「microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(173ページ目) - Weblio英語例文検索

While observing with a scanning electron microscope, a plurality of probes 1, 2, 3 and 4 each having a sharp tip are made to approach sample electrodes 5, 6, 7 and 8, respectively, and made to come into contact with them completely until a contact current saturates by the use of probe moving mechanisms 14, 15, 16 and 17 under the control of a probe movement control circuit 18.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡で観察しながら、探針移動制御回路１８による制御で、探針移動機構１４、１５、１６、１７により、鋭利な先端を有する複数の探針１、２、３、４を、それぞれ試料電極５、６、７、８に接触電流が飽和するまで接近させ、確実に接触させる。 - 特許庁

In this method, based on position coordinates of the defect detected by defect detecting means, marking is made in the vicinity of the defect by using an ion beam, etc., sample is monitored with transmission electron microscope to specify the defective section from relative positional relationship between the marking and the defect, and then sample including the target defective section will surely be prepared.例文帳に追加

欠陥検出手段で検出した欠陥の位置座標を基準にして、その近傍にイオンビームなどによってマーキングし、試料を透過型電子顕微鏡で観察して、マーキングと欠陥との相対位置関係から、欠陥部を特定し、目的とする欠陥部を含む試料を確実に作製する。 - 特許庁

To provide a light deflector and a scanning optical microscope using the light deflector in which a high speed scan driven by resonance and a low speed scan in which a lower speed region and an arbitrary frequency are selected are realized with a single light deflector and various kinds of useful microscopic actions are realized.例文帳に追加

共振で駆動する高速スキャンと、高速スキャンよりも低速領域で且つ任意の周波数を選べる低速スキャンを一つの光偏向器で実現し、各種の有用な顕微鏡動作を実現できる光偏向器およびこの光偏向器を用いた走査型光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The height of the ruggedness on the surface of the observation object is measured by utilizing the sectioning function of the confocal type microscope and the aperture diaphragm is automatically set so that the depth of focus may be equivalent to the height of the ruggedness of the observation object, so that the optimum-contrast image is obtained in a short time.例文帳に追加

本発明によれば、共焦点型顕微鏡のセクショニング機能を利用して観察対象表面の凹凸高さを測定し、その観察対象の凹凸高さに相当する焦点深度になるように開口絞りを自動的に設定するので、最適のコントラストの画像を短時間で取得することができる。 - 特許庁

This is a scanning electron microscope apparatus which irradiates a sample 10 with an electron beam 20 and detects secondary electrons discharged from the sample 10 caused by the irradiation and is equipped with a scan generators 32 and 36 for detecting the secondary electrons at a frequency according to a magnification for observing the object 10.例文帳に追加

試料１０へ電子線２０を照射し、該照射に起因して試料１０から放出される２次電子を検出する走査型電子顕微鏡装置であって、試料１０を観察する倍率に応じた頻度で２次電子を検出するためのスキャン・ジェネレータ３２，３６を備えた走査型電子顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

The Si dispersed vitreous carbon material is provided with structural performance that a crystalline structure except graphite structure does not exist practically in the structure, the diffraction line attributed to metal Si or an Si compound is not detected in an X-ray diffraction method and granular structure is not discriminated by the observation by a transmission electron microscope(TEM).例文帳に追加

また、その組織中には実質的に黒鉛構造以外の結晶構造が存在せず、Ｘ線回折法により金属ＳｉおよびＳｉ化合物に帰属する回折線が検出されず、透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えている。 - 特許庁

A focal length of an objective is continuously changed by making accelerated voltage from a power source 1 of an electron beam accelerating voltage connected to an electron gun 2 of the scanning electron microscope variable by a voltage fine controller 3 to realize focusing to a sample without adjusting a position of a sample by a mechanical means.例文帳に追加

