「defect detection method」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

DEVICE AND METHOD FOR DEFECT SIGNAL DETECTION FOR OPTICAL RECORDING/REPRODUCING DEVICE例文帳に追加

光記録／再生装置の欠陥信号検出装置及びその欠陥信号検出方法 - 特許庁

To provide a novel and improved disk drive apparatus, and a novel and improved media defect detection method.例文帳に追加

新規且つ改善された、ディスクドライブ装置及びメディア欠陥検出方法の提供。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR SPECIFYING DETAIL OF DEFECT OF ROTATING SPEED DETECTION DEVICE例文帳に追加

回転速度検出装置の異常内容特定装置及び異常内容特定方法 - 特許庁

To realize a device and method for automating defect detection of an antireflection film.例文帳に追加

反射防止フィルムの欠陥検出を自動的に行う装置および方法を実現する。 - 特許庁

WELD DEFECT DETECTION SYSTEM, METHOD FOR PRODUCING ELECTRIC RESISTANCE WELDED TUBE AND WELDED PRODUCT例文帳に追加

溶接欠陥検出システム及び電縫鋼管の製造方法並びに溶接製品 - 特許庁

WELDING DEFECT DETECTION SYSTEM, METHOD FOR MANUFACTURING ELECTRIC RESISTANCE WELDED PIPE, AND WELDED PRODUCT例文帳に追加

溶接欠陥検出システム及び電縫鋼管の製造方法並びに溶接製品 - 特許庁

To provide a method for correcting an output value of an imaging means, a shading correction method, a defect detection method, a defect detection program and a defect detection apparatus that can precisely calculate an input value by evaluating the sensitivity characteristic of an imaging element appropriately.例文帳に追加

撮像素子の感度特性を適切に評価して入力値を高精度に算出することができる撮像手段の出力値補正方法、シェーディング補正方法、欠陥検出方法、欠陥検出プログラムおよび欠陥検出装置を提供すること。 - 特許庁

TEG (TEST EXPERIMENTAL GROUP) FOR DETECTING PIPING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS PIPING DEFECT DETECTION METHOD, AND ITS VOID FORMATION STATE DETERMINATION METHOD例文帳に追加

半導体装置のパイピング不良検出用ＴＥＧ並びにそのパイピング不良検出方法およびそのボイド形成状態判定方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR ACQUISITION OF SHAPE INFORMATION AND APPARATUS AND METHOD FOR DEFECT DETECTION例文帳に追加

形状情報取得装置、欠陥検出装置、形状情報取得方法および欠陥検出方法 - 特許庁

To provide a self discharge defect detection device and a self discharge defect detection method for a secondary battery that can detect self discharge defect without accelerating depletion of the battery in a short time.例文帳に追加

短時間で、かつ、電池の劣化を加速させることなく自己放電不良を検出することができる二次電池の自己放電不良検出装置および自己放電不良検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a learning-type defect detection device, method and program, capable of maintaining the accuracy of defect detection regardless of the size of a defect generated in an inspection object.例文帳に追加

検査対象物に発生する欠陥の大きさにかかわらず欠陥の検出精度を維持可能な学習型の欠陥検出装置、欠陥検出方法および欠陥検出プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide an illuminating method, an inspecting method and a defect detection apparatus for detecting a defect of a hologram, which can be utilized universally for defect detection of an arbitrary type of holograms and can detect the defect precisely and stably.例文帳に追加

本発明は、任意の品種のホログラム欠陥検出に、汎用的に利用することができ、かつ欠陥を精度良く安定して検出することが可能なホログラム欠陥検出の照明方法、検査方法および欠陥検出装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a cutting defect detection method in a plasma machine to prevent a cutting defect by automatically detecting generation of a cutting defect and a device therefor.例文帳に追加

切断不良の発生を自動的に検出して切断不良を防ぐことのできるプラズマ加工機における切断不良検出方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

In this system and method, upon the detection of a defect, the printer is enabled to skip the defect area, or alternatively an image influenced by the defect is reprinted.例文帳に追加

本発明のシステムおよび方法において、欠陥が検出された場合、プリンタをイネーブルして欠陥領域をスキップさせるか、欠陥の影響を受けた画像を再印刷する。 - 特許庁

To provide a stain defect detection method and a device capable of detecting highly accurately a stain defect, even when an illuminance difference of the stain defect caused by a voltage change has a noise level.例文帳に追加

