「microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(173ページ目) - Weblio英語例文検索

The chemical-mechanical-property evaluating method supplies a slurry polishing agent on the surface of a polishing pad and evaluates the Young's modulus of the polish relating object of a polished object, etc. obtained in the chemical mechanical polish for subjecting the pad and such a thin-plate-form polished object as a semiconductor wafer into a relative motion, by using an inter-atom microscope device.例文帳に追加

スラリー状の研磨剤を研磨パッド表面に供給して、パッドと半導体ウエハ等の薄板状被被研磨物とを相対運動させる科学的及び機械的な研磨における、被研磨物などの研磨関連物の表面のヤング率を、原子間力顕微鏡装置を用いて評価する。 - 特許庁

This microscope device comprises an image formation optical system, a lighting system which illuminates an object surface of the image formation optical system, an imaging element arranged in the image formation region of the image formation optical system, and a detector which detects light quantity in the image formation region and in a predetermined region other than the imaging element.例文帳に追加

顕微鏡装置は、結像光学系と、結像光学系の物体面を照明する照明装置と、結像光学系の結像領域内に配置される撮像素子と、結像領域内であって撮像素子以外の所定領域における光量を検出する検出装置とを備えている。 - 特許庁

To enable achievement of a tomographic image having little deteriorated image contained in brightness of an achieved image by correcting the brightness of the image with keeping variation information of the thickness of a sample in a transmission type and scan transmission type electron microscope for constructing a three-dimensional image from a transmission image achieved by inclining the sample.例文帳に追加

試料を傾斜させて得られた透過像から３次元像を構築する透過型および走査透過型電子顕微鏡において、試料の厚さの変化情報を維持したまま、取得した画像の明るさ補正を行い、画像の明るさに含まれる情報の劣化の少ないトモグラフィ像を取得する。 - 特許庁

The stereoscopic microscope has the variable magnification lens body 4 fitted to an arm 3 capable of moving up and down along a prop 2 stood on a base 1, an objective 5 which is fitted to the variable magnification lens body 4, a lens barrel 6 for observation which is fitted to the variable magnification body 4, and an ocular 7 which is fitted to the lens barrel 6 for observation.例文帳に追加

実体顕微鏡は、ベース１に立てた支柱２に対して上下動可能なアーム３に取り付けられた変倍鏡体４と、変倍鏡体４に取り付けられた対物レンズ５と、変倍鏡体４に取り付けられた観察用鏡筒６と、観察用鏡筒６に取り付けられた接眼レンズ７とを有している。 - 特許庁

The detecting device for an optical device, particularly for the confocal microscope, includes: a detector; an aperture plate (2) disposed within an optical path (1) of a detected light ray so as to be positioned in front of the detector; and a lens (3) disposed in front of the aperture plate (2) and used to focus the detected light ray on the aperture plate (2).例文帳に追加

検出器と、該検出器の前に位置するように検出光の光路（１）内に配置されるアパーチャープレート（２）と、該アパーチャープレート（２）の前に配置される、検出光をアパーチャープレート（２）に合焦させるためのレンズ（３）とを備える光学装置用検出装置、特に共焦点顕微鏡用検出装置。 - 特許庁

The phase transition type recording medium has the phase transition material, of which relation: Lc>La is satisfied when brightness of the crystalline phase is Lc and brightness of the amorphous phase is La in an electronic ray image obtained by observing a surface of the phase transition material the phase of which changes between the crystalline phase and the amorphous phase with a scanning type electronic microscope, as the recording layer.例文帳に追加

結晶相とアモルファス相の間を相変化する相変化材料の表面を走査型電子顕微鏡で観察して得られる電子線像において、結晶相の輝度をＬｃ、アモルファス相の輝度をＬａとするとき、Ｌｃ＞Ｌａである相変化材料を記録層とする相変化型記録媒体。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a needle crystal which can manufacture the needle crystal having an extremely sharp tip without requiring materials such as Au and the like that cause deterioration of a semiconductor crystal, and a cantilever of a scanning type probe microscope which can comply with extremely fine irregularities of the surface of an observation object.例文帳に追加

