「defect detection method」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

Further, the controller 212 stores signal levels of the defective pixels, and carries out conversion of the signal level in response to each reading method so that detection of a defect by one reading method permits defect correction by a plurality of the reading methods as its control.例文帳に追加

また、コントローラ２１２は、欠陥画素の信号レベルを記憶して、各読み出し方法に応じてその信号レベルを変換することにより、１つの読み出し方法による欠陥検出によって、複数の読み出し方法の欠陥補正が行えるように制御する。 - 特許庁

This is an optical disk reproducing method (S11-S14) to reproduce the optical disk recorded in a format having an optical disk defect control function, and changes (S17-S21) the defect detection levels to operate the defect control function based on the defect control information (S15-S16) made by the defect control function of an optical disk.例文帳に追加

本発明は、上記の課題を解決するためになされたものであって、光ディスクの欠陥管理機能を有するフォーマットで記録された光ディスクを再生する光ディスク再生方法であって（Ｓ１１〜Ｓ１４）、光ディスクの欠陥管理機能により作成された欠陥管理情報（Ｓ１５〜Ｓ１６）に基づき、欠陥管理機能を動作させる欠陥検知レベルが変更されること（Ｓ１７〜Ｓ２１）を特徴とするものである。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus that prevents image defects such as "erase memory", while suppressing an adverse effect as much as possible, and to provide an image defect detection method.例文帳に追加

極力弊害を抑えながら、イレースメモリなどの画像不良を防止することができる画像形成装置及び画像不良検出方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for controlling label feeding which prevents a malfunction such as piling-up sticking caused by defect of detection of a sensor to a tooth falling-out label which has no label on a label roll.例文帳に追加

ラベルロール上にラベルのない、歯抜けラベルに対するセンサーの検知不良による重ね貼り等の誤動作を防ぐラベルの送り制御方法を提供する。 - 特許庁

To provide a flaw detection method and a device capable of specifying the position of a defect of a measuring object without dependence on the material of the measuring object.例文帳に追加

測定対象物の材質に依存することなく、前記測定対象物における欠陥の位置を特定することのできる探傷方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection method capable of detecting defects with high accuracy, without having to require time or effort in setting filters, even when an object to be inspected is a complex structural surface.例文帳に追加

複雑な構造面を検査対象とする場合であっても、フィルタ設定に手間が掛からず、欠陥を高精度に検出可能な欠陥検出方法の提供。 - 特許庁

This method also includes a step of performing a test among the domains and implementing a second subset of the domain of the plurality of circuits provided with the dynamic defect detection test pattern.例文帳に追加

本方法はまた、ドメイン間テストを実施して、動的欠陥検出テストパターンを実装する複数の回路のドメインの第２サブセットを実行する段階を含む。 - 特許庁

To provide a defect detection method and apparatus for a wafer which can detect defective notch parts occurring at the peripheral part of a semiconductor wafer with high precision.例文帳に追加

半導体ウェハにおいて、その周縁部に発生する欠陥切欠き部分を精度よく検出することができるウェハの欠陥検出方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a measurement and analysis method capable of acquiring accurately a true signal caused by a defect by preventing a measurement result from being influenced by the fluctuation of a measuring state, in a leakage flux flaw detection method.例文帳に追加

漏洩磁束探傷方法において、測定した結果が測定状態の変動に影響されることなく、欠陥による真の信号が精度良くとらえられる計測及び解析方法を提供する。 - 特許庁

LINEAR DEFECT DETECTOR, SEMICONDUCTOR SUBSTRATE MANUFACTURING DEVICE, LINEAR DEFECT DETECTION METHOD, SEMICONDUCTOR SUBSTRATE MANUFACTURING METHOD, PROGRAM FOR CAUSING COMPUTER TO FUNCTION AS THE DETECTOR OR THE MANUFACTURING DEVICE, AND STORAGE MEDIUM FOR STORING THE PROGRAM THEREIN例文帳に追加