電圧変化によるシミ欠陥の輝度差がノイズレベルであっても、シミ欠陥を高精度に検出することができるシミ欠陥検出方法および装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect detection method for matrix structure and defect detection device of matrix structure which make it possible to easily detect point-like defects in matrix structure.例文帳に追加

マトリクス構造における点状の欠陥を容易に検出可能にするマトリクス構造の欠陥検出方法およびマトリクス構造の欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection apparatus and a defect detection method for detecting the defect of an object to be inspected reliably by applying light for detecting defects to the site of the object to be detected whose position is regulated reliably, and for miniaturizing the entire defect detection apparatus.例文帳に追加

位置が確実に規制される検査対象物の部位に欠陥検出用の光を照射して、検査対象物の欠陥を確実に検出することができ、しかも欠陥検出装置全体の小型化を図ることができる欠陥検出装置および欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface defect detection method capable of detecting a defect present on the surface of an object to be tested with high precision.例文帳に追加

被検査体の表面に存在する欠陥を高い精度で検出することができる表面欠陥の検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection device for detecting a defect with a simple method by setting a proper mask area.例文帳に追加

本発明は、適正なマスク領域を設定し、簡易な手法にて欠陥の検出を行う欠陥検出装置の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a defect detection apparatus and a defect detection method for facilitating a setup of threshold values in a plurality of scattered light detectors, and properly obtaining detection data from the individual scattered light detector.例文帳に追加

複数の散乱光検出器のしきい値設定を容易化し、個々の散乱光検出器の検出データを適切に取得することができる欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detector for a sheet, whose detection accuracy is high, and to provide a manufacturing method for the sheet.例文帳に追加

検出精度が高いシートの欠点検出装置およびシートの製造方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING DEFECTS OF WELDING GUN FOR CAPACITOR DISCHARGE TYPE STUD WELDING AND DEFECT DETECTION DEVICE例文帳に追加

コンデンサ放電型スタッド溶接用溶接ガンの良否判定方法及び良否判定装置 - 特許庁

IMAGE PROCESSING DEVICE AND METHOD FOR SUPPORTING PARAMETER CONCERNING DETECTION OF DEFECT ON IMAGE例文帳に追加

画像処理装置および画像上の欠陥検出に係るパラメータの設定を支援する方法 - 特許庁

To detect a defect 3 inside a welded part 2 using a TOFD(Time of Flight Diffraction) method for ultrasonic flaw detection.例文帳に追加

溶接部２内の欠陥３を、超音波探傷のＴＯＦＤ（Time of FlightDiffraction）法によって検出する。 - 特許庁

DISK ARRAY CONTROL DEVICE, PROCESSING METHOD APPLIED TO THIS DEVICE UPON DETECTION OF DATA DEFECT, AND PROGRAM例文帳に追加

ディスクアレイ制御装置、同装置に適用されるデータ欠損検出時の処理方法及びプログラム - 特許庁

To provide a method for manufacturing/inspecting a photomask by which the defect detection sensitivity can be enhanced.例文帳に追加

欠陥検出感度を向上させ得るフォトマスクの製造・検査方法を提供すること。 - 特許庁

Furthermore, a method of manufacturing a unit cell of the fuel cell which includes processes of a unit cell defect detection method is provided.例文帳に追加

さらには、当該セル欠陥検出方法する工程を含む当該セルの製造方法を提供する。 - 特許庁

The detection method is a defect detection method for detecting defects of the sample, where a upper-plated layer (60) is formed on an SiO_2 layer (62) provided with trench portions.例文帳に追加

溝部を設けたＳｉＯ_２層（６２）上に銅メッキ層（６０）が形成された試料の欠陥を検出する欠陥検出方法である。 - 特許庁

To provide a defect detection device and its method capable of detecting a linear defect on a test object with high accuracy.例文帳に追加

検査対象物上の線状欠陥を高精度に検出することができる欠陥検出装置および欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for defect detection which inspect a defect of the outward appearance of an object to be inspected through image processing.例文帳に追加

画像処理により検査対象物の外観の欠陥を検査する欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供するにある。 - 特許庁

To provide a defect detection method of turbine generator end ring, capable of effectively detecting defects by discriminating between a defect echo and a pseudo echo.例文帳に追加

