「defect detection method」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a device for detecting a surface defect and a defect under the surface skin, and a method for detecting the same wherein an ultrasonic surface wave can carry out flaw detection of a whole surface by going around a width direction of an inspection object, and reflected waves from other than a defect are reduced.例文帳に追加

超音波の表面波が被検査体の幅方向を一周して全面探傷することができ、欠陥以外からの反射波を低減する表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of detecting a defect of a concrete structure which is applied to the detection of a defect of a concrete structure which is laid underground, and is excellent in the transmission efficiency of SH wave which is transmitted and received, and can detect the defect with high precision easily.例文帳に追加

埋設状態にあるコンクリート構造物の欠陥の検出に適用され、送受信されるＳＨ波の伝達効率に優れ、その欠陥を精度よく容易に検出できるコンクリート構造物の欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device and a method for detecting a hole defect detecting accurately existence of a hole defect and the position if a hole defect exists, by preventing surely excessive detection of hole defects of an inspection object by a light receiving part.例文帳に追加

受光部による被検査物の穴欠陥の過剰検出を確実に防止して、穴欠陥の有無、及び穴欠陥があった場合のその位置の検出を精度良く行うことができる穴欠陥検出装置及び穴欠陥検出方法を得る。 - 特許庁

To provide a method for living cell detection which has high specificity and can be carried out at a real time by solving reduction in a detection sensitivity following the increase of background light being a defect in a conventional method for living cell detection.例文帳に追加

従来の生細胞の検出方法における欠点である背景光の増加に伴う検出感度の低下を解消することにより、特異性が高く且つリアルタイムで行うことができる生細胞の検出方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect detection method and a defect detecting device, capable of accurately detecting display defects, such as voltage cause defects which can be generated in image, when a voltage is applied to an image display device.例文帳に追加

画像表示デバイスに電圧を印加した際に画像内に生成し得る電圧要因欠陥等の表示欠陥を精度よく検出できる欠陥検出方法、および欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor manufacturing device capable of preventing an IC chip with an abnormal defect from mis-detection in a probe inspection process, a defect review device and a manufacturing method for a semiconductor device.例文帳に追加

異常欠陥のあるＩＣチップがプローブ検査工程で検出される不良チップから漏れることを防止できる半導体製造装置、欠陥レビュー装置及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To detect accurately a defect of a printed matter by preventing wrong detection caused by misregistration on a printed face, concerning an inspection device and an inspection method for detecting a pattern defect of the printed matter.例文帳に追加

印刷物の絵柄の欠陥を検出する検査装置及び検査方法に関し、印刷面の位置ずれによる誤検出を防止して、より精度良く印刷物の欠陥を検出できるようにする。 - 特許庁

To provide an ellipse detection method and an ellipse detection device capable of detecting even a defect ellipse in a practical time by using two kinds of hough transforms.例文帳に追加

欠損楕円であっても二種類のハフ変換を用いることによって実用的な時間内で検出することができる楕円検出方法及び楕円検出装置を提供する。 - 特許庁

In this multiplexing method, there is a defect such that the integrating time per each individual channel during a signal detection period is reduced by the number of multiple positions.例文帳に追加

これには信号が検出される間の個別チャネル当たりの積分時間が多重位置の数だけ低減されるという欠点がある。 - 特許庁

To provide a high-speed and highly accurate apparatus for detecting defects of image without being affected by variations of good products, and its defect detection method.例文帳に追加

良品のバラツキに影響されない高速で且つ高精度な画像の欠陥検出装置及びその欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a leakage flux inspecting method for a ferromagnetic metal specimen capable of detecting even a micro defect, with high detection precision.例文帳に追加

微小な欠陥であっても検出可能であり、検出精度の高い強磁性体金属被検体の漏洩磁束探傷方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method which enables detection of defects on an edge line of a surface to be inspected, only on the basis of the binarized images of the surface to be inspected.例文帳に追加

被検査面の二値化画像のみに基づいて被検査面のエッジライン上の欠陥を検出可能な欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image processing system capable of readily setting the parameters concerning detection of a defect, and to provide a method for supporting setting of the parameters.例文帳に追加

