「microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(170ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an Fe-Co-V soft high magnetic flux-density material which is used, e.g., for a ball piece and a yoke of an electron lens for an electron microscope, an electron beam lithography system, etc., and a ball piece and a yoke of an electromagnet for a magnetic resonance apparatus, a mass spectroscope, etc., and also to provide its manufacturing method.例文帳に追加

電子顕微鏡、電子ビーム描画装置等の電子レンズのボールピース、ヨーク、および磁気共鳴装置、質量分析装置等の電磁石のボールピース、ヨーク等に使用するＦｅ−Ｃｏ−Ｖ軟質性の高磁束密度材料およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

Similarly in correcting a black defect, an etching source material in a liquid state is supplied from the probe of a scanning probe microscope onto only the black defect region by a similar method to Dip-Pen Nanolithography, and an ion beam or an electron beam is supplied to etch to correct the black defect.例文帳に追加

黒欠陥修正の場合も同様に、走査プローブ顕微鏡の探針から液体状のエッチング原料をＤｉｐ−Ｐｅｎ Ｎａｎｏｌｉｔｈｏｇｒａｐｈｙと同様な方法で黒欠陥領域上のみに供給し、イオンビームや電子ビームを供給してエッチングを行い黒欠陥を修正する。 - 特許庁

The microscope having at least one of the iris diaphragm, field stop and fine focus adjustment handle as an adjustable member is provided with a mounting part for freely removably mounting a scale member having the scale corresponding to at least one of the adjustable members.例文帳に追加

開口絞り、視野絞り及び焦準用微動ハンドルの少なくとも１つを調節可能な部材として有する顕微鏡において、前記調節可能な部材の少なくとも１つに対応する目盛りを備えた目盛り部材を取外し自在に取付けるための取付け部を設ける。 - 特許庁

When a power source switch provided to an operating part 30 is operated, and power supply to a digital camera for the microscope is started, the CPU 201 gives an instruction to a reading attribute setting part 74 to set read-only attributes to a data file already recorded in the removable media 35 when the power supply is started.例文帳に追加

操作部３０に備えられている電源スイッチが操作されてこの顕微鏡用デジタルカメラへの電力の供給が開始されたときに、ＣＰＵ２０１は読み出し属性設定部７４へ指示を与え、当該開始時点においてリムーバブルメディア３５に既に記録されていたデータファイルに対して読み出し専用の属性を設定する。 - 特許庁

The method for observing the dispersion of particles in a solution includes a process for dripping the solution on a macromolecular film floating on liquid, a process for obtaining a film in which particles are dispersed by drying the dripped solution, and a process for observing the film by using a transmission type microscope.例文帳に追加

本発明は、溶液中の粒子の分散を観察する方法であって、液体上に浮揚された高分子膜上に、前記溶液を滴下する工程と、該滴下された溶液を乾燥して粒子が分散した膜を得る工程と、透過型顕微鏡を用いて、該膜を観察する工程とを包含する方法を提供する。 - 特許庁

Instead of a conventional Cassegrain mirror for use in an infrared microscope, a parabolic mirror 6 is installed behind a convex mirror 4 constituting a Cassegrain mirror, and light of a illuminating light source 10 is radiated to the parabolic mirror 6 through an optical fiber 7, and a surface of a sample 8 is illuminated by reflected light from the parabolic mirror 6.例文帳に追加

赤外顕微鏡に使用される従来のカセグレン鏡の代わりに、カセグレン鏡を構成する凸面鏡４の背部に放物面鏡６を設置し、この放物面鏡６に光ファイバー７を介して照明光源１０の光を照射し、放物面鏡６の反射光で試料８表面を照明する。 - 特許庁

The electronic microscope 1 is constituted of electronic beam lens barrel moving parts 60, 61, 70, 71 to move the electronic beam lens barrel 10, a plurality of sample rooms 20a, 20b to respectively house the samples Sa, Sb, and vacuum pumps 32, 33 to evacuate inside of the plurality of sample rooms.例文帳に追加

