「defect detection method」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

LAYERED FILM MANUFACTURING METHOD, LAYERED FILM DEFECT DETECTION METHOD, LAYERED FILM DEFECT DETECTION DEVICE, LAYERED FILM AND IMAGE DISPLAY DEVICE例文帳に追加

積層フィルムの製造方法、積層フィルムの欠陥検出方法、積層フィルムの欠陥検出装置、積層フィルム、及び画像表示装置 - 特許庁

DEFECT DETECTING DEVICE, SENSITIVITY CORRECTION METHOD THEREOF, SUBSTRATE FOR DEFECT DETECTION SENSITIVITY CORRECTION, AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

欠陥検査装置及びその感度校正方法、欠陥検出感度校正用基板及びその製造方法 - 特許庁

In this defect detection method of the elongate member, the external defect, the surface defect and the internal defect of the elongate member 1 having the fixed sectional shape are detected.例文帳に追加

断面形状が一定の細長部材１の外形欠陥、表面欠陥及び内部欠陥を検出する細長部材の欠陥検出方法。 - 特許庁

PRINTING DEFECT DETECTION METHOD, DETECTOR AND PRINTING MACHINE CONTROL PROCESS例文帳に追加

印刷不良検知方法及び検知装置並びに印刷機制御方法 - 特許庁

A discrimination method by a threshold is used for defect detection as hitherto.例文帳に追加

欠陥の検出には、従来同様、閾値による判別手法を用いる。 - 特許庁

FIELD PATTERN DEFECT DETECTION METHOD IN SEMICONDUCTOR PRODUCTION PROCESS例文帳に追加

半導体製造工程におけるＦｉｅｌｄパターン欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT ANALYZER FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, SYSTEM, AND DETECTION METHOD例文帳に追加

半導体集積回路の不良解析装置、システムおよび検出方法 - 特許庁

TEST MASK, MANUFACTURING METHOD, AND METHOD FOR CONTROLLING DETECTION SENSITIVITY OF DEFECT INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

テストマスク及び製造方法及び欠陥検査装置の検出感度調整方法 - 特許庁

PROCESSING METHOD FOR DIGITAL PHOTO IMAGE DATA INCLUDING METHOD OF AUTOMATIC DETECTION OF RED EYE DEFECT例文帳に追加

赤目欠陥の自動識別方法を含むデジタル写真画像データの処理方法 - 特許庁

To provide a pattern defect detector and a pattern defect detecting method capable of detecting a pattern defect without generating detection missing, and allowing the detection without lowering a detection speed, and without separating a defective area.例文帳に追加

パターンの欠陥を漏れなく検出し、検出速度を低下させず、欠陥領域を分離させずに検出可能なパターン欠陥検出装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method for a defect of a honeycomb filter that improves detection precision of the defect more.例文帳に追加

欠陥の検出精度をより向上できる、ハニカムフィルタの欠陥を検査する方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect detector and a defect detection method for reducing false detections of defects.例文帳に追加

欠陥を誤って検出することが少ない欠陥検出装置及び欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD FOR CONTINUOUS CASTING SLAB AND TREATMENT METHOD FOR CONTINUOUS CASTING SLAB例文帳に追加

連続鋳造鋳片の欠陥検出方法及び連続鋳造鋳片の処理方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD FOR PREFABRICATION-TYPE CABLE CONNECTION PART AND LOOP ANTENNA-TYPE SENSOR例文帳に追加

プレハブ型ケーブル接続部の欠陥検出方法およびループアンテナ型センサ - 特許庁

PREVENTION METHOD FOR CONTAMINATION OF MIX, ETC., AND DETECTION APPARATUS FOR DEFECT OF CONTAINER FOR MIX, ETC.例文帳に追加

ミックス等の汚染防止方法及びミックス等容器の不良検知装置 - 特許庁

DETECTION METHOD OF IC LEAD SOLDERING DEFECT USING TEMPERATURE CHANGE OF IC CHIP例文帳に追加

ＩＣチップ温度変化によるＩＣリード半田付けの不良検出方法 - 特許庁

To provide a defect detection method of a structure and a defect detection device of the structure capable of quantitative evaluation of existence of a defect more surely by a simple constitution.例文帳に追加

