「microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(172ページ目) - Weblio英語例文検索

The electron microscope introducing a sample through a spare exhaust room for carrying out measurement and observation by electron beams is to be provided with an exchange room for an electrostatic chuck different from the spare exhaust chamber, and a vacuum pump for vacuum pumping the exchange chamber.例文帳に追加

上記課題を解決するために、電子ビームによる測定，観察を行うために予備排気室を経由して、試料を導入する電子顕微鏡において、前記予備排気室とは異なる静電チャックの交換室と、当該交換室を真空排気するための真空ポンプを備えた電子顕微鏡を提案する。 - 特許庁

A system for correcting electron energy-loss spectral images of the electron microscope provided with an electron spectrometer corrects spectra of electron energy-loss spectral images of a sample to be analyzed at each measuring position on the basis of differences between spectra at a reference position included in a reference spectral image and spectra except the reference position.例文帳に追加

電子分光器を備えた電子顕微鏡の電子エネルギー損失スペクトル像の補正システムであって、基準スペクトル像に含まれる基準位置のスペクトル及び基準位置以外のスペクトルの相違点に基き、分析対象試料のエネルギー損失スペクトル像の各測定位置のスペクトルを補正することを特徴とする補正システム。 - 特許庁

The convex part is defined as the part protruding from outside of a polygon formed by connecting local minimum points to the inside direction of the fiber on a photograph of the cross section of the cellulose acetate fiber taken in a scanning electron microscope of 3000 magnification.例文帳に追加

本発明でいう凸部とは、対象となるセルロースアセテート繊維の繊維軸に垂直方向の断面を、走査型電子顕微鏡を用いて３０００倍の倍率で写真撮影し、繊維の内部方向に対して極小点となる部分を結んでできる多角形の外側に突出している部分を凸部とする。 - 特許庁

In this method of manufacturing the probe made of iridium, used in the scanning tunneling microscope(STM), a calcium chloride solution incorporated with acetone is used as an electrolyte, and a parallel plate type electrodes made of graphite are used as opposed electrodes in electrolytic grinding to manufacture the acute probe made of iridium, easy to handle, by an electrolytic polishing method.例文帳に追加

走査トンネル顕微鏡（ＳＴＭ）で使用するイリジウム製探針の製作方法において、アセトンを添加した塩化カルシウム溶液を電解液とし、かつ電解研削時の対向電極として黒鉛製平行平板型電極を用いて電解研磨法により、取り扱いが容易な尖鋭なイリジウム製探針を作製する。 - 特許庁

To provided an azo pigment which has extremely excellent dispersibility and dispersion stability and exhibits good color hue and high tinting strength, preferably, an azo pigment which has a length in a long axis direction of 0.01-30 μm when observed under a transmission microscope.例文帳に追加

本発明は分散性及び分散安定性が極めて良好であり、優れた色相及び着色力を有するアゾ顔料を提供することを目的とするものであり、好ましくは透過型顕微鏡で観察した際の長軸方向の長さが０．０１μｍ〜３０μｍであるアゾ顔料を提供すること。 - 特許庁

The exhaust gas cleaning catalyst is held by composite oxide particles in which particulates of a noble metal contain CeO_2 and a photograph, which is measured Pd fine particles on a support from a side face by a transmission electron microscope (TEM), exhibits trapezoidal shaped nanoparticles having smooth tips.例文帳に追加

貴金属微粒子がＣｅＯ_２を含有する複合酸化物粒子に担持された排ガス浄化触媒であって、担体上のＰｄ微粒子を側面から透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）により測定した写真が平坦な頂部を有する台形状のナノ粒子を示す、前記排ガス浄化触媒。 - 特許庁

In this method, based on position coordinates of the defect detected by defect detecting means, marking is made in the vicinity of the defect by using an ion beam, etc., sample is monitored with transmission electron microscope to specify the defective section from relative positional relationship between the marking and the defect, and then sample including the target defective section will surely be prepared.例文帳に追加

欠陥検出手段で検出した欠陥の位置座標を基準にして、その近傍にイオンビームなどによってマーキングし、試料を透過型電子顕微鏡で観察して、マーキングと欠陥との相対位置関係から、欠陥部を特定し、目的とする欠陥部を含む試料を確実に作製する。 - 特許庁

To provide a light deflector and a scanning optical microscope using the light deflector in which a high speed scan driven by resonance and a low speed scan in which a lower speed region and an arbitrary frequency are selected are realized with a single light deflector and various kinds of useful microscopic actions are realized.例文帳に追加

