「defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(22ページ目) - Weblio英語例文検索

STRIPE DEFECT DETECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

筋状欠陥検出方法及び装置 - 特許庁

To detect a defect at a high SN ratio without depending on the height (depth) of the defect.例文帳に追加

欠陥の高さ（深さ）に依存することなく高いＳ／Ｎで欠陥を検出する。 - 特許庁

PIXEL DEFECT INSPECTION METHOD OF LIGHT EMITTING DEVICE例文帳に追加

発光装置の画素欠陥検査方法 - 特許庁

MAGNETIC DEFECT INSPECTING METHOD FOR MAGNETIC DISK例文帳に追加

磁気ディスクの磁気的欠陥検査方法 - 特許庁

CORRECTION LIQUID FOR CORRECTING COLOR FILTER DEFECT例文帳に追加

カラーフィルタ欠陥修正用の修正液 - 特許庁

SYSTEM FOR SPECIFYING DEFECT-ORIGIN DEVICE OF SUBSTRATE例文帳に追加

基板の欠陥原因装置特定システム - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF EXPOSURE MASK, DEFECT ACCEPTABILITY DETERMINATION METHOD AND DEFECT CORRECTION METHOD例文帳に追加

露光用マスクの製造方法、欠陥合否判定方法、及び欠陥修正方法 - 特許庁

In this semiconductor inspection method, a pattern image 24 and a defect image 28 by a defect (1) are composed to make a defect inspection image 29 (ST103).例文帳に追加

パターン画像２４と欠陥（１）による欠陥画像２８が合成され、欠陥検査画像２９が作製される（ＳＴ１０３）。 - 特許庁

DEFECT DETECTION APPARATUS, DEFECT DETECTION METHOD, DEFECT DETECTION PROGRAM, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM STORED WITH THE PROGTRAM例文帳に追加

欠陥検出装置、欠陥検出方法、欠陥検出プログラム、および、それを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

A defect candidate land extraction part 61 extracts a series of defect candidate pixels adjacent to each other as a defect candidate land.例文帳に追加

欠陥候補ランド抽出部６１は、互いに隣接する欠陥候補画素の集合を欠陥候補ランドとして抽出する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and a defect inspection method capable of performing defect inspection at high speed, suppressing cost increase.例文帳に追加

コストの増大を抑えて高速に欠陥検査を行うことができる欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To enhance correction accuracy of phase defect by detecting a defect position accurately when a phase defect is corrected.例文帳に追加

位相欠陥修正時における欠陥位置を正確に検出することができ、位相欠陥の修正精度の向上をはかる。 - 特許庁

To surely check the defect of respective welding spots, and further to specify the position of the defect when the defect has been found.例文帳に追加

各溶接打点の欠損を確実にチェックすることができ、欠損があった場合に欠損箇所を特定しうるようにする。 - 特許庁

The additional sector group covers a sector not determined to be a defect but supposed to have a latent defect in a defect detecting inspection.例文帳に追加

付加セクタ群は、欠陥検出検査では、欠陥と判断されないが欠陥が潜在していると予想されるセクタをカバーする。 - 特許庁

To provide a defect inspecting method which can correctly detect a defect even if a wafer surface as an object of defect inspection has color unevenness.例文帳に追加

欠陥検査を行うウエハ表面に色むらがあっても正しく欠陥を検出できる欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

DEFECT DETECTING APPARATUS, DEFECT DETECTING METHOD, DEFECT DETECTING PROGRAM AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH THE PROGRAM RECORDED THEREON例文帳に追加

欠陥検出装置、欠陥検出方法、欠陥検出プログラム、及び該プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

A processing control part 38 omits the secondary defect detection processing when a large defect is detected by the primary defect detection processing before start of the secondary defect detection processing, or finishes the secondary defect detection processing in the middle when a large defect is detected by the primary defect detection processing after start of the secondary defect detection processing.例文帳に追加

処理制御部３８は、２次欠陥検出処理の開始前に１次欠陥検出処理で大欠陥が検出された場合に２次欠陥検出処理を省略する、または２次欠陥検出処理の開始後に１次欠陥検出処理で大欠陥が検出された場合に２次欠陥検出処理を途中で終了する。 - 特許庁

To provide a defect review device capable of continuing defect review even if one image processing device is failed, concerning a defect review device for executing defect review or defect classification by using a plurality of image processing devices.例文帳に追加

複数台の画像処理装置を用いて欠陥レビューないし欠陥分類を実行する欠陥レビュー装置において、１台の画像処理装置が故障しても欠陥レビューを継続可能な欠陥レビュー装置を実現する。 - 特許庁

