cu-teの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 27件
The light absorbing layer is formed of a compound containing Cu and Te.例文帳に追加
そして、光吸収層はCuとTeからなる化合物からなる。 - 特許庁
This electric contact is made of a sintered alloy containing mainly Cr and Cu, and further containing 0.05 to 0.5 wt.% of Te, 100 to 3000 ppm of oxygen, 7.5 to 900 ppm of aluminum, and 15 to 750 ppm of Si.例文帳に追加
本発明は、Cr及びCuを主とし、Te 0.05〜0.5重量%、酸素100〜3000ppm、Al 7.5〜900ppm及びSi15〜750ppmを含む焼結合金からなることを特徴とする電気接点にある。 - 特許庁
An element other than the Te, for example, either Al, Zr, Ta, Hf, Si, Ge, Ni, Co, Cu or Au may be added.例文帳に追加
Te以外の他の元素、例えばAlや、Zr,Ta,Hf,Si,Ge,Ni,Co,CuおよびAuのいずれかを添加してもよい。 - 特許庁
Te free-cutting copper alloy is produced through: a stage where Cu is dissolved in a nitrogen atmosphere; a stage where MoS_2 is added; and a stage where casting is performed.例文帳に追加
該快削銅合金は、窒素雰囲気でCuを溶解する工程、MoS_2を添加する工程、鋳込む工程により製造する。 - 特許庁
The heat dissipation material is composed of a copper alloy having a composition consisting of 0.5 to 3.5 mass% Te and the balance Cu with inevitable impurities.例文帳に追加
放熱材料は、Teを0.5乃至3.5質量%含有し、残部がCu及び不可避的不純物からなる銅合金からなる。 - 特許庁
When the Al is added to the Te, and further the Cu and the Zr are added, it is desirable that a composition ratio of the high-resistance layer 4 is adjusted in a range of, excepting oxygen, 30≤Te≤100 atm%, 0≤Al≤70 atm% and 0≤Cu+Zr≤36 atm%.例文帳に追加
TeにAlを添加し、更にCuおよびZrを加えたものとする場合、高抵抗層4の組成比は、酸素を除いて、30≦Te≦100原子%、0≦Al≦70原子%、および0≦Cu+Zr≦36原子%の範囲で調整することが望ましい。 - 特許庁
To provide a photoelectric conversion element using a Cu-In-Te thin film having a high carrier mobility in a light absorption layer, and to provide a solar cell.例文帳に追加
キャリア移動度の高いCu−In−Te薄膜を光吸収層に用いた光電変換素子および太陽電池を提供することを目的とする。 - 特許庁
As the multi-exciton generator, a compound semiconductor containing at least one or more kinds of elements selected from Cu, In, Ga, Se, S, Te, Zn and Cd is used.例文帳に追加
多励起子発生剤は、Cu、In、Ga、Se、S、Te、Zn、及びCdから選ばれる1種以上の元素を含む化合物半導体が用いられる。 - 特許庁
The ionization layer 3 contains Cu (copper) and Zr (zirconium) as metal elements together with an ion conductive material such as S (sulfur), Se (selenium), and Te (tellurium) (a chalcogenide element).例文帳に追加
イオン化層3は、S(硫黄),Se(セレン)およびTe(テルル)(カルコゲナイド元素)などのイオン伝導材料と共に、金属元素としてCu(銅)およびZr(ジルコニウム)を含有している。 - 特許庁
The thermoelectric semiconductor is formed of a composition to which Cu: 0.001 to 0.1 wt.% and at least one of Te and Se: 0.005 to 1.0 wt.% are externally added as dopants to the thermoelectric semiconductor material whose base material is a material selected from among Bi-Te group, Bi-Se group and Bi-Te-Se group.例文帳に追加
熱電半導体は、Bi−Te系、Bi−Se系、Bi−Te−Se系から選択された材料を基材とする熱電半導体材料に対して、Cu:0.001〜0.1重量%、TeまたはSeのうちの少なくとも一方:0.005〜1.0重量%をドーパントとして外付けで添加した組成で形成されている。 - 特許庁
The thermoelectric conversion elements 5 (5a, 5b) are formed by adding at least one of Ag and Cu to a thermoelectric conversion material which contains Bi and Te as main raw materials and at least one of Se and Sb is added thereto.例文帳に追加
熱電変換素子5(5a,5b)は、BiとTeを主原料とし、SeとSbの少なくとも一方を添加して成る熱電変換材料に、AgとCuの少なくとも一方を添加して形成する。 - 特許庁