半導体結晶の劣化を引き起こすＡｕ等の材料を必要とせず、先端が極めて鋭い針状結晶を製造することができる針状結晶の製造方法と、被観察物表面の極めて微細な凹凸に対応することが可能な走査型プローブ顕微鏡のカンチレバーとを提供する。 - 特許庁

The optical microscope 100 comprises a laser light source 10, a Y scanning device 40 for performing scanning of light beams in a Y direction, an objective lens 23, an X scanning device 20 for performing scanning of light beams in an X direction, the spectrograph 31 for measuring spectra, and a line CCD camera 50.例文帳に追加

第１の態様にかかる光学顕微鏡１００は、レーザ光源１０と、光ビームをＹ方向に走査するＹ走査装置４０と、対物レンズ２３と、光ビームをＸ方向に走査するＸ走査装置２０と、スペクトルを測定するための分光器３１と、ラインＣＣＤカメラ５０が設けられている。 - 特許庁

An electron microscope is provided with axial-symmetry lenses (10, 11) arranged between two multipoles (8, 9), a rotating compensation lens (12) giving rotating action to electrons in a surface perpendicular to the optical axis is arranged in a collecting light surface of an electron orbit to be made between the axial-symmetry lenses.例文帳に追加

２つの多極子（８，９）間に２つの軸対称レンズ（１０，１１）を配置した電子顕微鏡の球面収差補正装置において、軸対称レンズ間にできる電子軌道の集光面内に、光軸と垂直な面内で電子に回転作用を与える回転補正レンズ（１２）を配置したものである。 - 特許庁

This curable resin composition contains an epoxy resin, a solid polymer having a functional group reacting with the epoxy group and a curing agent for the epoxy resin, and when the cured material is dyed with a heavy metal and observed by using a transmission electron microscope, a phase separated structure is not observed in a matrix consisting of the resin.例文帳に追加

エポキシ樹脂と、エポキシ基と反応する官能基を有する固形ポリマーと、エポキシ樹脂用硬化剤とを含有する硬化性樹脂組成物であって、硬化物を重金属により染色し、透過型電子顕微鏡により観察したときに、樹脂からなるマトリクス中に相分離構造が観察されない硬化性樹脂組成物。 - 特許庁

The ultraviolet microscope is provided with ultraviolet rays observation means (21-26, 41 and 43) by which a sample (11) is observed based on ultraviolet rays, gas supply means (51-57) by which an inert gas is supplied between the ultraviolet rays observation means and the sample, and a timing control means (13) which controls the inert gas supply timing by the gas supply means.例文帳に追加

紫外光により標本(１１)を観察する紫外光観察手段(２１〜２６,４１,４３)と、紫外光観察手段と標本との間に不活性ガスを供給するガス供給手段(５１〜５７)と、ガス供給手段による不活性ガスの供給タイミングを制御するタイミング制御手段(１３)とを備える。 - 特許庁

The sample holder 14 is equipped with a means, having a mechanism of inclination and rotation, in addition to the movement of the position of the sample or a means for altering the position of the lens barrel 1 of the scanning electron microscope and a reflected electron detector 12, to make the lens barrel 1 and the reflected electron detector 12 face the surface of the sample.例文帳に追加

前記試料ホルダ１４は、試料位置の移動に加え傾斜と回転の機構を有するか、前記走査型電子顕微鏡の鏡筒１と反射電子検出器１２の位置を変更し、前記鏡筒１と反射電子検出器１２を前記試料表面に対向させるための手段を備える。 - 特許庁

To provide a quantitative phase microscope A designed so that light use efficiency is high, disturbance is highly resisted, a quantity of light can be easily adjusted, the need for a space filter 43 specially provided to match a wavelength is eliminated, and quantitative measurement of the thickness of a specimen S or the like can be performed with high measurement precision.例文帳に追加