線状の欠陥の検出装置および半導体基板の製造装置、線状の欠陥の検出方法および半導体基板の製造方法、コンピュータを当該検出装置または当該製造装置として機能させるためのプログラム、ならびに当該プログラムを格納した記録媒体 - 特許庁

This defect detection method of the roller bearing by torque monitoring is a method for detecting a defect on either or both of the rolling contact surface of an outer ring and the roller in the roller bearing equipped with the outer ring and a plurality of rollers rolling along the rolling contact surface of the outer ring.例文帳に追加

この発明のトルク監視によるころ軸受の欠陥検出方法は、外輪およびこの外輪の転走面を転動する複数のころを備えたころ軸受において、前記外輪の転走面およびころのいずれか一方または両方の欠陥を検出する方法である。 - 特許庁

In this method, when a defect signal is detected from an RF signal of an optical disk such an RF switch 2 is arranged so that the defect signal is applied to a high-pass filter during only the specified period when the detection signal is outputted.例文帳に追加

本発明では、光ディスクのＲＦ信号からディフェクト信号が検出されているとき、その検出信号が出力されている所定の期間だけそのディフェクト信号をハイパスフィルタにかけるようなＲＦスイッチ２が設けられている。 - 特許庁

To provide a new method for surface defect detection and its device which can quantitatively measure a defect in atom size generated on the surface and interface of a sample in a manufacturing process for semiconductor devices or the like in real time with high precision.例文帳に追加

半導体デバイスの製造プロセス等において試料の表面および界面に発生する原子サイズの欠陥を実時間で、且つ高精度で定量測定することのできる、新しい表面欠陥検出方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image recorder which can accurately carry out detection of recording defect by correcting offset even when the offset by recording processing on both faces of a recording medium takes place, and to provide a method for detecting recording defect by the recorder.例文帳に追加

記録媒体両面への記録処理により裏写りが生じた場合でも、この裏写りを補正して記録不良の検出を精度良く行うことが可能な画像記録装置、その装置による記録不良検出方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a photographic printer interfaced with a defect detection or scanning system, which inspects a photo paper sheet during consumption of the photo paper sheet by a printer to find a defect, and to provide a printing method.例文帳に追加

写真用プリンタおよび印刷方法であって、プリンタによって写真用紙を消費している間に写真用紙を検査して欠陥を発見する欠陥検出または走査システムにインターフェイスされた写真用プリンタおよび方法を提供する。 - 特許庁

In a defect inspection according to the magnetic powder flaw detection method for applying ultraviolet rays to a test piece 1 and emitting fluorescence by a crack defect 2a, the image of the surface of the test piece 1 is picked up by a color television camera 3 via an ultraviolet ray cut filter 5.例文帳に追加

ここでは、試験体１に紫外線を照明し、割れ欠陥２ａで蛍光を発光させる磁粉探傷法による欠陥検査であるが、かかる試験体１の表面を、紫外線カットフィルタ５を介して、カラーテレビカメラ３で撮像する。 - 特許庁

To provide an image pickup apparatus and an imaging method capable of always maintaining a high-quality image without defect and preventing a photographing chance from being missed by providing a means of performing defect detection based on user's intention by a user's operation, in the detection of defective pixels in an image pickup element such as a CCD image sensor.例文帳に追加

本発明は、CCDイメージセンサーなどの撮像素子の欠陥画素の検出において、ユーザー操作によりユーザーの意思で欠陥検出をおこなう手段を提供することにより、常に欠陥のない高品質な画像を維持できると共に、撮影機会を損ねることがない撮像装置及び撮像方法を提供する。 - 特許庁

To provide a technology capable of determining intensity of defect detection signal necessary for detection and capable of shortening the inspection time as much as possible, upon inspecting a short circuit defect of conductor on the panel circuit board in the method of detecting the current variation accompanied by the resistance variation caused by the laser irradiation while applying electric bias on the conductor.例文帳に追加