共振で駆動する高速スキャンと、高速スキャンよりも低速領域で且つ任意の周波数を選べる低速スキャンを一つの光偏向器で実現し、各種の有用な顕微鏡動作を実現できる光偏向器およびこの光偏向器を用いた走査型光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A focal length of an objective is continuously changed by making accelerated voltage from a power source 1 of an electron beam accelerating voltage connected to an electron gun 2 of the scanning electron microscope variable by a voltage fine controller 3 to realize focusing to a sample without adjusting a position of a sample by a mechanical means.例文帳に追加

走査電子顕微鏡の電子銃２に接続される電子線加速高圧電源１を電圧微細調整器３により加速電圧を可変にすることにより対物レンズの焦点距離を連続的に変更し、試料位置を機械的手段で調整することなく試料への焦点合わせを実現させる。 - 特許庁

To hold an observation desired portion stably on a sample holder, when extracting surely the observation desired portion from a large sample substrate and performing finishing process for preparing a thin-film sample, in a method for preparing the thin-film sample for performing observation by a transmission electron microscope by using a focused ion beam.例文帳に追加

集束イオンビームを用いて透過型電子顕微鏡で観察をおこなうための薄膜試料を作製する方法において、大きな試料基板から観察所望部位を確実に抽出し、薄膜試料作製のための仕上げ加工を行なう際に、観察所望部位を試料ホルダに安定して保持することができるようにする。 - 特許庁

This is a scanning electron microscope apparatus which irradiates a sample 10 with an electron beam 20 and detects secondary electrons discharged from the sample 10 caused by the irradiation and is equipped with a scan generators 32 and 36 for detecting the secondary electrons at a frequency according to a magnification for observing the object 10.例文帳に追加

試料１０へ電子線２０を照射し、該照射に起因して試料１０から放出される２次電子を検出する走査型電子顕微鏡装置であって、試料１０を観察する倍率に応じた頻度で２次電子を検出するためのスキャン・ジェネレータ３２，３６を備えた走査型電子顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

The Si dispersed vitreous carbon material is provided with structural performance that a crystalline structure except graphite structure does not exist practically in the structure, the diffraction line attributed to metal Si or an Si compound is not detected in an X-ray diffraction method and granular structure is not discriminated by the observation by a transmission electron microscope(TEM).例文帳に追加

また、その組織中には実質的に黒鉛構造以外の結晶構造が存在せず、Ｘ線回折法により金属ＳｉおよびＳｉ化合物に帰属する回折線が検出されず、透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えている。 - 特許庁

The probe microscope is miniaturized, by providing an observation illumination optical system 12 and a data detecting optical system 11 for fetching observation data out of the sample 10, with respect to a common object lens 14 and the improvement of the noise caused by the duplication of the wavelengths of the optical systems 11 and 12 is achieved by a wavelength-selecting element 13.例文帳に追加

観察照明光学系１２と、試料１０から観察情報を取り出す情報検出光学系１１とが共通の対物レンズ１４に対して設けることによって小型化をはかり、波長選択素子１３によってこれら光学系１１および１２の波長の重複によるノイズの改善を図る。 - 特許庁

The lighting part (a lighting system) 10 used for a microscope 100 as an optical device, is structured of a light source part 20 emitting illumination light and a deflection part 30 irradiating the illumination light from the light source part 20 on an object surface O and making its illumination visual field change in accordance with an observation visual view.例文帳に追加

光学装置である顕微鏡１００に用いる照明部（照明装置）１０を、照明光を放射する光源部２０と、この光源部２０からの照明光を物体面Ｏに照射するとともに、その照明視野を、観察視野に対応して変化させる偏向部３０と、から構成する。 - 特許庁

The microscope is constituted to perform focusing operation by storing magnification of an objective 5, calculating the driving speed of a focusing mechanism 8 based on the magnification of the objective 5 and zoom magnification, and driving a stepping motor for focusing 14b for driving the mechanism 8 so as to movably adjust space between the objective 5 and a stage 3.例文帳に追加

対物レンズ５の倍率を記憶して、この対物レンズ５の倍率とズーム倍率とに基づいて焦準機構８の駆動速度を算出して、焦準機構８を駆動する焦準用ステッピングモータ１４ｂを駆動して対物レンズ５とステージ３との間隔を移動調整して焦準操作するように構成した。 - 特許庁

