「electromigration」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

ELECTROMIGRATION RESISTANCE EVALUATION METHOD OF WIRING例文帳に追加

配線のエレクトロマイグレーション耐性評価方法 - 特許庁

ELECTROMIGRATION EVALUATION CIRCUIT AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

エレクトロマイグレーション評価回路及び評価方法 - 特許庁

ELECTROMIGRATION EVALUATION APPARATUS AND EVALUATION METHOD THEREOF例文帳に追加

エレクトロマイグレーション評価装置及びその評価方法 - 特許庁

To improve electromigration characteristics of Cu wiring.例文帳に追加

Ｃｕ配線のエレクトロマイグレーション特性を向上する。 - 特許庁

ELECTROMIGRATION VERIFICATION DEVICE, ELECTROMIGRATION VERIFICATION METHOD, AND DATA STRUCTURE AND NETLIST USED THEREFOR例文帳に追加

エレクトロマイグレーション検証装置、エレクトロマイグレーション検証方法、これに用いられるデータ構造およびネットリスト - 特許庁

To improve resistance to electromigration in copper (Cu) wiring.例文帳に追加

Ｃｕ配線のエレクトロマイグレーション耐性を向上させる。 - 特許庁

To improve electromigration resistance of a copper electric conductor.例文帳に追加

銅の導電体の耐エレクトロマイグレーション特性を改善する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR EVALUATING ELECTROMIGRATION OF METAL WIRING例文帳に追加

金属配線のエレクトロマイグレーション評価方法及び評価装置 - 特許庁

IMPROVED ADHESIVENESS TO COPPER AND COPPER ELECTROMIGRATION RESISTANCE例文帳に追加

銅への改善された接着性および銅エレクトロマイグレーション耐性 - 特許庁

METHOD OF INCREASING ELECTROMIGRATION LIFETIME IN METAL INTERCONNECT例文帳に追加

金属インタ—コネクトでのエレクトロマイグレ—ション寿命を増加させる方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF COLOR TRANSFORMATION LIGHT-EMITTING SUBSTANCE EQUIPMENT USING ELECTROMIGRATION例文帳に追加

電気泳動を用いた色変換発光体装置の製造方法 - 特許庁

To provide a semiconductor device which suppresses electromigration.例文帳に追加

エレクトロマイグレーションの抑制が図られた半導体装置を提供する。 - 特許庁

To improve resistance to electromigration in a wiring using copper.例文帳に追加

銅を用いた配線におけるエレクトロマイグレーション耐性を向上させる。 - 特許庁

The liner-to-liner contact impedes abrupt electromigration failures and enhances electromigration resistance of the metal interconnect structure.例文帳に追加

ライナ・ライナ間接触は、急激なエレクトロマイグレーションによる故障を抑制し、金属相互接続構造体のエレクトロマイグレーション耐性を強化する。 - 特許庁

MICROSTRUCTURE HAVING ELECTROMIGRATION RESISTANCE AND MANUFACTURE THEREOF例文帳に追加

エレクトロマイグレ—ション抵抗力を有する微細構造及びその製造方法 - 特許庁

Thus, the electromigration of the heat conductive layer 21 can be suppressed.例文帳に追加

これにより前記発熱導体層２１のエレクトロマイグレーションを抑制できる。 - 特許庁

To provide an interconnection with an improved electromigration life.例文帳に追加

改善されたエレクトロマイグレーション寿命を有する相互接続部を提供する。 - 特許庁

Further, breakage or burnout due to the electromigration can be prevented.例文帳に追加

また、エレクトロマイグレーションに起因する破損や断線等を防止することができる。 - 特許庁

To provide an electromigration evaluation device that allows simple and efficient electromigration reliability testing of a via in an LSI to be performed.例文帳に追加

ＬＳＩにおけるビアのエレクトロマイグレーション信頼性試験を簡単にかつ効率的に行なうエレクトロマイグレーション評価装置を提供することを主要な目的とする。 - 特許庁

To provide an electromigration verification device capable of improving verification accuracy.例文帳に追加

検証精度を高めることのできるエレクトロマイグレーション検証装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electromigration evaluation circuit and a method, wherein an acceleration time is shortened and an evaluation of high accuracy can be performed.例文帳に追加

加速時間を短縮すると共に高精度の評価を可能とする。 - 特許庁

Restrictions on the driving capability of a standard cell by electromigration are lifted thereby.例文帳に追加

従って、エレクトロマイグレーションによるスタンダードセルの駆動能力の制限がなくなる。 - 特許庁

To suppress electromigration of a Cu ion from copper wiring to an insulating film.例文帳に追加

銅配線から絶縁膜へのＣｕイオンの電界拡散を抑制させること。 - 特許庁

To obtain an interconnection part for an integrated circuit with improved electromigration characteristics.例文帳に追加