パネル回路基板の導線のショート欠陥を検査するにあたり、導線へ電気バイアスを印加しながら、レーザ光照射による抵抗変化がもたらした電流変化を検出する方法において、必要な欠陥検出信号の強度が得られ、かつ、検査時間を極力短縮することができる技術を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection method and system capable of accurately removing in a short time a chip including a defect such as a microvoid which is formed on a wafer stuck by a direct bonding method or through an adhesive and is difficult and takes time to be found by visual observation, and to provide a method of manufacturing a light emitting device.例文帳に追加

直接接合方法または接着剤を介して貼り合わせたウエーハにできる目視では発見が困難で時間がかかるマイクロボイド等の欠陥を含むチップを、正確にそして短時間で取り除くことができる欠陥検出方法および欠陥検出システムならびに発光素子の製造方法を提供する。 - 特許庁

To obtain an unevenness defect detection method for enhancing unevenness constituents only and detecting unevenness more reliably, to provide a device for detecting unevenness defects automatically, and to provide an inspection system, or the like.例文帳に追加

ムラ成分だけを強調でき、より確実なムラ検出を行うことができるようなムラ欠陥検出方法、自動的にムラ欠陥検出を行うための装置、検査システム等を得る。 - 特許庁

To provide an eddy current examination method and an eddy current examination sensor capable of improving detection accuracy relative to a defect having a possibility of existing on the inspection surface of a work.例文帳に追加

ワークの被検査面に存在し得る欠陥に対する検出精度を向上させることができる渦流探傷方法、渦流探傷センサを提供することを課題とするにある。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a reflection type mask blank that can eliminate a decrease in yield due to discrepancy between the detection limit of a defect on a substrate surface and a demand for the number of defects of an EUV mask blank.例文帳に追加

基板表面の欠点の検出限界と、ＥＵＶマスクブランクの欠点数に関する要求とのずれによる歩留りの低下を解消することができるマスクブランクの製造方法。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus, an image processing method, an image processing program, and a defect detection apparatus capable of detecting a circular part with high accuracy from a captured image of an inspection target.例文帳に追加

被検査物の撮像画像から円形状の部分を高精度に検出できる画像処理装置、画像処理方法、画像処理プログラム、及び欠陥検出装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for inspecting the cleaning performance of a blank material cleaning device where constitution is made simple, so as to suppress the increase of cost, and further, the swift and secure detection of a cleaning defect is performed.例文帳に追加

ブランク材洗浄装置の洗浄性能検査方法において、簡素な構成としてコストアップを抑えた上で、迅速かつ確実な洗浄不良の検出を可能とする。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detection method capable of detecting surely a micro internal defect, irrespective of a cross-sectional dimension different in every inspected material, and an ultrasonic flaw detector used therefor.例文帳に追加

被検査材ごとの異なる断面寸法に拘わらず、微小な内部欠陥を確実に検出できる超音波探傷方法、およびこれに用いる超音波探傷装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for inspecting an external form of a lumber product, capable of automating a sensor-based detection of a defect of a surface-machined lumber product and improving production efficiency.例文帳に追加

表面が加工された製材品の欠陥部をセンサによって検出して自動化を図り、生産効率を高めるようにした製材品の外形検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

This method includes a step of performing a test in a domain and implementing a first subset of a domain of a plurality of circuits provided with a dynamic defect detection test pattern.例文帳に追加

１つの実施形態では、方法は、ドメイン内テストを実施して、動的欠陥検出テストパターンを実装する複数の回路のドメインの第１サブセットを実行する段階を含む。 - 特許庁

To provide a method and apparatus improving image uniformity and contrast quality in detection of defects in a patterned semiconductor substrate by a charged particle utilization type defect inspection device.例文帳に追加

帯電粒子利用型欠陥検査装置によるパターン形成ずみの半導体基板の欠陥の検出に、画像の均一性およびコントラストの質を改善する方法及び装置を提供する。 - 特許庁

A method is provided that includes a defect detection step to detect one or more defects in a software application composed of heterogeneous languages using a configurable web services architecture.例文帳に追加

