「built‐in test」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

The data file 101 is built in by a test format, document image data 105 are built in by encoding image compression data and text information 107 is built in by the text format as it is.例文帳に追加

データファイル１０１はＴＥＸＴ形式で組み込まれ、文書画像データ１０５は画像圧縮データを符号化して組み込まれ、テキスト情報１０７はＴＥＸＴ形式のまま組み込まれる。 - 特許庁

The built-in circuit generation processing part 24 generates the net list wherein the test circuit is built in the customer circuit, and outputs it as built-in circuit-included design data 25.例文帳に追加

埋め込み回路発生処理部２４は、顧客回路にテスト回路を繰り込んだネットリストを生成し、埋め込み回路込み設計データ２５として出力する。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit 1 is provided with a logic circuit 2 connected to external terminals 10-12, a built-in memory 3 connected to this logic circuit, and a burn-in test circuit 4 writing the prescribed data in the built-in memory when a burn-in test of this built-in memory is performed.例文帳に追加

半導体集積回路１に、外部端子１０〜１２と接続されたロジック回路２と、このロジック回路と接続された内蔵メモリ３と、この内蔵メモリのバーンイン・テストを行う際に、前記内蔵メモリに所定のデータを書き込むバーンイン・テスト回路４とを設けた。 - 特許庁

The proposed programmable memory BIST (Built-In Self Test) architectures could be used to test memories in different stages of their fabrication. 例文帳に追加

ここに提案するプログラマブルメモリBIST（組込み自己試験）アーキテクチャは、メモリをその製造過程の異なる段階でテストするのに使われよう。 - コンピューター用語辞典

To provide a test device for a D/A converter capable of executing an operation test of the D/A converter built in a circuit more simply.例文帳に追加

回路に内蔵されているＤＡ変換器の動作テストをより簡単に行うＤＡ変換器のテスト装置を提供する。 - 特許庁

To conduct tests of built-in DA converter and AD converter without using a test device for analog test.例文帳に追加

内蔵されたＤＡコンバータおよびＡＤコンバータの試験を、アナログ試験用の試験装置を用いることなく行えるようにする。 - 特許庁

TRACEABLE BUILT-IN PROGRAMMABLE FREQUENCY GENERATOR FOR COMPARING ALTERNATE TEST SITE WITH OPEN AREA TEST SITE例文帳に追加

代替テストサイト及びオ—プンエリアテストサイトの比較を実施するためのトレ—ス可能な内蔵式プログラマブル周波数発生源 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated device having a built-in self-test circuit which can perform an operation check test for a memory at an actual operating speed.例文帳に追加

実動作速度でメモリの動作確認テストが可能な組み込み自己テスト回路を有する半導体集積装置を提供する。 - 特許庁

PROGRAMMABLE MEMORY BUILT-IN SELF-TEST COMBINING MICRO- CODE AND FINITE STATE MACHINE SELF-TEST例文帳に追加

マイクロコードと有限状態機械セルフテストを組み合わせるプログラマブル・メモリビルトイン・セルフテスト - 特許庁

More particularly, in a first aspect, a dual mode BIST controller comprises both a logic built-in self-test ('LBIST') domain and a memory built-in self-test ('MBIST') domain.例文帳に追加

より具体的に言えば、第１の態様で、デュアル・モードＢＩＳＴ制御装置は、論理組込み形自己試験（「ＬＢＩＳＴ」）領域とメモリ組込み形自己試験（「ＭＢＩＳＴ」）領域の両方を含む。 - 特許庁

That is, a circuit for generating the CT value in order, a circuit for making a BIST (Built In Self Test) circuit operate and holding its result (right or wrong value) and a circuit for controlling them are held in the macro.例文帳に追加

すなわち、ＣＴ値を順次生成する回路、ＢＩＳＴ(Built In Self Test)回路を動作させその結果（正否値）を保持する回路、それらを制御する回路をマクロ内に保有する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH BUILT-IN TEST FUNCTION, STORAGE MEDIUM FOR STORING ELECTRONIC DESIGN DATA COMPRISING TEST CODE GENERATION PROGRAM, TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST CODE GENERATION AUTOMATIZING METHOD AND ITS PROGRAM例文帳に追加

組込みテスト機能付き半導体集積回路、テストコード生成プログラムから成る電子設計データを保存する記憶媒体、該半導体集積回路のテスト方法、テストコード生成自動化方法及びそのプログラム - 特許庁

To provide a built-in self-test circuit capable of conducting a test having high quality by various test patterns without decreasing the number of test patterns while having simple circuit constitution.例文帳に追加