簡易な構成で、かつ、より確実に欠陥の有無の定量評価が可能な、構造物の欠陥検出方法および構造物の欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface defect detector and a surface defect detection method which improve detection accuracy of a surface defect by setting a threshold value adapted to a frequency distribution of brightness of a surface image according to a variation of formation.例文帳に追加

地合の変動による表面画像における輝度の度数分布に適合した閾値を設定することにより、表面欠陥の検出精度を向上させる。 - 特許庁

To provide a defect detection method and a defect detection device capable of detecting a defect of the surface state of an inspection object with extremely high accuracy.例文帳に追加

検査対象物の表面状態の欠陥を極めて高精度に検出することが可能な欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供すること。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR DETECTING DEFECT OF SUBSTRATE SURFACE, AND RECORDING MEDIUM WITH RECORDED PROGRAM FOR DEFECT DETECTION例文帳に追加

基板面の不良検出装置、不良検出方法、及び不良検出のためのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor device in which the accuracy of defect detection is enhanced, and a method for optically inspecting the defect.例文帳に追加

欠陥の検出精度を向上させた半導体装置の製造方法及び光学式欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

APPARATUS, METHOD, AND PROGRAM FOR DEFECT DETECTION AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

欠陥検出装置、欠陥検出方法、欠陥検出プログラム、及び、記録媒体 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR HIGH-SPEED ONLINE ELECTROCHEMICAL DETECTION OF WAFER DEFECT例文帳に追加

ウェーハ欠陥の高速オンライン電気光学的検出のための方法及びシステム - 特許庁

CONTACT FAILURE DEFECT DETECTION METHOD AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加

コンタクト不良欠陥検出方法およびコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

CRYSTAL DEFECT DETECTION ELEMENT FOR MONITOR, SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

モニター用結晶欠陥検出素子、半導体装置及びその製造方法 - 特許庁

AUTOMATIC FOCUSING METHOD FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING LASER DEFECT DETECTION FUNCTION例文帳に追加

レーザ欠陥検出機能を備えた走査型電子顕微鏡のオートフォーカス方式 - 特許庁

DEFECT DETECTING APPARATUS OF PHOTOCONDUCTOR FOR ELECTROPHOTOGRAPHY AND METHOD FOR CALIBRATING DETECTION ELECTRODE例文帳に追加

電子写真用感光体の欠陥検出装置、検知電極の校正方法 - 特許庁

CRYSTAL DEFECT RESTORATION METHOD, CRYSTAL PRODUCTION METHOD, PATTERN FORMATION METHOD, AND X-RAY DOSE DETECTION BODY例文帳に追加

結晶欠陥の回復方法、結晶体の作製方法、パターン形成方法、Ｘ線量の検出体 - 特許庁

To provide a shading correction method for improving precision for removing shading in a display defect detection step of a display device and detecting display defects precisely, and to provide a defect detection method, a defect detector, and a control method program of the defect detector.例文帳に追加

表示デバイスの表示欠陥検出工程においてシェーディング除去の精度を高め、表示欠陥を高精度に検出できるシェーディング補正方法、欠陥検出方法、欠陥検出装置、その制御方法プログラムを提供すること。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING DEFECT INFORMATION DETECTION SENSITIVITY DATA, METHOD FOR MANAGING DEFECT DETECTION DEVICE, AND METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECT IN SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

欠陥情報検出感度データの決定方法及び欠陥情報検出感度データの決定装置、欠陥検出装置の管理方法、半導体装置の欠陥検出方法及び半導体装置の欠陥検出装置 - 特許庁

To provide a latent image carrier defect detection method for detecting the defect of a latent image carrier by a simple method and an image forming apparatus capable of detecting the defect of the latent image carrier by using the latent image carrier detection method.例文帳に追加