設定可能なウェブサービスアーキテクチャにより異種言語から成るソフトウェアアプリケーションにおける１又はそれ以上の欠陥を検出する欠陥検出段階を有する方法が提供される。 - 特許庁

To provide a magnetic flaw detection method, capable of satisfactorily detecting a flaw with S/N ratio, even if an electrical noise is generated or when something other than the defect exerting an influence on a leakage flux exists.例文帳に追加

電気的ノイズが発生したり、漏洩磁束に影響を与える欠陥以外のものが存在する場合にも、Ｓ／Ｎ比良く欠陥を検出できる磁気探傷方法を提供する。 - 特許庁

To solve a problem of a conventional memory control method that when the number of defective pixels in existence exceeds a permissible storage capacity of a memory in the detection of the defective pixels defect data as to the defective pixels detected thereafter cannot be stored.例文帳に追加

欠陥検出の際に、存在する欠陥画素数がメモリの記憶許容数を越えている場合、それ以降検出した欠陥画素についての欠陥データを記憶できない。 - 特許庁

To provide a defect detecting device for highly accurately detecting a defective pixel, even in a photographing state without camera shake or even for a subject having a high frequency component, without requiring a camera shake detector, and to provide a defect detection method.例文帳に追加

手振れ検出器を必要とせず、手振れがない撮影状態においても、また高周波成分を持った被写体に対しても、高精度に欠陥画素を検出可能な欠陥検出装置および欠陥検出方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for inspecting a defect of a steel plate surface, capable of detecting a defective part (abnormal part), while suppressing over-detection/un-detection, when inspecting a steel plate as a subject having large variations in a surface property, including a color tone.例文帳に追加

色調まで含め、表面性状変動が大きい鋼板を検査対象にして、過検出・未検出を抑えた、欠陥部（異常部）の検出を行うことができる、鋼板表面欠陥検査方法および装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a flaw detection method and flaw detector of a metallic machine component that allows automated and unmanned defect determining operation of a machine component and can achieve high efficiency and cost reduction of flaw detection, by automating the scanning of a flaw detection probe to the machine component by incorporating a flaw detection mechanism into an existing NC unit.例文帳に追加

探傷機構を既存のＮＣ装置に組み込むことによって、機械部品に対する探傷プローブの走査を自動化することにより、機械部品の欠陥判別操作を自動化、且つ、無人化することを可能にし、以て探傷検査の高効率化と低コスト化を実現し得る金属製機械部品の探傷方法及び探傷装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a detection method and a detection apparatus of stain defects that have high detection output also for a defect having a low contract or a small size, automatically determine a threshold for detection as the stain defects, based on statistical brightness data in a detected image, and further achieve the quantitative evaluation of the detected stain defects.例文帳に追加

コントラストの低い、あるいはサイズの小さい欠陥に対しても高い検出力を有するとともに、シミ欠陥として検出するための閾値を検出画像内の輝度統計データに基づいて自動的に決定し、さらに検出されたシミ欠陥の定量評価を可能にしたシミ欠陥の検出方法及びその検出装置を提供する。 - 特許庁

In the printed matter inspecting method, a periphery of a detected defect candidate is searched after performing first positional correction using a standard image and the inspected image, and whether it is a real defect is determined by performing second positional correction relating to the defect candidate determined to have high possibility of error detection caused by the geometric distortion.例文帳に追加

基準画像と検査画像を用いて第一の位置補正を行った後に、検出された欠陥候補に対してその周辺部を探索し、幾何学的歪みに起因した誤検知の可能性が高いと判定された欠陥候補に対しては、第二の位置補正を行い真の欠陥であるかを判定することを特徴とする印刷物検査方法。 - 特許庁

To provide an accurate and efficient defect detection method, along with a program and device, by suppressing effect of allowable expansion, contraction or deformation of an inspecting object on a detection result when a defect on a contour of the inspecting object is detected using an image processing technology.例文帳に追加

