EX-Pの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 32件
The exposure system EX exposes a substrate P via a projection optical system PL and a liquid P.例文帳に追加
露光装置EXは、投影光学系PLと液体とを介して基板Pを露光する。 - 特許庁
An exposure apparatus EX exposes a substrate P through a liquid LQ.例文帳に追加
露光装置EXは、液体LQを介して基板Pを露光する。 - 特許庁
The exposure device EX exposes a substrate P to an exposure light EL through a liquid for exposure LQ.例文帳に追加
露光装置EXは、露光用液体LQを介して露光光ELで基板Pを露光する。 - 特許庁
An aligner EX fills an optical path space of the exposing device EX with a liquid LQ, and exposes a substrate P by irradiating the substrate P with the exposure light EL through the projection optical system PL and the liquid LQ.例文帳に追加
露光装置EXは、露光光ELの光路空間を液体LQで満たし、投影光学系PLと液体LQとを介して基板P上に露光光ELを照射して、基板Pを露光する。 - 特許庁
The substrate transfer apparatus HCD is provided with: a CD side robot 22 for delivering a substrate P between itself and a coater/developer C/D; an EX side robot 24 for delivering the substrate P between itself and an exposure apparatus EX; and a relay table 23 for relaying the substrate P between the CD side robot 22 and the EX side robot 24.例文帳に追加
基板搬送装置HCDに、コータ・デベロッパ装置C/Dとの間で基板Pの受け渡しを行うCD側ロボット22と、露光装置EXとの間で基板Pの受け渡しを行うEX側ロボット24と、CD側ロボット22とEX側ロボット24との間で基板Pを中継する中継テーブル23とを設ける。 - 特許庁
The exposure apparatus EX exposes a substrate P by projecting an image of a pattern on the substrate P through a projection optical system PL and the liquid LQ.例文帳に追加
露光装置EXは、投影光学系PLと液体LQとを介して基板P上にパターンの像を投影することによって、基板Pを露光する。 - 特許庁
An exposure device EX is an immersion exposure device for exposing a substrate P with exposing light EL via fluid LQ.例文帳に追加
露光装置EXは、液体LQを介して露光光ELで基板Pを露光する液浸露光装置である。 - 特許庁
The device production system SYS has an exposure body portion EX which exposes a substrate P to light to transfer a pattern to the substrate P; conveying units H1 and H2 for conveying the substrate P from the exposure body portion EX to a stage portion ST; and a conveying unit H3 for conveying the substrate P from the stage portion ST to a substrate housing apparatus F.例文帳に追加
デバイス製造システムSYSは、パターンを基板Pに露光する露光本体部EXと、露光本体部EXからステージ部STまで基板Pを搬送する搬送装置H1,H2と、ステージ部STから基板収納装置Fまで基板Pを搬送する搬送装置H3とを有している。 - 特許庁
The exposure apparatus EX is provided with a detecting device 60 that detects defects in thin films formed on the substrate P.例文帳に追加
露光装置EXは、基板P上に形成された薄膜の欠陥を検出する検出装置60を備えている。 - 特許庁
The exposure system EX fills a space between the projection lens system PL and the substrate P up with the liquid 50, and the substrate P is exposed by the projection lens system PL, by projecting an image of the pattern on the substrate P via the liquid 50.例文帳に追加
露光装置EXは、投影光学系PLと基板Pとの間を液体50で満たし、投影光学系PLにより液体50を介して基板P上にパターンの像を投影することによって基板Pを露光する。 - 特許庁
The exposure device SYS is provided with an exposure processing main body part EX which illuminates a mask M with exposing light EL to expose the pattern of the mask M to a photosensitive board P, and carrying systems MR and PR for carrying the mask and the photosensitive board P to the exposure processing main body part EX.例文帳に追加
露光装置SYSは、マスクMを露光光ELで照明し、マスクMのパターンを感光基板Pに露光する露光処理本体部EXと、露光処理本体部EXに対してマスク及び感光基板Pを搬送する搬送系MR、PRとを備えている。 - 特許庁
The exposure device EX comprises an exposure unit which exposes a substrate P to be exposed with a circuit pattern, and an alignment system 4 provided to penetrate the substrate P and to detect the position of the substrate P by passing light through an alignment mark AM becoming a position reference of exposure.例文帳に追加
本発明の露光装置EXは、露光対象の基板Pに回路パターンを露光する露光部と、基板Pを貫通して設けられ、露光の位置基準となるアライメントマークAMに光を通して基板Pの位置を検出するアライメント系4を備える。 - 特許庁
An exposure device EX exposes a substrate P by projecting a pattern image on the substrate P through a projection optical system PL and liquid 1, and comprises a liquid supply mechanism 10 supplying the liquid 1 to a location between the projection optical system PL and the substrate P.例文帳に追加
露光装置EXは、投影光学系PLと液体1とを介してパターン像を基板P上に投影することによって基板Pを露光するものであって、投影光学系PLと基板Pとの間へ液体1を供給する液体供給機構10を備えている。 - 特許庁