欠陥エコーと擬似エコーとを識別し、効果的に欠陥の検出ができるタービン発電機エンドリングの欠陥検出方法を実現する。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus and an inspection method for achieving precise and high-throughput defect detection performance, in a wide range of defect sizes from a small defect to a large one.例文帳に追加

小欠陥から大欠陥までの広範囲の欠陥サイズにおいて、高精度且つ高スループットな欠陥検出性能を実現する優れた検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method enabling accurate detection of a defect by a foreign substance and a defect by a minute change in film thickness around the defect in manufacturing an antireflection film.例文帳に追加

反射防止フィルムの製造において、異物などの欠陥とその周辺の膜厚の微小な変化による欠陥を正確に検出できる検査方法を提供するものである。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detection method of solid shaft in which detection accuracy of defect can be enhanced when a defect occurring at the step part of a solid shaft is detected using an ultrasonic wave.例文帳に追加

中実軸の段付部から生じる欠陥を超音波で探傷するに当り、欠陥の検出感度を高めることのできる中実軸の超音波探傷方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a detection method of a crack defect which guarantes sure detection of a fine crack defect without omission, in penetrant inspection by an automatic penetrant inspection device.例文帳に追加

自動浸透探傷装置による浸透探傷検査において、微細な亀裂欠陥を漏れなく確実に検出することが保証できる亀裂欠陥の検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection apparatus and a surface defect inspection method capable of performing a detection of LPDs on a wafer surface and a detection of a dark field image in parallel with each other and having an improved detection sensitivity of the LPDs.例文帳に追加

ウェーハ表面のＬＰＤの検出と暗視野像の検出とを並行して行うことができ、且つ、ＬＰＤの検出感度を高めた表面欠陥検査装置および表面欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a marking signal control method for marking a print matter printed on a web-shaped base material according to defect detection signals for a defect detected by a plurality of defect inspection devices, the method controlling output of a marking signal for a plurality of defect detection signals such that marks are distinguishable for each defect detection signal.例文帳に追加

ウェブ状の基材に印刷された印刷物に、複数の欠陥検査装置により検出された欠陥の欠陥検出信号によりマーキングを行うためのマーキング信号制御方法であって、複数の欠陥検出信号に対するマーキング信号の出力制御を行い、各々の欠陥検出信号に対し、マーキングを区別できるようにした、マーキング信号制御方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING DEFECTS OF ACTIVE MATRIX SUBSTRATE OR ACTIVE MATRIX LIQUID CRYSTAL PANEL, AND DEFECT DETECTION DEVICE例文帳に追加

アクティブマトリクス基板又はアクティブマトリクス液晶パネルの欠陥検出方法及び欠陥検出装置 - 特許庁

To provide a system and a method for road surface defect detection based on infrared imaging technology.例文帳に追加

本発明は、赤外線撮影技術に基づく路面欠陥検出システム及び方法を提供する。 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD FOR FLAT PANEL LIGHT- RELATED PLATE ELEMENT IN LOW AND HIGH RESOLUTION IMAGES例文帳に追加

低解像度および高解像度映像におけるフラットパネル用光関連板要素の欠陥検出方法 - 特許庁

To provide a device and a method for pattern inspection which can efficiently perform accurate defect detection.例文帳に追加

正確な欠陥検出を効率的に行うことが可能なパターン検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DEFECT DETECTION, INFORMATION RECORDING AND REPRODUCING DEVICE, AND MAGNETIC DISK DRIVE例文帳に追加

欠陥検出方法および欠陥検出装置ならびに情報記録再生装置および磁気ディスク装置 - 特許庁

To provide a substrate inspection method for improving detection precision of a defect, and to provide a selection method of the substrate inspection method.例文帳に追加

欠陥の検出精度の向上を図ることが可能な基板検査方法及び基板検査方法の選択方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for inspecting the defect of a filter, which can improve a detection accuracy of the defect, while using liquid particles.例文帳に追加

液体粒子を使いつつ、欠陥の検出精度をより向上できる、フィルタの欠陥の検査方法、及び、フィルタの欠陥の検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a point defect detection method by which a point defect can be detected without the need for any exclusive circuit and that is used for a picture signal processor.例文帳に追加

専用の回路を必要とせず、点欠陥の検出を行なうことができる画像信号処理装置で用いられる点欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