光利用効率が高く、外乱に対して強く、光量調節を容易に行え、波長に応じて専用の空間フィルタ４３を用いる必要がなく、測定試料Ｓの厚みなどの定量的な測定を高い測定精度で行うことが可能な定量位相顕微鏡Ａを提供する。 - 特許庁

A food composition comprising the food is diluted with an aqueous solution containing a low-molecular surfactant such as a sodium lauryl sulfate and a sugar ester to prepare a stable diluted emulsion, and the diluted emulsion is observed by an optical microscope to measure easily an emulsified state with satisfactory reproducibility.例文帳に追加

これら食品組成物を、ラウリル硫酸ナトリウムやシュガーエステル等の低分子界面活性剤を含む水溶液で希釈することで、安定した希釈乳化物を調製し、この希釈乳化物を光学顕微鏡で観察する事で、容易に再現性良く乳化状態を測定できる事を見いだした。 - 特許庁

This scanning electron microscope is provided with the function of computing corrected precision after coordinates compensation to be displayed by using a vector 39, the function of automatically determining scale factor during search in automatic detection of foreign materials/defects after coordinates compensation from acquired information, and the function of computing appearance ratio of foreign materials/defects and time required from search scale factor and measuring conditions.例文帳に追加

座標補正後の補正精度を算出し、ベクトル３９を用いて表示する機能、得られた情報から座標補正後異物／欠陥を自動検出する際の探索時の倍率を自動で決定する機能、また探索倍率と測定条件から異物／欠陥の出現率とかかる時間を算出する機能を設けた。 - 特許庁

In Fig.2, the fact that the structure of chrysotile is changed from acicular ones to grains may be confirmed from the crystal structure determined by X-ray diffraction and measurement results of a surface structure determined by an electron microscope by irradiating a sulfuric aqueous solution in which the chrysotile is immersed with electron beams with an incidence energy of 0.8 MeV.例文帳に追加

図２では、白石綿を浸漬した硫酸水溶液中に、入射エネルギー０．８ＭｅＶの電子線を照射することで、白石綿の構造が針状から粒状に変化することが、Ｘ線回折による結晶構造ならびに電子顕微鏡による表面構造の測定結果から確認できる。 - 特許庁

To provide a filtration membrane apparatus with which a fluorescent image with a high contrast can be provided by suppressing the background of the filtration membrane in the case of microorganism observation using a fluorescent microscope after filtration of raw water containing organic components; whose filtration capability is hardly deteriorated by adsorption of organic components; and which has a high water permeability.例文帳に追加

有機成分を含有する原水をろ過して蛍光顕微鏡での微生物観察をする場合において、ろ過膜からのバックグラウンドを抑えることにより、コントラストの高い蛍光像を得ることができ、さらに、有機成分の吸着等によりろ過特性が低下しづらく、通水性が高いろ過膜装置を提供する。 - 特許庁

In this measuring microscope apparatus, the interior of a support part 25, as a main body provided on the right side of the column 30, is provided with a signal operation display part 36 for operating a signal from a detecting part for detecting the travel of the XY stage 27 and the Z stage 28 and displaying the operational result.例文帳に追加

そして、この測定顕微鏡装置に於いて、コラム３０の右側に設けられた本体としての支持部３５の内部には、上記ＸＹステージ２７及びＺステージ２８の移動量を検出する検出部からの信号を演算して、この演算結果を表示する信号演算表示部３６を有している。 - 特許庁

With the spherical aberration correction device of the electron microscope with two axial symmetry lenses (10, 11) between two multipole elements (8, 9), a rotation correction lens (12) giving electrons rotation action within the plane vertical to the light axis is arranged in a converging face of an electron orbit generated between the axial symmetry lenses.例文帳に追加

２つの多極子（８，９）間に２つの軸対称レンズ（１０，１１）を配置した電子顕微鏡の球面収差補正装置において、軸対称レンズ間にできる電子軌道の集光面内に、光軸と垂直な面内で電子に回転作用を与える回転補正レンズ（１２）を配置したものである。 - 特許庁

