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improved testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 283件
RAILWAY SECURITY SYSTEM WITH IMPROVED TEST WORK EFFICIENCY例文帳に追加
試験作業効率を上げた鉄道保安システム - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE IMPROVED IN TEST PERFORMANCE例文帳に追加
テスト性能が改善された半導体メモリ装置 - 特許庁
ANALYTICAL TEST STRIP WITH IMPROVED REAGENT DEPOSITION例文帳に追加
試薬の被着を改善した分析用の試験片 - 特許庁
This test piece can be used as a disposable test piece improved in responding speed.例文帳に追加
応答速度が向上した使い捨て型の試験片として利用できる。 - 特許庁
IMPROVED ELECTROCHEMICAL BIOSENSOR TEST STRIP HAVING INDENTATION例文帳に追加
凹みを有する改良型電気化学バイオセンサ検査ストリップ - 特許庁
To provide an improved voltage contrast test structure.例文帳に追加
改良された電圧コントラストテスト構造を提供する。 - 特許庁
To provide a test device of an electric component for sending test results improved.例文帳に追加
改善されたテスト結果を送出できる電気部品のテスト装置を提供する。 - 特許庁
To provide an improved test system of a data storage system.例文帳に追加
データ・ストレージ・システムの改善されたテスト・システムを提供する。 - 特許庁
To provide a leakage test device for improved workability and space efficiency as well as test efficiency for improved operation rate of the test device.例文帳に追加
作業性およびスペース効率が向上するとともに、試験効率がよくて試験装置の稼働率も向上した漏洩試験装置を提供する。 - 特許庁
This device is an improved test program generation device for generating the test program from the template of the test program.例文帳に追加
本発明は、テストプログラムのテンプレートからテストプログラムを作成するテストプログラム作成装置に改良を加えたものである。 - 特許庁
Therefore, an idle time or a dead time of a test device is shortened and test efficiency is improved.例文帳に追加
それゆえに、テスト装置のアイドル時間または無駄時間が短縮され、テスト効率が高められる。 - 特許庁
To provide a pot-type dyeing test machine by which the efficiency of a dyeing test is improved.例文帳に追加
染色試験効率を向上させることができるポット式染色試験機を提供する。 - 特許庁
To provide a test connector for nonvolatile semiconductor memory devices, which has improved test efficiency and allows the test result to be read out.例文帳に追加
テスト効率の向上及びテスト結果の読み出しが可能な不揮発性半導体記憶装置のテスト接続体を提供する。 - 特許庁
Thus, the cost of the test can be decreased, and reliability related to test efficiency and test result can be improved.例文帳に追加
これにより、テストのコストを減少させることができ、テストの能率とテスト結果に関する信頼性を高めることができる。 - 特許庁
The improved conformity assisting mechanism avoids damage to a test probe for improved rough conformity.例文帳に追加
改善された整合補助機構はテスト・プローブの損傷を回避し、改善された粗整合をもたらす。 - 特許庁
To provide a display device having improved heat resistance, improved impact resistance and bending resistance that passes falling-ball test and bending test, and having improved reliability.例文帳に追加
本発明は、耐熱性の向上および落球試験や曲げ試験をクリアできる、耐衝撃性、耐曲げ性の向上を図り、信頼性を向上させた表示装置を提供する。 - 特許庁
ELUTION TEST DEVICE AND METHOD HAVING IMPROVED FILTRATION SYSTEM例文帳に追加
改善されたろ過システムを有する溶出試験装置および試験方法 - 特許庁
IMPROVED VISUALIZATION TEST ENGINE ESPECIALLY FOR MEASURING COMBUSTION PARAMETER例文帳に追加
特に燃焼パラメータを測定するための、改良された可視化試験エンジン - 特許庁
The tester simulation device for simulating a test of the test object by a tester based on the test program is improved.例文帳に追加
本発明は、テストプログラムに基づいて、被試験対象のテスタによる試験をシミュレーションするテスタシミュレーション装置に改良を加えたものである。 - 特許庁
This improved IC test system tests a device by the test head via probes.例文帳に追加
本発明は、テストヘッドによりプローブを介してデバイスの試験を行うICテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁
The present invention has improved a semiconductor testing apparatus testing a test object with a test head.例文帳に追加
本発明は、被試験対象をテストヘッドにより試験する半導体試験装置に改良を加えたものである。 - 特許庁
To provide a testing apparatus by which a throughput of the test can be improved.例文帳に追加
試験のスループットを向上させることができる試験装置を提供する。 - 特許庁
Thereby, a relieving rate of redundant cells can be improved and a simultaneous measurement rate of a test device can be improved.例文帳に追加
これにより,冗長セルの救済率を高くし,試験装置の同時測定率を高くすることができる。 - 特許庁
Since the test circuit chip 21 is provided in the vicinity of the needle root of the probe terminal 12 in this way, degradation of a test signal is suppressed, and test reliability is improved.例文帳に追加
このようにテスト回路チップ21をプローブ端子12の針元近傍に設けたことにより、テスト信号の劣化が抑え、テストの信頼性が向上する。 - 特許庁
An improved semiconductor test device performing test of an object to be tested by a test part to which electricity is supplied from a power source part is provided.例文帳に追加
本発明は、電源部より給電される試験部により、被試験対象の試験を行なう半導体試験装置に改良を加えたものである。 - 特許庁
To cap a specimen of improved soil while ensuring measurement accuracy of strength test.例文帳に追加
強度試験の測定精度を確保しつつ改良土の供試体をキャッピングする。 - 特許庁
IMPROVED DURABILITY TEST METHOD OF CIS THIN FILM SOLAR CELL MODULE例文帳に追加
CIS系薄膜太陽電池モジュールの改良された耐久性試験方法 - 特許庁