走査電子顕微鏡の電子銃２に接続される電子線加速高圧電源１を電圧微細調整器３により加速電圧を可変にすることにより対物レンズの焦点距離を連続的に変更し、試料位置を機械的手段で調整することなく試料への焦点合わせを実現させる。 - 特許庁

To hold an observation desired portion stably on a sample holder, when extracting surely the observation desired portion from a large sample substrate and performing finishing process for preparing a thin-film sample, in a method for preparing the thin-film sample for performing observation by a transmission electron microscope by using a focused ion beam.例文帳に追加

集束イオンビームを用いて透過型電子顕微鏡で観察をおこなうための薄膜試料を作製する方法において、大きな試料基板から観察所望部位を確実に抽出し、薄膜試料作製のための仕上げ加工を行なう際に、観察所望部位を試料ホルダに安定して保持することができるようにする。 - 特許庁

The probe microscope is miniaturized, by providing an observation illumination optical system 12 and a data detecting optical system 11 for fetching observation data out of the sample 10, with respect to a common object lens 14 and the improvement of the noise caused by the duplication of the wavelengths of the optical systems 11 and 12 is achieved by a wavelength-selecting element 13.例文帳に追加

観察照明光学系１２と、試料１０から観察情報を取り出す情報検出光学系１１とが共通の対物レンズ１４に対して設けることによって小型化をはかり、波長選択素子１３によってこれら光学系１１および１２の波長の重複によるノイズの改善を図る。 - 特許庁

The lighting part (a lighting system) 10 used for a microscope 100 as an optical device, is structured of a light source part 20 emitting illumination light and a deflection part 30 irradiating the illumination light from the light source part 20 on an object surface O and making its illumination visual field change in accordance with an observation visual view.例文帳に追加

光学装置である顕微鏡１００に用いる照明部（照明装置）１０を、照明光を放射する光源部２０と、この光源部２０からの照明光を物体面Ｏに照射するとともに、その照明視野を、観察視野に対応して変化させる偏向部３０と、から構成する。 - 特許庁

The microscope is constituted to perform focusing operation by storing magnification of an objective 5, calculating the driving speed of a focusing mechanism 8 based on the magnification of the objective 5 and zoom magnification, and driving a stepping motor for focusing 14b for driving the mechanism 8 so as to movably adjust space between the objective 5 and a stage 3.例文帳に追加

対物レンズ５の倍率を記憶して、この対物レンズ５の倍率とズーム倍率とに基づいて焦準機構８の駆動速度を算出して、焦準機構８を駆動する焦準用ステッピングモータ１４ｂを駆動して対物レンズ５とステージ３との間隔を移動調整して焦準操作するように構成した。 - 特許庁

The liquid immersion microscope objective lens has cemented lenses consisting of a positive first lens group, a positive second lens group and a negative third lens group and having cementing surfaces convex to an image side and has the three-element cemented lenses having the second lens group consisting of the negative lens, the positive lens and the negative lens and having the cementing surface nearest the object side convex to the object side.例文帳に追加

正の第１レンズ群と、正の第２レンズ群と、負の第３レンズ群とよりなり、接合面が像側に凸である接合レンズを有し、第２レンズ群が負レンズ、正レンズ、負レンズからなり、最も物体側に近い接合面が物体側に凸である３枚接合レンズを有し、下記条件（１）、（２）を満足するようにした。 - 特許庁

A stage holder 18 for supporting a stage 13 on which a sample is placed and for attaching the stage 13 to a microscope main body 10 is separately formed into a stage mounting fixing part 19 to support the stage 13 and a holder main body 20 so that it can be freely separated or combined.例文帳に追加

標本の積載されるステージ１３を支持して、該ステージ１３を顕微鏡本体１０に取り付け配置するステージホルダ１８を、ステージ１３を支持するステージ装着固定部１９及びホルダ本体２０に別体形成して、分離自在に合体結合するように構成し、所期の目的を達成したものである。 - 特許庁

