| 例文 |
beam patternの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2381件
VARIABLE BEAM PATTERN BROADCASTING SATELLITE例文帳に追加
可変ビームパターン放送衛星 - 特許庁
VARIABLE-BEAM-PATTERN BROADCASTING SATELLITE例文帳に追加
可変ビームパターン放送衛星 - 特許庁
PATTERN MASK FOR ELECTRON BEAM IRRADIATION例文帳に追加
電子線照射用パターンマスク - 特許庁
To match initial levels of respective transmission beam patterns with each other comprising adaptive beam pattern and a beam pattern different from the adaptive beam pattern with each other by using a data channel for transmission by an adaptive beam pattern and a pilot channel for transmission by a beam pattern different from the adaptive beam pattern.例文帳に追加
適応ビームパターンにより送信するデータチャネルと、該適応ビームパターンとは異なるビームパターンにより送信するパイロットチャネルとで、各々の送信ビームパターンの初期レベルを合わせることを可能とする。 - 特許庁
PATTERN PRINTING METHOD BY LASER BEAM例文帳に追加
レーザによるパターンの印刷方法 - 特許庁
BEAM POSITION CORRECTION METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM PATTERN WRITER例文帳に追加
荷電粒子ビーム描画装置のビーム位置補正方法 - 特許庁
ELECTRON BEAM CONTROL METHOD AND ELECTRON BEAM PATTERN WRITER例文帳に追加
電子ビーム制御方法および電子ビーム描画装置 - 特許庁
LASER BEAM RADIATION PATTERN MEASURING DEVICE例文帳に追加
レーザ光線放射パターン測定装置 - 特許庁
To provide an excellent low beam luminous intensity distribution pattern and high beam luminous intensity distribution pattern.例文帳に追加
良好なロービームの配光パターン、ハイビームの配光パターンが得られる。 - 特許庁
ELECTRON-BEAM PATTERN INSPECTING APPARATUS AND PATTERN INSPECTING METHOD USING ELECTRON BEAM例文帳に追加
電子線式パターン検査装置、及び、電子線を用いたパターン検査方法 - 特許庁
METHOD FOR VERIFYING ELECTRON-BEAM EXPOSURE PATTERN例文帳に追加
電子ビーム露光パターンの検証方法 - 特許庁
PATTERN INSPECTION DEVICE USING ELECTRON BEAM AND PATTERN INSPECTION METHOD USING ELECTRON BEAM例文帳に追加
電子線を用いたパターン検査装置、及び、電子線を用いたパターン検査方法 - 特許庁
ELECTRON BEAM DEVICE AND METHOD FOR CREATING ELECTRON BEAM IRRADIATION PATTERN例文帳に追加
電子線装置及び電子線照射パターン生成方法 - 特許庁
ELECTRON BEAM DEVICE AND PATTERN EVALUATION METHOD例文帳に追加
電子線装置及びパターン評価方法 - 特許庁
WIRELESS APPARATUS AND BEAM PATTERN CONTROL METHOD例文帳に追加
無線装置及びビームパターン制御方法 - 特許庁
A lighting fixture unit forms a low beam light distribution pattern or a high beam light distribution pattern.例文帳に追加
灯具ユニットは、ロービーム配光パターンまたはハイビーム配光パターンとを形成する。 - 特許庁
LASER BEAM IRRADIATION DEVICE, LASER BEAM IRRADIATION METHOD AND PATTERN DRAWING METHOD例文帳に追加
レーザ照射装置、レーザ照射方法、及びパタン描画方法 - 特許庁
ELECTRON-BEAM LITHOGRAPHY APPARATUS AND PATTERN FORMATION例文帳に追加
ビーム描画装置及びパターン形成方法 - 特許庁
PATTERN INSPECTING DEVICE USING CHARGED PARTICLE BEAM例文帳に追加
荷電粒子線を用いたパターン検査装置 - 特許庁
To provide a wireless apparatus and a beam pattern control method capable of matching initial phases of respective transmission beam patterns by using a data channel transmitted by an adaptive beam pattern and a pilot channel transmitted by a beam pattern different from the adaptive beam pattern.例文帳に追加
適応ビームパターンにより送信するデータチャネルと、該適応ビームパターンとは異なるビームパターンにより送信するパイロットチャネルとで、各々の送信ビームパターンの初期位相を合わせることを可能とする。 - 特許庁
INVISIBLE LIGHT BEAM REFLECTION PATTERN PRINTED TRANSPARENT SHEET例文帳に追加
非可視光線反射パターン印刷透明シート - 特許庁
PATTERN MATCHING METHOD FOR CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS例文帳に追加
荷電粒子ビーム装置のパターンマッチング方法 - 特許庁
ELECTRON BEAM TYPE PATTERN INSPECTING APPARATUS AND INSPECTION METHOD USING ELECTRON BEAM例文帳に追加
電子線式パターン検査装置及び、電子線を用いた検査方法 - 特許庁
PATTERN GENERATION METHOD, PATTERN GENERATION DEVICE, AND LASER BEAM MACHINING APPARATUS例文帳に追加
パターン生成方法及びパターン生成装置並びにレーザ加工装置 - 特許庁
A beam pattern creating part 36 creates a beam pattern of an adaptive DBF (Digital Beam Forming) antenna 32 by a prescribed beam pattern creation method.例文帳に追加
ビーム・パターン作成部36は特定された通信エリア12等に応じてアダプティブDBFアンテナ32のビーム・パターンを所定のビーム・パターン作成方式により作成する。 - 特許庁
DATA PROCESSING METHOD FOR PATTERN ONE-SHOT ELECTRON- BEAM EXPOSURE AND PATTERN ONE-SHOT ELECTRON-BEAM EXPOSURE SYSTEM例文帳に追加
図形一括電子線露光用データ処理方法および図形一括型電子ビーム露光装置 - 特許庁
PATTERN MEASURING METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加
パターン測定方法、及び荷電粒子線装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND PATTERN MEASUREMENT METHOD例文帳に追加
荷電粒子線装置及びパターン測定方法 - 特許庁
The patterning device provides a pattern to the radiation beam.例文帳に追加
パターニングデバイスは、放射ビームにパターンを与える。 - 特許庁
DIFFERENTIAL INTERFEROMETER PRODUCING DESIRED BEAM PATTERN例文帳に追加
所望のビームパターンを生成する微分干渉計 - 特許庁
To make uniform the beam expansion angle in the longitudinal and lateral directions of a beam pattern.例文帳に追加
ビーム拡がり角をビームパタンの縦方向、横方向で均一にする。 - 特許庁
PATTERN INSPECTION METHOD FOR ELECTRON BEAM LITHOGRAPHY AND ELECTRON BEAM LITHOGRAPHY METHOD例文帳に追加
電子ビーム描画用パターン検査方法及び電子ビーム描画方法 - 特許庁
During irradiating the second pattern, a diffraction beam is detected due to diffraction of the beam with the second pattern on the first pattern.例文帳に追加
第2パターンの照射の間、第1パターン上での第2パターン付きビームの回折による回折ビームが検出される。 - 特許庁
The patterning device is configured to pattern a beam of radiation.例文帳に追加
パターニングデバイスは放射ビームにパターンを付与する。 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEM AND PATTERN MEASUREMENT METHOD例文帳に追加
荷電粒子線システム、およびパターン計測方法 - 特許庁
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