The height of the ruggedness on the surface of the observation object is measured by utilizing the sectioning function of the confocal type microscope and the aperture diaphragm is automatically set so that the depth of focus may be equivalent to the height of the ruggedness of the observation object, so that the optimum-contrast image is obtained in a short time.例文帳に追加

本発明によれば、共焦点型顕微鏡のセクショニング機能を利用して観察対象表面の凹凸高さを測定し、その観察対象の凹凸高さに相当する焦点深度になるように開口絞りを自動的に設定するので、最適のコントラストの画像を短時間で取得することができる。 - 特許庁

To promptly and easily reduce light intensity of flare light according to change of the light intensity of the flare light and to prevent image quality deterioration of an observation image even when the light intensity of the flare light which reaches an imaging surface changes by change of a kind of sample, etc. in a flare reduction unit and the microscope using it.例文帳に追加

フレア低減ユニットおよびそれを用いた顕微鏡において、標本の種類などが変わることにより結像面に到達するフレア光の光量が変わっても、それに応じて迅速かつ容易にフレア光の光量を低減でき、観察画像の画質劣化を防止することができるようにする。 - 特許庁

To provide a novel method and apparatus which construct digitally scanned images, and store the digitally scanned images in a tiled format convenient for viewing the images without a microscope, and are improved for transferring the tiled images of a plurality of magnifications in such a manner that the images can be viewed by other users in remote locations.例文帳に追加

デジタル走査されたイメージを構築し、デジタル走査されたイメージを顕微鏡なしでビューするのに好都合なタイル化フォーマットで記憶し、かつリモートロケーションの他のユーザがビューできるように複数の倍率のタイル化イメージを転送するための改良された新規の方法および装置を提供すること。 - 特許庁

Particularly, a preferable example is the powder having rare earth elements (Sc, Y can be treated as rare earth elements)on the particle surfaces, such as having an average long axis length of 10-200 nm when measured in the image photographed by using transmission electron microscope and a specific surface area of 30-200 m^2/g by the BET method.例文帳に追加

特に、粒子表面に希土類元素（Ｓｃ、Ｙも希土類元素として扱う）を有するものが挙げられ、透過型電子顕微鏡写真より計測される平均長軸長が１０〜２００ｎｍ、ＢＥＴ法による比表面積が３０〜２００ｍ^2／ｇであるものが好適な対象となる。 - 特許庁

In an ultrahigh density information storage device based on monomolecular switching, a sub phthalocyanine molecule being an asymmetric polar molecule arranged on and adsorbed by a metal surface realizes recording density of several tens of terabits/cm^2 by reversibly inverting the orientation of the molecules using a scanning tunnel microscope.例文帳に追加

単分子スイッチングに基づく超高密度情報蓄積デバイスにおいて、金属表面に配列吸着させた非対称極性分子であるサブフタロシアニン分子を、走査型トンネル顕微鏡を用いて、前記分子の配向を可逆的に反転させることにより、数十テラビット／ｃｍ^2 の記録密度を実現する。 - 特許庁

The objective propylene resin composition comprises a propylene resin and an elastomer, and the distribution and the dispersion mode of the specific elastomer in the propylene resin composition measured with an ultrasonic microscope are both adjusted to a specific shape morphology having a percolating structure.例文帳に追加

プロピレン系樹脂と弾性体からなるプロピレン系樹脂組成物において、超音波顕微鏡などで測定されるプロピレン系樹脂組成物中に存在する特定の弾性体の分布・分散形態をパーコレート構造を有する特定の形態モルフォロジーにすることにより提供されるプロピレン系樹脂組成物。 - 特許庁

A standard sample 1 for an electric force microscope has known values of potential and shape and includes a substrate 2 made from a dielectric and a conductive electrode pattern 4 formed on the substrate 2, the electrode pattern 4 having a potential pattern whose potential distribution is known and a space pattern whose shape is known.例文帳に追加

電気力顕微鏡用標準試料１は、電位及び形状について既知の値を備える構成として、誘電体からなる基板２と、基板２上に形成される導電性の電極パターン４とを備え、電極パターン４は電位分布を既知とする電位パターン及び形状を既知とする空間パターンとを備える。 - 特許庁