The liquid immersion microscope objective lens has cemented lenses consisting of a positive first lens group, a positive second lens group and a negative third lens group and having cementing surfaces convex to an image side and has the three-element cemented lenses having the second lens group consisting of the negative lens, the positive lens and the negative lens and having the cementing surface nearest the object side convex to the object side.例文帳に追加

正の第１レンズ群と、正の第２レンズ群と、負の第３レンズ群とよりなり、接合面が像側に凸である接合レンズを有し、第２レンズ群が負レンズ、正レンズ、負レンズからなり、最も物体側に近い接合面が物体側に凸である３枚接合レンズを有し、下記条件（１）、（２）を満足するようにした。 - 特許庁

To achieve flexible use by the easiest operation in fewest adjusting steps, in terms of a microscope including a light source and a detector device and configured such that the optical path of illuminating light extends between the light source and a specimen and the optical path 2 of a detecting line extends between the specimen and the detector device.例文帳に追加

光源及び検出器装置を有し、光源と試料との間で照明光線光路が、そして試料と検出器装置との間で検出線光路２が延在する顕微鏡に関するものであり、最も少ない調整手数でもってフレキシブルな利用が最も簡単な操作で可能となるように、構成すること。 - 特許庁

The fluorescence microscope system is provided with: a sample (S) containing fluorescent substance; a glass plate (G) for supporting the sample; an illumination light source (I_L) used for illuminating the sample; and a microscopic optical system (M) including an objective lens (Ob) facing the sample so as to obtain the illuminated image.例文帳に追加

本発明による蛍光顕微鏡システムは、蛍光物質を含む標本（Ｓ）と、前記標本を支持するガラスプレート（Ｇ）と、前記標本の照明に用いられる照明光源（Ｉ_L ）と、前記照明による像を取得するために前記標本に向けられている対物レンズ（Ｏｂ）を含む顕微鏡光学系（Ｍ）を備えている。 - 特許庁

To provide a measuring device of dust for photographing scattered dust by a microscope, and discriminating the dust by image processing, and to provide the measuring device of dust and an estimation method of a generation source for estimating the generation source of each dust based on a result acquired by the measuring device of the dust.例文帳に追加

飛散した粉塵について、それらを顕微鏡で撮影し、画像処理によって識別する粉塵の測定装置、およびこの粉塵の測定装置によって得られた結果に基づいてそれぞれの粉塵の発生源を推定する、粉塵の測定装置および発生源の推定方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

A stage holder 18 for supporting a stage 13 on which a sample is placed and for attaching the stage 13 to a microscope main body 10 is separately formed into a stage mounting fixing part 19 to support the stage 13 and a holder main body 20 so that it can be freely separated or combined.例文帳に追加

標本の積載されるステージ１３を支持して、該ステージ１３を顕微鏡本体１０に取り付け配置するステージホルダ１８を、ステージ１３を支持するステージ装着固定部１９及びホルダ本体２０に別体形成して、分離自在に合体結合するように構成し、所期の目的を達成したものである。 - 特許庁

To provide an operating microorganism which permits good observation by allowing much illumination light to arrive at an operating site even in observation particularly at a high magnification when an observer gives a patient medical treatment of the deep operating site without the loss of the illumination light or without upsizing of the microscope.例文帳に追加

本発明の目的とするところは、照明光のロスや顕微鏡の大型化を招くこと無く、観察者が深い術部の底を処置する場合で特に高倍率の観察時においても術部に多くの照明光を到達させて良好な観察を行なうことが可能な手術用顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

The scanning part of the scanning type confocal microscope is provided with a 1st reflection mirror 611 deflecting luminous flux along one direction, a 2nd reflection mirror 613 deflecting the luminous flux deflected by the mirror 611 along the above mentioned direction and a driving part rotating the mirrors 611 and 613 by synchronizing the directions thereof.例文帳に追加

走査型共焦点顕微鏡の走査部は、光束を一方向に沿って偏向する第１の反射鏡６１１と、第１の反射鏡６１１が偏向した光束を前記方向に沿ってさらに偏向する第２の反射鏡６１３と、第１および第２の反射鏡の向きを同期させて回転させる駆動部とを備える。 - 特許庁

The image processor is equipped with a means for successively obtaining enlarged images of a sample in the same field of view from a microscope, a means for integrating plurality of the images successively obtained to form an integrated image and a means for superimposing the integrated images on the next one at a matching position to integrate them.例文帳に追加

顕微鏡から試料の拡大した同一の視野の画像を順次取得する手段と、順次取得した画像について、所定の複数毎を積算して積算画像を生成する手段と、積算画像と次の積算画像とをマッチングする位置で重ねて積算する手段とを備えるように構成する。 - 特許庁

