「defect detection method」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

Further, a method of classifying fuel cell materials which uses the defect detection method for a fuel cell material is provided.例文帳に追加

また、当該燃料電池材料欠陥検出方法を用いた当該燃料電池材料の分別方法を提供する。 - 特許庁

To provide a processing method for digital photo images using a method of automatic detection of red eye defect for image data.例文帳に追加

この発明は、 画像データに対して赤目欠陥の自動識別方法を使用するデジタル写真画像の処理方法に関する。 - 特許庁

This method is provided with a process for adjusting defect detection sensitivity so as to detect the defect in the desired size while using a standard sample prepared by programming the size and position of the defect beforehand.例文帳に追加

本発明は、予め欠陥の大きさと位置をプログラムして作製した標準試料を用いて所望の大きさの欠陥を検出するように欠陥検出感度を調整する工程を備えている。 - 特許庁

To provide a detection method of a defect caused by chemical solution capable of detecting foreign matter in the chemical solution causing such a fine defect undetectable by a conventional defect inspection device of a resist pattern.例文帳に追加

従来のレジストパターンの欠陥検査装置では検出不可能となるほど微細な欠陥の起因となる薬液中の異物の検出が可能な、薬液起因の欠陥検出方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an evaluation method for a flake defect of a steel material allowing efficient and objective detection.例文帳に追加

効率的かつ客観的に検出することが可能な鋼材の白点性欠陥の評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide an efficient method and a system for detection of defect for which need grows more and more.例文帳に追加

必要性がますます増大している欠陥検出のための効率的な方法及びシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a quick and high-sensitivity defect detection method to resolve various problems due to conventional techniques.例文帳に追加

従来の技術による諸問題を解決するため、迅速かつ高感度の欠陥検知方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection method of an insulator cap part in which automation of detection is possible and precise inspection of the defect of the cap part can be done, and appropriate quality control can be performed.例文帳に追加

検出の自動化が可能であり、精度のよい笠部欠陥検査を行うことができ、しかも品質管理の適正化を果たすことのできるガイシ笠部の欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection method and a defect detection device capable of precisely detecting defects using a simple device even for a work-piece in a complicated shape.例文帳に追加

簡易な装置を用いて、複雑な形状のワークに対しても、精度良く欠陥を検出することができる欠陥検出方法および欠陥検出装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a wafer surface defect inspection device capable of reducing instrument errors of detection sensitivity and foreign matter coordinate detection error, and capable of obtaining high position coordinate precision for a defect such as a foreign matter, and a method therefor.例文帳に追加

検出感度や異物座標検出誤差の機差が小さく、異物等の欠陥の高い位置座標精度が得られるウェハ表面欠陥検査装置およびその方法を提供することである。 - 特許庁

The defect is preferably detected by employing one or more of an image processing method, a leakage flux method, and an operational abnormality and defect detecting method as a detection means.例文帳に追加

前記欠陥検出手段としては、画像処理法、漏洩磁束法及び連続鋳造中の操業異常欠陥検知法の１以上の手段により欠陥を検出することが好ましい。 - 特許庁

To provide a defect detection method of a cylindrical structure applied to defect detection of the cylindrical structure in the buried state, having excellent transmission efficiency of an SH wave to be transmitted and received, and capable of detecting the defect accurately and easily.例文帳に追加

埋設状態にある円筒形構造物の欠陥の検出に適用され、送受信されるＳＨ波の伝達効率に優れ、その欠陥を精度よく容易に検出することができる円筒形構造物の欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a method for manufacturing a semiconductor device for suppressing false detection due to color irregularity even when a wafer subjected to defect inspection has color irregularity on a surface thereof.例文帳に追加

欠陥検査を行うウエハ表面に色むらがある場合でも色むらによる虚報の検出を抑制できる欠陥検査方法及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an eddy current flaw detection probe, an eddy current flaw detection device, and an eddy current flaw detection method for performing flaw detection of a defect inside a capillary, and eliminating an error resulting from lift-off of a probe included in a flaw detection signal.例文帳に追加

細管内面の欠陥を探傷することができると共に、探傷信号に含まれるプローブのリフトオフに起因する誤差をなくすことができる渦流探傷プローブ、渦流探傷装置、及び渦流探傷方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for detecting a metal defect and a defect detection device, which allow clear detection of a defect portion by improving the uniformity, and increasing the brightness, of a non-defect portion of an imaged image of an inspecting surface when etching the inspecting surface of a metal sample to cause the defect to appear and imaging an image of the inspecting surface using an imaging device to detect the defect.例文帳に追加

金属試料の検査面をエッチング処理して欠陥を現出させ、撮像装置によって検査面を撮像することにより欠陥を検出するに際し、検査面撮像画像における非欠陥部の明度を均一かつ明るくすることにより、欠陥部を明瞭に検出することのできる金属の欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a metal defect detection method capable of highlighting defect through etching treatment of the inspection surface of a metal sample, while when detection of the defect is carried out by imaging the inspection surface with an imaging device, brightness of non-defect parts on the imagery of inspection surface is made to be homogenized and brightened, leading clear defection of defect part.例文帳に追加