To provide a semiconductor device with which stability in a standby test can be improved.例文帳に追加
スタンバイテストの安定性を高めることのできる半導体装置を提供する。 - 特許庁
IMPROVED TEST PIECE FOR IDENTIFYING ANALYTE IN LIQUID SAMPLE例文帳に追加
液体試料中の分析対象物の検定のための改良された試験片 - 特許庁
To provide a memory test method by which a memory test time can be shortened and manufacturing efficiency can be improved.例文帳に追加
本発明は、メモリの試験時間を短縮し、生産効率を高めることができるメモリの試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a lateral flow assay test strip and its reading system/method required for achieving improved detection of various captured regions on the test strip, improved assay test rate, and improved measurement sensitivity.例文帳に追加
テスト細片上の種々の捕捉領域の改善された検出、改善されたアッセイテスト速度、及び改善されたアッセイ測定感度をもたらすラテラルフローアッセイテスト細片、並びにそのようなテスト細片を読み取るシステム、方法が必要とされている。 - 特許庁
This is an improved IC tester for testing an object of test.例文帳に追加
本発明は被試験対象を試験するICテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁
This invention is the improved test system for testing a tested object.例文帳に追加
本発明は、被試験対象を試験するテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁
This IC tester for testing devices under test is an improved one.例文帳に追加
本発明は、被試験対象を試験するICテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁
The improved IC tester for testing an object under test is provided.例文帳に追加
本発明は、被試験対象を試験するICテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁
To provide a nobel and improved device test system, setting state display device and setting state display method capable of improving the test efficiency by a user who is grasping the test terminal number and the name of the terminal and simultaneously grasping the attribute information of the test terminal visually and sensuously.例文帳に追加
ユーザが、テスト端子番号やテスト端子名と同時に、そのテスト端子の属性情報を視覚的かつ感覚的に把握し、作業効率を向上させることが可能となる。 - 特許庁
To provide a data production apparatus and the like in which test data are efficiently produced from existent data and test accuracy can be improved.例文帳に追加
既存データから効率的にテストデータを生成し、テスト精度を向上させることが可能なデータ生成装置等を提供する。 - 特許庁
The tester simulation device for performing tests of the test object by the test program by a tester is improved.例文帳に追加
本発明は、テストプログラムによる被試験対象のテスタによる試験を行うテスタシミュレーション装置に改良を加えたものである。 - 特許庁
Since the standard test specifications can be repeatedly used for creation of test specifications for the ECU software for various kinds of machines, efficiency of test specification creation can be improved.例文帳に追加
この標準検査仕様は、各機種のECUソフトウエアの検査仕様を作成する際に繰り返し利用できるので、検査仕様作成の効率化を図ることができる。 - 特許庁
By means of this improved IC tester, a test signal is given to a test object, and the test object is tested according to an output from itself.例文帳に追加
本発明は、被試験対象に試験信号を与え、被試験対象の出力により被試験対象の試験を行うICテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁
To provide a wire connection device with work efficiency or reliability improved at the time of carrying out of a withstand voltage test and an electric circuit verification test (sequence test) of a distribution panel.例文帳に追加
配電盤の耐電圧試験及び電気回路検証試験(シーケンス試験)を行う時の作業の効率や信頼性が向上する結線装置を提供する。 - 特許庁
To provide an improved apparatus and method for the antibacterial susceptibility test of microorganisms.例文帳に追加
微生物の抗菌感受性試験のための改良された装置及び方法の提供。 - 特許庁
CALCULATION METHOD FOR ALLOWABLE STRESS AND SETTLEMENT OF IMPROVED GROUND MAKING USE OF SOUNDING TEST例文帳に追加
サウンディング試験を用いた改良地盤の許容応力度と沈下量の算定法 - 特許庁
To provide an improved monitoring of operation of test equipment in a relatively continuous base.例文帳に追加
比較的連続ベースでその試験装置の作動の改善されたモニタリングを提供する。 - 特許庁
Irradiation is detected in a method of exposing the sample to irradiation by a test module monitoring a weathering test process from an improved position.例文帳に追加
改良された位置から耐候試験過程をモニターする試験モジュールで、試料が照射に曝される方法で照射を検知する。 - 特許庁
Irradiation is sensed by a test module for monitoring a weathering test process from an improved location, in the manner in which the specimens are exposed to irradiance.例文帳に追加
改良された位置から耐候試験過程をモニターする試験モジュールで、試料が照射に曝される方法で照射を検知する。 - 特許庁
To provide a semiconductor device in which efficiency of a conduction test can be improved and by which a more detailed test can be performed.例文帳に追加
導通試験の効率を向上させることができるとともによりきめ細かなテストを行うための半導体装置を提供する。 - 特許庁
To obtain an evaluation testing machine for evaluating an insulating material, having improved evaluation test accuracy.例文帳に追加
評価試験の精度を向上させることのできる絶縁材料の評価試験装置を得る。 - 特許庁
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