A plurality of point probes having sharp tips 1, 2, 3 and 4 access sample electrodes 5, 6, 7 and 8 respectively until contact currents saturate and contact with them securely, while observing through a scanning electron microscope, by the control of a point probe moving control circuit 18 by using point probe moving mechanisms 14, 15, 16 and 17.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡で観察しながら、探針移動制御回路１８による制御で、探針移動機構１４、１５、１６、１７により、鋭利な先端を有する複数の探針１、２、３、４を、それぞれ試料電極５、６、７、８に接触電流が飽和するまで接近させ、確実に接触させる。 - 特許庁

To provide a microscope system for displaying a necessary part of a patient including a stereoscopic component arranged for use in generation of 2D and 3D images displayed to a surgeon in an MR guide operation system which is executed in a bore of a magnet and uses fluorescence for detecting a tumor cell.例文帳に追加

磁石のボア内で行われるとともに、腫瘍細胞を検知するために蛍光を用いるＭＲガイド手術システムにおいて、外科医に表示される２Ｄと３Ｄ画像を生成する際に使用するために配置された立体視部品を含む、患者の必要とされる部分を表示するための顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

This stereoscopic microscope inspection system has an objective system having an object plane to be arranged with the object to be observed or the intermediate image, a left side eyepiece system to which an incident beam flux on the left side of the objective lens is supplied and a right side eyepiece system to which the incident beam flux on the right side of the objective lens is supplied.例文帳に追加

この立体顕微鏡検査システムは、観察されるべき物体又は中間像を配置する物体平面を有する対物システムと、対物レンズの左側に入射するビーム束が供給される左側接眼システムと、対物レンズの右側に入射するビーム束が供給される右側接眼システムとを備えている。 - 特許庁

The microscope apparatus stage is arranged with a stage base which is a stationary stage, a main stage which is provided atop the stage base and is movable via a ball, and a knob which is provided at the stage base and serves to move the main stage.例文帳に追加

また、標本内における観察領域が非常に狭く観察目的位置まで移動する際に観察途中で高倍率から低倍率に対物レンズを切り換えた場合には、多大な移動時間を要し、作業能率が著しく低下してしまい、またレンズを切り換えた際に観察誤差が生じ、観察精度そのものが低下してしまう。 - 特許庁

The resinous structure comprises a resin composition consisting of 5-80% by volume of a polyketone resin and 95-20% by volume of a polyolefin resin and has a phase structure, as a resin phase-separating structure observed with an electron microscope, in which structure the polyolefin resin is of a continuous phase and the polyketone resin is of a beltlike dispersed structure.例文帳に追加

（ａ）ポリケトン樹脂５〜８０容量％及び（ｂ）ポリオレフィン樹脂９５〜２０容量％からなる樹脂組成物であり、電子顕微鏡で観察される樹脂相分離構造として、ポリオレフィン樹脂が連続相、ポリケトン樹脂が帯状分散相である相構造を有する樹脂構造体とする。 - 特許庁

In this case, when carrying out focus detection using a laser beam reflected from the surface of a boundary between a cover glass or slide glass and a cell or culture media, the microscope focus maintaining device can alter the luminous flux diameter of the laser beam to a luminous flux diameter corresponding to NA smaller than the refractive index of the cell or culture media.例文帳に追加

ここで、顕微鏡フォーカス維持装置は、カバーガラスやスライドガラスと細胞や培養液との境界面からのレーザー光ビームの反射光を利用してフォーカス検出する場合、レーザー光ビームの光束径を細胞や培養液の屈折率よりも小さいＮＡに相当する光束径に変更可能としている。 - 特許庁

To prevent vertical illuminating light from a vertical illumination optical system from being radiated to a solid light-emitting element when performing vertical illumination observation by using a microscope system having a transmitted illumination optical system and the vertical illumination optical system and using the solid light-emitting element to which phosphor is imparted as a light source of a transmitted illumination system.例文帳に追加

本発明では、透過照明光学系と落射照明光学系とを有し、蛍光体が付与された固体発光素子を透過照明系の光源とする顕微鏡システムを用いて落射照明観察をする場合、落射照明光学系から落射光が固体発光素子にあたらないようにすることを目的とする。 - 特許庁

The light shielding plate 140 of the scanning type confocal microscope 100 is movable (X-Y direction) within the plane perpendicular to the optical axis L of the detecting light returning from a specimen 1 and is movable back and forth in the optical axis L direction (Z direction) around a point G conjugate with the spot on the specimen 1.例文帳に追加