簡素な回路構成を備えながらも、テストパターン数を削減することなく、多種のテストパターンによって高品質のテストを行うことができる組込み自己テスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a tool for test and test method capable of performing chip unit test, even if the chip to be mounted in an MCM does not have a built-in test circuit.例文帳に追加

ＭＣＭに搭載されるチップがテスト回路を内蔵していなくても、チップ単体テストを行うことのできるテスト用治具およびテスト手法を提供する。 - 特許庁

To efficiently test a case that a branching operation to an address outside a range of an on-chip memory is generated, in an LSI to perform a self-test by a built-in test function based on a test program to be stored in the on-chip memory.例文帳に追加

オンチップメモリに格納されるテストプログラムに基づき、ビルトインテスト機能によりセルフテストを行うＬＳＩにおいて、オンチップメモリの範囲外のアドレスへの分岐動作が発生するケースを効率よくテストする。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit that has a built-in test controller for generating a test pattern only for a pin necessary in a test and a test pattern for all pins.例文帳に追加

テストに必要なピンのみのテストパターンから、すべてのピンに対するテストパターンを生成するテストコントローラを内蔵した半導体集積回路を得ること。 - 特許庁

Parameters required for operating the IC tester are sequentially set up to a register in a test header using the normal built-in software using the built-in software built in a pin electronics 1 of the test head 12 according to a test program 30 created by a user, and a parameter management system 34 saves the normal parameters as reference parameters 44.例文帳に追加

ユーザの作成したテストプログラム３０に従って、テストヘッド１２のピンエレクトロニクス１８に組み込まれている組み込みソフトウェアを用いて、テストヘッド内のレジスタに、ＩＣテスタの駆動に必要なパラメータを、正常な組み込みソフトウェアを用いて順次設定し、パラメータ管理システム３４は、この正常なパラメータを、リファレンスパラメータ４４として保存する。 - 特許庁

A built-in self-test circuit 300 and a built-in redundancy analyzing circuit 400 are respectively provided in a plurality of DRAM cores 100.1-100.n.例文帳に追加

ビルトインセルフテスト回路３００およびビルトイン冗長解析回路４００とは、複数のＤＲＡＭコア１００．１〜１００．ｎに共通に設けられる。 - 特許庁

To provide an evaluation method for a circuit with a built-in PLL (Phase Locked Loop), an evaluation system, and a circuit with a built-in PLL, for enhancing the reliability of evaluation results without increasing the number of test patterns.例文帳に追加

テストパターン数を増やすことなく、評価結果の信頼性を高くできるＰＬＬ内蔵回路の評価方法、評価システム、及びＰＬＬ内蔵回路を提供する。 - 特許庁

SIMULTANEOUS CODE CHECKER AND HARDWARE EFFICIENT HIGH-SPEED I/O HAVING BUILT-IN SELF-TEST AND DEBUG FUNCTION例文帳に追加

組込み自己試験及びデバッグ機能を有する同時コードチェッカー及びハードウエア効率的高速Ｉ／Ｏ - 特許庁

To provide technology with which a timing test satisfying latency restriction can be easily performed in a memory interface built in a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置に備えられたメモリインターフェイスにおいて、レイテンシの制約を満たすタイミング試験を容易に実施可能な技術を提供する。 - 特許庁

This SOC with built-in self-test circuit comprises an IP block including a BIST logic circuit and a BIST control part.例文帳に追加

ＢＩＳＴロジック回路を含むＩＰブロックとＢＩＳＴコントロール部とを備えることを特徴とする内蔵型セルフテスト回路を有するＳＯＣ。 - 特許庁

To ensure turning-on of only one select line of a multiplexer during a logic built-in self test.例文帳に追加

論理の組み込み自己試験中にマルチプレクサのセレクトライン１つのみがオンとなることを保証する。 - 特許庁

The test of a lightning surge protection circuit which is built in a protection circuit 12 is executed under the instruction from a central control part 14.例文帳に追加

保護回路１２に内蔵されている雷サージ保護回路の試験を中央制御部１４からの指示により実行する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for performing a built-in self-test ('BIST') on an integrated circuit device.例文帳に追加

集積回路デバイス上で組込み形自己試験（「ＢＩＳＴ」）を実行するための方法および装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device with built-in BIST circuit, which can test also an I/F section between a memory and a system logic.例文帳に追加

ＢＩＳＴ回路を内蔵し、メモリとシステムロジックとの間のＩ／Ｆ部分についてもテスト可能な半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

The I/O circuit can be also constituted to perform data balancing, write-verfy and the built-in self test.例文帳に追加