電子顕微鏡１は、電子ビーム鏡筒１０を移動させる電子ビーム鏡筒移動部６０、６１、７０、７１と、試料Ｓａ、Ｓｂをそれぞれ収納する複数の試料室２０ａ、２０ｂと、複数の試料室の内部を個別に真空状態にする真空ポンプ３２、３３と、を備えて構成する。 - 特許庁

In this electron microscope with a magnetic image forming energy filter, the energy filter is provided with direction change systems 11-14 arranged symmetrically with one center plane M and a hexapol provided between the direction change systems 11-14 and a projection system succeeding the energy filter in the beam direction.例文帳に追加

磁気形結像エネルギフィルタを有する電子顕微鏡において、前記エネルギフィルタは、１つの中心平面（Ｍ）に対して対称的に配置された方向変換系（１１−１４）を有し、方向変換系と、ビーム方向でエネルギフィルタに後続する投影系との間に設けられたヘクサポール（Hexapol） を有すること。 - 特許庁

To provide a downsized and highly efficient/highly functional detector to achieve downsizing of the detector, equipping of an energy filter mechanism, and equipping of a secondary electron/reflected electron selection mechanism or the like in detecting the secondary electron and the reflected electron in an electron beam application device such as a scanning electron beam microscope.例文帳に追加

本発明は走査電子顕微鏡など電子線応用装置において二次電子および反射電子の検出において検出器の小形化、エネルギーフィルタ機構の装備、二次電子/反射電子選別機構の装備などを実現し小形で高効率/高機能の検出器を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

The carbon black has ≤0.5% oxygen content, 150-250 ml/100 g DBP absorption measured based on JIS K 6217, 0.5-0.8 μm mode diameter in a size distribution curve drawn by using structure lengths measured by a transmission electron microscope, and ≥1 μm half width thereof.例文帳に追加

酸素含有量が０．５％以下、ＪＩＳ Ｋ ６２１７によるＤＢＰ吸収量が１５０〜２５０ｍｌ／１００ｇ、透過型電子顕微鏡によって測定されたストラクチャー長さを用いて描かれた粒度分布曲線の最大頻度径が０．５〜０．８μｍで、その半値幅が１μｍ以上であることを特徴とするカーボンブラック。 - 特許庁

By providing a bar-like projection on the illumination system, the vibrating direction of rotating polarized light not made visible ordinarily is easily detected in the visual field of the microscope and rotating speed is read from a rotation driving control system.例文帳に追加

顕微鏡対物レンズの辺縁部にレーザ光を導入しこのレーザ光の照明方向を回転可能にした照明光学系において、常に対物レンズ光軸中心からの放射状方向と直角方向の横波成分のみを持つエバネセント場で照明する回転式輪帯偏光全反射照明光学系とした。 - 特許庁

The magnetic particles are reduction treatment products of hexagonal ferrite magnetic particles, and a ratio Dc/Dtem between a particle diameter Dtem in a direction perpendicular to a face (220) obtained with a transmission electron microscope and a crystallite size Dc obtained from a diffraction peak of the face (220) is within the range of 0.90-0.75.例文帳に追加

前記磁性粒子は、六方晶フェライト磁性粒子の還元処理物であって、透過型電子顕微鏡により求められる（２２０）面に垂直な方向における粒子径Ｄｔｅｍと、（２２０）面の回折ピークから求められる結晶子サイズＤｃとの比Ｄｃ／Ｄｔｅｍが０．９０〜０．７５の範囲である。 - 特許庁

To separate a constituent that depends on recess and projection, material quality, and the like from obtained light information by using multiple- azimuth simultaneous detection condensing equipment for mounting a plurality of optical waveguides or photo detectors in a condensing system used for a scanning type proximity field microscope.例文帳に追加