走査型共焦点顕微鏡１００において、遮光板１４０は、標本１かから戻ってきた検出光の光軸Ｌに垂直な面内で移動可能で（Ｘ−Ｙ方向）、かつ、標本１上のスポットと共役な点Ｇを中心に光軸Ｌ方向（Ｚ方向）に前後移動可能である。 - 特許庁

To widen the contact area between a probe and a sample in measurement, to reduce the contact pressure thereby to restrain a sample surface from being deformed, to restrain the contact area with the sample from being dispersed, and to eliminate dispersion in physical property measurement of the sample surface to allow stable measurement, in a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡において、測定時にプローブと試料との接触面積を大きくし、接触圧を下げ、試料表面の変形を抑えること、また試料との接触面積のばらつきを抑え、試料表面の物性測定においてばらつき無く安定に測定できるようにすること。 - 特許庁

The sample holding mesh 13 used for a transmission electron microscope has a separable part (a primary mesh 13-1) and this part is made to be detachable from the remaining part (a secondary mesh 13-2) after separation so that it may not break a tip of the sample during measurement and precise elemental analysis can be performed.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡に用いられる試料保持用のメッシュ１３において、前記メッシュの一部（第１のメッシュ１３−１）が分離し、当該一部が、分離後に残った部分（第２のメッシュ１３−２）と脱着可能な形態とすることにより、測定中、試料の先端を崩さずに、精度の高い元素分析を行なう。 - 特許庁

When the stylus-type prove 10 is irradiated with illumination light from a laser light source 4 through the glass substrate 20, an interference fringe appears resulting from the gap G, and the position in the X-direction of the interference fringe is detected by a microscope 2 and a CCD camera 3, to thereby measure the irregularity quantity on the sample S surface.例文帳に追加

レーザー光源４からの照明光をガラス基板２０を通して触針式プローブ１０へ照射すると、ギャップＧに起因して干渉縞が現れ、その干渉縞のＸ方向の位置を顕微鏡２とＣＣＤカメラ３で検出することにより、試料Ｓの表面の凹凸量を測定する。 - 特許庁

Provided that "uniformly grafted" means a fact that a relative current value does not exceed 30 on all of the regions of surface of the particles when a contact current on each of individual particles is measured by using a scanning type probe microscope, and a mean contact current of not grafted particles is set as 100.例文帳に追加

ただし、均一にグラフト化されているとは、走査型プローブ顕微鏡を用いて個々の粒子表面のコンタクト電流（Ｃｏｎｔａｃｔ Ｃｕｒｒｅｎｔ）を測定し、グラフト化されていない粒子の平均コンタクト電流値を１００としたときの相対電流値が粒子表面全域で３０を超えないことをいう。 - 特許庁

This transmission electron microscope can form an electron beam hologram H by a control device 17 by bringing an electron beam biprism 15 into a state in which interference is caused between an object wave E1 and a reference wave E2 by grounding an object wave side electrode 15a and a reference wave side electrode 15b and impressing positive potential V1 to a filament 15c.例文帳に追加

制御装置１７により、電子線バイプリズム１５を、物体波側電極１５ａと参照波側電極１５ｂとを接地し、フィラメント１５ｃに正の電位Ｖ１を印加し、物体波Ｅ１と参照波Ｅ２とを干渉させる状態にすることにより、電子線ホログラムＨを形成することができる。 - 特許庁

The magnetic field objective lens for an electron microscope has a first magnetic field lens and a second magnetic field lens generating a magnetic field in the vicinity of a sample mounting region along an optical axis, and in the sample mounting region, the magnetic fields by the first magnetic field lens and the second magnetic field lens are canceled each other to zero.例文帳に追加

電子顕微鏡用磁界型対物レンズは、光軸に沿う試料配置領域の近傍に磁場を発生させる第１磁界型レンズおよび第２磁界型レンズを有し、前記試料配置領域において、前記第１磁界型レンズおよび前記第２磁界型レンズによる磁場が互いに打ち消されてゼロになる。 - 特許庁

This method is applied for a scanning type probe microscope having a measuring part for scanning a sample 12 by a probe 25 to measure a physical quantity about the sample surface, and constituted to be provided with an XY fine moving mechanism 24 for moving the probe finely, and an XY stage 51 for moving the sample roughly.例文帳に追加