画像処理技術を用いて検査対象物の輪郭線上の欠陥を検出するにあたり、検出結果に対する、前記検査対象物の許容される膨張、収縮、或いは変形の影響を抑制し、かつ、計算処理量を少なくすることで、高精度かつ効率的な欠陥検出方法、プログラム、及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a practical method and device for detecting a small surface irregularity defect, capable of detecting surely a small concave and convex defect having a contour of the irregularity of several micrometers which is difficult to an automatic detection like the detection by a grinding stone, in an object to be inspected with a coarse surface roughness and a visual inspection which is usually difficult.例文帳に追加

表面粗さの粗い被検査対象物において通常視認困難で、砥石がけ検査により検出しているような自動検出が困難な凹凸が数μm程度でなだらかな輪郭を持つ微小凹凸性疵を確実に検出できる実用的な微小凹凸表面欠陥の検出方法及び装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a hollow fiber membrane selection method capable of easily performing selection and detection of a leak thread of a hollow fiber membrane module having a defect part in which a content such as a coloring liquid and a fluorescent dye does not remain on the membrane even after selection, and to provide a method for manufacturing the hollow fiber membrane repairing the subsequently detected defect part.例文帳に追加

欠陥部を有する中空糸膜モジュールのリーク糸の選別、検出を容易に実施でき、しかも選別後であっても、膜に着色液や蛍光染料などの含有成分が残存しない中空糸膜選別方法、及び引き続き検出した欠陥部を補修する中空糸膜製造法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device wherein detection sensitivity and throughput are improved by optimizing shape of illumination when detecting a defect such as foreign matter generated in a production process for forming a pattern on a substrate to manufacture a target object, and to provide a method therefor.例文帳に追加

基板上にパターンを形成し対象物を製作して行く製造工程で発生する異物等の欠陥を検出する際に、照明の形状を最適化することにより、検出感度およびスループットを向上する欠陥検査装置およびその方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a defective pixel detection method and an image processing apparatus, which can accurately detect a position, in which image correction is required, to accurately perform image correction even in the case where normal pixels adjacent to a line defect generate abnormal output signals due to an influence of the line defect.例文帳に追加

線欠陥の影響により、隣接する正常な画素が異常な出力信号を発生する場合でも、画像補正が必要な箇所を正確に検出し、正確に画像補正することができる欠陥画素検出方法および画像処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection method can obtain existence or a kind of a defect of thread comprising a bundle of many continuous single fibers, on an online basis regardless of existence of twist of the thread, and performing speedily quality control of a thread package manufactured by a thread manufacturing process.例文帳に追加

多数の連続した単繊維の束からなる糸条の欠陥の有無や種類を、糸条の撚りの有無にかかわらずオンラインで把握できかつ糸条の製造工程により製造される糸条パッケージの品質管理を、迅速に行うことができる欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a flaw type classification boundary setting method in surface defect detection allowing even an operator without having a special technique to simply realize complicated defect classification, and enabling evaluation capable of remarkably reducing work and of rapidly responding to change of an operation state.例文帳に追加

特殊な技術をもたないオペレータでも簡便に複雑な欠陥分類が実現され、労力が大幅に削減されるとともに操業状態の変化に迅速に対応した評価が可能となるような表面欠陥検出における疵種分類境界設定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device and a visual inspection method capable of defect detection even in a domain other than a repeated pattern domain without generating a reference image, when detecting a defect appearing in the appearance of a substrate on whose surface an electric pattern is to be formed or has been formed.例文帳に追加

表面に電気的パターンが形成される、又は形成された基板の外観に現れる欠陥を検出する際に、基準画像を生成することなく、繰り返しパターン領域以外の領域においても欠陥検出が可能な外観検査装置及び外観検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a detection method for medium defect of information storage device by which a minute medium defect is surely detected, and an information storage device having error-correcting ability.例文帳に追加

エラー訂正能力をもつ情報記憶装置の媒体の欠陥を検出するための媒体欠陥検出方法及び情報記憶装置に関し、微小な媒体欠陥を確実に検出できる媒体欠陥検出方法及び情報記憶装置を提供することを目的とする。 - 特許庁