「defect detection method」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

DEFECT DETECTION METHOD OF OBJECT SURFACE, AND DEVICE THEREOF例文帳に追加

物体表面の欠陥検出方法およびその装置 - 特許庁

This defect detection method includes a defect emphatic processing process for performing defect emphatic processing to an imaged image, and a defect detection process for detecting a defect.例文帳に追加

欠陥検出方法は、撮像画像に対して欠陥強調処理を行う欠陥強調処理工程と、欠陥を検出する欠陥検出工程とを有している。 - 特許庁

To provide a method of ultrasonic flaw detection/examination for improving defect detection by facilitating detection of a defect waveform.例文帳に追加

欠陥波形の検出を容易に行い、欠陥の探傷を向上できる超音波探傷試験方法を提供する。 - 特許庁

LED DEFECT DETECTION CIRCUIT, DISPLAY UNIT FOR TRAIN, LED DRIVING CIRCUIT, AND LED DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

ＬＥＤ異常検出回路、列車用表示器、ＬＥＤ駆動回路、およびＬＥＤ異常検出方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DEFECT DETECTION AND RECORDING MEDIUM WITH DEFECT DETECTION CONTROL PROGRAM RECORDED例文帳に追加

欠陥検出装置及びその欠陥検出方法並びにその制御プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR PROCESSING RECORDING MEDIUM, AND DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

記録媒体処理装置及び方法、並びに欠陥検出方法 - 特許庁

SHADING CORRECTION METHOD, DEFECT DETECTION METHOD, AND DEFECT DETECTOR AND CONTROL METHOD PROGRAM THEREOF例文帳に追加

シェーディング補正方法、欠陥検出方法、欠陥検出装置、欠陥検出装置の制御方法プログラム - 特許庁

To provide a defect inspection method and a defect inspection device with high detection sensitivity.例文帳に追加

検出感度の高い欠陥検査方法および欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND ITS SYSTEM, AND DEFECTIVE AREA DETECTION METHOD FOR AUTOMATIC DEFECT CLASSIFICATION例文帳に追加

欠陥検査方法とその装置、及び欠陥の自動分類のための欠陥位置検出方法 - 特許庁

METHOD OF DETERMINING DEFECT SIZE OF PATTERN USED TO EVALUATE DEFECT DETECTION SENSITIVITY AND METHOD OF CREATING SENSITIVITY TABLE例文帳に追加

欠陥検出感度評価用パターンの欠陥サイズ算出方法及び感度表作成方法 - 特許庁

CRIMPING DEFECT DETERMINATION DATA FORMING METHOD FOR TERMINAL CRIMPING DEFECT DETECTION DEVICE, AND CRIMPING DEFECT DETERMINATION DATA INSPECTION METHOD例文帳に追加

端子圧着不良検出装置の圧着不良判定データ作成方法および圧着不良判定データ検査方法 - 特許庁

To provide a defect detection method and a defect detection device improving sensitivity of defect detection of an inspection object, even when a bright defect and a dark defect are mixed together.例文帳に追加

明欠陥と暗欠陥とが混在する場合にも被検査物の欠陥検出の感度を向上することができる欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR DETECTION OF COATING DEFECT例文帳に追加

塗装欠陥検出装置及び塗装欠陥検出方法 - 特許庁

ELECTRONIC COMPONENT MOUNTING DEVICE, AND BONDING DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

電子部品実装装置及び接合不良検出方法 - 特許庁

SURFACE DEFECT DETECTOR AND ITS DETECTION METHOD例文帳に追加

表面欠陥検出装置及び表面欠陥検出方法 - 特許庁

IMAGE DEFECT DETECTION METHOD AND RADIOGRAPHIC IMAGING APPARATUS例文帳に追加

画像欠陥検出方法および放射線画像撮影装置 - 特許庁

ALIGNMENT APPARATUS, DEFECT DETECTION DEVICE AND ALIGNMENT METHOD例文帳に追加

位置合わせ装置、欠陥検出装置、および位置合わせ方法 - 特許庁

IMAGE SIGNAL PROCESSING APPARATUS AND DETECTION METHOD OF PIXEL DEFECT例文帳に追加

画像信号処理装置及び画素欠陥の検出方法 - 特許庁

CHANNEL CIRCUIT AND DEFECT DETECTION METHOD OF MAGNETIC DISK DEVICE例文帳に追加

チャネル回路及び磁気ディスク装置の欠陥検出方法 - 特許庁

WITHSTAND VOLTAGE DEFECT DETECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

耐電圧不良検出方法及び耐電圧不良検出装置 - 特許庁

LATENT IMAGE CARRIER DEFECT DETECTION METHOD AND IMAGE FORMING APPARATUS例文帳に追加

潜像担持体欠陥検知方法及び画像形成装置 - 特許庁

OPTICAL DISK DRIVE, AND DEFECT PART DETECTION METHOD FOR OPTICAL DISK例文帳に追加

光ディスク装置及び光ディスクの欠陥部検出方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION APPARATUS AND DETECTION METHOD FOR COAXIAL FLEXIBLE PIEZOELECTRIC CABLE例文帳に追加

