「短時間試験」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

本発明は、システムＬＳＩの試験が短時間でできる半導体試験装置を提供する。例文帳に追加

To obtain a semiconductor testing device capable of testing a system LSI in a short time. - 特許庁

絶縁抵抗試験または耐電圧試験による残留電荷を短時間で確実に除去できるようにする。例文帳に追加

To remove residual charges surely in a short time after insulation resistance test or withstand voltage test. - 特許庁

短時間に高精度の劣化試験を実施できる劣化試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a deterioration tester capable of performing a deterioration test of high precision in a short time. - 特許庁

短時間に高精度の劣化試験を実施することができる劣化試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a deterioration testing device capable of executing a highly-accurate deterioration test in a short time. - 特許庁

被試験車両の駆動輪をローラの真上に正確に短時間で載置し、正確な試験を行う。例文帳に追加

To accurately and quickly place the driving wheel of a vehicle to be tested directly on a roller for accurate testing. - 特許庁

短時間で試験を行うことができる半導体メモリを提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor memory which can be tested in a short time. - 特許庁

短時間に、且つ容易にフレキシブル基板の耐屈曲性の試験を行う。例文帳に追加

To carry out a test on the flexibility of a flexible board easily in a short time. - 特許庁

通信装置相互間で行われる通信試験を短時間に行う。例文帳に追加

To perform communication test to be performed between communication equipment, in a short time. - 特許庁

磁気記憶装置のサイドイレーズ試験を短時間で実行する。例文帳に追加

To execute side erase test for a magnetic storage device in a short time. - 特許庁

落下試験を繰り返し連続的に行う際に、被試験体の吊上げ作業が短時間で簡単にできて試験効率を良くする。例文帳に追加

To improve efficiency in testing by quickly and easily performing suspension work of an object to be tested when performing a drop test repeatedly and continuously. - 特許庁

本発明は、短時間で信頼性の高いジッタ試験を行うことのできるジッタ試験装置及びジッタ試験方法の提供を目的とする。例文帳に追加

To provide a device and a method for a jitter test which enable execution of a high-reliability jitter test, in a short time. - 特許庁

電気的特性試験の信頼性が高く、短時間で試験可能な半導体試験装置および測定装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor testing device and a measuring device having high reliability of an electric characteristic test, capable of testing in a short time. - 特許庁

高精度、短時間、低コストで車両評価試験を実現する車両評価試験システム、車両評価試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a vehicle evaluation test system, and a vehicle evaluation test method for accurately and inexpensively attaining vehicle evaluation test, in a short time. - 特許庁

＜試験条件＞ 電極：φ２５ｍｍ円柱／φ２５ｍｍ円柱 試料厚み：０．５ｍｍ 試験方法：短時間法 試験温度：２３℃例文帳に追加

The test conditions are: the electrodes of ϕ25 mm cylindrical column/ϕ25 mm cylindrical column; the sample thickness of 0.5 mm; the test method of short time process; and the test temperature of 23°C. - 特許庁

本発明は、試験体の漏れ試験をより短時間で行うことが可能なリークディテクタ及び漏れ試験方法を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a leak detector and a leakage test method capable of implementing leakage tests of test body for shorter time. - 特許庁

複数の入力端子を備えたＬＳＩの試験を短時間かつ低コストで行うことができる回路試験装置および回路試験方法を提供する。例文帳に追加

To conduct a test of an LSI provided with a plurality of input terminals in a short time and at low cost. - 特許庁

過剰な温度・応力試験による材料特性を損なわないで、かつ広範囲でバランスの良い試験条件設定が可能となり、その試験条件で短時間試験結果により補正することで、試験時間の誤差が少ない材料強度試験の試験条件設定が可能となる。例文帳に追加

To set the test condition of a material strength test reduced in the error of a test time by enabling setting a wide range of a well-balanced test condition without damaging the material characteristics due to an excessive temperature/stress test to perform correction, based on a short-time test result under the testing condition. - 特許庁

半導体メモリの試験後に、複数の半導体メモリへのデータの書込みを短時間で行う。例文帳に追加

To write data into a plurality of semiconductor memories in a short period of time after the semiconductor memories are tested. - 特許庁

ＢＣＩ試験のシミュレーションをより短時間に行えるようにする技術を提供する。例文帳に追加

To provide a technology for performing simulation of a BCI test in shorter time. - 特許庁

コンピュータ周辺機器において、不具合再現試験を短時間で行うこと。例文帳に追加

To perform a failure reproduction test in a short time in computer peripheral equipment. - 特許庁

プラスチックカセット内に配置された試験片の温度が短時間で周囲温度になる検定具。例文帳に追加

To provide a check tool for setting the temperature of a test piece being arranged in a plastic cassette to an ambient temperature quickly. - 特許庁

