「Test Type」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

SYNCHRONOUS TYPE SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

同期型半導体記憶装置およびそのテスト方法 - 特許庁

TEST SHOOTING SYSTEM FOR REGULAR MACHINE ADOPTING LATCH TYPE SOLENOID例文帳に追加

ラッチ式ソレノイドを採用した普通機の試射試験システム - 特許庁

BOX TYPE HOUSING HOLDER FOR EXPOSURE TEST PIECE, AND EXPOSURE TEST PIECE CORROSION STATE MEASURING METHOD USING BOX TYPE HOUSING HOLDER FOR EXPOSURE TEST PIECE例文帳に追加

暴露試験片の箱型収納ホルダーと、この暴露試験片の箱型収納ホルダーを使用した、暴露試験片の腐食状態測定方法 - 特許庁

The test device 420 tests the film type semiconductor package 440 by the test signal.例文帳に追加

テスト装置４２０は、テスト信号によってフィルム型半導体パッケージ４４０をテストする。 - 特許庁

MICROCONTROLLER, MULTI-CHIP PACKAGE TYPE SEMICONDUCTOR DEVICE, AND ITS TEST DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

マイクロコントローラ、マルチチップパッケージ型半導体装置およびそのテスト装置ならびにテスト方法 - 特許庁

To provide a leak test method using a differential pressure type leak test device, which is capable of performing a leak test accurately in a shorter time.例文帳に追加

リークテストを、より短時間で精度良く行うことができる、差圧式リークテスト装置によるリークテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a different type inclusion test method and a test device having high detection capability of a different type inclusion.例文帳に追加

異品種の混入に対して高い検知力をもつ異品種混入検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁

PLANE DISPLAY PANEL EQUIPPED WITH SETTING-IN TYPE MEASUREMENT TEST CIRCUIT例文帳に追加

嵌入式測定試験回路を備えた平面表示パネル - 特許庁

In the Test Case Name field, type ApprovedTestCase, and click Next. 例文帳に追加

「テストケース名」フィールドに「ApprovedTestCase」と入力し、「次へ」をクリックします。 - NetBeans

In the Test Case Name field, type RejectedTestCase, and click Next. 例文帳に追加

「テストケース名」フィールドに「RejectedTestCase」と入力し、「次へ」をクリックします。 - NetBeans

CARRIER MODULE FOR PLATE TYPE PACKAGE AND TEST TRAY CONTAINING CARRIER MODULE例文帳に追加

板型パッケージ用キャリアモジュール及びこれを含むテストトレイ - 特許庁

To provide a pot-type dyeing test machine by which the efficiency of a dyeing test is improved.例文帳に追加

染色試験効率を向上させることができるポット式染色試験機を提供する。 - 特許庁

TEST BENCH CONDITIONING SYSTEM FOR WORKING FLUID, AND DEVICE FOR OPERATING TEST BENCH CONDITION SYSTEM OF THIS TYPE例文帳に追加

作動流体用試験台調整システム及びこの種の試験台調整システムを駆動する装置 - 特許庁

TEST METHOD OF POLYELECTROLYTE TYPE FUEL CELL, AND POLYELECTROLYTE TYPE FUEL CELL例文帳に追加

高分子電解質型燃料電池の試験方法及び高分子電解質型燃料電池 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR WATER PERMEABILITY TEST USING TWO-CHAMBER TYPE SYRINGE PUMP例文帳に追加

２チャンバ型シリンジポンプを用いる透水試験方法及び装置 - 特許庁

METHOD FOR SETTING INITIAL TEST FORCE IN PRESS TYPE HARDNESS TESTER例文帳に追加

押し込み式硬さ試験機における初試験力設定方法 - 特許庁

CAPACITANCE-TYPE SEMICONDUCTOR PRESSURE SENSOR AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

静電容量式半導体圧力センサ及びその試験方法 - 特許庁

MEASURING INSTRUMENT AND METHOD CONCERNING TYPE APPROVAL AND TEST OF MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

計器及び当該計器の型式承認・検定に係る方法 - 特許庁

To improve the test comprehensiveness of a random instruction combination test in a memory sharing type multiprocessor system.例文帳に追加

メモリ共有型マルチプロセッサシステムにおけるランダム命令組合せ試験の試験網羅性を向上させる。 - 特許庁

LOAD CARRYING TEST METHOD USING DOUBLE VANE TYPE PILE AND ITS DEVICE例文帳に追加

二重羽根式杭を使用した載荷試験方法およびその装置 - 特許庁

ALUMINUM ALLOY PLATE FOR BOTTOM END OF BOTTLE TYPE CAN SUPERIOR IN SOUND TEST FITNESS例文帳に追加

打検適性に優れたボトル型缶底蓋用アルミニウム合金板 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR BUILT-IN SELF-TEST FOR RECOVERY TYPE DATA TRANSMISSION SYSTEM例文帳に追加

再生型データ伝送システムの内部自己検査方法及びシステム - 特許庁

TURN-ON TEST CIRCUIT FOR CURRENT DRIVING TYPE POWER SEMICONDUCTOR ELEMENT例文帳に追加

電流駆動形電力用半導体素子のターンオン試験回路 - 特許庁

To improve a test efficiency per socket in an aging test of memory parts and enable the aging test for a different type of memory parts as well.例文帳に追加