The exposure apparatus EX exposes a substrate P by irradiating the substrate P with exposure light EL through liquid 1, and comprises a substrate table PT for holding the substrate P, which is detachably provided with a plate member 30 having a liquid-shedding flat plane 30A.例文帳に追加
露光装置EXは、液体1を介して基板P上に露光光ELを照射して、基板Pを露光するものであって、基板Pを保持するための基板テーブルPTを備え、基板テーブルPTに、撥液性の平坦面30Aを有するプレート部材30が交換可能に設けられている。 - 特許庁
This exposure apparatus EX is used for exposing a substrate P to light by irradiating the substrate P with exposure light EL through a liquid 1, and has a substrate table PT for holding the substrate P, wherein a plate member 30 having a liquid repellent flat surface 30A is replaceably arranged on the substrate table PT.例文帳に追加
露光装置EXは、液体1を介して基板P上に露光光ELを照射して、基板Pを露光するものであって、基板Pを保持するための基板テーブルPTを備え、基板テーブルPTに、撥液性の平坦面30Aを有するプレート部材30が交換可能に設けられている。 - 特許庁
The exposure device EX for irradiating an exposure light EL on a substrate P through the liquid LQ for exposing the substrate P has a substrate holder PH that holds the substrate P; a substrate stage PST that is movable with a substrate P held on the substrate holder PH; and a temperature control system 60 that regulates the temperature of the substrate holder PH.例文帳に追加
露光装置EXは、液体LQを介して基板P上に露光光ELを照射して、基板Pを露光するものであって、基板Pを保持する基板ホルダPHを有し、この基板ホルダPHに基板Pを保持して移動可能な基板ステージPSTと、基板ホルダPHの温度調整を行う温調システム60とを備えている。 - 特許庁
The apparatus EX for exposing comprises a substrate holder PH for mounting a photosensitive substrate P, and a soft X-ray emitting unit 11 for emitting soft X-rays XB which are different from an exposure light EL along a mounting surface A of the holder PH for mounting the substrate P.例文帳に追加
露光装置EXは、感光基板Pを載置する基板ホルダPHと、感光基板Pを載置する基板ホルダPHの載置面Aに沿って露光光ELとは異なる軟X線XBを照射する軟X線照射部11とを備えている。 - 特許庁
In the exposure apparatus EX, the optical-path space of the image-surface side of a projecting optical system PL is so filled with a liquid LQ as to subject a substrate P to an exposure via the projecting optical system PL and the liquid LQ.例文帳に追加
露光装置EXは、投影光学系PLの像面側の光路空間を液体LQで満たし、投影光学系PLと液体LQとを介して基板Pを露光する。 - 特許庁
The apparatus EX adjusts the position relation between the images of the first and second patterns PA1, PA2 and a predetermined region S on a substrate P on the basis of a result of detection, and performs multiple exposure for the predetermined region S on the substrate P using the images of the first and second patterns PA1, PA2.例文帳に追加
検出結果に基づいて、第1及び第2パターンPA1,PA2の像と基板P上の所定領域Sとの位置関係を調整し、第1及び第2パターンPA1,PA2の像で基板P上の所定領域Sを多重露光する。 - 特許庁
This exposure apparatus EX includes a projection optical system PL, wherein an optical path space K1 of exposure light between the projection optical system and a substrate P is filled with a liquid LQ, and the substrate is exposed to light through the liquid.例文帳に追加
露光装置EXは、投影光学系PLを備え、投影光学系と基板Pとの間の露光光の光路空間K1が液体LQで満たされ、液体を介して基板を露光する。 - 特許庁
The aligner EX is provided with an optical device LS1 that is directed upwardly and has a concave surface 2 from which the exposure light EL is irradiated, and a substrate support member 4 that supports the substrate P above the concave surface 2.例文帳に追加
露光装置EXは、上方を向き、露光光ELが射出される凹面2を有する光学素子LS1と、凹面2の上方で基板Pを保持する基板保持部材4とを備えている。 - 特許庁
The exposure apparatus EX is equipped with: a substrate stage PST having a substrate holder 52 for holding the substrate P and movable while holding the substrate P on the substrate holder 52; a detector for detecting whether the substrate P or a dummy substrate is held by the substrate holder 52; and a controller CONT for changing a movable area of the substrate stage PST according to the detection results of the detector.例文帳に追加
露光装置EXは、基板Pを保持する基板ホルダ52を有し、基板ホルダ52に基板Pを保持して移動可能な基板ステージPSTと、基板ホルダ52に基板Pもしくはダミー基板が保持されているか否かを検出する検出器と、検出器の検出結果に応じて、基板ステージPSTの可動領域を変更する制御装置CONTとを備える。 - 特許庁
The aligner EX is provided with a lighting optical system IL for illuminating a mask M forming a pattern by exposure light EL from the light source 10, and a projection optical system PL for transferring a pattern image on a photosensitive substrate P.例文帳に追加
露光装置EXは、光源10からの露光光ELで、パターンが形成されたマスクMを照明する照明光学系ILと、パターンの像を感光基板P上に転写する投影光学系PLとを備えている。 - 特許庁
