WELL STRUCTURE - 特許庁

特定の次数の高次高調波だけを取り出し、パルスレーザー光によって発生する極端紫外・真空紫外光による分光計測を可能にする高次高調波発生・分光システムを提供する。例文帳に追加

To provide a high-order higher harmonic generating spectral system which extracts only higher harmonic of a specific degree to enable the spectral measurement, due to extreme-ultraviolet/vacuum ultraviolet rays generated by pulse laser beam. - 特許庁

励起レーザーのパルス間隔に影響を受けずにＳＮ比が高く高精度の測定ができる時系列変換パルス分光計測装置及び分光法を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a time series conversion pulse spectroscopic measuring instrument and a spectrometric method allowing highly precise measurement with a high S/N ratio, without being affected by a pulse interval of an excitation laser. - 特許庁

通常のレーザ運転前に、エタロン分光器３２で計測されるスペクトル波形ｆ（λ）の線幅閾値Thresuにおけるスペクトル線幅Ｗと、レーザ光の真のスペクトル波形ｇ（λ）のスペクトル線幅Ｗやスペクトル純度Ｅ９５と、の相関が予め求められ、記憶部４１に記憶される。例文帳に追加

Prior to a general laser operation, the correlation between a spectral line width W in a line width threshold Thresu of a spectral waveform f(λ) measured by an etalon spectrometer 32 and the spectral line width W or spectral purity E95 of a true spectral waveform g(λ) of laser beam is preliminarily determined, and stored in a storage part 41. - 特許庁

計測対象物表面の表面汚染物質や計測雰囲気中の分子の影響を抑制してレーザ誘起ブレイクダウン分光法による元素分析の分析精度を向上させる。例文帳に追加

To improve analysis accuracy of element analysis by laser-induced breakdown spectroscopy by suppressing influence of a surface contaminant on a measuring object surface or molecules in a measuring atmosphere. - 特許庁

様々な計測対象物質に対して高い分解能でレーザ誘起ブレイクダウン分光法による計測を行うことができ、さらに、小型で可搬性に優れ、簡便かつ安全に計測を行うことができる光計測装置及び計測システムを提供する。例文帳に追加

To provide a light measuring instrument and system that are small and portable, and can safely and easily perform measurement on various object materials at high resolution with laser-induced breakdown spectroscopy. - 特許庁

レーザラマン分光光度計で測定されるラマン散乱光強度のうち、２２６０ｃｍ^−１と４１３５ｃｍ^−１のピーク強度比（Ｉ_２２６０／Ｉ_４１３５）を０．０２以下にした。例文帳に追加

The peak intensity ratio (I_2260/I_4135) of 2260 cm-1 to 4135 cm-1 in Raman scattered light measured by a laser Raman spectrophotometer is controlled to ≤0.02. - 特許庁

複数のレーザビームを用いて複数点の蛍光統計分布解析を行うことのできる高性能で、低コストな蛍光分光分析装置を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a high-performance and low-cost fluorescence spectroscopic analyzer capable of performing fluorescence statistical distribution analysis of a plurality of points by using a plurality of laser beams. - 特許庁

複数のレーザビームを用いて複数点の蛍光統計分布解析を行うことのできる高性能・低コストな蛍光分光分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide an inexpensive fluorescence spectroscopic analyzer of high performance capable of executing fluorescence statistical distribution analysis for a plurality of points, using a plurality of laser beams. - 特許庁

すなわち、塩分濃度計測装置１１は、レーザ光を路面に照射し、凍結防止剤の成分がブレイクダウン現象により分解して生成されるプラズマを分光して塩分濃度を計測し、その計測結果をデータ処理装置１２へ出力する。例文帳に追加

That is to say, in the measuring device 1, the road surface is irradiated with the laser beam, a plasma generated when the component of an antifreezing agent is decomposed is measured, and its measured result is output to a data processor 12. - 特許庁

本発明は、従来より厚みの厚いＩｎ組成の大きな結晶を量子井戸層とした量子井戸構造を実現した、特性の高性能化を図ることができる量子井戸構造、光閉じ込め型量子井戸構造、半導体レーザ、分布帰還型半導体レーザ、分光計測装置及び量子井戸構造の製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a quantum well structure capable of improving performance of characteristics to obtain the quantum well structure having a crystal with a large In composition thicker than conventional ones as a quantum well layer, an optical confinement type quantum well structure, semiconductor laser, distributed feedback semiconductor laser, a spectrograph and a manufacturing method of the quantum well structure. - 特許庁