欠陥検出に係るパラメータを容易に設定できる画像処理システムおよび当該パラメータの設定を支援する方法を提供する。 - 特許庁

To provide an active matrix test substrate and a testing method which facilitate defect detection even when a scan line driving circuit of CC driving is included.例文帳に追加

ＣＣ駆動を行う走査線駆動回路を含んでいても欠陥検出が容易なアクティブマトリクス型検査基板と検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test method and a test circuit, which can improve a failure detection rate for a delayed failure or a defect caused by a short circuit across signal lines.例文帳に追加

試験方法及び試験回路に関し、信号線間のショートによる不良又は遅延故障に対する故障検出率を向上させる。 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD AND APPARATUS FOR PROTRUDED PART OF OBJECT HAVING THE PROTRUDED PARTS OF THE SAME SHAPE AT SPECIFIED PITCH ALONG CIRCULAR ARC例文帳に追加

円弧に沿って所定ピッチで同一形状の突出部を形成された物品の突出部の欠陥検出方法および欠陥検出装置 - 特許庁

To provide a laser ultrasonic inspection device and laser ultrasonic inspection method in which defect detection can be conducted using one laser device.例文帳に追加

一台のレーザ装置を用いて欠陥検出を行うことができるレーザ超音波検査装置及びレーザ超音波検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect marker for forming indentations easy to check by visual inspection independently of the existence or non-existence of rustproof oil or of defect detection performance on the fabricator side as to a processing line for winding up an aluminum sheet into a coil, a method of defect marking, and a defect-marked coil.例文帳に追加

アルミニウム板をコイルに巻き取る処理ラインにおいて、防錆油の有無及び加工メーカー側の欠陥検出性能に関らず、目視によって容易に確認可能な圧痕を形成することができる欠陥マーキング装置、欠陥マーキング方法及び欠陥マーキングされたコイルを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a pinhole detection method and a pinhole detection device detecting a pinhole defect highly accurately even in the case of a film whose pinhole is difficult to be detected by a conventional pinhole detection method, such as a transparent or translucent film formed on an opaque film.例文帳に追加

不透明の膜上に形成された透明・半透明のフィルムのように従来のピンホール検出方法では検出が困難なフィルムにおいても、ピンホール欠陥を高精度に検出するピンホール検出方法及びピンホール検出装置を提供する。 - 特許庁

In this method, a means of synchronization with detection of defects to calculates amount of image features of the defect, and a means for classifying defects into clusters, depending on the calculated amount of image features are added to the high-speed pattern defect inspection system.例文帳に追加

高速のパターン欠陥検査装置に、欠陥の検出に同期して欠陥の画像的特徴量を計算する手段と、計算された特徴量によって欠陥をクラスタに分類する手段とを付加する。 - 特許庁

To provide a defect detection method and a defect detector for plate-shaped glass to detect cracks without being affected by an edge in a ground glass state even when cracks exist in any face of the plate-shaped glass.例文帳に追加

板状ガラスのいずれの面にカケが存在する場合にも、摺りガラス状態になったエッジに影響されずにカケを検出できる板状ガラスの欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a print pattern inspection method and an inspection device capable of suppressing pseudo defect detection by reducing an influence of meandering or expansion/contraction of a base material to be printed, and detecting a defect growing little by little.例文帳に追加

被印刷基材の蛇行や伸縮の影響を小さくして擬似不良検出を抑え、少しずつ成長するような不良の検出も可能な印刷絵柄検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for detecting defects in a periodic pattern realizing supersensitive defect detection without causing reduction in detectivity due to moire.例文帳に追加

モアレによって検出感度の低下をおこすことなく、高感度な欠陥検出を実現する周期性パターンの欠陥検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detecting method having high detection capability with respect to a malfunction of memory cells caused by variation in manufacturing magnetic random access memory.例文帳に追加

磁気ランダムアクセスメモリ素子の製造時のバラツキによって発生するメモリセルの動作不良に対し、高い検出能力を持つ不良検出技術を提供する。 - 特許庁

To provide a speedy circuit pattern inspection method and a device thereof which have short inspection preparation time and can perform defect determination by image detection for one die.例文帳に追加