This Pb-free solder having wettability close to that of an Sn-Pb eutectic alloy and also excellent mechanical property and oxidation resistance is obtained by adding Sb, Te or/and P to an Sn-Cu base alloy.例文帳に追加
Sn−Cu基合金に、Sbと、Te又は/及びPを添加することによって、Sn−Pb共晶合金に近いぬれ性と優れた機械特性値とを有し、しかも耐酸化特性に優れたPbフリー半田とした。 - 特許庁
The light absorbing layer 3 is constituted of XYZ_2 (X is at least one element between Cu and Ag, Y is at least one element among B, In Ga and Al, and Z is at least one element among S, Se and Te).例文帳に追加
光吸収層3は、XYZ_2(X=Cu、Agのうち少なくとも1元素、Y=B、In、Ga、Alのうち少なくとも1元素、Z=S、Se、Teのうち少なくとも1元素)により構成される。 - 特許庁
When the wt.% of Cu externally added as the dopant is defined as M1, the wt.% of Te and/or Se externally added as the dopant is defined as M2 and M2/M1 is defined as M, it is preferable to be M=3 to 100.例文帳に追加
ドーパントとして外付けで添加されたCuの重量%をM1とし、ドーパントとして外付けで添加されたTe及び/またはSeの重量%をM2とし、M2/M1をMとすると、M=3〜100とすることが好ましい。 - 特許庁
The high-resistance layer is formed out of the oxide film of Gd (gadolinium), and the ion-source layer contains such metal elements as Cu (copper), Zr (zirconium), Al (aluminum), and so forth together with such chalcogenide elements as S (sulfur), Se (selenium), Te (tellurium), and so forth.例文帳に追加
高抵抗層はGd(ガドリニウム)の酸化膜により形成され、イオン源層は、S(硫黄),Se(セレン)およびTe(テルル)などのカルコゲナイド元素と共に、Cu(銅),Zr(ジルコニウム),Al(アルミニウム)などの金属元素を含有する。 - 特許庁
On the surface of the insulating layer 12 and the second vertical connection layer 15B, a storage layer 16 containing an ionizable metallic element such as Cu along with a chalcogenide element such as Te and an upper electrode 17 are laminated in this order, thus constituting a memory element 1.例文帳に追加
絶縁層12および第2縦接続層15Bの表面上に、Teなどのカルコゲナイド元素と共にCuなどイオン化可能な金属元素を含む記憶層16および上部電極17がこの順に積層され、記憶素子1を構成する。 - 特許庁
This silver-oxide-based electric contact material is formed by internally oxidizing an Ag alloy having a composition containing, by wt.%, 5-15% Sn, 0.05-1.5% Te, and Cu of ≥0.05% and <1% as added metals, and the balance Ag with unavoidable impurities, and thereafter performing high-temperature heat treatment.例文帳に追加
添加金属として重量%で、Sn:5〜15%、Te:0.05〜1.5%、Cu:0.05〜1%未満を含有し、残りがAgと不可避不純物とからなる組成を有するAg合金を、内部酸化処理した後に750〜960℃で高温熱処理してなる。 - 特許庁
A roughened surface is formed by bringing etching solution into contact with aluminum or an aluminum alloy having a surface coating containing (1) at least one metal selected from metals in the first group comprising Sn, Cu, Fe, Ni, Co, Bi, Sb, Ag and Te, and (2) zinc.例文帳に追加
(1)Sn、Cu、Fe、Ni、Co、Bi、Sb、Ag及びTeからなる第一群の金属より選択される少なくとも1種の金属と(2)亜鉛とを含む表面皮膜を有するアルミニウム又はアルミニウム合金をエッチング溶液と接触させることにより粗化表面を形成する。 - 特許庁
1,1,2,2,3,3,4-Heptafluorocyclopentane is produced by the hydrogenation of 1-chloroheptafluorocyclopentene in the presence of a hydrogenation catalyst where a group VIII metal is mixed with at least one kind selected from the group consisting of Ag, Cu, Au, Te, Zn, Cr, Mo, Tl, Sn, Bi and Pb.例文帳に追加
1−クロロヘプタフルオロシクロペンテンを周期律表第VIII族金属に銀、銅、金、テルル、亜鉛、クロム、モリブデン、タリウム、錫、ビスマス、鉛から成る群から選ばれる少なくとも1種の金属を添加してなる水素化触媒の存在下に水素化して1,1,2,2,3,3,4−ヘプタフルオロシクロペンタンを製造する。 - 特許庁