同軸状可撓性圧電体ケーブルの欠陥検出装置および検出方法 - 特許庁

To provide a defect detection apparatus and a defect detection method capable of shortening inspection time without sacrificing detection accuracy.例文帳に追加

検出精度を犠牲にすることなく、検査時間の短縮を図った欠陥検出装置、及び、欠陥検出方法を実現する。 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING DEFECT AND DEFECT DETECTION DEVICE IN CONTINUOUSLY CAST SLAB FOR THIN STEEL SHEET例文帳に追加

薄鋼板用連続鋳造鋳片の欠陥検出方法および欠陥検出装置 - 特許庁

To provide a defect inspection method capable of improving accuracy of defect detection.例文帳に追加

欠陥検出の精度を向上させることのできる欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

OPTICAL DEFECT DETECTION DEVICE AND METHOD, AND DEFECT OBSERVATION DEVICE PROVIDED WITH THE SAME例文帳に追加

光学式欠陥検出装置及び方法並びにこれを備えた欠陥観察装置 - 特許庁

SURFACE DEFECT DETECTOR, GRINDING DEVICE, SURFACE DEFECT DETECTION METHOD AND SURFACE DEFECT DETECTION PROGRAM FOR REDUCTION ROLL, AND REDUCTION ROLL GRINDING METHOD例文帳に追加

圧延用ロールの表面欠陥検出装置、研削装置、表面欠陥検出方法及び表面欠陥検出用プログラム並びに圧延用ロール研削方法 - 特許庁

To provide a line defect detection method with which even a line defect in a gate direction can be clearly detected in defect detection of a TFT array substrate, and a line defect detection apparatus.例文帳に追加

ＴＦＴアレイ基板の欠陥検出において、ゲート方向の線欠陥でも明確に検出することができる線欠陥検出方法及び線欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD FOR CHIP RESISTOR SUBSTRATE, DEFECT DETECTION DEVICE FOR CHIP RESISTOR SUBSTRATE, AND TRIMMING DEVICE例文帳に追加

チップ抵抗体基板の不良検出方法、チップ抵抗体基板の不良検出装置およびトリミング装置 - 特許庁

MULTIPLE ILLUMINATION PATH SYSTEM AND METHOD FOR DETECTION OF DEFECT例文帳に追加

欠陥検出のための複数照明経路システム及び方法 - 特許庁

METHOD FOR AUTOMATIC DETECTION OF RED-EYE DEFECT IN PHOTOGRAPHIC IMAGE DATA例文帳に追加

写真画像データにおける赤目欠陥の自動識別方法 - 特許庁

OPTICAL DISK DRIVE, AND DEFECT AREA DETECTION METHOD FOR OPTICAL DISK例文帳に追加

光ディスク装置及び光ディスクの欠陥領域検出方法 - 特許庁

DETECTION SIGNAL PROCESSING METHOD FOR PERIODIC DEFECT, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

周期性欠陥の検出信号処理方法及びその装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND DETECTION METHOD FOR ITS SHORT DEFECT LOCATION例文帳に追加

半導体装置およびそのショート欠陥箇所の検出方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DEFECT DETECTION BASED ON SHAPE FEATURE例文帳に追加

形状特徴に基づく欠陥検出の方法及び装置 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD FOR DISPLAY PANEL, ITS DETECTION DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD FOR THE DISPLAY PANEL例文帳に追加

表示パネルの欠陥検出方法及びその検出装置並びに表示パネルの製造方法 - 特許庁

DEFECT DETECTOR, WIRING AREA EXTRACTOR, DEFECT DETECTION METHOD, AND WIRING AREA EXTRACTING METHOD例文帳に追加

欠陥検出装置、配線領域抽出装置、欠陥検出方法および配線領域抽出方法 - 特許庁

DETECTION METHOD OF DEFECT CAUSED BY CHEMICAL SOLUTION, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

薬液起因の欠陥検出方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DEFECT DETECTION AND METHOD AND APPARATUS FOR IMAGING例文帳に追加

欠陥検査方法及びその装置並びに撮像方法及びその装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD, WEAK LIGHT DETECTION METHOD AND WEAK LIGHT DETECTOR例文帳に追加

欠陥検査方法、微弱光検出方法および微弱光検出器 - 特許庁

PRESSURE RESERVOIR USED BY HYDRAULIC SYSTEM WITH IMPROVED DEFECT DETECTION AND DEFECT DETECTION METHOD IN RESERVOIR例文帳に追加

欠陥認知が改善された、ハイドロリックシステムに用いられる圧力リザーバならびにリザーバにおける欠陥認知のための方法 - 特許庁

To provide a defect detection method capable of precisely detecting a defect of an array substrate.例文帳に追加

アレイ基板の欠陥を精度良く検出することができる欠陥の検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a color filter defect detection method for easily detecting a growth type common defect.例文帳に追加

成長型共通欠陥を容易に検出可能なカラーフィルタの検査方法を提供すること。 - 特許庁

CUTTING DEFECT DETECTION METHOD IN PLASMA MACHINE AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

プラズマ加工機における切断不良検出方法およびその装置 - 特許庁