The transmission illumination apparatus for the microscope is provided with a glass plate 7 for placing the sample 8, a surface light source 10 for emitting almost uniform illumination light towards the glass plate 7 and a light directing member 9 which limits diffusion of illumination light emitted from the surface light source 10 in at least one direction.例文帳に追加

顕微鏡用透過照明装置は、試料８を載置するためのガラスプレート７と、ガラスプレート７に向けてほぼ均一な照明光を射出する面光源１０と、面光源１０から射出される照明光の拡散を少なくとも一方向に関して制限する光指向部材９とを備えている。 - 特許庁

The screening method comprises the analysis of cell images photographed by a microscope, the evaluation of the parameterized value of the deviation of the contour of the cell from circles C_I and C_O as a morphological character representing the morphological character of each cell in the cell images and the screening of medicines based on the evaluation.例文帳に追加

顕微鏡により取得した細胞画像を解析し、細胞画像中の各細胞の形態的な特徴を表す形態特徴量として、細胞の輪郭の円Ｃ_Ｉ，Ｃ_Ｏからのずれ量をパラメータ化した値を評価し、この評価に基づいて薬剤スクリーニングを行うスクリーニング方法を提供する。 - 特許庁

In the method, a scanning microscope provided with both a stage 10 for fixing a sample 80 and a cantilever 30 having a probe 40 at its tip part is used to evaluate the local adhesion of the thin film 81 to a substrate 82 in the sample 80, in which the thin film 81 adheres onto the substrate 82.例文帳に追加

本発明の局所密着性評価方法は、試料８０を固定するステージ１０と、探針４０を先端部に有したカンチレバー３０と、を備えた走査型プローブ顕微鏡を用いて、基体８２上に薄膜８１が密着した試料８０の、薄膜８１の基体８２に対する密着性を評価する方法である。 - 特許庁

The controller 50 of the microscope obtains the mutual distance (d) of diaphragm images divided into two by a pupil division prism 33 by using data from an AF line sensor 37, and obtains representative wavelength λ showing the spectral characteristic of the reflected light from the sample 1 by using data from a spectral characteristic sensor 40.例文帳に追加

この顕微鏡の制御装置５０は、瞳分割プリズム３３で二つに分割された絞り像の相互間隔ｄをＡＦ用ラインセンサ３７からのデータを用いて求めると共に、試料１からの反射光の分光特性を示す代表波長λを分光特性センサ４０からのデータを用いて求める。 - 特許庁

The microorganisms of plural specimens can be simply and rapidly detected without requiring work force for a visual measurement and a fluorescence microscope which has the problem of difference between measurers by combining a filtration film for capturing microbes, a device such as a microtiter plate and a device for reading a signal by converting the signal to an electric signal.例文帳に追加

細菌を捕捉するろ過膜と、マイクロタイタープレートのようなデバイスとシグナルを電気信号に換えて読み取る装置を組み合わせることにより、目視計測による労力や測定者間の誤差に問題のある蛍光顕微鏡を必要とせず、同時に複数の検体について簡易かつ迅速に微生物を検出する。 - 特許庁

The illuminator for the microscope is equipped with a plurality of laser beam sources 1 and 2, micromirror arrays (DMD) 4 and 5 respectively provided corresponding to the laser beam sources and reflecting the light beams from the laser beam sources, and light beam compositing means 10, 11, 19 and 15 compositing the light beams from the respective laser beam sources reflected by the respective micromirror arrays.例文帳に追加

複数のレーザ光源１，２と、各レーザ光源に対応して夫々設けられた、レーザ光源からの光線を反射させる微小鏡配列（ＤＭＤ）４，５と、各微小鏡配列で反射した各レーザ光源からの光線を合成する光線合成手段１０，１１、１９，１５とを備えている。 - 特許庁

To prevent measuring error and obtaining sufficient measuring precision when the reflection coefficient of a measuring object is low and a pattern having a higher reflection coefficient exists in the vicinity of the object, in an apparatus and a method for measuring the dimension of a pattern by obtaining an image with an optical microscope.例文帳に追加