To provide an operating microorganism which permits good observation by allowing much illumination light to arrive at an operating site even in observation particularly at a high magnification when an observer gives a patient medical treatment of the deep operating site without the loss of the illumination light or without upsizing of the microscope.例文帳に追加

本発明の目的とするところは、照明光のロスや顕微鏡の大型化を招くこと無く、観察者が深い術部の底を処置する場合で特に高倍率の観察時においても術部に多くの照明光を到達させて良好な観察を行なうことが可能な手術用顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

The scanning part of the scanning type confocal microscope is provided with a 1st reflection mirror 611 deflecting luminous flux along one direction, a 2nd reflection mirror 613 deflecting the luminous flux deflected by the mirror 611 along the above mentioned direction and a driving part rotating the mirrors 611 and 613 by synchronizing the directions thereof.例文帳に追加

走査型共焦点顕微鏡の走査部は、光束を一方向に沿って偏向する第１の反射鏡６１１と、第１の反射鏡６１１が偏向した光束を前記方向に沿ってさらに偏向する第２の反射鏡６１３と、第１および第２の反射鏡の向きを同期させて回転させる駆動部とを備える。 - 特許庁

The image processor is equipped with a means for successively obtaining enlarged images of a sample in the same field of view from a microscope, a means for integrating plurality of the images successively obtained to form an integrated image and a means for superimposing the integrated images on the next one at a matching position to integrate them.例文帳に追加

顕微鏡から試料の拡大した同一の視野の画像を順次取得する手段と、順次取得した画像について、所定の複数毎を積算して積算画像を生成する手段と、積算画像と次の積算画像とをマッチングする位置で重ねて積算する手段とを備えるように構成する。 - 特許庁

A plurality of point probes having sharp tips 1, 2, 3 and 4 access sample electrodes 5, 6, 7 and 8 respectively until contact currents saturate and contact with them securely, while observing through a scanning electron microscope, by the control of a point probe moving control circuit 18 by using point probe moving mechanisms 14, 15, 16 and 17.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡で観察しながら、探針移動制御回路１８による制御で、探針移動機構１４、１５、１６、１７により、鋭利な先端を有する複数の探針１、２、３、４を、それぞれ試料電極５、６、７、８に接触電流が飽和するまで接近させ、確実に接触させる。 - 特許庁

To provide a microscope system for displaying a necessary part of a patient including a stereoscopic component arranged for use in generation of 2D and 3D images displayed to a surgeon in an MR guide operation system which is executed in a bore of a magnet and uses fluorescence for detecting a tumor cell.例文帳に追加

磁石のボア内で行われるとともに、腫瘍細胞を検知するために蛍光を用いるＭＲガイド手術システムにおいて、外科医に表示される２Ｄと３Ｄ画像を生成する際に使用するために配置された立体視部品を含む、患者の必要とされる部分を表示するための顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

In the transparent conductive base material, where the base material, a reflection prevention film, and the transparent conductive film are laminated in this order, the reflection prevention film is made of aluminum-doped zinc oxide, and the average surface roughness (Ra) of the reflection prevention film by an atomic force microscope is 1.0 nm or smaller.例文帳に追加

基材、反射防止膜及び透明導電膜が、この順で積層されてなる透明導電性基材であって、前記反射防止膜がアルミドープ酸化亜鉛からなり、かつ原子間力顕微鏡による前記反射防止膜の平均面粗さ（Ｒａ）が１．０ｎｍ以下であることを特徴とする透明導電性基材。 - 特許庁

The base 1 for the microscope is provided with an air blowout port 24 extended in a horizontal direction above a door 19a so as to form an air curtain in a duct 22, and an air supply source 27 is controlled so that air quantity may be larger at the time of opening the door 19a than at the time of closing the door 19a.例文帳に追加

この顕微鏡台１においては、ドア１９ａの上方で水平方向に延在してエアーカーテンを作り出すためのエアー吹出口２４をダクト２２に設け、ドア１９ａの閉鎖時における風量よりドアの開放時における風量を多くするようにエアー供給源２７を制御する。 - 特許庁

