| 例文 |
XPS analysisの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 24件
To realize an XPS analysis on a minute area of arbitrary shape on a sample.例文帳に追加
試料上の任意の形状の微小領域のXPS分析を実現する。 - 特許庁
When a differential XPS spectrum consisting of a difference between two XPS spectra obtained by catching photoelectrons 0205, 0206 separately emitted by X-ray irradiation from the measurement area 0201 and the reference area 0202 by means of a detector 0108 is found, an XPS spectrum of the minute analysis point in the measurement area is obtained.例文帳に追加
X線照射によって、測定領域0201および参照領域0202より個別に放出された光電子0205および0206を、検出器0108によって捕獲することによって得られた2つのXPSスペクトルの差よりなる差分XPSスペクトルを求めることで、測定領域中の微小分析点のXPSスペクトルを得る。 - 特許庁
The thumbnail generation method includes steps of: selecting an XPS (XML paper specification) file; analyzing the structure of the XPS file; generating a thumbnail image for the XPS file according to the analysis; and adding the generated thumbnail image to the XPS file.例文帳に追加
本発明のサムネイル生成方法は、XPS(XML Paper Specification)ファイルが選択されるステップと、XPSファイルの構造を分析するステップと、分析に従って、XPSファイルに対するサムネイル(Thumbnail)イメージを生成するステップと、生成されたサムネイルイメージをXPSファイルに追加するステップと、を有する。 - 特許庁
As a surface analysis method, an XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) analysis method or the like is enumerated, and when being used together with an ICP-AES (Inductively Coupled Plasma-Atomic Emission Spectroscopy) analysis, a result which is unmeasurable in the ICP-AES analysis can be supplemented.例文帳に追加
表面分析方法としては、XPS分析法等が挙げられ、ICP−AES分析と併用すれば、ICP−AES分析では測定不可能だった結果を補足することも出来る。 - 特許庁
A surface treated layer which is derived from a silane coupling agent and a corrosive fluoride is provided on at least one surface of the stainless steel plate and a ratio of fluoride and silicon at the XPS analysis of the surface of the surface treated layer satisfies the following formula (1): 0≤F(at.%)/例文帳に追加
ステンレス鋼板の少なくとも一方の表面にシランカップリング剤と腐食性フッ化物に由来する表面処理層を有し、該表面処理層の表面のXPS 分析によるフッ素と珪素の比が下式(1) を満たす。 - 特許庁
In particular, it is desirable that an oxygen quantity is gradually changed from the inorganic solid electrolyte toward a lithium containing material on the boundary between the lithium containing material and the inorganic solid electrolyte in an analysis by XPS capable of keeping an analysis chamber in ultra-high vacuum ≤1.33×10^-9 hPa, and an oxygen containing layer having resided on the surface of the lithium containing material is generally removed.例文帳に追加
特に、分析室を1.33×10^-9hPa以下の超高真空に保持できるXPSによる分析で、リチウム含有材料と無機固体電解質との境界において、酸素量が無機固体電解質からリチウム含有材料に向かって漸次的に変化し、リチウム含有材料の表面に存在した酸素含有層がほぼ除去されていることが望ましい。 - 特許庁
Or a substance having a peak at 55.3 eV in XPS analysis is preferable to be placed on the surface of the negative electrode 2, and in addition a substance having a peak at 55.8 eV is preferable to be also placed together.例文帳に追加
また、上記負極の表面上には、XPS分析で55.3eVにピークを有する物質が存在し、さらに55.8eVにピークを有する物質も存在することが好ましい。 - 特許庁
The carbon electrode material preferably has an amount of surface acidic functional groups as determined by XPS surface analysis of 0.2% or more and 1.2% or less of the number of carbon atoms on the whole surface.例文帳に追加
当該炭素電極材は、XPS表面分析より求めた表面酸性官能基量が全表面炭素原子数の0.2%以上1.2%以下であることが好ましい。 - 特許庁
To calculate an amount of application by detecting an amount of zinc by XPS analysis of a photoreceptor surface when zinc stearate is used as a lubricant to lengthen a service life of an organic photoreceptor.例文帳に追加