光学式顕微鏡により画像を取得してパターンの寸法を測定する装置及び方法において、測定対象のパターンの反射率が低く、近傍に反射率のより高いパターンが存在する場合にも、測定ミスを防止でき充分な測定精度を得ることができるものを提供する。 - 特許庁

The scanning electromagnetic wave microscope is characterized by that it comprises an electromagnetic wave generating means, an electromagnetic wave emitting means or an electromagnetic wave inducing means of emitting or propagating an electromagnetic wave generated by the electromagnetic wave generating means to one or both of a probe and the sample, and the probe provided near the sample surface.例文帳に追加

本発明の走査型電磁波顕微鏡は、電磁波発生手段と、電磁波発生手段で発生させた電磁波をプローブやサンプルの一方、または双方に入射または伝播させる電磁波入射手段または電磁波誘導手段と、サンプル表面に近接して設けられたプローブとからなることを特徴とする。 - 特許庁

In this microscope imaging device and a dimension measuring instrument, a retreating area is provided in each of the plurality of imaging devices, a stoke is provided to move the each imaging head to a position of a measuring point for a measured object, and the imaging head is covered with the residual imaging head when troubled or brought into under a non-operational condition.例文帳に追加

複数の撮像装置それぞれについて退避エリアを設け、かつ、それぞれの撮像ヘッドが、被測定対象物の測定ポイントの位置に移動可能なストロークを持たせ、撮像ヘッドが故障または非稼動状態である場合には、残りの撮像へッドでカバーすることが可能な顕微鏡撮像装置及び寸法測定装置。 - 特許庁

The central part of a support device 8 is detachably attached to an outer peripheral part of the lens barrel 5 of an operation microscope supported by suspending from the above by a hook and loop fastener, and protruding four bars 8a-8d are respectively provided on the right and the left of the support device 8 by opening at right angles in the horizontal direction.例文帳に追加

上方から吊り下げ支持された手術用顕微鏡の鏡筒部５の外周部に、支持具８の中央部分を面ファスナーにより着脱自在に取り付けるとともに、支持具８の左右それぞれに水平方向に９０度開いた角度で突出する４本のバー８ａ〜８ｄを設ける。 - 特許庁

In this method, based on position coordinate of the defect detected by defect detecting means, marking through ion beam, etc. is provided around the position coordinate, sample is observed with a transmission electron microscope to identify the defective area from relative positional relationship between the marking and the defect, reliably preparing sample which contains the target defective area.例文帳に追加

欠陥検出手段で検出した欠陥の位置座標を基準にして、その近傍にイオンビームなどによってマーキングし、試料を透過型電子顕微鏡で観察して、マーキングと欠陥との相対位置関係から、欠陥部を特定し、目的とする欠陥部を含む試料を確実に作製する。 - 特許庁

The resin containing the filler is dissolved in the solvent, the solution is filtered using the filter, the filter is immersed into the solvent to disperse the filler, the dispersed filler is transferred to a sample holder together with the solvent, and the filler is dried to be observed and evaluated by the microscope.例文帳に追加

また、樹脂に含まれるフィラーの分散状態を評価する方法であって、フィラーを含む樹脂を溶媒で溶解し、溶解液を、ろ過フィルターを用いてろ過し、前記ろ過フィルターを溶媒に浸漬し、フィラーを分散させ、分散したフィラーを溶媒と共に試料ホルダーに移し、フィラーを乾燥させて、顕微鏡で観察し、評価する方法。 - 特許庁

The method of detecting the defects of the optically transparent member detects the existence of the refractive index discontinuity defects by using a polarization microscope, for which the area ratio for the intensity ratio of light of wavelength 650-750 nm to light of wavelength 250-650 nm is 0.4 or larger for the wavelength distribution of observation light.例文帳に追加

光透過性部材の欠陥検出方法であって、観察光の波長分布が波長２５０〜６５０ｎｍの光に対する波長６５０〜７５０ｎｍの光の強度比が面積比で０．４以上である偏光顕微鏡を用いて、屈折率不連続欠陥の有無を検出することを特徴とする欠陥検出方法。 - 特許庁