This electronic microscope having an electron source, an electronic lens and an electron beam deflecting unit, further comprises an electron beam pulsing means and an acoustic wave measuring means, the energy of electrons entering into the sample is 1000 eV or less, and the measurement and examination of the inside of the sample are performed on the basis of the scanning information of the electron beam and the information of the detected sound.例文帳に追加

電子源、電子レンズ、電子線偏向器を有してなる電子顕微鏡装置において、さらに電子線パルス化手段、音波測定手段を備え、試料中に入射する電子のエネルギを１０００ｅＶ以下とし、電子線の走査情報と検出音の情報から試料内部の計測・検査をおこなう。 - 特許庁

The laser scanning microscope of the present invention is characterized in being provided with: a scanner (11) which scans a face to be observed with a laser beam; detection means (11 and 203) which detect the variation in the velocity of the scanning; and power control means (204 and 205) which vary the power of the laser beam according to the detected variation in the velocity.例文帳に追加

本発明のレーザ走査顕微鏡は、レーザ光で被観察面上を走査するスキャナ（１１）と、前記走査の速度変化を検出する検出手段（１１，２０３）と、前記検出された前記速度変化に応じて前記レーザ光のパワーを変化させるパワー制御手段（２０４，２０５）とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

The mechanism 5 is equipped with a device box 21 including a computer 6, a control system 7 and/or an energy source 8 as a balance weight, and further equipped with an interface 19 for a mount having cushioning elements 17a, 17b and 17c and an adjusting device for correcting the position of the kinetic circular surface of the microscope 4.例文帳に追加

補助アーム機構(５)が、コンピュータ(６)、コントロールシステム(７)、及び／又はエネルギー源(８)を含む装置箱(２１)を釣合い重りとして備え、更に緩衝要素(１７ａ、ｂ、ｃ)を持つ取付台のためのインターフェース(１９)及び顕微鏡(４)の運動円面の位置を校正するための調節装置を備える。 - 特許庁

There are provided a method for correcting magnification and position and a system for correcting magnification and position, both of which can correct measurement magnification and measurement position of a spectral image with high efficiency and with high accuracy using an electronic spectroscope and a transmission electron microscope, regarding the spectral image formed with two axes where the amount of energy loss and the measurement position information are orthogonal to each other.例文帳に追加

電子分光器および透過型電子顕微鏡を用いて、エネルギー損失量と測定位置情報が直交する二軸で形成されるスペクトル像について、スペクトル像の測定倍率および測定位置を高効率かつ高精度に補正可能な倍率・位置補正方法および倍率・位置補正システムを提供する。 - 特許庁

The probe of the scanning heat microscope comprises a cantilever, a first conductive layer formed in the cantilever, an insulating layer formed on the first conductive layer and having a hole, a second conductive layer formed on the surface of the insulating layer, a thermocouple, and a carbon nanotube installed at an end of the thermocouple.例文帳に追加

本発明に係る走査型顕微鏡のプローブは、カンチレバーと、該カンチレバーに形成される第一導電層と、該第一導電層に形成され、穴が設けられる絶縁層と、該絶縁層の表面に形成される第二導電層と、熱電対と、該熱電対の端部に設置されるカーボンナノチューブと、を含む。 - 特許庁

To provide an inspection system with a scanning electron microscope for performing an inspection for the purpose of detecting a defect on a substrate with a circuit pattern of a semiconductor device, a liquid crystal, or the like formed thereon which allows the easy identification of a minute defect and a pseudo one which have been hard to identify, and an inspection method thereof.例文帳に追加

半導体装置や液晶などの回路パターンが形成された基板上の欠陥を検出する目的で検査を行う走査電子顕微鏡を搭載した検査装置において、困難となっている微細欠陥と擬似の識別を容易に実施できる検査装置及びその検査方法を提供する。 - 特許庁