金属試料の検査面をエッチング処理して欠陥を現出させ、撮像装置によって検査面を撮像することにより欠陥を検出するに際し、検査面撮像画像における非欠陥部の明度を均一かつ明るくすることにより、欠陥部を明瞭に検出することのできる金属の欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detector suitable for detecting a defect, such as a void on the bonded interface of transparent substrates composed of a compound semiconductor, which are bonded directly, and a defect detection system capable of surely removing the defect portion in a chip appearance inspection after chip process completion and a defect detection method.例文帳に追加

直接接合により貼り合わされた化合物半導体からなる透明基板の貼り合わせ界面のボイド等の欠陥を検出するのに好適な欠陥検出装置、更にチッププロセス終了後のチップ外観検査において該不良部を確実に取り除くことができる欠陥検出システムおよび欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for producing PDPs, the method allowing early-stage detection of a defect in a protection layer, and improvement of a yield in reduced time.例文帳に追加

保護層の不良を早期に検出し、より短い時間で歩留りの改善を実現するＰＤＰの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection device and method capable of shortening an inspection time corresponding to the case where a large defect larger than a prescribed size exists.例文帳に追加

所定サイズ以上の大欠陥がある場合に対応して検査時間を短縮することができる欠陥検出装置および欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which can efficiently detect a defect due to shortage of an accumulated charge amount of a memory cell, and to provide its defect detection method.例文帳に追加

メモリセルの蓄積電荷量の不足による不良を効率よく検出することができる半導体記憶装置及びその不良検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of setting a threshold for blot defect detection to simply set a threshold for detecting a blot defect by means of a plurality of inspection devices under a unified determination.例文帳に追加

複数の検査装置で統一した判断でシミ欠陥を検出するための閾値を簡便に設定するシミ欠陥検出用閾値設定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface inspection device and a surface inspection method, capable of detecting highly precisely an appearance defect, even relative to the appearance defect having low detection precision in a circular slit.例文帳に追加

円形スリットでは検出精度が悪い外観不良に対しても、高精度に外観不良を検出できる表面検査装置および表面検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection method which enables accurate detection of surface defects in information recording media which can cause errors, and to provide a surface defect inspection apparatus.例文帳に追加

エラーとなり得る情報記録媒体の表面の欠陥を精度良く検出可能な表面欠陥検査方法および表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for defect signal detection capable of precisely detecting a defect signal according to an input reproduction signal.例文帳に追加

入力される再生信号に応じてさらに正確に欠陥信号を検出できる欠陥信号検出装置及びその欠陥信号検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a device improving detection sensitivity by restraining temperature rise on a sample surface.例文帳に追加

試料表面の温度上昇を抑えて検出感度を向上させる欠陥検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection method for viewing and detecting SOI and BOX pin holes on one SOI wafer.例文帳に追加

ＳＯＩピンホールおよびＢＯＸピンホールを１枚のＳＯＩウェハで目視検出できる欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

The high frequency flaw detection method detects the welding defect of a weldment 1 welded by using a high frequency current.例文帳に追加

高周波電流を用いて溶接した溶接物１の溶接欠陥を検出する高周波探傷方法である。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a wiring circuit board, wherein erroneous detection of a defect of a wiring pattern is sufficiently reduced.例文帳に追加

配線パターンの不良の誤検出が十分に低減された配線回路基板の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection method capable of acquiring accurately information of the form and the position of a defect from the outside in a layered product after laminating a metal layer, concerning the defect existing inside the layered product.例文帳に追加

積層体の内部に存在する欠陥を、金属層を積層した後の積層体において、その外部から欠陥の形態及び位置の情報を精度良く把握するという、欠陥の検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for the detection of a defect on a substrate such as a solar cell, in which a defect such as a crack is detected uniformly, in which the kind of the defect is discriminated, and in which the substrate is not heated excessively.例文帳に追加

クラックのような欠陥を均一に検出し、欠陥の種類を識別し、しかも、基板を過度に加熱することのない、太陽電池のような基板の欠陥を検出する装置及び方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a pixel defect detection/correction device that detects pixel defects even if there is a large value of the pixel in the adjacent same color pixels, an image pickup device, a pixel defect detection/correction method, and program therefor.例文帳に追加

同色隣接画素に大きな値の画素が存在する場合であっても画素欠陥を検出することが可能な画素欠陥検出補正装置、撮像装置、画素欠陥検出補正方法、およびプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a surface flaw detection method capable of detecting adverse defect on a metal strip by discriminating it from an over-detection, and a surface flaw detection device used for the method.例文帳に追加