The mask 32 is aligned with a specified chip on the wafer 44 utilizing three microscope imaging units AX1, AY1 and AX2, distances Lx and Ly between specified chips are determined from the moving amount of a θXY stage 70 at the time of alignment and then current expansion/ contraction rate of the wafer 44 is measured in the x direction and y direction.例文帳に追加

３つの顕微鏡撮像装置ＡＸ１、ＡＹ１、ＡＸ２を利用してマスク３２とウエハ４４の所定のチップとを位置決めし、この位置決めした時のθＸＹステージ７０の移動量から所定のチップ間の距離Ｌ_X,Ｌ_Y を求め、現在のウエハ４４のｘ方向及びｙ方向の伸縮率を測定する。 - 特許庁

To provide a medical navigation system eliminating the fear that the position of a surgical microscope becomes undetectable because of an operator's movement during a surgical operation, and permitting a stable surgical operation by preventing the operator's movement from being limited and the surgical operation from being interrupted.例文帳に追加

本発明は、手術中の術者の動きなどによって手術用顕微鏡の位置検出が不能になるおそれがなく、術者の動きが制限されたり、手術が中断されることを防止して安定した手術を行うことができる医療用ナビゲーションシステムを提供することを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

The sample holder 10 for an electron microscope loaded with a measuring target has a housing 16 having openings 28 and 28' permitting the electron beam applied to the measuring target and the detection means provided in the housing 16 to measure the position and flight time of the element dissociated from the measuring target.例文帳に追加

被測定体を搭載する電子顕微鏡用の試料ホルダ１０において、前記被測定体に照射される電子線が通過可能な開口２８、２８’を有する筐体１６と、前記筐体１６の内部に設けられ、前記被測定体から離脱した元素の位置および飛行時間を測定する検出手段とを有する。 - 特許庁

When transferring a mask pattern to a photoresist film applied on a wafer principal surface, after transferring on an off-condition of under dose or defocus or both, a defective inspection is carried out through a process which inspects a transferred pattern to the photoresist film with a scanning electron microscope (SEM) for a voltage potential controlling type visual inspection.例文帳に追加

ウエハ主面上に塗布されたフォトレジスト膜にマスクパターンを転写する際、アンダードーズあるいはデフォーカスまたはその両方の、オフコンディション条件で転写をした後、フォトレジスト膜に転写されたパターンを電位制御型外観検査用走査型電子顕微鏡（Scanning Electron Microscope：ＳＥＭ）で検査する工程を経て欠陥検査する。 - 特許庁

A condensing lens 32 is accommodated in a vacuum chamber 5, by using the vacuum chamber 5 in which a sample 7 is installed and the condensing lens 32 in which irradiation light is condensed on the surface of the sample 7 in the photoelectron microscope, having the light source system for excitation for irradiating the sample with irradiation light from a light source 1.例文帳に追加

光源１からの照射光を試料に照射する励起用光源システムを備えた光電子顕微鏡を、試料７が設置される真空チャンバ５と、照射光を試料７の表面に集光する集光レンズ３２とを用い、集光レンズ３２を真空チャンバ５内に収容した構成とする。 - 特許庁

This scanning probe microscope equipped with a probe arranged oppositely to the sample, a Z-direction scanner driven in the Z-direction, an X, Y-direction scanner for scanning in the X, Y directions, and a measuring head for detecting displacement of the probe, is also equipped with a Z-direction correction means for correcting the macro Z-direction fluctuation portion from the reference height.例文帳に追加

試料と対向配置するプローブと、Ｚ方向に駆動するＺ方向スキャナーと、Ｘ，Ｙ方向に走査するＸ，Ｙ方向スキャナーと、プローブの変位を検出する測定ヘッドを具備する走査型プローブ顕微鏡において、基準高さからのマクロなＺ方向変動分を補正するＺ方向補正手段を備える。 - 特許庁