０．１〜１０ナノ秒のパルス幅の光パルスを出射するレーザー光源と、前記レーザー光源から出射された光パルスが入射され、当該光パルスを広帯域化してスーパーコンティニューム光を生成して出射するフォトニック結晶ファイバと、からなり、フォトニック結晶ファイバから出射されたスーパーコンティニューム光を用いて非線形分光計測を行う、非線形分光計測システム用の光源装置。例文帳に追加

The light source device for the nonlinear spectroscopic measuring system for performing nonlinear spectroscopic measurement by using super continuum light emitted from a photonic crystal fiber, includes a laser light source for emitting an optical pulse having 0.1-10 nanosecond pulse width; and the photonic crystal fiber entered by the optical pulse emitted from the laser light source, for widening the band of the optical pulse, and generating and emitting the super continuum light. - 特許庁

本発明は、従来より厚みの厚いＩｎ組成の大きな結晶を量子井戸層とした量子井戸構造を実現した、特性の高性能化を図ることができる量子井戸構造、半導体レーザ、分光計測装置及び量子井戸構造の製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a quantum well structure, semiconductor laser, spectral measuring instrument and method of manufacturing the quantum well structure in which performance of characteristics can be improved by accomplishing the quantum well structure in which a large crystal of In composition thicker than the prior art is made into quantum well layer. - 特許庁

ラマンスペクトル測定装置１０は、試料Ｓへと照射される励起光を出射する励起光源である励起レーザ１１と、励起光が照射された前記試料からのラマン散乱光を分光する分光器１６と、分光器１６で分光されたラマン散乱光を検出する光検出器１７と、光検出器１７で検出されたラマン散乱光を計数してラマンスペクトルを得る計数回路１８とを有する。例文帳に追加

The Raman spectrum measuring instrument 10 has an exciting laser 11 being an exciting light source for emitting the exciting light thrown on a sample S, a spectroscope 16 for spectrally diffracting the Raman scattered light from the sample irradiated with exciting light, a photodetector 17 for detecting the Raman scattered light spectrally diffracted by the spectroscope 16 and a count circuit 18 for counting the Raman scattered light detected by the photodetector 17 to obtain a Raman spectrum. - 特許庁

検査対象である金属表面６にパルス状のレーザー光１１を照射して付着物質をアブレーションし、その後アブレーションによりプラズマ化された物質からの発光１３を計測し、分光することにより、金属表面に付着する微量成分の特定と濃度を求めるようにしている。例文帳に追加

A measurement method comprises the steps of: irradiating a metallic surface 6 to be inspected with a pulse-shaped laser beam 11 to perform the ablation of adhesion substance; measuring and dispersing emission 13 from the substance integrated into plasma by the ablation for specifying micro-components adhered to the metallic surface, and for calculating the concentration of the micro-components. - 特許庁

レーザー吸収分光分析の分析セルを充満させたガス試料中の不純物量を測定するこの方法は、所与圧力で、ガス試料の吸収の特性代表値を計算し、不純物量の関数としての特性の変化に対してあらかじめ定められた法則に基づいて不純物を定量化することにある。例文帳に追加

In this method for measuring a quantity of an impurity in a gas sample filled in an analytical cell 12 for laser absorption spectroscopic analysis, a characteristic representative value in absorption of the gas sample is calculated under prescribed pressure, and the quantity of the impurity is determined quantitatively based on a preliminarily defined formula with respect to change of a characteristic as a function of the impurity. - 特許庁

そして、半導体露光処理等のような通常のレーザ運転時に、エタロン分光器３２で計測されるスペクトル波形ｆ（λ）の線幅閾値Thresuにおけるスペクトル線幅Ｗと、予め求めた相関とを用いて、スペクトル線幅Ｗに対応するスペクトル線幅Ｗやスペクトル純度Ｅ９５やコントラストロスＣＬが求められる。例文帳に追加

At the time of the general laser operation such as a semiconductor exposing treatment, the spectral line width W, spectral purity E95 or contrast loss LC corresponding to the spectral line width in the line width threshold Thresu of the spectral waveform f(λ) measured by the etalon spectrometer 32 is determined by use of this spectral line width and the predetermined correlation. - 特許庁