「短時間試験」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

整流器型限流遮断装置の動作試験を、専用の試験場を用意したりすることなく、簡単かつ短時間に行えるようにする。例文帳に追加

To perform operational test for a rectifier type current-limiting interruptor simply and in a short time without preparing for a dedicated testing place. - 特許庁

被試験器の故障部位の特定を、短時間で精度高く容易に行うことができる試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a testing device capable of highly accurately and easily specifying a failure portion of an apparatus to be tested in a short time. - 特許庁

長期間の耐候性試験の後に起こる塗膜劣化の時期を、短時間の耐候性試験の結果から予測する方法の提供。例文帳に追加

To provide a method for predicting the time of deterioration of a paint film occurring after a long-term weathering test from the result of a short-time weathering test. - 特許庁

短時間で特性解析用試験を行うことで、試験に要するコストを低減することができるバーンイン試験装置及び試験方法を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a burn-in test apparatus and test method capable of reducing the cost required for test by performing a characteristic analyzing test in a short time. - 特許庁

ＡＤＣの試験回路に高精度かつ高分解で高価なアナログ電圧発生回路を用いることなく、従来と比較して短時間でＡＤＣの試験を行うことができる試験方法および試験回路を提供する。例文帳に追加

To provide a testing method and a testing circuit, which enable the user to perform the test of ADC in a time shorter than that in conventional ones, without using a high-precision, high-resolution, and expensive analog voltage generating circuit for an ADC testing circuit. - 特許庁

信頼性試験を比較的短時間で低コストに行うことができ、また、試験結果に基づく推定値の誤差が少ない信頼性試験装置および信頼性試験方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a reliability testing device and a reliability test method capable of performing a reliability test in a comparatively short time at low cost, and having a small error of an estimated value based on the test result. - 特許庁

多量の温調空気を高速で被試験品２に当てることができるので、被試験品２を短時間で環境試験温度状態に到達させることができ、試験時間を短縮できる。例文帳に追加

Since a great deal of temperature control air can be blown on the specimen 2 at high speed, the specimen 2 can be brought to the environmental test temperature state in a short time, and a test time can be shortened. - 特許庁

被試験ＩＣに印加する試験パターンの印加周期を漸次短くなる方向に変化させ動作可能な最短周期を測定し、被試験ＩＣの応答特性を測定する試験を短時間に実行できるようにする。例文帳に追加

To execute in a short time a test for measuring a response characteristic of an IC to be tested by measuring the operable shortest period by changing the application period of a test pattern applied to the IC to be tested, so as to be gradually shortened. - 特許庁

試験室内全体を所要の高低温状態に短時間で精度よく設定し、また一定の高低温状態への再設定を短時間で再現性よく行う高低温試験室空調方式を提供する。例文帳に追加

To provide a high/low temperature test room air-conditioning method capable of setting the entire test room in a required high/low temperature state in a short time, and resetting a specific high/low temperature state in a short time with high reproducibility. - 特許庁

システムを肥大化させること無く、プラントの故障診断を短時間に正確に行える信頼性の高いプラント故障診断装置、およびプラントの試験を短時間に正確に行えるプラント試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a highly reliable plant failure diagnostic device for achieving the failure diagnosis of a plant in a short period of time and a plant test device for accurately testing a plant in a short period of time without increasing the scale of this system. - 特許庁

小型で被振動試験物への締結が極めて短時間で行うことができる他、被振動試験物に往復、回転、捩れなどの複雑な振動を容易に与えることができ、生産ライン上での振動試験ができ、また、被振動試験物が通電状態でも加振ができる振動試験装置を得ること。例文帳に追加

To provide a vibration tester to vibrate a test object even in an energization state by tightening the small-sized test object to be vibrated in a very short period of time, easily giving complicated vibration such as reciprocation, rotation and torsion to the test object, and making a vibration test in a production line. - 特許庁

レーザー合焦点の位置管理を行い、より短時間に高精度の劣化試験を実施することができる劣化試験方法及び劣化試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a deterioration test method and a deterioration test system capable of conducting a deterioration test in a shorter time and with high accuracy by performing position management of a laser focal point. - 特許庁

試験管ラックに収容されている複数の試験管の種類を正確に判別でき、しかも判別作業を短時間内に行なうことのできる試験管種類判別装置を提供。例文帳に追加

To provide a test tube type discriminating device precisely discriminating types of a plurality of test tubes stored in a test tube rack and performing discrimination work in a short period of time. - 特許庁

テスタの台数を増加させることなくかつ半導体装置の信頼性を維持しつつ、短時間に半導体装置を試験する半導体装置試験モジュールおよびその試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device test module and its test method capable of testing a semiconductor device in a short time, while keeping reliability of the semiconductor device, without increasing the number of testers. - 特許庁