メモリ部品のエージングテストにおいてソケット当たりのテスト効率を改善し、異なる型式のメモリ部品についてもエージングテストを可能とする。 - 特許庁

To provide a compact flat-belt-type running test apparatus for vehicle.例文帳に追加

フラットベルト型のコンパクトな車両用走行試験装置を提供する。 - 特許庁

SUPERCONDUCTIVE MAGNETIC FLOATING TYPE RAILWAY GROUND COIL ELECTROMAGNETIC EXCITATION TEST APPARATUS例文帳に追加

超電導磁気浮上式鉄道用地上コイル電磁加振試験装置 - 特許庁

To provide a capillary type viscometer for finely altering test pressure.例文帳に追加

試験圧力を細かく変更可能な細管式粘度計を提供する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR ULTRASONIC FRICTION REDUCING TYPE GROUND INVESTIGATION TEST例文帳に追加

超音波利用摩擦低減式地盤調査試験方法および装置 - 特許庁

To provide a falling weight type impact test apparatus and a falling weight type test method which make an impact load value of a collision head to be made to collide with a material test piece into an appropriate and fixed value.例文帳に追加

材料試験片に衝突させる衝突ヘッドの衝撃荷重値を適切かつ一定な値とする落錘式衝撃試験装置と落錘式試験方法を提供する。 - 特許庁

This film type semiconductor package 440 of the present invention outputs a test signal through a plurality of test pads TPAD.例文帳に追加

フィルム型半導体パッケージ４４０は、複数のテストパッドＴＰＡＤｋを通じてテスト信号を出力する。 - 特許庁

SHEATH TYPE TEST PUNCTURE NEEDLE AND DEPTH-BLOOD-VESSEL PUNCTURE APPLIANCE AND METHOD USING TEST PUNCTURE NEEDLE例文帳に追加

外套型試験穿刺針および該試験穿刺針を使用する深部血管穿刺具および深部血管穿刺法 - 特許庁

The control part 11 distinguishes the type of the test subject from the acquired behavior of both the knees of the test subject.例文帳に追加

そして、制御部１１が、取得した被検者の両膝の挙動から、その被検者の類型を判別する。 - 特許庁

To provide a portable universal type line test device that can easily test lines even when many numbers of the lines of test objects exist, and can conduct the test in a short time.例文帳に追加

試験対象となる回線数が多い場合でも、回線試験が容易で、試験に要する時間が短い携帯可能なユニバーサル型回線試験器を提供することを課題とする。 - 特許庁

A dielectric multilayer film type filter (band-pass filter) 22 for transmitting test light and suppressing a side mode of the test light is installed on a test light output route of a test light source 20.例文帳に追加

試験光源２０の試験光出力経路に、試験光を透過すると共に試験光のサイドモードを抑制する誘電体多層膜型フィルタ（バンドパスフィルタ）２２を設置する。 - 特許庁

To provide a test manhour estimation device and program capable of easily estimating test manhour even when an evaluator repeatingly performs the same type of a test to a test target.例文帳に追加

テスト対象に対して、評価者が同種のテストを繰り返し実行する場合であっても、容易にテスト工数を見積もることができるテスト工数見積装置、およびプログラムを提供する。 - 特許庁

To achieve reduction of time for calibration of an output and improvement of precision of a test device itself in a characteristics test method and the test device of a panel type display.例文帳に追加

パネル型表示器の特性検査方法および検査装置において、検査装置自身の出力校正の時間短縮と精度の向上を行う。 - 特許庁

To simply test characteristics of a temperature constant type thermal resistance flowmeter, using a different kind of test fluid from a fluid under test.例文帳に追加

被計測流体とは異なる種類の試験流体を使って、定温度型の熱抵抗体流量計の特性試験を簡単に行うことである。 - 特許庁

To provide a suitable IC socket for the electrical characteristic test of a BGA type and an LGA type semiconductor devices.例文帳に追加

ＢＧＡ型やＬＧＡ型半導体デバイスの電気的特性検査に適したＩＣソケットを提供する。 - 特許庁

METHOD FOR SORTING RAW MATERIAL IN HORIZONTAL CHAMBER TYPE COKE OVEN AND TEST CARBONIZATION FURNACE例文帳に追加

水平室炉式コークス炉の原料の選択方法及び試験乾留炉 - 特許庁

POSITIONING SYSTEM FOR TEST HEAD, AND NON-CONTACT TYPE RESISTIVITY MEASURING DEVICE例文帳に追加

検査ヘッド用位置調整装置及び非接触型抵抗率測定装置 - 特許庁

To provide a circuit and a method for reducing consumption power for module-type scan test.例文帳に追加

モジュール型スキャンテストの消費電力を減らす回路と方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR REDUCING FLAW WHEN TESTING SMD TYPE PASSIVE ELEMENT AND TEST SYSTEM例文帳に追加

ＳＭＤ型受動素子を試験する際の傷の減少方法及び試験システム - 特許庁

COMPUTER MOUNTING METHOD, SYSTEM AND PROGRAM FOR MOUNTING CHALLENGE/RESPONSE TYPE TEST例文帳に追加

チャレンジ−レスポンス型テストを実装するためのコンピュータ実装方法、システム、プログラム - 特許庁

To provide a test equipment for a memory device testing a memory device of a packet type.例文帳に追加

パケット方式のメモリデバイスを試験するメモリデバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

ELECTRON BEAM TYPE PATTERN INSPECTION DEVICE, AND METHOD FOR SETTING INSPECTION CONDITION OF TEST PIECE例文帳に追加

電子線式パターン検査装置、及び、試料の検査条件の設定方法 - 特許庁