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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Intensity interferometerに関連した英語例文

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Intensity interferometerの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 20



例文

The data are converted to light intensity modulation signals at a reception end by a light interferometer.例文帳に追加

受信端で光干渉計により、光強度変調信号に変換する。 - 特許庁

A voltage supplied to the delay interferometer may be controlled so that a difference between a positive phase signal optical intensity and an opposite phase signal optical intensity of the delay interferometer becomes largest.例文帳に追加

また、遅延干渉計の正相信号光強度と逆相信号光強度との差が最大になるように、遅延干渉計に供給される電圧を制御してもよい。 - 特許庁

To provide techniques for tuning a delay interferometer in an intensity modulated DPSK system.例文帳に追加

強度変調DPSKシステムにおいて、遅延干渉計を調整する手法を提供する。 - 特許庁

Then a feedback control system 39 controls the phase bias of the interferometer according to the wavelength component intensity.例文帳に追加

そして、帰還制御システム39は波長成分強度に応じて干渉計の位相バイアスを制御する。 - 特許庁

例文

To reduce the intensity unevenness of the spherical waves formed by a pinhole used for a point diffraction interferometer or the like.例文帳に追加

点回折干渉計などに用いられるピンホールが生成する球面波の強度斑を低減する。 - 特許庁


例文

A modulated test optical-signal is converted into an intensity modulation from a phase modulation by a delay interferometer 107.例文帳に追加

変調された試験光信号を、遅延干渉計107により位相変調から強度変調に変換する。 - 特許庁

To provide an interferometer and a shape measuring method for achieving high-accuracy measurement even when light intensity changes.例文帳に追加

光強度が変動するような場合でも高精度に測定できる干渉計及び形状測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a point diffraction interferometer enabling development of relatively high-intensity radiation, utilization of an interferometer analysis, and also use of an extended source emitting spatially-incoherent radiation.例文帳に追加

比較的高強度の放射線の達成を可能にし、干渉計分析を利用可能にし、また空間的に非干渉性の放射線を放出する分散光源の使用も可能にする。 - 特許庁

The amplitude of a drive signal supplied to the phase modulator may be controlled so that the sum of a positive phase signal optical intensity and an opposite phase signal optical intensity of the delay interferometer becomes largest.例文帳に追加

遅延干渉計の正相信号光強度と逆相信号光強度との和が最大になるように、位相変調器に供給される駆動信号の振幅を制御してもよい。 - 特許庁

例文

A 1-bit delay interferometer 66 converts the phase modulation signal included in an output light of the branching unit 50 into an intensity modulation signal.例文帳に追加

1ビット遅延干渉計66は分波器50の出力光に含まれる位相変調信号を強度変調信号に変換する。 - 特許庁

例文

The laser beam projected through modulation of intensity and frequency is further changed into a heterodyne interference beam 34 by using a heterodyne interferometer.例文帳に追加

また、強度および周波数が変調されて出射されたレーザ光を、さらに、ヘテロダイン干渉計を用いて、ヘテロダイン干渉光34に変える。 - 特許庁

The laser interferometer 104 irradiates the retroreflector 106 with measuring light and detects interference light intensity between the reflected light of the measuring light and reference light.例文帳に追加

レーザ干渉計104は、測定光を再帰反射体106に照射し、その反射光と参照光との干渉光強度を検出する。 - 特許庁

By using the optical loop interferometer, a loop-like optical fiber in the optical loop interferometer is made to vibrate according to the rotary speed of a vane that is rotated by fluid to generate a change in the intensity of interference light, and the flow rate or the flow velocity of the fluid is measured, based on the generation interval of a signal for indicating the change in the intensity.例文帳に追加

光ループ干渉計を用い、流体によって回転する翼車の回転速度に応じて前記光ループ干渉計におけるループ状光ファイバを加振することにより干渉光の強度に変化を生じさせ、この強度の変化を示す信号の発生間隔に基づいて前記流体の流量又は流速を測定する。 - 特許庁

