「deflection analysis」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

Shape dimensions of the deflection analysis model are substituted into the derived equation to estimate a flexural rigidity of the furnace wall tube panel.例文帳に追加

この導出式に、たわみ解析モデルの形状寸法を代入して炉壁管パネルの曲げ剛性を推定させる。 - 特許庁

When set analysis energy levels E0, E1 are determined, a display control means 11 controls a deflection signal generation means 13 so that an electron beam is scanned on a sample, and controls an analysis energy setting means 12 so that the analysis energy of an electron spectroscope 10 is set to the energy levels E0, E1.例文帳に追加

表示制御手段１１は設定分析エネルギーＥ_0、Ｅ_1を決めると、電子線が試料上で走査されるように偏向信号発生手段１３を制御すると共に、電子分光器１０の分析エネルギーが前記Ｅ_0、Ｅ_1に設定されるように分析エネルギー設定手段１２を制御する。 - 特許庁

Substantial beam loss accompanied with beam deflection from a mass spectrometric analysis electromagnet 3 inlet to a mass spectrometric analysis slit 4 and pressure rise of a beam line in the mass spectrometric analysis magnet in the beam transport section is corrected by estimation from the pressure measured value in the vicinity of wafer region at a further downstream than the mass spectrometric analysis slit is.例文帳に追加

質量分析電磁石３入り口から質量分析スリット４までのビーム偏向及びビーム輸送区間における質量分析磁石内部のビームラインの圧力上昇に伴う実質ビーム損失を、質量分析スリットより下流のウエハ近傍領域の圧力測定値からの推定により補正する。 - 特許庁

A turbo-molecular pump 40 for evacuating the inside of a vacuum container 20 is installed in the vacuum container 20 composing an energy analysis magnet 10, a kind of a deflection magnet.例文帳に追加

偏向マグネットの一種であるエネルギー分析マグネット１０を構成する真空容器２０に、当該真空容器２０内を真空排気するターボ分子ポンプ４０を取り付けている。 - 特許庁

The reading data c(i) are compared with prescribed expectation data by performing approximation analysis such as Viterbi decoding, each deflection volume of the front end and rear end edges of each mark is calculated based on a comparison result and the multilevel data are decoded.例文帳に追加

ビタビ復号等の近似解析を行うことで、読取りデータｃ（ｉ）と所定の期待値データとを比較し、その結果に基づいて各マークの前端及び後端エッジの各偏倚量を求め、多値データを復号する。 - 特許庁

To provide a wafer prober, along with a failure analysis method using the same, capable of suppressing deflection of a wafer as much as possible in a probing state, for a sufficient observation field of sight.例文帳に追加

プロービング状態におけるウエハの反りを可及的に抑え、かつ十分な観測視野が得ることが可能なウエハプローバ、及び当該ウエハプローバを用いた故障解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a fluorescent X-ray analyzer for preventing an error generated due to a deflection of an X-ray transmissive window material provided in a sample cell, and implementing an accurate analysis of a fluid sample.例文帳に追加

試料セルに設けられたＸ線透過窓材の撓みによる誤差の発生を防止し、流動試料に対する高精度な分析を行うことができる蛍光Ｘ線分析装置を提供する。 - 特許庁

Time series data of deflection amounts generated at a plurality of hit points D when the golf ball model 2A is hit at the plurality of hit points D set on a face surface 12 of the golf club head model 10A are obtained through simulation of collision analysis by a finite element method.例文帳に追加

ゴルフクラブヘッドモデル１０Ａのフェース面１２に設定した複数の打点Ｄでゴルフボールモデル２Ａを打撃したときに複数の打点Ｄのそれぞれにおいて生じるたわみ量の時系列データを有限要素法による衝突解析のシミュレーションによって求める。 - 特許庁

Reference mark column having the front end and rear end edges equivalent to combination of the deflection volume with M stages is recorded similarly as the mark here and expectation data for performing the approximation analysis are acquired by reading the reference mark column similarly as in the case of the mark.例文帳に追加

ここで、Ｍ段階の偏倚量の組合わせに相当する前端及び後端エッジを有する基準マーク列を上記マークと同じように記録しておき、上記マークと同じようにして読取ることで近似解析を行うための期待値データを取得する。 - 特許庁

When an analysis of the press forming is performed using the die model thus prepared, a deflection of the die can be considered while restraining time factor for analyzing and accordingly, analytic accuracy can be improved compared with whole dies which are prepared by shell elements of the rigid body.例文帳に追加

こうして作成された金型モデルを用いてプレス成形の解析を行なえば、解析時間を抑えつつ金型のたわみを考慮することができるから、金型全体を剛体のシェル要素で作成したものに比して解析精度をより向上させることができる。 - 特許庁

Then, only Auger electrons AE, having emission polar angles in a range of 26±2 degrees and being selected from the Auger electrons, are introduced into a space between an inner cylindrical electrode 13 and an outside cylindrical electrode 14 arranged so as to surround the electron gun 11 and deflected by a deflection electric field, whereby an analysis is carried out.例文帳に追加

次いで、前記オージェ電子の内、放出極角が２６±２度の範囲にあるオージェ電子ＡＥのみを、電子銃１１を囲むようにして設けられた内円筒電極１３及び外円筒電極１４間に導入し、偏向電場により偏向させて分析に供する。 - 特許庁

To solve the problem of a bottleneck in analysis for automatically distinguishing genetic types using a micro satellite due to deterioration in precision of noise removal, longer time for visually checking and correction, when a +A peak appears with large deflection because a fluorescence signal is too strong, the peak cannot be separated completely, experiment conditions are incomplete, etc.例文帳に追加

マイクロサテライトを用いた遺伝子型判別を自動的に行う際、蛍光シグナルが強すぎる・ピークが完全に分離できない・実験条件がそろわないなどの理由で+Aピークの出方が大きくぶれる場合、ノイズ除去の精度が下がり、目視確認および修正に時間を要し、解析のボトルネックになっている。 - 特許庁

To provide a surface measurement apparatus that improves the accuracy of measurement and enables two-dimensional measurement in a sample surface of the refractive index and thickness of a transparent thin film formed on a substrate, deflection of the substrate, step of the film, or the like, by enabling an optical interference method and polarization analysis method in one apparatus.例文帳に追加

光干渉法と偏光解析法を1台の装置において可能にすることによって、基板上に形成した透明な薄膜の屈折率と膜厚や、基板のたわみや膜の段差などを試料面内で２次元的に測定できるようにするとともに、測定精度を向上させた表面測定装置を提供する。 - 特許庁