この測定方法は、探針２５で試料１２を走査して試料表面に関する物理的量を測定する測定部を有し、かつ探針を微動させるＸＹ微動機構２４と試料を粗動させるＸＹステージ５１を備えるように構成された走査型プローブ顕微鏡に適用される。 - 特許庁

When negative voltage or pulse voltage is applied to a probe of scanning probe microscope which is provided with a conductive probe 7 in the air, chromium 3 which is exposed on the surface just under the probe is anodized and generates the chromium oxide 6, therefore, the region in which the antireflection coating is stripped off is scanned and anodized, and the antireflection coating is repaired.例文帳に追加

導電性探針7を備えた走査プローブ顕微鏡の探針に大気中で負電圧もしくはパルス電圧をかけると、探針直下の表面に露出したクロム3が陽極酸化され酸化クロム6を生成するので、反射防止膜が剥れた領域を走査・陽極酸化し反射防止膜を修復する。 - 特許庁

The image of a lymphocyte nucleus is also processed in addition to the image processing of a neutrophilic leukocyte nucleus and the image analytical result of the neutrophilic leukocyte nucleus is standardized by using an image analysis result obtained from the lymphocyte nucleus, so that image analysis prevented from the influence of coloring or the setting condition of the microscope can be executed.例文帳に追加

画像処理の対象とする好中球細胞核以外に、リンパ球細胞核も画像処理し、リンパ球細胞核から得られた画像解析結果を用いて好中球細胞核の画像解析結果を基準化することで染色や顕微鏡の設定条件に左右されない画像解析を行う。 - 特許庁

The apparatus is so constituted that the photographing information is displayed together with the observed image obtained by picking up the observed image captured into a microscope by a camera head 80 on a display element 819 of a control section 81 and that the display state of the photographing information of the observed image can be selectively varied and set, by which the desired end is attained.例文帳に追加

顕微鏡で取り込んだ観察像をカメラヘッド８０で撮像した観察画像と共に、その撮影情報を制御部８１の表示部８１９に表示して、その観察画像の撮像情報の表示状態を選択的に可変設定可能に構成し、所期の目的を達成した。 - 特許庁

The immersion microscope objective lens is a lens for observing or measuring a sample (the refractive index nd is 1.33 to 1.5) represented by the living cells, the living tissues or the living body solid and is designed so that the immersion liquid used is a synthetic oil having a refractive index of 1.34 to 1.5.例文帳に追加

生体細胞または生体組織または生体の固体に代表されるような試料（屈折率ｎｄが１．３３〜１．５）を観察するまたは計測するための液浸用顕微鏡対物レンズであって、使用される液浸液が、屈折率が１．３４〜１．５の合成オイルであるとして設計されている。 - 特許庁

In the piezoelectric power generating element, a pair of electrodes is arranged on a piezoelectric ceramics layer formed of a ceramics in a range of average grain size of 0.01-0.1 μm by observation using a scanning electron microscope, and the piezoelectric ceramics layer subjected to polarization processing is applied with an external force different from the polarization direction, thereby generating electric potentials.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡観察により平均粒径０．０１μｍ以上、０．１μｍ以下の範囲のセラミックスで形成されている圧電セラミックス層に対電極を配置し、分極処理した圧電セラミックス素子に、分極方向と異なる外力を与え電荷を発生することを特徴とする圧電発電素子。 - 特許庁

This optical microscope is provided with an objective lens 2 forming a 1st real image by enlarging the image of a sample, a light amplification means whose photoelectric surface is arranged at a position where the 1st real image is formed and an ocular 3 enlarging a 2nd real image optically amplified and outputted from the light amplification means as a virtual image.例文帳に追加

光学顕微鏡において、標本を拡大して第１の実像を結像させる対物レンズと、第１の実像の結像位置に光電面が配置された光増幅手段と、この光増幅手段から出力される光増幅された第２の実像を虚像として拡大する接眼レンズとを設ける。 - 特許庁

A sample 2 is cut from a semiconductor chip to be made thin by mechanical polishing and the thin sample is attached to a single-ported mesh 6 for transmission type electron microscope observation and a Pt film 7 is formed to the part with specific depth of an end surface and irradiated with gallium ion beam 8 parallel to the main surface of the sample to make the part other than a principal part thin by etching.例文帳に追加

半導体チップから試料２を切り出し、機械的研磨により薄くした後、透過型電子顕微鏡観察用の単孔メッシュ６に取付け、端面の特定深さの部分にＰｔ膜７を形成し、試料の主面に平行なガリウムイオンビーム８を照射して要部以外の部分をエッチングして薄膜化する。 - 特許庁