microscopeを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 8962件
The inspection substrate stage 1 and the microscopic inspection stage 7 are made parallel or almost parallel, and the inspection substrate can be supported at the depth of field of the microscope 4 of the microscopic inspection stage 7.例文帳に追加
検査基板を搭載する検査基板ステージ１と、検査基板ステージ１を水平軸で回転自在に支えるステージ台２と、ステージ台２を垂直軸で回転自在に支える基台３と、基台３を水平方向に移動可能にするフレーム９と、フレーム９に設けられた顕微鏡検査ステージ７とを有し、検査基板ステージ１と顕微鏡検査ステージ７とを並行にまたは略並行にして、かつ、顕微鏡検査ステージ７が備える顕微鏡４１の被写界深度に検査基板を支持可能とする。 - 特許庁
A scanning optical microscope comprising means for irradiating a specimen with light, a granular probe for scanning the specimen while keeping a constant distance therefrom, and means for detecting the intensity of proximity field light from the specimen is further provided with means for detecting the position of the granular probe by detecting the proximity field light therefrom.例文帳に追加
本発明の一態様によると、被検体に光を照射する手段と、前記被検体と一定の距離を保ち走査をする粒子状プローブと、前記被検体からの近接場光の強度を検出する手段とを有する走査型光学顕微鏡であり、前記粒子状プローブからの近接場光を検出することにより、前記粒子状プローブの位置を検出するプローブ位置検出手段を設けたことを特徴とする走査型近接場光学顕微鏡が提供される。 - 特許庁
A microscope 10 includes an illuminating unit 13 that includes an excitation light source 21 emitting an excitation light, a phosphor 22 receiving the excitation light and emitting illumination light in a specific wavelength range, and a contact lens 23 collecting the illumination light emitted by the phosphor 22, and an observation unit 14 for picking up an observation image of a specimen 27 illuminated with the illumination light collected by the contact lens 23.例文帳に追加
顕微鏡１０は、励起光を射出する励起光源２１と、励起光原２１が射出した励起光を受けて特定波長域の照明光を放出する蛍光体２２と、蛍光体２２が放出した照明光を集めるコレクタレンズ２３とを有し、コレクタレンズ２３が集めた照明光によって試料２７を照明する照明光学系１３と、照明光学系１３によって照明された試料２７の観察像を撮像する観察光学系１４と、を備える。 - 特許庁
The black defect correction technique of the mask comprises recognizing the position of a black defect section of the mask by an atomic force microscope (AFM), moving the probe of the AFM upward of the black defect position, and removing the black defect by electrochemical reaction in the state of interposing an electrolyte between the probe and the black defect section as both electrodes and further comprises confirming the removal of the black defect by the AFM.例文帳に追加
本発明のマスク黒欠陥修正手法は、原子間力顕微鏡によってマスクの黒欠陥部位置を把握し、前記黒欠陥位置上方に前記原子間力顕微鏡の探針を移動させ、前記探針と前記マスク黒欠陥部を両電極とし電解液を介在させた状態で電気化学的反応により前記黒欠陥を除去するものであって、更に前記原子間力顕微鏡によって前記黒欠陥の除去を確認するものである。 - 特許庁
The thermoplastic resin composition is prepared by blending a thermoplastic resin comprising a styrene-based resin and a polyamide resin with a specific maleimide-based resin and has a structure in which the polyamide resin (B) forms ≥5 volume% continuous phase as a phase structure observed by an electron microscope in a region of 40-60% depth from the surface based on the whole depth perpendicular to the surface of a molded body.例文帳に追加
スチレン系樹脂とポリアミド樹脂とからなる熱可塑性樹脂組成物に対して、特定のマレイミド系重合体を配合してなる熱可塑性樹脂組成物であって、かつ成形体の表面に垂直な方向を厚みとした時、表面から全厚みに対し４０〜６０％の深さの領域で、電子顕微鏡で観察される相構造として、ポリアミド樹脂（Ｂ）が連続相となる部分が５容量％以上形成された構造を有する熱可塑性樹脂組成物。 - 特許庁
The scanning probe microscope turns on a switch 8, when the probe 3 approaches the sample and turns off the switch 8, when performing the electrical measurement between the probes 3, 3'.例文帳に追加
試料と探針との間に流れる電流を利用して前記試料の表面を観察する試料観察装置であって、前記試料に対向する少なくとも２個の前記探針と、前記試料を置載する試料台と、前記試料台にバイアス電流を印加する試料バイアス電流印加手段と、前記試料バイアス電流印加手段を前記試料台より電気的に切り離すスイッチと、を備え、前記探針が前記試料にアプローチするときには前記スイッチをＯＮとし、前記探針間の電気計測するときには前記スイッチをＯＦＦとする走査形プローブ顕微鏡。 - 特許庁