走査型近接場顕微鏡に用いる光集光系において、複数の光導波路または光検出器を搭載できる多方位同時検出光集光器を使う事で、得られる光情報の中から、これまで不可能であった、凹凸、材質などに依存した成分を分離する事が可能にする。 - 特許庁

The biaxially stretched resin film is characterized in that: it is composed of a layer containing a polyethylene terephthalate resin (A) and a layer containing a syndiotactic polystyrene resin (B), which are laminated alternately in total of five or more layers; and absolute value of retardation measured by polarization microscope with Berec compensator is 500 nm or less.例文帳に追加

ポリエチレンテレフタレート系樹脂（Ａ）を含む層とシンジオタクチックポリスチレン系樹脂（Ｂ）を含む層が交互に合わせて５層以上積層されており、ベレック型コンペンセーターを用いた偏光顕微鏡により測定されるレターデーションの絶対値が５００ｎｍ以下であることを特徴とする二軸延伸樹脂フィルム。 - 特許庁

Additionally the scanning probe microscope 100 is provided with a CPU 164 controlling an entire system, an indication input section 166 for designating a SPM measurement area, a display section 168 displaying the image and various information on the sample, and a memory section 170 storing the acquired data.例文帳に追加

さらに、走査型プローブ顕微鏡１００は、装置全体を制御するためのＣＰＵ１６４と、ＳＰＭ測定領域を指定するための指示入力部１６６と、試料の画像や種々の情報を表示するための表示部１６８と、得られる情報を記憶するための記憶部１７０とを有している。 - 特許庁

A microminiaturized structure is formed on the surface of a substrate, by scanning a probe of a scanning probe microscope so as to abut on or come close to the surface of the substrate, and moving the microminiaturized structure by the cooperation between the microminiaturized structure present on the surface of the substrate and the probe.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡のプローブを基板表面に当接または近接させながら走査して、前記基板表面に存在する微細構造材と前記プローブとの間の相互作用によって、前記微細構造材を移動させて、前記基板表面上に微細構造を形成することを特徴とする。 - 特許庁

The video microscope further has an encoder 23 which detects the position of the one moving lens 9 of the zoom lens 2, an NA arithmetic unit 24 which determines the NA of the zoom lens 2 in accordance with the information from this encoder 23 and a filter arithmetic unit 25 which determines the filter coefficient according to the NA determined by this NA arithmetic unit 24.例文帳に追加

ビデオマイクロスコープは、さらに、ズームレンズ２の一方の可動レンズ９の位置を検出するエンコーダ２３と、エンコーダ２３からの情報に基づいてズームレンズ２のＮＡを求めるＮＡ演算装置２４と、ＮＡ演算装置２４で求められたＮＡに従ってフィルタ係数を求めるフィルタ演算装置２５とを有している。 - 特許庁

By this operating method, an object to be observed on the sample is specified first by using the visible light beam of a normal optical system and observed with high resolution by using the extreme ultraviolet laser beam of a confocal optical system after it is specified when the sample is observed by a ultraviolet laser confocal microscope 1.例文帳に追加

極紫外線レーザコンフォーカル顕微鏡１で試料を観察する場合、最初に試料上の観察対象を通常光学系の可視光を使用して特定し、観察対象を特定した後で、コンフォーカル光学系の極紫外線レーザを使用してより高い分解能で観察対象を観察する。 - 特許庁

This analytical electron microscope used for detecting an X-ray generated from a sample irradiated by an electron beam is provided with an object lens system comprising an upper magnetic pole and a lower magnetic pole each having a magnetic pole opening for passing the electron beam, and a sample chamber for mounting the sample between the upper magnetic pole and the lower magnetic pole.例文帳に追加

電子線が照射された試料から発生するＸ線を検出する分析電子顕微鏡において、電子線を通過させる磁極孔を有する上側磁極および下側磁極からなる対物レンズ系と、上側磁極と下側磁極との間に試料を載置するための試料室を設ける。 - 特許庁