This mica composite is obtained by ion exchange of 10-95 eq.% of exchangeable cations among the interlayer ions of a swellable synthetic mica with at least one kind of ions selected from the group consisting of K, Ba, Cu, Ag, Te, Bi, Pb, Ce, Fe, Mo, Nb, W, Sb, Sn, V, Mn, Ni, Co, Zn, Zr and Ti ions.例文帳に追加
膨潤性合成雲母の層間イオンのうち、交換性陽イオンの10〜95当量%を、K,Ba,Cu,Ag,Te,Bi,Pb,Ce,Fe,Mo,Nb,W,Sb,Sn,V,Mn,Ni,Co,Zn,ZrおよびTiからなる群から選ばれる1種または2種以上のイオンとイオン交換させて得られる合成雲母複合体により課題を解決できる。 - 特許庁
At least one kind of element selected among Bi and Sb, at least one kind of element selected among Te and Se, and at least one kind of element selected among I, Cl, Gh, Br, Ag, and Cu, are comprised.例文帳に追加
Bi及びSbからなる群から選択された少なくとも1種の元素と、Te及びSeからなる群から選択された少なくとも1種の元素とを有し、必要に応じて、I、Cl、Hg、Br、Ag及びCuからなる群から選択された少なくとも1種の元素を含む組成を有する。 - 特許庁
The light-emitting layer 103 includes a three-dimensional compound ABC_2 (wherein A=Cu or Ag, B=Al, Ga or In, and C=S, Se or Te) which is called the chalcopyrite.例文帳に追加
基板100上に、第1の電極101、第1の絶縁層102、発光層103、第2の絶縁層104、第2の電極105を有し、発光層103は、カルコパイライトと呼ばれる三元化合物ABC_2(但し、A=Cu、またはAg、B=Al、Ga、またはIn、C=S、Se、またはTe)を含む発光素子を提供する。 - 特許庁
The memory device 10 has an arrangement in which a memory thin film 4 is sandwiched between a first electrode 2 and a second electrodes 6, wherein the memory thin film 4 comprises an insulating material or semiconductor material, and a thin film 3 containing Cu and Te is formed between the memory thin film 4 and the first electrode 2 or the second electrode 6.例文帳に追加
第1の電極2と第2の電極6との間に記憶用薄膜4が挟まれて構成され、記憶用薄膜4が絶縁材料又は半導体材料から成り、記憶用薄膜4と第1の電極2或いは第2の電極6との間に、Cu及びTeが含まれている薄膜3が形成されている記憶素子10を構成する。 - 特許庁
In the storage element 10, a memory layer 4 and an ion source layer 3 are sandwiched between a first electrode 2 and a second electrode 6 wherein the ion source layer 3 contains an element selected from Cu, Ag and Zn, an element selected from Te, S and Se, and boron (or rare earth element and silicon).例文帳に追加
第1の電極2と第2の電極6との間に、記憶層4及びイオン源層3が挟まれて構成され、イオン源層3に、Cu,Ag,Znから選ばれるいずれかの元素と、Te,S,Seから選ばれるいずれかの元素とが含まれ、さらに、ホウ素(又は、希土類元素及びシリコン)が含有されている記憶素子10を構成する。 - 特許庁
The storage element 10 is configured, such that a storage layer 5 is sandwiched between a first electrode 1 and a second electrode 4, the storage layer 5 comprises an oxide layer 2 and an ionized layer 3 containing Cu which are laminated, the oxide layer 2 consists of a rare earth element oxide, and the ionized layer 3 contains one or more kinds of elements selected from among S, Se and Te.例文帳に追加
第1の電極1及び第2の電極4の間に記憶層5が挟まれて構成され、この記憶層5が酸化物層2とCuを含有するイオン化層3とを積層して成り、酸化物層2が希土類元素酸化物から成り、イオン化層3がS,Se,Teから選ばれる1種以上の元素を含有する記憶素子10を構成する。 - 特許庁
An electrode for a vacuum breaker using an electrical contact in which refractory-metal particles are dispersed in an alloy of a highly conductive metal and a low melting-point metal, more specifically, Cr particles are dispersed in an alloy containing Cu and at least one kind out of Sn, Te, Bi is provided.例文帳に追加
本発明の特徴は、高導電性金属と低融点金属の合金中に、耐火性金属の粒子が分散した電気接点、特に、Sn,Te,Biのうちの少なくとも1種とCuとを含む合金中に、Cr粒子が分散していることを特徴とする電気接点を用いた真空遮断器用電極と、それを用いた真空バルブ、又は真空遮断器にある。 - 特許庁
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|