When illumination light from the illumination module attached to the incident section 101A enters, spreading luminous flux thereof, the illumination light which passes through lenses 271 through 274 and exits from a projection section 101C forms an image on the image-side focal plane of the objective lens of the microscope.例文帳に追加
入射部１０１Ａに装着された照明モジュールからの照明光が光束が広がりながら入射するとき、レンズ２７１乃至レンズ２７４を通過し、射出部１０１Ｃから射出される照明光は、顕微鏡の対物レンズの像側焦点面において結像し、照明モジュールからの照明光が平行光束として入射するとき、レンズ２７１乃至レンズ２７４を通過し、射出部１０１Ｃから射出される照明光は、顕微鏡の対物レンズの像側焦点面に平行光束として入射する。 - 特許庁
In the illuminator for the microscope, the light directing member is equipped with a switching mechanism for selectively arranging one of two or more kinds of light directing members between the sample placing plate and the surface light source.例文帳に追加
本発明の課題は、試料を載置するための光学的に透明な試料載置板と、試料載置板に向けてほぼ均一な照明光を射出する面光源と、前記面光源と前記試料載置板の間に照明光の拡散を制限する光指向部材とを備えている、顕微鏡用照明装置において、前記光指向部材は、複数種類の光指向部材のうちの一つを選択的に前記試料載置板と前記面光源との間に配置する切り換え機構を備えていることを特徴とする顕微鏡用照明装置によって解決される。 - 特許庁
An inspection method of a semiconductor element using an emission microscope having time resolution comprises the steps of: applying a voltage pulse to the semiconductor element to be inspected; detecting a photon emitted from the semiconductor element to which the voltage pulse was applied per elapsed time; and determining whether the photon was detected during an on-state time after the semiconductor element changed from an off state to the on state.例文帳に追加
時間分解能を有するエミッション顕微鏡を用いた半導体素子の検査方法において、検査される半導体素子に電圧パルスを印加する工程と、前記電圧パルスが印加された状態における前記半導体素子より、放出されるフォトンを経過時間ごとに検出する工程と、前記半導体素子がオフ状態からオン状態となった後のオン状態の時間において、前記フォトンが検出されているか否かを判断する工程と、を有することを特徴とする半導体素子の検査方法を提供することにより上記課題を解決する。 - 特許庁
In the thermal transfer sheet having the photothermal conversion layer containing a dye having an unsaturated bond and a polymer, and an imaging layer on a support, the slice cross-section of a sample where the photothermal conversion layer containing a dye having an unsaturated bond and being dyed by osmium oxide is buried in resin is observed directly by means of a transmission electron microscope.例文帳に追加
即ち、支持体上に、不飽和結合を有する色素およびポリマーを含む光熱変換層と、画像形成層とを有する熱転写シートにおいて、酸化オスミウムにより不飽和結合を有する色素を選択的に染色させた光熱変換層を包埋樹脂により包埋した試料の薄切断面を透過型電子顕微鏡にて直接観察し、得られた該透過型電子顕微鏡による光熱変換層の観察画像の白黒の反射光学濃度を測定したときに、該反射光学濃度の分布が下記式（Ａ）（ＯＤ_ｍａｘ−ＯＤ_ｍｉｎ）／ＯＤ_ｍａｘ×１００≦５０を満足する光熱変換層を有することを特徴とする熱転写シート。 - 特許庁
To provide such a microscope which enables an operator to post focus an optical system acting for wide-angle observation during the time of visual procedure of the operator.例文帳に追加
光学系８が接眼レンズ４の光学的な軸線６の方向で載置されていて、かつ光学系８は光学的な軸線６の方向で目の手術の間直線伝動装置によって可動であるように、マイクロスコープ１に取付け可能な保持体７と、保持体において可動である、光学系８のための保持アーム９とから構成されている装置に配置されており、保持体７と保持アーム９との間に直線伝動装置Ｌが配置されている形式の、マイクロスコープ１の接眼レンズ４と目との間に位置する光学系８を用いて目を非接触式にワイドアングル観察するためのマイクロスコープを改良して、ワイドアングル観察するために働く光学系をオペレータによって目での処置の間、後フォーカシングすることができるようなマイクロスコープを提供する。 - 特許庁
The optical microscope adjusts a focusing position according to the contrast between the first and second detected images.例文帳に追加
本実施の形態にかかる光学顕微鏡は、光源１１と、光軸３８からずれて配置された第１遮光部３１と、光軸３８までの距離よりが短くなるように配置された第２遮光部３２と、第１遮光部３１を試料面よりも前側に結像するとともに、第２遮光部３２を試料面よりも後側に結像する照明光学系２０と、第１遮光部３１に対応する領域から対物レンズ１７を介して入射した光を受光する周辺部用焦点位置センサ２５と、第２遮光部３２に対応する領域から対物レンズ１７を介して入射した光を受光する中心部用焦点位置センサ２４と、第１検出像と第２検出像とのコントラストに応じて、焦点位置を調整するものである。 - 特許庁
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