Therefore, when viewing the electronic image display panel 12, the viewer stereoscopically views an electronic image displayed on the electronic image display panel 12 with original binocular parallax by an objective lens 5 of a surgical microscope 2 so that the line of sight of viewer's eye P may not make a large angle to the electronic image display panel 12.例文帳に追加

従って、電子映像表示パネル１２を観察している際に、観察者の眼Ｐの視軸が電子映像表示パネル１２に対して大きな角度をもつことがなく、電子映像表示パネル１２に表示された電子映像を、手術顕微鏡２の対物レンズ５による本来の両眼視差で立体観察することができる。 - 特許庁

To provide a compact damping device and a compact damping table capable of properly damping a damped object having a comparatively light weight and needing the immediate damping of vibration, such as an optical microscope and a measuring instrument placed on a working table, having high damping speed, and suitably used on the desk with superior vibration damping performance.例文帳に追加

作業台に載置される光学顕微鏡や測定機器などの比較的軽量で、振動を直ぐに減衰させる必要のある除振対象物の除振に好適であり、減衰応答が早く、優れた振動減衰性能を有する卓上使用に適した小型除振器と小型除振台を提供する。 - 特許庁

The aluminum alloy sheet is subjected to cold rolling at a working ratio of 30 to 60%, the average crystal grain size obtained by a cutting method is ≤30 μm, and the area occupancy ratio of intermetallic compounds on the surface obtained by the image analysis of an observed picture in a scanning type electron microscope is 1.0 to 5.0%.例文帳に追加

このアルミニウム合金板は、加工率が３０乃至６０％の冷間圧延が施され、切断法により求めた平均結晶粒径が３０μｍ以下であり、走査型電子顕微鏡の観察画面像の画像解析により求めた表面における金属間化合物の面積占有率が１．０乃至５．０％である。 - 特許庁

The method for producing the carbon black comprises subjecting a raw material of the carbon black having 0.5-0.8 μm mode diameter in the size distribution curve drawn by using the structure lengths measured by the transmission electron microscope, and ≥1 μm half width thereof to a heat treatment in a gas flow containing hydrogen to remove an acidic functional group.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡によって測定されたストラクチャー長さを用いて描かれた粒度分布曲線の最大頻度径が０．５〜０．８μｍで、その半値幅が１μｍ以上であるカーボンブラック原料を、水素を含む気流中、加熱処理して酸性官能基を脱離させることを特徴とするカーボンブラックの製造方法。 - 特許庁

To provide a scanning electromagnetic wave microscope capable of positioning a distance between a probe tip and a sample in response to necessary resolution and physical quantity measurement distributed at an optional distance from a sample surface, and carrying out resolution-selective scanning by constant distance scanning and high speed scanning of interaction by constant scanning.例文帳に追加

本発明は、サンプル表面から任意距離に分布する物理量測定や必要な分解能に応じたプローブ先端部とサンプル間距離の位置決めが可能で、距離一定走査による分解能選択走査と、相互作用を一定走査による高速走査が行える走査型電磁波顕微鏡を得ることにある。 - 特許庁

To provide a method capable of clearly observing suspended particulate matter in an atmosphere with a microscope without being affected by backgrounds, accurately measuring the amount of the suspended particulate matter in the atmosphere, and accurately identifying chemical substances contained in the suspended particulate matter in the atmosphere.例文帳に追加

大気中の浮遊粒子状物質を背景の影響を受けることなく顕微鏡で鮮明に観察し、あるいは大気中の浮遊粒子状物質の量を正確に測定し、更には大気中の浮遊粒子状物質に含まれる化学物質を正確に同定することのできる方法を提供する。 - 特許庁

This microscope has a cantilever 14 with the probe 15, a Z micromotion part 13b changing an interval between a sample 17 and the probe 15, an XY scan control part 19 imparting relative displacement in the sample surface direction between the sample 17 and the probe 15, displacement detection means 21, 22 detecting displacement occurring in the cantilever 14, and a Z direction control part 20.例文帳に追加