ＡＦＭ内に備える使用されていなかったバンクメモリを適用して、ＤＵＴからのフェイル情報を格納させることで、より短時間にデバイス試験が実施可能な半導体試験装置、及び試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor test device which can perform a device test for a shorter time by applying a bank memory provided in an AFM and being not used and storing fall information from a DUT. - 特許庁

ゴム試験片に対して欠け等の破壊を生じさせるゴム破壊試験機において、短時間でゴム試験片の変形を促すことなく破壊を生じさせるようにする。例文帳に追加

To generate destruction without causing the deformation of a rubber test piece quickly in a rubber destructive testing machine for generating destruction such as cutout in the rubber test piece. - 特許庁

様々な試験モードに対応可能な汎用性を備え、短時間で確実にテストプラグを試験することが可能なテストプラグ試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus for testing test plug, provided with such versatility as to adapt to various test modes and capable of reliably testing test plugs in a short time. - 特許庁

プリント配線板上に形成されるランドパターンの設計の適否を短時間で試験することができる実装試験装置およびその実装試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a mount testing apparatus by which the propriety of land pattern design formed on a printed wiring board can be tested for a short time, and to provide its mount testing method. - 特許庁

試験軸受の白色はく離再現を短時間で精度良く行えるとともに、試験軸受の転動体、転動面のいずれの白色はく離をも再現できる軸受試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a bearing testing device capable of reproducing white peeling of a test bearing with high accuracy and in a short time, and reproducing white peeling of any of a rolling element and rolling surface of the test bearing. - 特許庁

フロンなどの噴射ガス種を用いずに、安全性が高く、取扱いも容易で、短時間に試験作業を完了し得る煙感知器作動試験用発煙組成物、および煙感知器作動試験用器具を提供する例文帳に追加

To provide a smoke producing composition for a operation test of a smoke sensor and a device for the operation test of the smoke sensor, which do not use injection gas such as flon, have a high safety and being readily handleable, and allows the operation work to be completed in a short time. - 特許庁

複数の導線挿入孔に試験用のピンを容易にかつ短時間に挿入できて、導通試験の時間短縮を図れる上に、使い勝手に優れた回線の導通試験用アダプターを提供する。例文帳に追加

To provide an adapter for continuity test of a line which can shorten the time for the continuity test and is easy to use since pins for testing can easily be inserted into conductor insertion holes in a short time. - 特許庁

原子炉格納容器の現地使用前検査として実施する試験時の作業量及び本試験付帯工事作業量を低減し、容易かつ短時間で試験できるようにする。例文帳に追加

To educe the work quantity in a test executed as the inspection prior to field use of a nuclear reactor containment vessel and the work quantity of a main test appurtenant work to easily perform the test in a short time. - 特許庁

高分解能（多ビット）Ａ／Ｄ変換回路の試験を短時間且つ低コストで実現するＡ／Ｄ変換回路の試験方法、及びその試験方法の実施に適したＡ／Ｄ変換回路の提供。例文帳に追加

To provide a method of testing an A-D conversion circuit for testing a high-resolution (multi-bit) A-D conversion circuit in a short time and at low cost, and the A-D conversion circuit suitable for implementing the testing method. - 特許庁

感光体の径に応じ、必要とする感光体通過電流条件を満たしながら、短時間で効率的に寿命試験（あるいは劣化試験）などを行うことが可能な感光体劣化加速試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a photoreceptor deterioration acceleration test device capable of efficiently performing a life test (or deterioration test) in a short time while satisfying a necessary photoreceptor passing current condition in accordance with the diameter of a photoreceptor. - 特許庁

高分解能（多ビット）Ａ／Ｄ変換回路の試験を短時間且つ低コストで実現するＡ／Ｄ変換回路の試験方法、及びその試験方法の実施に適したＡ／Ｄ変換回路の提供。例文帳に追加

To provide a testing method for an A/D converting circuit that conducts a test of a high-resolution (multi-bit) A/D converting circuit in a short time at a low cost, and the A/D converting circuit suitable to implementation of the testing method. - 特許庁

ビル内保安器から通信発着信試験を短時間に行えるプラグ、通信発着信試験装置および通信発着信試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a plug and a communication transmission/reception testing apparatus and method in which a communication transmission/reception test can be performed from a protector inside a building in a short time. - 特許庁

高分子膜の寿命評価を、短時間で行うことができる高分子膜の寿命予測試験方法、試験装置および試験プログラムを提供する。例文帳に追加

To provide a lifetime prediction test method of a polymer membrane capable of carrying out in short time evaluation of the lifetime of a polymer membrane, a test device, and a test program. - 特許庁

同一機能を有するモジュールが複数個搭載されたデータ処理装置の試験方法において、より短時間で該複数個のモジュールの良品、不良品の判定試験が実施可能なデータ処理装置の試験方法を得ること。例文帳に追加

To provide a test method of a data processor capable of executing a determination test for quality of a plurality of modules in a relatively short time, in a test method of a data processor composed by mounting a plurality of modules having the same function. - 特許庁