有機感光体の寿命を延ばすため、潤滑剤としてステアリン酸亜鉛を用いた場合に、感光体表面のXPS分析により亜鉛量を検出することで塗布量が算出できる。 - 特許庁
Or, a substance having a peak at 168.6 eV in the XPS analysis is preferable to be placed on the surface of the negative electrode 2, and in addition a substance having a peak at 55.8 eV is preferable to be also placed together.例文帳に追加
また、上記負極の表面上にXPS分析で168.6eVにピークを有する物質が存在し、さらに55.8eVにピークを有する物質も存在することが好ましい。 - 特許庁
An analysis section 36 which analyzes a print job and reads a file edit instruction information given to the print job, and a file editing section 37 which performs editing of the XPS file based on the editing instruction information are prepared as hardware and software in the file editing device which edits the XPS file (for example, an image forming apparatus 30).例文帳に追加
XPSファイルを編集するファイル編集装置(例えば、画像形成装置30)に、ハードウェア又はソフトウェアとして、印刷ジョブを解析し、前記印刷ジョブに付与されたファイル編集指示情報を読み取る解析部36と、前記編集指示情報に基づいて、XPSファイルの編集を行うファイル編集部37と、を設ける。 - 特許庁
The electrode for a lithium ion battery includes a total of 2 atom% or more of nitrogen in an organonitrogen state and nitrogen of an ammonium salt state in case of having surface analysis by XPS.例文帳に追加
本発明のリチウムイオン電池用電極は、XPSによる表面分析を行った場合有機窒素の形態の窒素とアンモニウム塩の形態の窒素との合計が2atm%以上存在する電極である。 - 特許庁
The active carbon carrier is composed of fibrous active carbon and characterized by having a surface acidic functional group by XPS analysis of at least 1.0% and a gas-permeability of at least 200 cm^3/cm^2s.例文帳に追加
本発明にかかる活性炭担体は、繊維状活性炭により構成され、XPS分析による表面酸性官能基が1.0%以上であって、通気性が200cm^3/cm^2・s以上であることを特徴とする。 - 特許庁
The support for printed wiring board production consists of a rolling copper alloy foil containing 0.1 mass% or more of Mg wherein the concentration of Mg is 0.2 at% or more and the concentration of O is 10 at% or more in the surface layer when quantitative analysis is performed by sensitivity coefficient method of XPS.例文帳に追加
0.1質量%以上のMgを含有する圧延銅合金箔からなり、XPSの感度係数法による定量分析において、表層のMg濃度が0.2at%以上、かつO濃度が10at%以上であるプリント配線板製造用支持体である。 - 特許庁
The carbon electrode material for a redox flow battery using an aqueous electrolyte has pseudo graphite crystal structure in which the stacked structure ratio based on the peak intensity of <002> diffraction as determined by X-ray analysis is 0.50-0.90, and the amount of surface acidic functional groups as determined by XPS surface analysis is 0.2-1.2% of the number of carbon atoms on the whole surface.例文帳に追加
水溶液系電解液を使用するレドックスフロー電池用の炭素電極材であって、X線広角解析より求めた<002>回折のピーク強度に基づく積層構造比が0.50〜0.90である擬黒鉛結晶構造を有し、XPS表面分析より求めた表面酸性官能基量が全表面炭素原子数の0.2〜1.2%であることを特徴とする。 - 特許庁
The crosslinked polymer particle comprises a vinyl alcohol unit and a polymerization unit containing nitrogen as the constituents wherein the nitrogen content in the dry weight of the particle as determined by the elemental analysis is in the range of 10.0-18.0 wt.% and the surface nitrogen concentration as determined by X-ray photoelectron spectroscopic analysis (XPS) is in the range of 3.0-9.5 at%.例文帳に追加
ビニルアルコール単位および窒素を含有する重合単位を構成要素として含む架橋ポリマー粒子であって、元素分析により特定される乾燥重量中の窒素含有量が10.0〜18.0重量%の範囲にあり、X線光電子分光分析(XPS)により特定される表面窒素濃度が3.0〜9.5at%の範囲にある架橋ポリマー粒子。 - 特許庁
A coat containing an azole compound with a carbonyl group is formed on a copper foil main body surface, an MMP contact angle is 19° or less, preferably, an amount of C=O of the copper foil surface is 2 to 8 atm% by XPS analysis, and the coat may contain an amine compound.例文帳に追加