The header includes a defect list identifier 131 for identifying a defect list, a first update-times information representing the number of times that the defect list has been updated, and a defect entry number 132 representing the number of defect entries.例文帳に追加

ヘッダは、欠陥リストを識別する欠陥リスト識別子１３１と、欠陥リストの更新回数を示す第１の更新回数情報１３３と、欠陥エントリの個数を示す欠陥エントリ数１３２とを含む。 - 特許庁

The defect list recording section 134 adds and resisters the recording position included in the defect areas presumed by the defect area presumption section 128 in the stored defect list as the defect positions required to check.例文帳に追加

欠陥リスト登録部１３４は、欠陥領域推定部１２８によって推定された欠陥領域に含まれる記録位置を、評価が必要な要評価欠陥位置として、記憶している欠陥リストに追加登録する。 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE AND INSPECTED RESULT DISPLAY METHOD FOR SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

表面欠陥検査装置の検査結果表示方法及び表面欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING MINUTE DEFECT IN SILICON WAFER例文帳に追加

シリコンウエハの微小欠陥の評価方法 - 特許庁

OPTICAL TYPE DEFECT INSPECTION METHOD FOR METAL BAND例文帳に追加

金属帯の光学式欠陥検査方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR DETECTION OF POINT DEFECT例文帳に追加

点欠陥検出装置及びその方法 - 特許庁

HARD DISK DRIVE, METHOD FOR DETECTING DEFECT PATTERN ON DISK AND METHOD FOR DETECTING DEFECT例文帳に追加

ハードディスクドライブ，ディスク上の欠陥類型検出方法および欠陥検出方法 - 特許庁

INTERNAL DEFECT DETECTION SYSTEM FOR SOLID INSULATOR例文帳に追加

固体絶縁物内部欠陥検出システム - 特許庁

DETECTION METHOD AND DEVICE OF SURFACE DEFECT例文帳に追加

表面欠陥の検出方法及び装置 - 特許庁

HF DEFECT EVALUATION METHOD OF SOI SUBSTRATE例文帳に追加

ＳＯＩ基板のＨＦ欠陥評価方法 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING PIXEL DEFECT OF LIQUID CRYSTAL PANEL例文帳に追加

液晶パネルの画素欠陥修正方法 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING DEFECT AND DEFECT DETECTION DEVICE IN CONTINUOUSLY CAST SLAB FOR THIN STEEL SHEET例文帳に追加

薄鋼板用連続鋳造鋳片の欠陥検出方法および欠陥検出装置 - 特許庁

IMAGING CONDITION DETERMINATION METHOD FOR PERIODIC PATTERN, DEFECT INSPECTION METHOD, AND DEFECT INSPECTING DEVICE例文帳に追加

周期性パターンの撮像条件決定方法、欠陥検査方法、および欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING DEFECT IN SOLAR BATTERY ARRAY例文帳に追加

太陽電池アレイの欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND SUBSTRATE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

欠陥検査方法及び基板検査装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING CERAMIC SURFACE LAYER ZONE DEFECT AND ATTACHMENT FOR DETECTING CERAMIC SURFACE LAYER ZONE DEFECT例文帳に追加

セラミックス表層域欠陥の検出方法、検出装置及び検出用アタッチメント - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR DEFECT INSPECTION例文帳に追加

欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR DEFECT INSPECTION例文帳に追加

欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DEFECT INSPECTION例文帳に追加

欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING DEFECT IN GRAY TONE PATTERN FILM例文帳に追加

グレートーンのパターン膜欠陥修正方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASUREMENT OF CRYSTAL DEFECT例文帳に追加

結晶欠陥計測方法および装置 - 特許庁

DISK STORAGE DEVICE AND METHOD FOR PROCESSING DEFECT例文帳に追加

ディスク記憶装置及び欠陥処理方法 - 特許庁

DEFECT PREVENTION SYSTEM FOR PROCESSING DEVICE例文帳に追加

加工装置の不良発生未然防止システム - 特許庁

DEFECT INSPECTION ANALYSIS SYSTEM, DEFECT INSPECTION ANALYSIS METHOD AND MANAGEMENT COMPUTER USED FOR THE METHOD例文帳に追加

欠陥検査解析システム、欠陥検査解析方法及びこれに用いる管理コンピュータ - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE, DEFECT INSPECTION METHOD, OPTICAL SCANNER, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

欠陥検査装置、欠陥検査方法、光学式走査装置、半導体デバイス製造方法 - 特許庁

DEFECT DISCRIMINATING APPARATUS AND THRESHOLD SETTING METHOD例文帳に追加

不良判定装置および閾値設定方法 - 特許庁