In an ultrahigh density information storage device based on monomolecular switching, a sub phthalocyanine molecule being an asymmetric polar molecule arranged on and adsorbed by a metal surface realizes recording density of several tens of terabits/cm^2 by reversibly inverting the orientation of the molecules using a scanning tunnel microscope.例文帳に追加

単分子スイッチングに基づく超高密度情報蓄積デバイスにおいて、金属表面に配列吸着させた非対称極性分子であるサブフタロシアニン分子を、走査型トンネル顕微鏡を用いて、前記分子の配向を可逆的に反転させることにより、数十テラビット／ｃｍ^2 の記録密度を実現する。 - 特許庁

The objective propylene resin composition comprises a propylene resin and an elastomer, and the distribution and the dispersion mode of the specific elastomer in the propylene resin composition measured with an ultrasonic microscope are both adjusted to a specific shape morphology having a percolating structure.例文帳に追加

プロピレン系樹脂と弾性体からなるプロピレン系樹脂組成物において、超音波顕微鏡などで測定されるプロピレン系樹脂組成物中に存在する特定の弾性体の分布・分散形態をパーコレート構造を有する特定の形態モルフォロジーにすることにより提供されるプロピレン系樹脂組成物。 - 特許庁

The screening method comprises the analysis of cell images photographed by a microscope, the evaluation of the parameterized value of the deviation of the contour of the cell from circles C_I and C_O as a morphological character representing the morphological character of each cell in the cell images and the screening of medicines based on the evaluation.例文帳に追加

顕微鏡により取得した細胞画像を解析し、細胞画像中の各細胞の形態的な特徴を表す形態特徴量として、細胞の輪郭の円Ｃ_Ｉ，Ｃ_Ｏからのずれ量をパラメータ化した値を評価し、この評価に基づいて薬剤スクリーニングを行うスクリーニング方法を提供する。 - 特許庁

To prevent measuring error and obtaining sufficient measuring precision when the reflection coefficient of a measuring object is low and a pattern having a higher reflection coefficient exists in the vicinity of the object, in an apparatus and a method for measuring the dimension of a pattern by obtaining an image with an optical microscope.例文帳に追加

光学式顕微鏡により画像を取得してパターンの寸法を測定する装置及び方法において、測定対象のパターンの反射率が低く、近傍に反射率のより高いパターンが存在する場合にも、測定ミスを防止でき充分な測定精度を得ることができるものを提供する。 - 特許庁

The scanning electromagnetic wave microscope is characterized by that it comprises an electromagnetic wave generating means, an electromagnetic wave emitting means or an electromagnetic wave inducing means of emitting or propagating an electromagnetic wave generated by the electromagnetic wave generating means to one or both of a probe and the sample, and the probe provided near the sample surface.例文帳に追加

本発明の走査型電磁波顕微鏡は、電磁波発生手段と、電磁波発生手段で発生させた電磁波をプローブやサンプルの一方、または双方に入射または伝播させる電磁波入射手段または電磁波誘導手段と、サンプル表面に近接して設けられたプローブとからなることを特徴とする。 - 特許庁

The controller 50 of the microscope obtains the mutual distance (d) of diaphragm images divided into two by a pupil division prism 33 by using data from an AF line sensor 37, and obtains representative wavelength λ showing the spectral characteristic of the reflected light from the sample 1 by using data from a spectral characteristic sensor 40.例文帳に追加

この顕微鏡の制御装置５０は、瞳分割プリズム３３で二つに分割された絞り像の相互間隔ｄをＡＦ用ラインセンサ３７からのデータを用いて求めると共に、試料１からの反射光の分光特性を示す代表波長λを分光特性センサ４０からのデータを用いて求める。 - 特許庁

The microorganisms of plural specimens can be simply and rapidly detected without requiring work force for a visual measurement and a fluorescence microscope which has the problem of difference between measurers by combining a filtration film for capturing microbes, a device such as a microtiter plate and a device for reading a signal by converting the signal to an electric signal.例文帳に追加

