「built‐in test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

BUILT-IN SELF TEST CIRCUIT, AND DESIGNING DEVICE例文帳に追加

組込自己テスト回路及び設計装置 - 特許庁

SELF-TEST CIRCUIT BUILT-IN SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

自己テスト回路内蔵半導体記憶装置 - 特許庁

BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT AND DESIGN VERIFICATION METHOD例文帳に追加

組込み自己テスト回路及び設計検証方法 - 特許庁

BUILT-IN SELF TEST HIERARCHY FOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路用の組込み自己テスト階層 - 特許庁

BUILT-IN SELF-TEST DEVICE FOR MEMORY CIRCUIT例文帳に追加

メモリ回路用の組込み自己試験装置 - 特許庁

Ruby has a built-in testing framework, designated as Test::Unit. 例文帳に追加

Ruby には、Test::Unit として指定される、組み込み型のテスト用フレームワークがあります。 - NetBeans

TEST PATTERN GENERATION CIRCUIT AND GENERATION METHOD FOR BUILT IN SELF TEST CIRCUIT例文帳に追加

自己診断回路のテストパターン発生回路及び発生方法 - 特許庁

To execute built-in self test without using plural exclusive test terminals.例文帳に追加

複数の専用のテスト端子を用いず、組み込み自己検査を実行する。 - 特許庁

SOC WITH BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT, AND SELF-TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

内蔵型セルフテスト回路を有するＳＯＣ、及びそのセルフテスト方法 - 特許庁

METHOD FOR GENERATING TEST SET FOR SCANNING METHOD 3 WEIGHT RANDOM BUILT-IN SELF-TEST AND SCANNING METHOD BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT例文帳に追加

スキャン方式３重み加重ランダムス・ビルトイン・セルフテストのテストセット生成方法、スキャン方式ビルトイン・セルフテスト回路 - 特許庁

To provide a semiconductor IC circuit which accomplishes a BIST(built in self test), whitout having to provide an exclusive test terminal.例文帳に追加

テスト専用端子を設けることなくＢＩＳＴ（Built In Self Test）を行うことができる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor integrated circuit in which the BIST (built in self test) can be performed in a short period of time with respect to a storage section such as a memory or a register.例文帳に追加

メモリやレジスタ等の記憶部に対してＢＩＳＴ（Built In Self Test）を短時間に行うことが可能な半導体集積回路を実現する。 - 特許庁

GAS JET MECHANISM FOR TEST PROBE BUILT IN SUBSTRATE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

基板検査装置が備える検査プローブのための気体噴射機構 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE PROVIDED WITH BUILT-IN PARALLEL TEST CIRCUIT例文帳に追加

ビルト—インパラレルテスト回路を備えた半導体メモリ装置 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR BUILT-IN SELF-TEST FOR RECOVERY TYPE DATA TRANSMISSION SYSTEM例文帳に追加

再生型データ伝送システムの内部自己検査方法及びシステム - 特許庁

SCANNING METHOD 3 WEIGHT-ADDED RANDOM SCAN BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT例文帳に追加

スキャン方式３重み加重ランダムス・ビルトイン・セルフテスト回路 - 特許庁

REDUCTION GEAR WITH BUILT-IN ONE WAY CLUTCH FOR AUTOMOBILE BRAKE SPEED TEST例文帳に追加

自動車ブレーキスピードテスト用一方向クラッチ内蔵型減速機 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE WITH BUILT-IN BURN-IN CIRCUIT AND TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

バーンイン回路内蔵半導体装置およびテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING BUILT-IN TERMINAL FOR TEST AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

試験用端子内蔵半導体装置およびその試験方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT WITH BUILT-IN ROM HAVING ERROR CORRECTION FUNCTION, AND TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

誤り訂正機能付きＲＯＭ内蔵集積回路およびそのテスト方法 - 特許庁

TEST APPARATUS FOR CONNECTOR PIN POSITION AND CONNECTOR WITH BUILT-IN REFERENCE ELECTRODE例文帳に追加

コネクタピン位置検査装置及び基準電極内蔵コネクタ - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST APPARATUS FOR DETECTING FAIL OF BUILT-IN MEMORY例文帳に追加

内蔵メモリのフェイルを検出するための半導体テスト装置 - 特許庁

INERTIA VELOCITY SENSOR AND METHOD WITH BUILT-IN TEST MEANS例文帳に追加

内蔵テスト手段を備えた慣性速度センサー及び方法 - 特許庁

BUILT-IN DATA TRANSMITTING DEVICE AND METHOD IN BOUNDARY SCANNING TEST INTERFACE例文帳に追加

境界走査試験インタフェース中の内蔵データ伝送装置及び方法 - 特許庁

Examples of these applications include built-in test function for test equipment and integrated circuit.例文帳に追加

アプリケーションの例にはテスト機器および集積回路用の組込み自己テスト機能が含まれる。 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT WITH BUILT-IN DELAY TEST FACILITATION CIRCUIT AND PATH DELAY TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

ディレイテスト容易化回路を内蔵した集積回路および集積回路のパスディレイテスト方法 - 特許庁

To provide a SOC with a built-in self-test circuit and a self-test method therefor.例文帳に追加

内蔵型セルフテスト回路を有するＳＯＣ及びそのセルフテスト方法を提供する。 - 特許庁

A test program 11 is a program that is built in a host device to control the entire test.例文帳に追加