入力／出力回路はまた、データの平衡化、書き込み・検証、および組み込み自己テストを実行するよう構成することができる。 - 特許庁

To conduct accurate and efficient test for a circuit, such as an A/D converter built in a semiconductor device under actual application conditions.例文帳に追加

半導体装置に内蔵されたＡ／Ｄコンバータ等のテスト対象回路について、実使用条件下で、精度良く、かつ、効率良くテストする。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory provided with a built-in test circuit permitting to replace a defective memory cell with a redundant memory cell.例文帳に追加

不良メモリセルを冗長メモリセルで置換することが可能なビルトインテスト回路を備えた半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To easily diagnose a failure of a semiconductor integrated circuit with a built-in self-test circuit for a memory.例文帳に追加

メモリの自己テスト回路が組み込まれた半導体集積回路の故障診断を容易に実行できるようにする。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device, having a built-in terminal for test that can easily evaluate the operation condition of a semiconductor device unit on a packaging substrate.例文帳に追加

容易に実装基板上での半導体装置単体の動作状況について評価することができる試験用端子内蔵半導体装置を得る。 - 特許庁

To supply a program code input from a single terminal to a plurality of BIST (Built-In Self Test) circuits in parallel.例文帳に追加

単一の端子から入力したプログラムコードを複数のＢＩＳＴ（組み込み自己テスト）回路へ並列に供給する。 - 特許庁

To enable performing a test for a ROM while holding secret of data incorporated in a ROM with respect to a ROM built-in semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

ＲＯＭを内蔵した半導体集積回路について、ＲＯＭに実装したデータの機密性を保ちつつ、ＲＯＭのテストを実行可能にする。 - 特許庁

To provide a FIFO module with a built-in test circuit reducing a burden and a restriction at the logic synthesis.例文帳に追加

論理合成時の負担と制約の軽減を図ることができるテスト回路内蔵ＦＩＦＯモジュールを提供する。 - 特許庁

A test circuit part 110 is built in a display panel and connected to the output node of a light sensor sensing intensity of external light.例文帳に追加

検査回路部１１０は、表示パネルに内蔵されて外部光の強度をセンシングする光センサの出力ノードに連結される。 - 特許庁

To provide a LSI with built-in storage which can surely detect the breakdown of a transistor in a decoder by an operation test.例文帳に追加

動作テストにより確実にデコーダ内のトランジスタの故障を検出することができるメモリ内蔵ＬＳＩを提供する。 - 特許庁

The setting on the built-in EEPROMs is rewritten with a desired value through a test interface during LSI testing.例文帳に追加

内蔵されたＥＥＰＲＯＭへの設定は、ＬＳＩテスト時に所望の値をテストインターフェイス経由で書き換える。 - 特許庁

To provide a frequency margin test system built in an electronic system having a plurality of components.例文帳に追加

複数のコンポーネントを有する電子システムに内蔵される周波数マージン試験システムを提供する。 - 特許庁

To reduce the footprint of a incorporated test circuit detecting the defect of the output data bit of a built-in memory circuit.例文帳に追加

内蔵メモリ回路の出力データビットの不良を検出する組込テスト回路の占有面積を低減する。 - 特許庁

As the blower for the test, a blower 6a can be used which is built in an outside air conditioner 6 provided in the clean room.例文帳に追加

試験のための送風機としては、クリーンルームに備えられている外調機６に組み込まれている送風機６ａを利用すれば良い。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device, provided with a built-in test circuit, with which a defective memory cell can be replaced by a redundant memory cell.例文帳に追加

不良メモリセルを冗長メモリセルで置換することが可能なビルトインテスト回路を備えた半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

The method of the programmable memory built-in self test (MBIST), the apparatus, and a system are disclosed.例文帳に追加

プログラマブル・メモリ・ビルト・イン・セルフ・テスト（ＭＢＩＳＴ）の方法、装置、及びシステムを開示する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of easily discriminating the operation defect of a built-in power ON detection circuit at the time of a die sort test.例文帳に追加

内蔵したパワーオン検知回路の動作不良をダイソートテストに際して容易に判別し得る半導体装置を提供する。 - 特許庁

To obtain an integrated circuit device equipped with a built-in self-test circuit suitable for testing a multi-port memory.例文帳に追加

マルチポートメモリをテストするのに好適な組み込み自己テスト回路を備える集積回路装置を実現する。 - 特許庁

To simply and safely test a ground leakage breaker built in an electric work drum, using a ground leakage breaker tester.例文帳に追加

電工ドラムに内蔵された漏電遮断器の試験を漏電遮断器テスタを用いて簡便かつ安全に行えるようにする。 - 特許庁