The interferometer determines an intensity ratio between a fundamental wave component of the modulated angle frequency ω_m and a double harmonic component in an interference signal, and calculates a line average electron density which is a physical quantity of the plasma 30 based on the intensity ratio and a phase variation.例文帳に追加

干渉計は、干渉信号における変調角周波数ω_mの基本波成分と2倍高調波成分の強度比を求め、該強度比と、位相変化量に基づいて、プラズマ30の物理量である線平均電子密度を算出する。 - 特許庁

The two-light flux interferometer uses two kinds of single lights and envelope-processes light intensity distribution of interference stripes detected with an imaging device.例文帳に追加

最近、測定範囲の拡大に二種類の単色光を利用した二光束干渉計及びその利用方法が提案されているが、干渉縞の位相を計算するための時間が膨大である。 - 特許庁

The light intensity of the interferometer 8 is minimized in the vicinity of the sensor gap of the load cell 6 and detected as a light correlation signal by an optical detector 9.例文帳に追加

ギャップ可変ファブリペロー型干渉計8は、ファブリペロー型ロードセル6のセンサギャップ間隙近傍で光強度が最小となり、光検出器9により光相関信号として検出される。 - 特許庁

To provide a dispersion interferometer usable for actual time control, and capable of removing an influence of a high-frequency noise, reducing a measurement error caused by signal intensity change, and heightening accuracy, by extracting a phase from a signal intensity ratio of a fundamental wave and a double harmonic which are Fourier components of a modulated signal.例文帳に追加

変調信号のフーリエ成分である基本波、2倍高調波の信号強度比から位相抽出を行うことにより、高周波ノイズの影響を無くすとともに信号強度変化による測定誤差を低減し高精度化することができ、実時間制御での利用が可能なディスパーション干渉計を提供する。 - 特許庁

Emergent light X of an optical device 1 is made incident onto an orthogonal double luminous flux interferometer 23 via an incident port 21 and a wavelength filter 22, to make emergent a plurality of lights Yc1-Yd2 having both periodic intensity variations to a monotonous variations of the wavelength of incident light Y and different variation phases of the intensity.例文帳に追加

光デバイス1の出射光Xを、入射ポート21および波長フィルタ22を介して直交2光束干渉計23に入射させて、入射光Yの波長の単調変化に対して強度が周期的に変化し且つその強度の変化位相が異なる複数の光Yc1〜Yd2を出射させる。 - 特許庁

To provide wide-band measurement which is not limited by the response time of a photodiode, a method which eliminates complicated control for an interferometer, a method for removing the intensity component of an optical signal under measurement mixing into a homodyne signal, and a method for reducing skew in the observation of in-phase, quadrature components by an optical signal electric field waveform measuring apparatus using a homodyne interferometer.例文帳に追加

ホモダイン干渉計を用いた光信号の電界波形計測装置で、フォトダイオードの応答時間に制限されない広帯域計測と、干渉計の複雑な制御不要な手法と、ホモダイン信号に混入する被測定光信号の強度成分の除去手法と、同相、直交成分の観測時のスキュー低減手法を提供する。 - 特許庁

例文

This method comprises processes of: dividing light radiated from a white light source 109 into reference light and signal light by a beam splitter 102; emitting the signal light to a sample 107 through a Morou interferometer 105; making light reflected from the sample surface with the reference light and imaging the interference intensity occurring in the Morou interferometer 105; and applying voltage current to the semiconductor circuit chip as the sample.例文帳に追加

白色光源109から放射された光をビームスプリッタ102により参照光と信号光に分割する工程と、信号光を試料107にミラウ干渉計105を通して入射する工程と、試料表面より反射した光と参照光を干渉させてミラウ干渉計105に生じた干渉強度を画像化する工程と、試料である半導体回路チップに電圧電流を印加する工程とを含む。 - 特許庁




  
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