試験プログラム１１は上位装置に内蔵され試験全体を制御するプログラムである。 - 特許庁

TEST CIRCUIT FOR MICROCOMPUTER HAVING BUILT-IN FLASH EEPROM, AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

フラッシュＥＥＰＲＯＭ内蔵マイクロコンピュータの試験回路及びその試験方法 - 特許庁

TEST BOARD, TEST SYSTEM AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH BUILT-IN CPU, SELF-TEST PROGRAM, AND READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加

テストボード、ＣＰＵ内蔵半導体集積回路のテストシステム、そのテスト方法、セルフテストプログラムおよび可読記録媒体 - 特許庁

The automatic noninvasive blood test apparatus 1 includes a coin mechanism 2, a spectrometer built-in section 3 and an examination data analyzer built-in section 4.例文帳に追加

自動非侵襲血液検査装置１はコインメカニズム２、分光器内蔵部３および検査データ解析機内蔵部４より構成されている。 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT WITH BUILT-IN OVERHEAT DETECTING CIRCUIT, INTEGRATED CIRCUIT WITH BUILT-IN TEMPERATURE RISE AVOIDING/CONTROLLING MEANS, AND METHOD OF THEIR BURN-IN TEST例文帳に追加

過熱検知回路内蔵の集積回路と温度上昇回避制御手段内蔵の集積回路及びそのバーンイン試験方法 - 特許庁

BUILT-IN TEST CIRCUIT, INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, METHOD OF INITIALIZATION TEST OF SYNCHRONOUS CIRCUIT HAVING SCAN FUNCTION, AND METHOD OF GENERATING TEST PATTERN DATA例文帳に追加

ビルトインテスト回路、集積回路装置、スキャン機能付き同期回路の初期化テスト方法、およびテストパターンデータの生成方法 - 特許庁

To enable test contents to be changed even after production without restricting test contents in a built-in self test of a memory.例文帳に追加

メモリの組み込み自己テストにおいて、テスト内容に制限を加えることなく、製品化後にもテスト内容を変更できるようにする。 - 特許庁

To allow a BIST (Built-In Self Test) circuit used for a manufacturing test of a LSI internal memory, to be used for initializing a cache memory also.例文帳に追加

ＬＳＩ内部メモリの製造テストに用いられるＢＩＳＴ（Build-In Self Test）回路をキャッシュメモリの初期化にも使用できるようにする。 - 特許庁

To reduce a test execution time without increasing the quantity of test data, in a built-in test using a decode circuit.例文帳に追加

デコード回路を利用した組込みテストにおいて，テストデータ量を増やさずにテスト実行時間を短縮する。 - 特許庁

A built-in test circuit and a radio communication circuit are mounted into a semiconductor integrated circuit device, and the built-in test circuit is controlled by a radio signal to execute test.例文帳に追加

半導体集積回路装置内に内蔵テスト回路および無線通信回路を搭載し，無線信号により内蔵テスト回路を制御しテストを実施する。 - 特許庁

To provide a processor, a memory test method, and a memory test system capable of an operation test of a built-in data memory by a passage similar to a case of making access to the built-in data memory at ordinary operation time (command executing time).例文帳に追加

通常の動作時（命令実行時）に内蔵データメモリにアクセスする場合と同様の経路により内蔵データメモリの動作テストが可能なプロセッサ、メモリテスト方法、メモリテストシステムを提供する。 - 特許庁

The circuit is provided with a plurality of memories 10a to 10n which can store data, a built-in self-test circuit 20 performing tests of a plurality of memories, and an analyzing circuit 30 analyzing a test result of the built-in self-test circuit.例文帳に追加

データを記憶可能な複数のメモリ１０ａ〜１０ｎと、複数のメモリのテストを行う組込自己テスト回路２０と、組込自己テスト回路のテスト結果を解析する解析回路３０と、を備えている。 - 特許庁

The system is provided with: a test capsule 2 with a built-in permanent magnet; and a position detector 3 for detecting the position of the test capsule 2 based on the strength of a static magnetic field from the permanent magnet built in the test capsule 2.例文帳に追加

永久磁石が内蔵されたテストカプセル２と、テストカプセル２に内蔵された永久磁石から生じる静磁場の強度に基づいてテストカプセル２の位置を検出する位置検出装置３とを備える。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS OF PROGRAMMABLE MEMORY BUILT-IN SELF TEST (MBIST)例文帳に追加

プログラマブル・メモリ・ビルト・イン・セルフ・テスト（ＭＢＩＳＴ）の方法及び装置 - 特許庁

BUILT-IN DATA ACCESS DEVICE AND METHOD IN BOUNDARY SCANNING TEST INTERFACE例文帳に追加

境界走査試験インタフェース中の内蔵データアクセス装置及び方法 - 特許庁

TFT-LCD SOURCE DRIVER WITH BUILT-IN TEST CIRCUIT例文帳に追加

テスト回路をビルトインした薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバ - 特許庁

To provide a built-in data transmitting device and method in a boundary scanning test interface.例文帳に追加

境界走査試験インタフェース中の内蔵データ伝送装置及び方法の提供。 - 特許庁

To provide a TFT-LCD source driver with a built-in test circuit.例文帳に追加

テスト回路をビルトインした薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバの提供。 - 特許庁