本発明は、金属帯上の有害疵と、過検出とを弁別して検出することができる表面欠陥検出方法、および、該方法に使用される表面欠陥検出装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

This method is a computer vision/image processing method for removing blond hair color pixels in digital image skin color detection for application relative to various kinds of imaging such as redeye defect detection.例文帳に追加

赤目欠陥検出といった種々のイメージングに関連する適用のためのディジタル画像肌検出において金髪色画素を除去するコンピュータ視覚／画像処理方法である。 - 特許庁

To provide a failure detecting device, a failure detection method, and an air conditioner, capable of determining whether a defect in motor operation is caused by phase interruption in a power supply line of a motor, such as a defect in wiring or by a defect in an inverter circuit, in the case of the occurrence of a defect in motor operation .例文帳に追加

モータの動作不良が生じた場合、その原因が配線不備などによるモータの通電線の欠相にあるのか、インバータ回路の不良にあるのかを判別できる故障検知装置、故障検知方法及び空気調和装置を提供すること。 - 特許庁

In the small surface irregularity defect detection method detecting the small surface irregularity defect of a magnetic metal object to be inspected, physical quantity resulting from a distortion of the defect part in the object to be inspected is measured, then using the measured value, the surface defect is detected.例文帳に追加

磁性金属被検体の微小凹凸表面欠陥を検出する微小凹凸表面欠陥の検出方法において、前記被検体の欠陥部の歪に起因する物理量を測定し、その測定値を利用して前記表面欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a substrate defect checkup method permitting detection of 6H type lamination defects contained in nitrogen-doped 4H type SiC bulk monocrystalline substrates, a substrate defect checkup system using this method, and an SiC bulk monocrystalline substrate with defect information.例文帳に追加

窒素ドープされた４Ｈ型SiCバルク単結晶基板に含まれる６Ｈ型積層欠陥を検出できる基板の欠陥検査方法、及びこれを用いた基板の欠陥検査システム、並びに欠陥情報付きのSiCバルク単結晶基板を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detection method, an ultrasonic flaw detection device, and a pipe material manufacturing method capable of detecting even a recessed defect generated on the inner surface of a pipe material of metal such as a steel pipe, and a wrap-shaped shallow defect.例文帳に追加

鋼管などの金属の管材の内側表面上に生じた凹み欠陥や、ラップ状の浅い欠陥であっても検出することができる超音波探傷方法、超音波探傷装置、および管材製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect detection method of a roller bearing by torque monitoring, which detects accurately a fine defect existing on the rolling contact surface or on a roller of the roller bearing of a finished product, also detects stably a large defect by which rotation is locked, and shortens a time required for detection.例文帳に追加

完成品でのころ軸受の転走面やころに存在する微少な欠陥を精度良く検出でき、また回転がロックしてしまう大欠陥も安定して検出でき、検出の所要時間も短縮できるトルク監視によるころ軸受の欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide an equipment and method for a base support which do not cause an error in defect detection or loss of inspection sensitivity.例文帳に追加

誤った欠陥検知または、検査感度の損失を引き起こすことのない基材支持の装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide an optical path switching device and an optical path switching method by which a detection error such as a pseudo defect is prevented from occurring.例文帳に追加

疑似欠陥等の検出誤差の発生を防止することができる光路切換装置及び光路切換方法を提供する。 - 特許庁

The defect detection method comprises an image acquiring process for capturing the image of the object to be inspected having an identical sequence of pattern, and a defect emphasizing process for performing the defect emphasizing processing to the captured image.例文帳に追加

欠陥検出方法は、同一繰り返しパターンを有する被検査物を撮像して画像を取得する画像取得工程と、取得した画像に対して欠陥強調処理を行う欠陥強調処理工程とを有する。 - 特許庁

To provide a defect detection method of a plate-like body capable of detecting a defect of the transparent or translucent plate-like body highly accurately without reflecting a rear surface state of the plate-like body.例文帳に追加

透明又は半透明の板状体の欠陥を、板状体の裏面の状況を反映することなく高精度で検出できる板状体の欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a mask inspection method for performing rapid pattern inspection by suppressing detection of a pseudo defect included in a mask pattern and reliably detecting a real defect.例文帳に追加

マスクパターンに含まれる擬似欠陥の検出を抑制し、実欠陥を確実に検出しすることによって、迅速なパターン検査を行うことが出来るマスク検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for detecting pattern defect in which the processing quantity in the detection of defect by the comparison of a pattern to be inspected with a non-defective pattern is reduced to improve the inspection speed.例文帳に追加

検査対象パターンを良品パターンと比較して欠陥を検出するときの処理量を削減して検査速度の向上を図ったパターン欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for inspecting defects capable of determining overlapping defects in the case that defect detection processing is performed on an object to be inspected by a plurality of defect detection means.例文帳に追加

検査対象物について、複数の欠陥検出手段によって欠陥検出処理を行った場合に、重複して検出された欠陥を判定することができる欠陥検査装置及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