「回折理論」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

回折面法線分布関数Ｐ（φ）として，配向密度分布関数を周期化し，かつ，重ね合わせたものを用いることにより，この回折面法線密度分布関数Ｐに基づいて理論的な回折Ｘ線強度分布を計算すると，そのロッキングカーブは，現実の回折現象を良く反映したものになる。例文帳に追加

When a theoretical diffraction X-ray intensity distribution is calculated based on a diffraction surface normal distribution function P by using overlapped orientation density distribution functions to which periodicity is given as the diffraction surface normal distribution function P(ϕ), its rocking curve reflects excellently an actual diffraction phenomenon. - 特許庁

ブレーズ形状あるいはキノフォームと呼ばれる回折格子形状は、回折格子の形状としては最も回折効率が高く有利であり、ある波長に対して最適化されると、その波長での回折効率はスカラー回折理論によれば１００％になり、またこれを階段近似した形状であっても９０％以上の回折効率を期待できる。例文帳に追加

The diffraction grating shape of the blaze shape or the so-called kinoform shape advantageously has the highest diffraction efficiency as the shape of the diffraction grating, and when the shape is optimized to a wavelength, diffraction efficiency in the wavelength is made to be 100% according to a scalar diffraction theory and ≥90% diffraction efficiency is expected even in a stepwise approximated shape. - 特許庁

回折コントラストは、主にインターバンド散乱によるものなので、プラズモン散乱はコントラスト理論において無視できる。例文帳に追加

Since diffraction contrast is mainly due to interband scattering, plasmon scattering can be neglected in contrast theories.  - 科学技術論文動詞集

すべてのこれらの回折波の多重可干渉な相互作用を考慮するためには、nビーム動力学理論が使われなければならない。例文帳に追加

In order to take account of the multiple coherent interactions of all these diffracted beams, an n-beam dynamical theory must be used.  - 科学技術論文動詞集

（６）ハーフホイスラー化合物は、最強線ピークの回折角２θの理論値に対するシフト量が±０．１ｄｅｇである。例文帳に追加

(6) A shift amount to a logic value of a diffraction angle 2θ of the strongest beam peak of the half-Heusler compound is ±0.1 deg. - 特許庁

この担体は格子欠陥がなく、Ｘ線回折によってもマグネシアが検出されず、格子定数が理論値に近い。例文帳に追加

This carrier has no lattice defect and magnesia is not detected even by X-ray diffraction and the lattice constant of the carrier is near to a theoretical value. - 特許庁

スカラー理論を用いた設計方法と同程度の簡便さを持ち、従来よりも高性能な回折光学素子の設計方法を提供する。例文帳に追加

To provide the design method of diffractive optical element which has the same degree of simplicity as a design method using a scalar theory and has higher performance than the conventional design method. - 特許庁

一方，配向密度分布関数ρに基づいて理論的な回折Ｘ線強度を計算し，理論ロッキングカーブが測定ロッキングカーブに最も近づくように配向密度分布関数の特性パラメータを求める。例文帳に追加

In the mean time, theoretical diffraction X ray intensity is calculated based on the orientation density distribution function ρ, and the characteristic parameter of the orientation density distribution function is obtained so that the theoretical rocking curve approaches the measurement rocking curve most. - 特許庁

電子回折の理論、回折図形、電子(顕微鏡)写真のコントラストの解釈に関するセミナー(開催)へのニーズに応じるために、サマースクールが1963年7月ケンブリッジで開催された。例文帳に追加

In order to meet a need for a seminar on the theory of electron diffraction and the interpretation of diffraction patterns and contrast on electron micrographs, a Summer School was held in Cambridge in July 1963.  - 科学技術論文動詞集

これにより、屈折率変調量と回折効率の関係（結合波理論）、及び回折効率の温度特性から、回折効率に対応する屈折率変調量を特定することが可能となり、偏光分離素子１０の屈折率変調量を算出することが可能となる。例文帳に追加

By this, the refraction index modulation quantity corresponding to the diffraction efficiency can be specified using the relation (coupled wave theory) between the refraction index modulation quantity and the diffraction efficiency and the temperature characteristic of the diffraction efficiency, and the refraction index modulation quantity of the polarized beam splitter 10 can be calculated. - 特許庁