超高サイクル疲労試験を短時間で実施することができるひずみ制御型超高サイクル疲労試験方法および疲労試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a strain control type super-high cycle fatigue testing method and a fatigue testing apparatus therefor, which can carry out a super-high cycle fatigue test for a short period of time. - 特許庁

試験対象とする半導体装置が高パワー半導体装置であっても、大規模な冷却手段を用いることなく、半導体装置の温度上昇を防ぎ、かつ、短時間で試験を行うことのできる試験装置及び試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a test device and a test method with which the increase of temperature of a semiconductor device can be suppressed and test can be performed in short time without using any large scale cooling means even if a semiconductor device to be tested is a semiconductor device of high power. - 特許庁

短時間でインタフェースボードを試験することができ、かつ、スロットに格納される部材のアナログ特性に依存せず、適切な試験結果を得ることができるインタフェースボード試験装置及びインタフェースボード試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide an interface board testing device and an interface board testing method which can test an interface board in a short period of time, and obtain an appropriate test result independently of analog characteristics of a member stored in a slot. - 特許庁

湿度が周期的に変化する環境に電子機器等の被試験物を置く環境試験装置を改良するものであり、環境試験に要する時間を短縮し、短時間で従来と同様の効果を得ることができる環境試験装置を開発する。例文帳に追加

To develop an environmental test device capable of reducing the time required for environmental test and obtaining similar effect as in the past, in a short time, by improving an environmental test device wherein a test object, such as electronic equipment, is put in such an environment that humidity changes periodically. - 特許庁

従来の試験方法から得られる結果と同等以上の精度を有し且つ信頼性をも満足させる耐屈折性データを効率よく短時間で得ることのできる試験方法及びその試験方法を行なう試験装置を提供する例文帳に追加

To provide an anti-refraction property testing method which enables the efficient obtaining of anti-refraction property data, which has precision equal to or higher than that of a result obtained from a conventional testing method and also satisfies reliability, in a short time, and an anti-refraction property tester. - 特許庁

試験管、フラスコ、ビーカ、メスや鉗子などの物品を短時間、且つ、円滑に殺菌することができる殺菌庫を提供する。例文帳に追加

To provide a sterilizing warehouse capable of quickly and smoothly sterilizing articles such as test tubes, flasks, beakers, surgical knives, medical forceps. - 特許庁

本発明は、試験モードの切り替えを短時間で実行可能な半導体装置を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a semiconductor device capable of performing changeover of a testing mode, in a short time. - 特許庁

選択される制御棒が複数本となった場合、人間系を介在させることなく、確実かつ短時間で試験できるようにする。例文帳に追加

To certainly and speedily test a control rod driving mechanism without requiring a human system when a plurality of control rods are selected. - 特許庁

被試験体の部材自体からのガス放出が大きいものでも短時間に処理ができるヘリウムリークテスト装置を提供する。例文帳に追加

To provide a helium leak tester which can perform test in a short time even when the member of a specimen itself discharges a gas significantly. - 特許庁

低コスト且つ短時間に送受信タイミングマージンを定量的に判定することが可能な通信試験回路を提供する。例文帳に追加

To provide a communication test circuit capable of inexpensively and quickly performing quantitative determination of a transmitting/receiving timing margin. - 特許庁

ロングライト時に動作不良が発生するセルを短時間に検出することができる半導体記憶装置及びその試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor memory and its test method which can detect a cell in which operation defect occur at the time of long-write in a short time. - 特許庁

試験体の正確な判定に基づく診断結果を低コストかつ短時間で得る上で有利な遠隔診断方法を提供する。例文帳に追加

To provide a remote diagnosis method which is advantageous for acquiring inexpensively in a short time, a diagnosis result based on accurate determination by a test body. - 特許庁

ガラス材料の最適温度条件を決定するための、複数温度条件での試験を短時間で行うことを目的とする。例文帳に追加

To perform a test under multiple temperature conditions for determining the optimum temperature condition of a glass material in a short time. - 特許庁

測定結果のファイルへの保存を短時間で正確に行なえる光パルス試験器を実現することにある。例文帳に追加

To provide a light pulse tester capable of performing preservation of a measurement result in a file accurately, in a short time. - 特許庁

さらに、極めて短時間に加熱されるため試験用ガスを構成する成分間での反応も抑えられる。例文帳に追加

In addition, the test gas is heated in a very short time, and the reaction between components constituting the test gas can also be suppressed. - 特許庁

学生に対しても、内燃機関のメカニズムや原理を容易にかつ短時間に習得させることができる内燃機関試験装置を提供すること。例文帳に追加

To provide an internal combustion engine tester for easily learning a mechanism and a principle of an internal combustion engine in a short time even for a student. - 特許庁

フラッシュメモリのトリミング動作を高速化し、短時間に済ませることができる半導体デバイス試験装置を提案する。例文帳に追加

To provide a test device for a semiconductor device which can test in a short time by increasing operation speed of trimming operation of a flash memory. - 特許庁