細菌を捕捉するろ過膜と、マイクロタイタープレートのようなデバイスとシグナルを電気信号に換えて読み取る装置を組み合わせることにより、目視計測による労力や測定者間の誤差に問題のある蛍光顕微鏡を必要とせず、同時に複数の検体について簡易かつ迅速に微生物を検出する。 - 特許庁

The illuminator for the microscope is equipped with a plurality of laser beam sources 1 and 2, micromirror arrays (DMD) 4 and 5 respectively provided corresponding to the laser beam sources and reflecting the light beams from the laser beam sources, and light beam compositing means 10, 11, 19 and 15 compositing the light beams from the respective laser beam sources reflected by the respective micromirror arrays.例文帳に追加

複数のレーザ光源１，２と、各レーザ光源に対応して夫々設けられた、レーザ光源からの光線を反射させる微小鏡配列（ＤＭＤ）４，５と、各微小鏡配列で反射した各レーザ光源からの光線を合成する光線合成手段１０，１１、１９，１５とを備えている。 - 特許庁

In the method, a scanning microscope provided with both a stage 10 for fixing a sample 80 and a cantilever 30 having a probe 40 at its tip part is used to evaluate the local adhesion of the thin film 81 to a substrate 82 in the sample 80, in which the thin film 81 adheres onto the substrate 82.例文帳に追加

本発明の局所密着性評価方法は、試料８０を固定するステージ１０と、探針４０を先端部に有したカンチレバー３０と、を備えた走査型プローブ顕微鏡を用いて、基体８２上に薄膜８１が密着した試料８０の、薄膜８１の基体８２に対する密着性を評価する方法である。 - 特許庁

A standard sample 1 for an electric force microscope has known values of potential and shape and includes a substrate 2 made from a dielectric and a conductive electrode pattern 4 formed on the substrate 2, the electrode pattern 4 having a potential pattern whose potential distribution is known and a space pattern whose shape is known.例文帳に追加

電気力顕微鏡用標準試料１は、電位及び形状について既知の値を備える構成として、誘電体からなる基板２と、基板２上に形成される導電性の電極パターン４とを備え、電極パターン４は電位分布を既知とする電位パターン及び形状を既知とする空間パターンとを備える。 - 特許庁

The transmission illumination apparatus for the microscope is provided with a glass plate 7 for placing the sample 8, a surface light source 10 for emitting almost uniform illumination light towards the glass plate 7 and a light directing member 9 which limits diffusion of illumination light emitted from the surface light source 10 in at least one direction.例文帳に追加

顕微鏡用透過照明装置は、試料８を載置するためのガラスプレート７と、ガラスプレート７に向けてほぼ均一な照明光を射出する面光源１０と、面光源１０から射出される照明光の拡散を少なくとも一方向に関して制限する光指向部材９とを備えている。 - 特許庁

In this microscope imaging device and a dimension measuring instrument, a retreating area is provided in each of the plurality of imaging devices, a stoke is provided to move the each imaging head to a position of a measuring point for a measured object, and the imaging head is covered with the residual imaging head when troubled or brought into under a non-operational condition.例文帳に追加

複数の撮像装置それぞれについて退避エリアを設け、かつ、それぞれの撮像ヘッドが、被測定対象物の測定ポイントの位置に移動可能なストロークを持たせ、撮像ヘッドが故障または非稼動状態である場合には、残りの撮像へッドでカバーすることが可能な顕微鏡撮像装置及び寸法測定装置。 - 特許庁

The central part of a support device 8 is detachably attached to an outer peripheral part of the lens barrel 5 of an operation microscope supported by suspending from the above by a hook and loop fastener, and protruding four bars 8a-8d are respectively provided on the right and the left of the support device 8 by opening at right angles in the horizontal direction.例文帳に追加