検査準備時間が短く、１ダイの画像検出のみで欠陥判定のできる高速な回路パターン検査方式とその装置を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detection method which quickly grasps the dimensions of a detected defect and improves the accuracy of the dimensions.例文帳に追加

検出された欠陥の寸法を迅速に把握することができ、且つその寸法の精度を向上させることができる超音波探傷方法を提供する。 - 特許庁

To enhance the yield of manufacture by developing a novel detection/measurement method of an application defect in the manufacture of orientation thermoplastic resin film with coated film.例文帳に追加

塗膜コーティング配向熱可塑性樹脂フィルム製造における塗布欠点の新しい検出・測定方法を提供し、製造歩留まりを向上させること。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detection method capable of acquiring quickly the dimension of a detected defect, and improving the accuracy of the dimension.例文帳に追加

検出された欠陥の寸法を迅速に把握することができ、且つその寸法の精度を向上させることができる超音波探傷方法を提供する。 - 特許庁

To provide an alignment apparatus which easily and promptly implements alignment of design data and measurement data, a defect detection device and an alignment method.例文帳に追加

容易に、かつ迅速に設計データと計測データとの位置合わせを実施する位置合わせ装置、欠陥検出装置、および位置合わせ方法を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a multilayer substrate with high precision that reduces a permeation defect of paste, shortens a detection time for a position shift, and obtains efficiency.例文帳に追加

ペーストの滲み不良の発生の低減を位置ずれの検出時間の短縮と効率化を可能にする、高精度な多層基板の製造法を提供する。 - 特許庁

To obtain a method and apparatus for inspecting the appearance of a semiconductor device which can improve defect detection accuracy by optimumly determining the segmentation of pixels.例文帳に追加

各画素のセグメント化を最適に決定することにより欠陥検出精度を向上させた半導体装置の外観検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection method and device which can easily detect defects, and can detect even defects at a corner part of an object to be inspected.例文帳に追加

被検査物の隅部であっても欠陥を検出でき、かつ、欠陥を容易に検出することができる欠陥検出方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To solve the problem that there is no ultrasonic flaw detecting device which can easily determine a defect, in the case where the inspection result, in ultrasonic flaw detection by TOFD method, is evaluated.例文帳に追加

ＴＯＦＤ法による超音波探傷において、その検査結果を評価する場合に、容易に欠陥を判定できる超音波探傷装置がない。 - 特許庁

In the defect detection method, a captured image creating process S1 of an inspection region captures an image of a to-be-inspected object and creates a captured image.例文帳に追加

本発明の欠陥検出方法において、検査領域の撮像画像作成工程Ｓ１は、検査対象物を撮像し、撮像画像を作成する。 - 特許庁

Next, the method includes: measuring detection intensity of each discharge signal detected with the detection sensor and an acoustic sensor 6 in the specified gas section 4; and locating a defect part based on the detection intensity of the discharge signal and the detection phase waveform of a three-phase voltage detected by the detection sensor 5 and the acoustic sensor 6.例文帳に追加

次に、特定したガス区画４における検出センサ及び音響センサ６で検出する各放電信号の検出強度を計測し、検出センサ４及び音響センサ６が検出した放電信号の検出強度と三相の電圧の検出位相波形とに基づいて欠陥部位を標定する。 - 特許庁

To provide a method and a system for detecting a medium defect by which detection is made for a minute medium defect that does not generate a data error in a partial response signal processing system and an information recording and reproducing device which utilizes the method and the system.例文帳に追加

パーシャルレスポンス信号処理方式でデータエラーが発生しない微小な媒体欠陥を検出する媒体欠陥検出方法、媒体欠陥検出システムおよびこれを用いた情報記録再生装置を提供するものである。 - 特許庁

To provide a photomask, manufacturing method of photomask and manufacturing method of semiconductor device which can improve a resist shape on a wafer after a photomask pattern exposure, and obtain sufficient defect detection sensitivity in the defect inspection of the photomask.例文帳に追加

フォトマスクパターン露光後のウェーハ上のレジスト形状を良好にし、かつフォトマスクの欠陥検査時における欠陥検出感度を十分に得ることができるフォトマスク、フォトマスクの製造方法および半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To enhance defect detection sensitivity at a pattern edge portion by improving the method of determining a correction amount, as to correction of gray level difference at the pattern edge portion performed in an image defect inspection method used for a visual inspection device for a semiconductor circuit.例文帳に追加