探針１５を有するカンチレバー１４、試料１７と探針の間隔を変化させるＺ微動部１３ｂと、試料と探針の間で試料表面方向に相対変位を与えるＸＹ走査制御部１９と、カンチレバーで生じる変位を検出する変位検出手段２１，２２と、Ｚ方向制御部２０とを備える。 - 特許庁

A wafer edge is scanned in three dimensions by using a confocal microscope having a light source (1) which emits a light beam, 1st and 2nd beam deflecting devices (2, 7), an objective (11) which converges and projects the light beam on a sample, and a linear image sensor (4) to image the wafer edge from a plurality of angle directions.例文帳に追加

本発明では、光ビームを発生する光源(1)、第１及び第２のビーム偏向装置(2，7)、光ビームを収束して試料に投射する対物レンズ(11)、及びリニァイメージセンサ(14)を有するコンフォーカル顕微鏡を用い、ウェハ端縁を３次元的に走査し、複数の角度方向からウェハ端縁を撮像する。 - 特許庁

In this method of differentiating the subcorneal cell collected from the skin, an ultraviolet ray is emitted from an ultraviolet ray source toward the subcorneal cell on a slide glass sealed with an immersion oil, under observation by a microscope or magnification video, and fluorescence intensity of the subcorneal cell excited by the ultraviolet ray is used as the index.例文帳に追加

皮膚より採取した角層細胞を鑑別する方法であって、顕微鏡下、乃至は、拡大ビデオでの観察下、油浸オイルで封入されたスライドグラス上の角層細胞に、紫外線光源より紫外線を照射し、紫外線によって励起される、角層細胞の蛍光強度を指標とすることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope, constituted so as to easily perform the light spot positional alignment when a cantilever is irradiated with light in a dark field illumination state, with respect to the objective lens for observing a light spot, or when the light spot is difficult to be recognized from the wavelength of ultraviolet or infrared rays.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡において、光スポット観察用の対物レンズに対して、暗視野照明状態でカンチレバーに光が照射される場合や、紫外や赤外などの波長でスポットが認識しづらい場合に、光スポット位置合わせが容易に行えるような走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and cantilever management method suitable for automatic inspection process capable of automatically replace with a new probe or inducing a user to replace a probe when the tip of the probe has worn while surely monitoring the tip condition of the probe in real time and in a short time.例文帳に追加

探針の先端状態をリアルタイム、短時間で確実にモニタでき、使用中の探針の先端が磨耗等したときに、自動的に新しい探針に交換しまたはユーザに交換を促すことができる自動検査工程に適した走査型プローブ顕微鏡およびカンチレバー管理方法を提供する。 - 特許庁

The probe of the scanning heat microscope comprises a cantilever, a first conductive layer formed in the cantilever, an insulating layer formed on the first conductive layer and having a hole, a second conductive layer formed on the surface of the insulating layer, a thermocouple, and a carbon nanotube installed at an end of the thermocouple.例文帳に追加

本発明に係る走査型顕微鏡のプローブは、カンチレバーと、該カンチレバーに形成される第一導電層と、該第一導電層に形成され、穴が設けられる絶縁層と、該絶縁層の表面に形成される第二導電層と、熱電対と、該熱電対の端部に設置されるカーボンナノチューブと、を含む。 - 特許庁

The imaging device for the microscope photographs a predetermined image for correction which is displayed on the display screen of a desired display device by using the imaging device as a correction tool, and allows the operator to make color matching adjustments more easily by referring to obtained chromaticity information for correction and chromaticity information of the display part itself.例文帳に追加

本発明は、撮像装置を校正ツールとして用いて、所望する表示装置の表示画面に表示される予め定めた校正用画像を撮影して、得られた校正用色度情報と、表示部自身の色度情報を参照して、より簡便に色合わせ調整を行う顕微鏡用撮像装置である。 - 特許庁