コントローラ３には、あらかじめ、抽出対象となる各回折光の理論上の強度と膜厚との関係を示すテーブルが設定されており、これら回折光の理論上の強度がラインＣＣＤ１０により抽出された回折光の強度に最も近くなる場合の膜厚を求め、これを測定対象の基板１１の膜厚として特定する。例文帳に追加

A table indicating the relationship between the theoretical intensity of each diffracted light to be extracted and film thickness is previously set in a controller 3, and a film thickness in the case that the theoretical intensity of the diffracted light is closest to the intensity of the diffracted light extracted by the line CCD 10 is obtained and specified as the film thickness of the substrate 11 to be measured. - 特許庁

データ処理手段７は、予め基準形状に対する理論スペクトルを備え、検出された回折光のスペクトルに最も近い理論スペクトルを検索することにより、被測定パターン１１の線幅あるいは断面形状を特定する。例文帳に追加

A data processing means 7 is previously provided with theoretical spectra to reference shapes and specifies the line widths or cross-sectional profiles of the patterns to be measured 11 by retrieving the theoretical spectrum most close to the spectrum of detected diffracted light. - 特許庁

対物レンズ１０８の硝材にＤ線の屈折率ｎｄ：１.５０、アッベ数νｄ：６０の硝材（５５０.６００）を用いた場合、格子溝深さｄに対する青色（波長４０５ｎｍ）、ＤＶＤ（波長６６０ｎｍ）、ＣＤ（波長７８５ｎｍ）に対して回折効率をスカラー回折理論を用いて求める。例文帳に追加

When the nitric materials 550, 600 of D-line refractive index nd: 1.50 and Abbe number vd: 60 are used for the objective lens 108, diffraction efficiency is obtained for a blue color (wavelength 405nm), a DVD (wavelength 660nm) and a CD (wavelength 785nm) with respect to the lattice groove depth (d) by using a scalar diffraction theory. - 特許庁

コントローラ２０のＣＰＵ２１は、受光部１２からの受光量データを取り込んで各次数の回折光の強度を認識した後、基板１の表面ラフネスの影響が大きい１〜３次の回折光を除外し、他の次数の回折光の強度を理論上の強度と比較する処理を実行する。例文帳に追加

The CPU 21 in the controller 20 takes light receiving quantity data from the light-receiving part 12 and recognizes the intensity of the diffracted light in each order, then removes diffracted light in the first to third orders largely influenced by the surface roughness of the board 1, and executes processing of comparing the intensity of the diffracted light in another order with the theoretical intensity. - 特許庁

かなりの(量の)研究が、(ある動力学的補正を伴った)主に運動学的理論に基づき、「点状の」または「環状の」電子回折図形を使って、結晶構造の解析について行われた。例文帳に追加

A considerable amount of work has been conducted on the analysis of crystal structures using point or ring electron diffraction patterns, based mainly on the kinematical theory (with some dynamical corrections).  - 科学技術論文動詞集

最後に、各種の凹凸構造が、それぞれ補正された光の振幅を有するものとして、再びスカラー理論に基づいた計算を行い、所望の特性を有する回折光学素子を設計する（ステップＳ５）。例文帳に追加

Lastly, calculation based on the scalar theory is again performed assuming that various kinds of rugged structures have amplitudes of light which are corrected respectively and the diffractive optical element having the desired characteristic is designed (process S5). - 特許庁

被測定炭素材のＸ線回折プロファイルに基づいて、前記理論散乱強度式の重み係数を最小二乗法により算出し、被測定炭素材の構造および組成を解析する。例文帳に追加

Based on the X-axis diffraction profile of the carbon material to be measured, the weight coefficient of the theoretical scattering strength expression is calculated by the least square method, thus analyzing the structure and composition of the carbon material to be measured. - 特許庁

密度が近い隣接層が存在するなどの理由でＸ線反射率法による膜厚測定ができない場合でも，配向性を考慮した回折Ｘ線強度の理論ロッキングカーブを測定ロッキングカーブにパラメータフィッティングすることで，Ｘ線回折法によって薄膜の膜厚を測定可能にする。例文帳に追加

To measure the thickness of a thin film by an X-ray diffraction method by performing the parameter fitting of a theoretical rocking curve of diffracted X-ray intensity considering orientation to a measured rocking curve, even when film thickness measurement by an X-ray reflectivity method can not be performed because of a reason as existence of a contiguous layer having an approximate density or the like. - 特許庁