上方から吊り下げ支持された手術用顕微鏡の鏡筒部５の外周部に、支持具８の中央部分を面ファスナーにより着脱自在に取り付けるとともに、支持具８の左右それぞれに水平方向に９０度開いた角度で突出する４本のバー８ａ〜８ｄを設ける。 - 特許庁

In this method, based on position coordinate of the defect detected by defect detecting means, marking through ion beam, etc. is provided around the position coordinate, sample is observed with a transmission electron microscope to identify the defective area from relative positional relationship between the marking and the defect, reliably preparing sample which contains the target defective area.例文帳に追加

欠陥検出手段で検出した欠陥の位置座標を基準にして、その近傍にイオンビームなどによってマーキングし、試料を透過型電子顕微鏡で観察して、マーキングと欠陥との相対位置関係から、欠陥部を特定し、目的とする欠陥部を含む試料を確実に作製する。 - 特許庁

The resin containing the filler is dissolved in the solvent, the solution is filtered using the filter, the filter is immersed into the solvent to disperse the filler, the dispersed filler is transferred to a sample holder together with the solvent, and the filler is dried to be observed and evaluated by the microscope.例文帳に追加

また、樹脂に含まれるフィラーの分散状態を評価する方法であって、フィラーを含む樹脂を溶媒で溶解し、溶解液を、ろ過フィルターを用いてろ過し、前記ろ過フィルターを溶媒に浸漬し、フィラーを分散させ、分散したフィラーを溶媒と共に試料ホルダーに移し、フィラーを乾燥させて、顕微鏡で観察し、評価する方法。 - 特許庁

The method of detecting the defects of the optically transparent member detects the existence of the refractive index discontinuity defects by using a polarization microscope, for which the area ratio for the intensity ratio of light of wavelength 650-750 nm to light of wavelength 250-650 nm is 0.4 or larger for the wavelength distribution of observation light.例文帳に追加

光透過性部材の欠陥検出方法であって、観察光の波長分布が波長２５０〜６５０ｎｍの光に対する波長６５０〜７５０ｎｍの光の強度比が面積比で０．４以上である偏光顕微鏡を用いて、屈折率不連続欠陥の有無を検出することを特徴とする欠陥検出方法。 - 特許庁

The mask 32 is aligned with a specified chip on the wafer 44 utilizing three microscope imaging units AX1, AY1 and AX2, distances Lx and Ly between specified chips are determined from the moving amount of a θXY stage 70 at the time of alignment and then current expansion/ contraction rate of the wafer 44 is measured in the x direction and y direction.例文帳に追加

３つの顕微鏡撮像装置ＡＸ１、ＡＹ１、ＡＸ２を利用してマスク３２とウエハ４４の所定のチップとを位置決めし、この位置決めした時のθＸＹステージ７０の移動量から所定のチップ間の距離Ｌ_X,Ｌ_Y を求め、現在のウエハ４４のｘ方向及びｙ方向の伸縮率を測定する。 - 特許庁

To provide a medical navigation system eliminating the fear that the position of a surgical microscope becomes undetectable because of an operator's movement during a surgical operation, and permitting a stable surgical operation by preventing the operator's movement from being limited and the surgical operation from being interrupted.例文帳に追加

本発明は、手術中の術者の動きなどによって手術用顕微鏡の位置検出が不能になるおそれがなく、術者の動きが制限されたり、手術が中断されることを防止して安定した手術を行うことができる医療用ナビゲーションシステムを提供することを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

The sample holder 10 for an electron microscope loaded with a measuring target has a housing 16 having openings 28 and 28' permitting the electron beam applied to the measuring target and the detection means provided in the housing 16 to measure the position and flight time of the element dissociated from the measuring target.例文帳に追加

被測定体を搭載する電子顕微鏡用の試料ホルダ１０において、前記被測定体に照射される電子線が通過可能な開口２８、２８’を有する筐体１６と、前記筐体１６の内部に設けられ、前記被測定体から離脱した元素の位置および飛行時間を測定する検出手段とを有する。 - 特許庁