To provide a scanning high-definition image processor capable of directly printing and observing an extremely high-definition scanned image of several tens of thousands of pixels by several tens of thousands of pixels by a scanning microscope, and, in addition, capable of extracting and displaying a necessary part to observe it.例文帳に追加

本発明は、走査型高精細画像処理装置に関し、走査型顕微鏡で数万画素×数万画素という極めて高精細の走査画像を直接に印刷して観察することを実現すると共に必要な部分を抽出して表示して観察することも併せて実現することを目的とする。 - 特許庁

A second configuration of the Z-direction correction means has a tilt stage capable of adjusting a tilt angle unidirectionally or bidirectionally against a reference plane of the scanning probe microscope between a sample stand and the sample, and corrects the inclination caused by the characteristic of the sample or the scanner by the tilt stage.例文帳に追加

Ｚ方向補正手段の第２の形態は、試料台と試料との間において、走査型プローブ顕微鏡の基準面に対する傾斜角度を一方向又は二方向で調整可能とする傾斜ステージを備え、この傾斜ステージによって、試料あるいはスキャナーの特性による傾斜を補正する。 - 特許庁

This information acquiring method acquires information about material in the solvent and comprises processes to hold the material in the solvent, to make the solvent as an amorphous solid phase, and to acquire information about the material held by the amorphous solvent by using an electron microscope.例文帳に追加

溶媒中における物質に関する情報の取得方法であって、前記物質を溶媒中で保持する工程と、前記溶媒を非晶質な固相状態にする工程と、前記非晶質の溶媒に保持された物質に関する情報を電子顕微鏡を用いて取得する工程とを有する情報取得方法。 - 特許庁

The scanning electron microscope scans electron beams on a test piece two-dimensionally and produces two dimensional image data 40 based on secondary electrons emitted from the test piece and composes scales 41a, 41b for expressing a prescribed length (1 μm) on the image data along two vertical and horizontal directions mutually perpendicular.例文帳に追加

本発明の走査型電子顕微鏡は、電子ビームを試料上に２次元状に走査し、試料から発せられる２次電子に基づいて２次元的な画像データ４０を生成するとともに、画像データ４０に、互いに垂直な縦横の２方向に沿って、所定の長さ（１μｍ）を表すスケール４１ａ，４１ｂを合成する。 - 特許庁

To solve the problem that exact image information is not obtained and gradation characteristics are spoiled in gain compensation, etc. when large luminance difference occurs during photography when exposure conditions are set before starting the photography when photographing a sample in which luminance of fluorescence changes in an image recorder to be loaded on the conventional microscope.例文帳に追加

従来の顕微鏡に搭載される画像記録装置は、蛍光発光の輝度が変化する標本を撮影する場合、撮影開始前に露出条件を設定すると、撮影中に大きな輝度差が発生すると、正確な画像情報が得られず、ゲイン補正等では階調特性が損なわれる。 - 特許庁

Microbe suspension is added to a biofilm carrier stored in a sterilization dish, and a fluorescent dye is added so as to cover the surface of the biofilm carrier, and then a biofilm formation amount on the surface of the biofilm carrier is measured by using a confocal laser scanning fluorescence microscope system, to thereby evaluate slime generation.例文帳に追加

滅菌シャーレに入れたバイオフィルム担体に菌懸濁液を加え、蛍光染色剤を前記バイオフィルム担体の表面を覆うように加え、続いて、共焦点レーザー走査蛍光顕微鏡システムを用いて前記バイオフィルム担体表面のバイオフィルム形成量を測定してヌメリの発生を評価している。 - 特許庁

In the invention 2, in the SQUID microscope of the invention 1, the control section measures the interval between the tip of the probe and the sample to be measured with a tunnel current occurring between them, and controls the interval between the probe and the sample to be measured so that this current value becomes a desired value.例文帳に追加