This projection aligner EX has a substrate stage PST that moves the substrate P in the optical-axis direction of the projection optical system PL during exposure, and a controlling device CONT that sets at least one of a position in a Z direction on the substrate P and the travel amount for moving the position during exposure for each exposure of the plurality of patterns PA.例文帳に追加
露光装置EXは、露光中に投影光学系PLの光軸方向に基板Pを移動させる基板ステージPSTと、複数のパターンPAのそれぞれの露光毎に、基板PのZ方向の位置と、この位置を露光中に移動させる移動量との少なくとも一方を設定する制御装置CONTとを備えている。 - 特許庁
The exposure apparatus EX, which has an exposure light EL irradiated onto a substrate P, using liquid LQ supplied by a liquid supply mechanism 10 and a projection optical system PL and exposes the substrate P, is provided with a pressure adjusting mechanism 90 that adjusts the pressure of the liquid LQ supplied by the liquid supply mechanism 10.例文帳に追加
露光装置EXは、液体供給機構10から供給された液体LQと投影光学系PLとを介して基板P上に露光光ELを照射して、基板Pを露光するものであって、液体供給機構10から供給された液体LQの圧力を調整する圧力調整機構90を備えている。 - 特許庁
The exposure system EX achieves liquid immersion exposure; while adjusting a position relation of the surface of the substrate P to the image face formed via the projection lens system PL and the liquid 50, based on the face information detected at the focus leveling detection system 14.例文帳に追加
露光装置EXは、フォーカス・レベリング検出系14で検出された面情報に基づいて基板P表面と投影光学系PL及び液体50を介して形成される像面との位置関係を調整しつつ基板Pの液浸露光を行う。 - 特許庁
The exposure device EX includes: a first member 2 which is movable on a first surface containing an irradiation position of exposure light and holds a substrate P in a releasable state; and a second member 7 which is movable on the first surface and holds a maintenance unit 6 in a releasable state.例文帳に追加
露光装置EXは、露光光の照射位置を含む第1面上を移動可能であり、基板Pをリリース可能に保持する第1部材2と、第1面上を移動可能であり、メンテナンスユニット6をリリース可能に支持する第2部材7とを備えている。 - 特許庁
The exposing device EX is equipped with a first exposure station ST 1 and a second exposure station ST 2 capable of exposing a photosensitive substrate P and a control system CONT for controlling the exposure in such a manner that after the first exposure is performed in the first exposure station ST 1, the photosensitive substrate P undergoing the first exposure is continuously subjected to second exposure at the second exposure station ST 2.例文帳に追加
露光装置EXは、感光基板Pを露光可能な第1露光ステーションST1及び第2露光ステーションST2と、第1露光ステーションST1で第1の露光を行った後、この第1の露光を行った感光基板Pに対して第2露光ステーションST2で第2の露光を連続して行うように制御する制御系CONTとを備えている。 - 特許庁
The aligner EX includes the light source A, an aligner body B for exposing a photosensitive substrate P with illuminating light from the source A, a controller CONT for controlling the exposure operation of the body B, and a communication apparatus 50 for communicating with the controller CONT for information relating to the operating state of the source A.例文帳に追加
露光装置EXは、光源装置Aと、光源装置Aからの照明光により感光基板Pを露光処理する露光装置本体Bと、露光装置本体Bの露光動作を制御する制御装置CONTと、光源装置Aの動作状況に関する情報を制御装置CONTに通信する通信装置50とを備えている。 - 特許庁
The exposure device EX is provided with an exposure part S for exposing a pattern of mask M to a substrate P, a library LB which can keep a mask case C for storing the mask M used by the exposure part S, and a conveyance system H1 having an arm 20 for conveying to library LB while being able to hold each of the mask M and the mask case C.例文帳に追加
露光装置EXは、マスクMのパターンを基板Pに露光する露光部Sと、露光部Sで用いるマスクMを収納するマスクケースCを保管可能なライブラリLBと、マスクMとマスクケースCとのそれぞれを保持可能であるとともに、ライブラリLBに対して搬送するアーム部20を有する搬送系H1とを備えている。 - 特許庁
The aligner EX comprises: a mask stage MST for supporting a mask M having a plurality of pattern regions; a substrate stage PST for supporting a photosensitive substrate P; a storage device MRY prestoring the error information of the measurements of respective shapes of the plurality of patterns and a target shape; and a controller CONT for controlling the mask stage MST and substrate stage PST.例文帳に追加
露光装置EXは、複数のパターン領域を有するマスクMを支持するマスクステージMSTと、感光基板Pを支持する基板ステージPSTと、複数のパターンそれぞれのの形状計測結果と目標形状との誤差情報を予め記憶した記憶装置MRYと、マスクステージMST及び基板ステージPSTを制御する制御装置CONTとを備えている。 - 特許庁
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