磁気テープ記録装置のリード・ライト試験を短時間で行う方法を提供することにある。例文帳に追加

To provide a method for performing the read/write test of a magnetic tape recorder in a short time. - 特許庁

ビット線対間の不良を顕在化するストレス試験を短時間で行う。例文帳に追加

To perform a stress test detecting defect between a pair of bit lines in a short time. - 特許庁

短時間に試験を行うことができるＩＣテスタを実現することを目的にする。例文帳に追加

To provide an IC tester capable of testing in a short time. - 特許庁

エンジンとトランスミッションとの複数の組み合わせについての試験を簡単にかつ短時間で行う。例文帳に追加

To easily and speedily perform a test about a plurality of combinations of an engine and a transmission. - 特許庁

ゴムの疲労寿命を短時間で予測することを可能にしたゴムの疲労試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a fatigue testing method of rubber which enables the estimation of the fatigue life of rubber in a short time. - 特許庁

短時間で調整精度の良いＡ／Ｄ変換器３の調整値の演算試験を行う。例文帳に追加

To test to calculate a regulated value of an A-D converter 3 having a good regulating accuracy in a short time. - 特許庁

複数本の高低圧用検電器を短時間で能率よく耐電圧試験を行えるようにする。例文帳に追加

To efficiently perform a withstand voltage test on two or more high and low voltage detectors, in a short time. - 特許庁

短時間で精度よく測定を行なうことができる光パルス試験器を実現することにある。例文帳に追加

To provide a light pulse tester capable of carrying out measurement precisely in a short time. - 特許庁

短時間で容易に不良解析ができるＩＣ試験装置を実現することを目的にする。例文帳に追加

To realize a IC tester in which failure analysis can be carried out readily in a short time. - 特許庁

短時間で燃料電池の寿命性能を試験する方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of testing the life performance of a fuel cell in a short period of time. - 特許庁

短時間の電界加速試験により、室温における電荷保持寿命の推定を可能にする。例文帳に追加

To estimate a charge holding lifetime at room temperature by an electric field acceleration test in a short time. - 特許庁

動作環境を変えることなく、かつ、短時間で動作試験を行うことを可能にする。例文帳に追加

To perform an operation test in a short time by varying no operation environment. - 特許庁

短時間で複数の試料を測定できる試験片を用いる専用の読み取り装置の提供。例文帳に追加

To provide a dedicated reading device using a test piece capable of measuring multiple samples in a short time. - 特許庁

ＩＳＤＮ回線において加入者試験を短時間にしかも確実に実行する。例文帳に追加

To reliably execute a subscriber test in an ISDN line in a short time. - 特許庁

シュミット回路の試験を、短時間で行うことが可能なシュミット回路の試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a test method of a Schmitt circuit capable of performing a test of the Schmitt circuit, in a short time. - 特許庁

水素脆化に起因する脆性剥離を短時間で的確に再現できる軸受試験装置と軸受試験方法を提供することである。例文帳に追加

To provide a device and a method for testing a bearing, capable of reproducing brittle separation caused by hydrogen brittleness, in a short time and with precision. - 特許庁

本発明は電圧検出回路を短時間に簡単かつ正確に試験する電圧検出回路試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a voltage detection circuit test device for testing a voltage detection circuit simply, accurately in a short time. - 特許庁

短時間で簡単に機能を試験することができる試験回路を備えたＤ／Ａ変換回路を提供する。例文帳に追加

To provide a D/A conversion circuit equipped with a test circuit which can easily test a function in a short time. - 特許庁

液晶パネルの耐久性を短時間で適正に評価することができる耐久性試験装置および耐久性試験方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a durability testing device and a durability testing method by which durability of a liquid crystal panel can be appropriately evaluated in a short period of time. - 特許庁

試験装置の複数の構成要素のうち、試験に必要な構成要素の診断及び初期化を、短時間で、且つ漏れなく行う。例文帳に追加

To diagnose and initialize the constitutional components necessary for testing among a plurality of constitutional components of a testing machine in a short time and without exception. - 特許庁

セクタ単位での消去機能の試験を短時間で実行することができる、半導体不揮発性メモリの消去機能試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide an erase function testing method of a semiconductor nonvolatile memory executing the erase function test in sector units in a short time. - 特許庁

過剰なストレスを付加することなく、短時間で半導体集積回路を試験することが可能な試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a test device for testing a semiconductor integrated circuit in a short time without applying excessive stress. - 特許庁

タイヤ試験装置において、タイヤ試験中に生じるタイヤ内の空気圧の微小な変動を短時間で調整する。例文帳に追加

To adjust in a short time, fine pneumatic fluctuation in a tire generated during testing the tire, in a tire testing device. - 特許庁

屋内にて短時間で通信試験を実施することが可能な屋内通信試験システムを提供する。例文帳に追加

To provide an indoor communication test system which allows a user to perform a communication test in a short time in a building. - 特許庁