また、発明2では、発明1のＳＱＵＩＤ顕微鏡において、前記制御部は、プローブの先端と被測定試料との間隔をその間に生じるトンネル電流にて計測し、この電流値が所望の値となるように前記プローブと被測定試料との間隔を制御することを特徴とする構成を採用した。 - 特許庁

When observing the anterior segment and eyeground segment of the eye thereafter, the changeover of the observation focus positions is executed by the voices of an operator, etc., and the microscope body 8 is moved in the vertical position on the basis of the observation focus positions stored in the memory 61 and the previously stored changeover moving distances, etc.例文帳に追加

その後、再度前眼部または眼底部を観察する場合、観察フォーカス位置の切り換えを術者などの音声によって行い、メモリ６１に記憶されている観察フォーカス位置および予め記憶されている切換移動距離などを基にして顕微鏡本体８を上下方向に移動させる。 - 特許庁

A scanning microscope displays a stage operation panel which is on the same display as the one that displays images, rotating ft in synchronization with a rotational angle of scan rotation at all times, the direction of the marks for XY operation buttons 3-6 in the stage operation panel can be reversed and displayed simultaneously, and synchronizing with that, XY stage reversed the direction of movement respectively.例文帳に追加

画像を表示している画面と同一の画面上にあるステージ操作パネルをスキャンローテーションの回転角度に常に連動して回転して表示し、ステージ操作パネル内のＸＹ操作ボタン3〜6のマークの向きを同時に反転して表示でき、それに連動してＸＹステージが動く方向をそれぞれ反転する。 - 特許庁

After a polishing process ends, a top surface of the glass substrate is observed using an optical microscope after a pit defect which has an easy-to-observe size is obtained through 5 μm etching using an acid etching solution including hydrogen fluoride, nitric acid, etc., and then isotropic etching of a processing deformed layer (a flaw etc.) remaining at a chamfer part.例文帳に追加

研磨工程終了後、ガラス基板の表面を、フッ酸や硝酸等を含む酸性のエッチング溶液を用いて５μｍエッチングし、面取り部に残留する加工変質層（キズなど）を等方的にエッチングして観察しやすい大きさのピット欠陥にした後、光学顕微鏡を用いて観察する。 - 特許庁

A comparison arithmetic section 82 compares data of the insertion states of an endoscope 35 and a bipolar 37 relative to the microscope observing field calculated by a WS33 with data of the position of the display prohibition region which is set by the setting region recording section 81, so as to supply the comparison result to the first input side of an image control section 83.例文帳に追加

比較演算部８２は、ＷＳ３３が算出した顕微鏡観察視野に対する内視鏡３５及びバイポーラ３７の挿入状態のデータと、設定領域記録部８１が設定する表示禁止領域の位置のデータを比較し、この比較結果を画像制御部８３の第１の入力側に供給する。 - 特許庁

The observation instrument comprises: an observation assisting tool 10 used in a state that it is supported by the holder, and having a sample receiving area F for receiving the sample to be observed; and a transparent substrate 20 for covering the sample receiving area F on the observation assisting tool 10, and observes the sample by a microscope.例文帳に追加

ホルダによって支持された状態において用いられ、観察対象となる試料を収容する試料収容領域Ｆを有する観察支援具１０と、観察支援具１０上の試料収容領域Ｆを覆う透明基板２０と、を有し、試料を顕微鏡により観察するための観察用器具である。 - 特許庁

The position of the stage 101 can be electrically controlled in X-Y-Z directions, and the microscope system 100 includes: a stage X-Y controller 115 for controlling the position of the stage 101 in the X-Y directions; and a stage Z drive control part 116 for controlling the position of the stage 101 in the Z direction.例文帳に追加

ステージ１０１はＸ−Ｙ−Ｚ方向の位置が電動制御可能であり、顕微鏡システム１００は、ステージ１０１のＸ−Ｙ方向の位置を制御するステージＸ−Ｙ制御部１１５と、ステージ１０１のＸ−Ｙ方向の位置を制御するステージＺ駆動制御部１１６とを備えている。 - 特許庁