「interference source」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

The laser interferometer 1 includes: a laser light source 2 for emitting laser light with its central wavelength stabilized by modulating the laser light by a modulation signal having a predetermined frequency; a reference mirror 4; a measurement mirror 5; and a displacement detector 6 for detecting the displacement of the measurement mirror 5 based on interference light of the light reflected by the reference mirror 4 and the measurement mirror 5.例文帳に追加

レーザ干渉計１は、所定の周波数を有する変調信号にてレーザ光を変調することでレーザ光の中心波長を安定化して射出するレーザ光源２と、参照鏡４と、測定鏡５と、参照鏡４、及び測定鏡５にて反射される光の干渉光に基づいて、測定鏡５の変位を検出する変位検出装置６とを備える。 - 特許庁

When adjusting the transmission wavelength of the interference filter having a characteristic transmitting a wavelength near a bright line spectrum of a prescribed element, an optical filter 2 which is a measuring object is irradiated with measuring light from a discharge light source 1 using isotope gas of the element, and transmitted light is subjected to wavelength dispersion by a diffraction grating 33 and detected almost simultaneously by a photodetector 34.例文帳に追加

所定の元素の輝線スペクトル付近の波長を透過させる特性を有する干渉フィルタの透過波長を調整するに際し、その元素の同位体ガスを用いた放電光源１からの測定光を測定対象である光学フィルタ２に照射し、その透過光を回折格子３３で波長分散させて光検出器３４によりほぼ同時に検出する。 - 特許庁

The optical multilayer interference film 11 has low refractive index films 2 and high refractive index films 1 alternately layered on a transparent base body 10 and at least one layer of the high refractive index films 1 is a high refractive index oxide film having an amorphous structure deposited by sputtering a reduction type oxide target as the source material.例文帳に追加

透明基体１０上に、低屈折率膜２と高屈折率膜１とが交互に積層された光学多層干渉膜１１であって、該高屈折率膜１の少なくとも一層が還元型酸化物ターゲットを原料としてスパッタ成膜されたアモルファス構造を有する高屈折率酸化物膜であることを特徴とする光学多層干渉膜１１とその製造方法および該光学多層干渉膜を用いたフィルター。 - 特許庁

In order to decrease the interference susceptibility of the supply line structure in a power line communication and to simultaneously further ensure the energy supply of electrical component via the supply line structure, the supply line structure has separate supply lines electrically isolated from the vehicle body as return lines from the components to at least one energy source of the motor vehicle.例文帳に追加

パワーラインコミュニケーションにおける供給導線構造の干渉の起きやすさを減少させて，同時に供給導線構造を介しての電気的要素のエネルギ供給をさらに保証することができるようにするために，供給導線構造は，構成要素から自動車の少なくとも１つのエネルギ源への帰線として，自動車車体から電気的に分離された別の供給導線を有していることが，提案される。 - 特許庁

This interferometer 10 includes a beamsplitter 32 for splitting a source beam into a test beam 40 and the reference beam 42, an imaging device 24 for detecting an interference pattern, a mirror 38 for reflecting the test beam toward the imaging device, a micromirror 44 for reflecting a portion of the reference beam toward the imaging device and a focusing mechanism 34 for focusing the reference beam on the micromirror.例文帳に追加

干渉計１０は、ソースビーム１４を試験ビーム４０及び基準ビーム４２に分割するビームスプリッタ３２と、干渉パターンを検出する結像デバイス２４と、前記試験ビームを結像デバイスの方向に反射するミラー３８と、前記基準ビームの部分を前記結像デバイスの方向に反射するマイクロミラー４４と、及び、前記基準ビームを前記マイクロミラーに集光する集光機構３４と、を含む。 - 特許庁

A white light source 111 in an illumination unit 110 is provided with a red semiconductor laser 111a, a green semiconductor laser 111b, and a blue semiconductor laser 111c, each semiconductor laser emits vertical multimode light having spectrum distribution of a plurality of wavelengths λwith a little interference, and a GaN(gallium nitride) family semiconductor laser 114 also emits vertical multimode excitation light.例文帳に追加

照明ユニット１１０における白色光源１１１が、赤色半導体レーザ１１１ａ、緑色半導体レーザ１１１ｂおよび青色半導体レーザ１１１ｃを備え、それぞれの半導体レーザは干渉の少ない複数の波長λのスペクトル分布を有するマルチ縦モードの光を射出するものとし、また、ＧａＮ系半導体レーザ１１４も、干渉の少ないマルチ縦モードの励起光を射出するものとする。 - 特許庁

The wavelength scanning interferometer comprises a processing unit for calculating an absolute distance, in which an error component derived from movement of the object is reduced, on the basis of first time and subsequent second time at which the light flux emitted from the light source has the same wavelength, and a first frequency and a second frequency respectively corresponding to frequencies of the signal of the interference light at the first time and the second time.例文帳に追加

波長走査干渉計は、前記光源から射出される光束の波長が互いに等しい時刻である第１時刻およびその後の第２時刻と、前記第１時刻、前記第２時刻のそれぞれにおける前記干渉光の信号の周波数である第１周波数、第２周波数とに基づいて、前記被検体の移動による誤差成分が低減された絶対距離を算出する処理部を備える。 - 特許庁

This method comprises processes of: dividing light radiated from a white light source 109 into reference light and signal light by a beam splitter 102; emitting the signal light to a sample 107 through a Morou interferometer 105; making light reflected from the sample surface with the reference light and imaging the interference intensity occurring in the Morou interferometer 105; and applying voltage current to the semiconductor circuit chip as the sample.例文帳に追加

白色光源１０９から放射された光をビームスプリッタ１０２により参照光と信号光に分割する工程と、信号光を試料１０７にミラウ干渉計１０５を通して入射する工程と、試料表面より反射した光と参照光を干渉させてミラウ干渉計１０５に生じた干渉強度を画像化する工程と、試料である半導体回路チップに電圧電流を印加する工程とを含む。 - 特許庁