銅箔本体表面に、カルボニル基を有するアゾール化合物を含有する皮膜が形成されており、NMP接触角が19°以下である銅箔であり、好ましくは銅箔表面のC=O量はXPSによる分析で2〜8atm%であり、上記皮膜にはアミン化合物が含ませてもよい銅箔。 - 特許庁
A nonaqueous secondary battery has a positive electrode 1, a negative electrode 2, and an electrolyte 4, a 4-V class active material is used in the positive electrode, discharge capacity per unit volume of an electrode stack is 130 mAh/cm3 or more, and a substance having a peak at 55.0 eV in XPS analysis is placed on the surface of the negative electrode 2.例文帳に追加
正極、負極および電解質を有し、正極に4V級の活物質を用い、電極積層体の単位体積当たりの放電容量が130mAh/cm^3 以上の非水二次電池において、負極の表面上にXPS分析で55.0eVにピークを有する物質を存在させる。 - 特許庁
The copper foil includes a surface treatment layer which has at least a part of a copper foil surface with azole-based compound and C=O and N and C detection amount obtained by detecting N and C through depth-direction analysis by XPS, and which has an average value D_0 of 2.0-5.0 nm in a depth range larger than a background level.例文帳に追加
銅箔表面の少なくとも一部にアゾール系化合物及びC=Oを有する表面処理層が形成され、XPSによる深さ方向分析で、N及びCを検出し、且つ、N及びC検出量がバックグラウンドレベルよりも大きい深さ範囲の平均値D_0が2.0〜5.0nmである銅箔。 - 特許庁
To provide a toner for developing electrostatic charge images, which prevents an external additive from being buried or seceding on the surfaces of toner particles as compared with the toner for developing the electrostatic charge images not including toner particles having 5-20 atom% of an increase in crystal components of the surface due to XPS analysis before and after heating for 24 hours at 30-60°C.例文帳に追加
30℃以上60℃以下24時間の加熱前後でXPS分析による表面の結晶成分の増加量が5atom%以上20atom%以下であるトナー粒子を含まない静電荷像現像用トナーに比較して、トナー粒子表面での外添剤の埋没や離脱を抑えた静電荷像現像用トナーを提供すること。 - 特許庁
The chemical mechanical polishing pad according to the present invention is a chemical mechanical polishing pad comprising a polishing layer, whose surface subjected to polishing has a silicon atom concentration or fluorine atom concentration of 0.5 to 10 atom% calculated by elemental analysis using x-ray photoelectron spectroscopy (XPS).例文帳に追加
本発明に係る化学機械研磨パッドは、研磨層を備えた化学機械研磨パッドであって、前記研磨層の研磨に供される表面を、X線光電子分光法(XPS)によって元素分析することにより算出されるケイ素原子濃度またはフッ素原子濃度が、0.5atom%以上10atom%以下であることを特徴とする。 - 特許庁
The hard coat layer used for an optical laminate comprises a silicon type compound, a fluorine type compound or a mixture of them as an antifouling agent and/or a lubricant, wherein, according to XPS analysis of the uppermost surface of the hard coat layer, the abundance ratio of silicon atom is at least 10% and/or the abundance ratio of fluorine atom is at least 20%.例文帳に追加
本発明は、光学積層体に用いられるハードコート層であって、防汚染剤及び/又は滑り性付与剤として、ケイ素系化合物、フッ素系化合物またはこれらの混合物を含んでなり、前記ハードコート層の最表面をXPS解析した場合に、ケイ素原子の存在率が10%以上であり、及び/又は、フッ素原子の存在率が20%以上であるものである。 - 特許庁
The toner for electrostatic image development contains a binder resin and a colorant, wherein group IA elements (excluding hydrogen) exist in a range of 0.03-1.0 atom% and group IIA elements, group IIIB elements and group IVB elements (excluding carbon) exist in a range of 0.05-2.0 atom% in total, as measured by XPS (X-ray photoelectron spectroscopic analysis).例文帳に追加
結着樹脂と着色剤とを含む静電荷像現像用トナーであって、XPS(X線光電子分光分析)による第IA族元素(水素除く)の存在割合が0.03〜1.0atom%の範囲であり、かつ、第IIA族元素、第IIIB族元素及び第IVB族元素(炭素除く)の存在割合の合計が0.05〜2.0atom%の範囲である静電荷像現像用トナーである。 - 特許庁
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