エレクトロマイグレーション特性を向上させた集積回路のための相互接続部を得る。 - 特許庁

To reduce wiring width, while effectively controlling electromigration.例文帳に追加

エレクトロマイグレーションを効果的に抑制しつつ配線幅を従来に比べて縮小する。 - 特許庁

SYSTEMS, METHODS, AND APPARATUS FOR PREVENTING ELECTROMIGRATION BETWEEN PLASMA GUN ELECTRODES例文帳に追加

プラズマ銃電極間のエレクトロマイグレーションを防止するためのシステム、方法、および装置 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can prevent the resistance to the electromigration from deteriorating.例文帳に追加

エレクトロマイグレーションの耐性が劣化することを防止可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a semiconductor device having excellent electromigration (EM) resistance.例文帳に追加

エレクトロマイグレーション（ＥＭ）耐性に優れる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR ELECTROMIGRATION VERIFICATION OF CHIP INCLUDING DATA PATH, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

データパスを含んだチップのエレクトロマイグレーション検証方法及び装置並びに記録媒体 - 特許庁

The divided Al wirings have a length L which is smaller than the critical length of electromigration.例文帳に追加

分断されたＡｌ合金配線の長さＬが、エレクトロマイグレーションの臨界長以下になっている。 - 特許庁

To provide a semiconductor device that is improved in tolerance to electromigration, and also to provide its manufacturing method.例文帳に追加

エレクトロマイグレーション耐性を向上させた半導体装置およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

As a result, short circuit caused by the electromigration between the wirings 8 can be prevented.例文帳に追加

これにより、配線８相互間のエレクトロマイグレーションに起因するショートを防止することができる。 - 特許庁

To provide a wiring structure superior resistance to electromigration and can elongate the service life of wiring.例文帳に追加

エレクトロマイグレーション耐性に優れ、配線寿命の増大を図り得る配線構造を提供する。 - 特許庁

ELECTROMIGRATION EVALUATING DEVICE AND METHOD OF EVALUATING RELIABILITY OF WIRING OF SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

エレクトロマイグレーション評価装置およびそれを用いた半導体装置の配線信頼性評価方法 - 特許庁

Consequently, the electromigration tolerance and the stress migration tolerance of the Cu wiring can be improved.例文帳に追加

これにより、Ｃｕ配線のエレクトロマイグレーション、ストレスマイグレーション耐性を向上することができる。 - 特許庁

Thereby, the short circuits due to the electromigration between the wirings 8 can be prevented.例文帳に追加

これにより、配線８相互間のエレクトロマイグレーションに起因するショートを防止することができる。 - 特許庁

To enable a multilayer wiring structure with improved resistance to electromigration and further made small in size.例文帳に追加

多層配線構造において、エレクトロマイグレーション耐性の向上及びより一層の微細化を図る。 - 特許庁

To provide systems, methods, and apparatus for preventing electromigration between plasma gun electrodes.例文帳に追加

プラズマ銃電極間のエレクトロマイグレーションを防止するためのシステム、方法、および装置の提供。 - 特許庁

To provide a reliable semiconductor device that has buried wiring with superior electromigration resistance.例文帳に追加

エレクトロマイグレーション耐性に優れた埋め込み配線を有する信頼性の高い半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which prevents deterioration of the durability of electromigration and which has a low-resistance plug.例文帳に追加

エレクトロマイグレーションの耐性の劣化を防止し、低抵抗なプラグを有する半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sputtering target having excellent oxidation resistance, corrosion resistance, electromigration resistance and stress migration resistance.例文帳に追加

耐酸化性、耐腐食性、耐エレクトロマイグレーション性、耐ストレスマイグレーション性に優れたスパッタリングターゲットを提供する。 - 特許庁

To lift restrictions on the driving capability of a standard cell by electromigration in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路において、エレクトロマイグレーションによるスタンダードセルの駆動能力の制限をなくす。 - 特許庁

The crystal of the wiring layer 15 is predominantly oriented in a (111) orientation, in which electromigration hardly occurs.例文帳に追加

また、配線層１５の結晶配向は、エレクトロマイグレーションの起こりにくい（１１１）配向が支配的である。 - 特許庁

INTERCONNECT STRUCTURE AND METHOD OF FORMING THE SAME (INTERCONNECT STRUCTURE FOR ELECTROMIGRATION RESISTANCE ENHANCEMENT)例文帳に追加

相互接続構造体およびその形成方法（エレクトロマイグレーション耐性強化のための相互接続構造体） - 特許庁

TAILORING OF WETTING/BARRIER LAYER TO REDUCE ELECTROMIGRATION IN ALUMINUM INTER-ELEMENT CONNECTION例文帳に追加

アルミニウム素子間配線におけるエレクトロマイグレーションを減少させるためのウエッティング／バリヤー・レイヤーの適合方法。 - 特許庁