簡単な方法で潜像担持体の欠陥を検知できる潜像担持体欠陥検知方法及びその潜像担持体検知方法を用いて潜像担持体の欠陥を検知できる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD OF DISC SUBSTRATE, APPARATUS FOR THE SAME, AND METHOD FOR MANUFACTURING SUBSTRATE FOR OPTICAL DISC例文帳に追加

円盤状基板の欠陥検出方法、その装置及び光ディスク用基板の製造方法 - 特許庁

SPECTROSCOPIC DETECTION METHOD, APPARATUS THEREOF, DEFECT INSPECTION METHOD USING SAME, AND APPARATUS THEREOF例文帳に追加

分光検出方法及びその装置並びにそれを用いた欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

To provide a pixel defect correction device, along with an imaging apparatus, pixel defect correction method and program, capable of improving edge detection accuracy, and capable of improving defect detection accuracy.例文帳に追加

エッジ検出精度の向上を図れ、ひいては欠陥検出精度の向上を図ることが可能な画素欠陥補正装置、撮像装置、画素欠陥補正方法、およびプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide an edge defect detection method and a detection device capable of detecting a defect only from a photographed image, and detecting accurately even a defect near the edge.例文帳に追加

撮像画像のみから欠陥を検出することができ、エッジ付近における欠陥であっても精度よく検出することができるエッジ欠陥検出方法、及び検出装置の提供。 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING WELD DEFECTS OF CAPACITOR DISCHARGE TYPE STUD WELDING MACHINE AND DEFECT DETECTION DEVICE例文帳に追加

コンデンサ放電型スタッド溶接機の溶接良否判定方法及び判定装置 - 特許庁

To provide an edge defect detection method for automatically detecting edge defects appropriately.例文帳に追加

エッジ欠陥を適切に自動検出できるエッジ欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

DEFECT DETECTION OPTICAL SYSTEM, AND EFFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE USING IT例文帳に追加

欠陥検出光学系、これを用いる欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁

STATISTICAL SYSTEM AND METHOD THEREOF IN DETECTION OF DEFECT SIGNAL IN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING例文帳に追加

半導体製造での欠陥信号の検出における、統計システム及びその方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION DEVICE AND METHOD FOR COAXIAL FLEXIBLE PIEZOELECTRIC CABLE例文帳に追加

同軸状可撓性圧電体ケーブルの欠陥検出装置及び欠陥検出方法 - 特許庁

To provide a defect inspection device, a defect information acquisition device and a defect inspection method, capable of optimizing further an acquisition amount of a scattered light signal regarding the defect by improving a detection accuracy of the defect to be as the detection object.例文帳に追加

検出対象とする欠陥の検出精度を向上させ、当該欠陥に関する散乱光信号の取得量をより適正化することができる欠陥検査装置、欠陥情報取得装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detector and a defect detection method having improved accuracy in detecting defects in a formed part.例文帳に追加

成形部の欠陥の検出精度を向上させた欠陥検出装置および欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection method and device for performing defect inspection in the course of conveying a detecting object.例文帳に追加

検出対象物を搬送する途中で欠陥の検査を行う欠陥検出方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detector which can detect the defect of a carrier, using an optimum defect detection method, according to the classification of the tape carrier.例文帳に追加

テープキャリアの種別などに応じて、最適な欠陥検出手法を用いて、テープキャリアの欠陥を検出可能な欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device and a method for inspecting mask blank, that improve detection sensitivity to and detection reliability of a phase defect and an amplitude defect which are too high in defect height to detect only through dark field detection.例文帳に追加

暗視野検出だけでは困難であった欠陥高さの高い位相欠陥や振幅欠陥に対する検出感度や検出信頼性を向上できるマスクブランク検査装置および方法を提供する。 - 特許庁