半導体回路の外観検査装置に使用される画像欠陥検査方法で行う、パターンエッジ部分におけるグレイレベル差の補正において、補正量の決定方法を改善して、パターンエッジ部分における欠陥検出感度を向上する。 - 特許庁

To provide an inspection device for liquid crystal device that can easily observe right under a pressing member that is difficult to observe by the conventional one and reduce missing of detection of potential short-circuit defect, and to provide an inspection method and a method of manufacturing a liquid crystal device by which missing of detection of potential short-circuit defect is suppressed.例文帳に追加

従来、観察が困難であった押圧部材の直下を容易に観察することができ、潜在的な短絡欠陥の検出漏れを低減することができる液晶表示装置の検査装置、検査方法および潜在的な短絡欠陥の検出漏れが少ない液晶表示装置の製造方法を提供する - 特許庁

To provide a detection method of a crystal defect having high sensitivity, capable of detecting even a fine defect such as a small BMD (Bulk Micro Defect) formed on a silicon monocrystal wafer having a low resistivity, with progression of temperature lowering in heat treatment following high integration of devices.例文帳に追加

デバイスの高集積化に伴い、熱処理の低温化が進んだことにより、抵抗率の低いシリコン単結晶ウエーハに形成されるようになった小さなＢＭＤなどの微小な欠陥であっても検出することができる高感度の結晶欠陥の検出方法を提供する。 - 特許庁

A defect inspection method for inspecting the defect of the surface of a sample, includes the step of detecting the defect by addition processing of a detecting signal in which the amount of the misalignment of a pixel of detection signals calculated by comparing the distribution of Haze signal and predetermined light quantity distribution is corrected.例文帳に追加

試料の表面の欠陥を検査する欠陥検査方法であって、Ｈａｚｅ信号の分布と予め定めた光量分布とを比較して算出した検出信号の画素ずれ量を補正した検出信号を加算処理して欠陥を検出する工程を有する欠陥検査方法。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detector and an ultrasonic flaw detection method, capable of discriminating a signal detected based on a defect such as a crack, from a reflection signal based on a welding part texture, capable of detecting the defect, and capable of measuring precisely a depth of the defect.例文帳に追加

き裂などの欠陥から検出された信号と溶接部組織からの反射信号とを識別することができ、さらに、欠陥検出、欠陥深さを高精度に測定することができる超音波探傷装置および超音波探傷方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To reduce the generation of a pseudo-defect when a lightness difference exists between two compared images, in an image defect inspection device and a method for detecting a difference between fellow picture elements corresponding to the two images to detect a picture element portion as a defect when the difference exceeds a detection threshold.例文帳に追加

２画像の対応する各画素同士の画素値の差分を検出して、この差分が検出閾値を超えるとき画素部分を欠陥として検出する画像欠陥検査装置及び方法において、比較する２画像に明度差がある場合の疑似欠陥の発生を低減する。 - 特許庁

To provide a method for detecting a defect and a defect detection device in a continuously cast slab for a thin steel sheet which can estimate and detect a cracking defect generated on the surface of a slab to be formed into the stock of a continuously cast thin steel sheet with high accuracy in a stage directly after casting.例文帳に追加

連続鋳造した薄鋼板の素材となる鋳片（スラブ）表面に発生した割れ性の欠陥を、鋳造特後の段階で、精度よく予測し、検出することが可能な薄鋼板用の連続鋳造鋳片の欠陥検出方法と欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To eliminate variations in defect detection accuracy among factories and inspection systems, to check the detection limits and functions of an inspection machine, and to adjust its sensitivity, by providing a reference sample bottle having a pseudo defect of definite properties comparable with an actual defect, a bottle inspection system equipped with the same, and a calibrating method for the bottle inspection system.例文帳に追加

実際の欠陥に見合った一定な性状の擬似欠陥を持った基準サンプル壜、それを備えた壜検査システム、及び壜検査システムの校正方法を提供することにより、各工場、検査システム間の欠陥検出精度のばらつきを解消し、かつ検査機の検出限界、機能の確認及び感度の調整を可能にする。 - 特許庁