「microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(168ページ目) - Weblio英語例文検索

The microscope has a columnar prop 2 fixed to a pedestal 1, a focusing part moving mechanism 3 which can move along the prop 2, a lens barrel moving mechanism 10, a focusing part 5 provided on the focusing part moving mechanism 3, and an objective 9 screwed and fixed in the focusing part 5.例文帳に追加

顕微鏡は、架台１に固定された円柱形状の支柱２と、支柱２に沿って移動可能な焦準部移動機構３と、鏡筒移動機構１０と、焦準部移動機構３に設けられた焦準部５と、焦準部５にねじ込み固定された対物レンズ９とを有している。 - 特許庁

This cantilever for a scan type probe microscope is constructed of a monocrystal silicone supporting part 101, a stress-reduced silicone nitride lever part 102 extending from the supporting part 102, and a probe part 103 arranged in the vicinity of the free end of the lever part, while the supporting part and the lever part are connected together via a Si-B-O glass layer.例文帳に追加

単結晶シリコン製支持部101 と、該支持部より延びた低応力化した窒化シリコン製レバー部102 と、該レバー部の自由端近傍に設けた探針部103とを有し、支持部とレバー部とはSi-B-Oガラス層を介して接合して走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーを構成する。 - 特許庁

To provide a biosensor which detects electric characteristics of a bio-related substance contained in fluid to be tested such as aqueous solution arranged in a sensitive film and observes the bio-related substance contained in the fluid to be tested by observation equipment such as a microscope and with high magnification.例文帳に追加

感応膜に配置された水溶液などの被検査流体に含まれる生体関連物質の電気的特性を検出し、顕微鏡などの観察機器によって、かつ、高倍率によって被検査流体に含まれる生体関連物質を観察するバイオセンサを提供する。 - 特許庁

Residual magnetization Φr of the magnetic layer is 5 to 50 mA and a ratio (Sds/Sac) of an average area Sdc of a magnetic cluster in DC magnetized state measured by a magnetic force microscope (MFM) and an average area Sac of the magnetic cluster in an AC demagnetized state is 0.8 to 2.0.例文帳に追加

前記磁性層の残留磁化Φｒが５〜５０ｍＡであり、かつ磁気力顕微鏡（ＭＦＭ）で測定したＤＣ磁化状態の磁気クラスターの平均面積ＳｄｃとＡＣ消磁状態の磁気クラスターの平均面積Ｓａｃとの比（Ｓｄｃ／Ｓａｃ）が０．８〜２．０である。 - 特許庁

The fluorescent microscope 20 includes; a stage 31 capable of being moved in the horizontal direction two dimensionally; an objective lens 24 arranged above the stage 31, an imaging unit 26 for acquiring an image of a test piece 80 through the objective lens 24; and a sensor 35 for detecting the movement of the stage 31.例文帳に追加

蛍光顕微鏡２０は、横方向に２次元的に移動可能なステージ３１と、ステージ３１の上方に配置された対物レンズ２４と、対物レンズ２４を介して試料８０の画像を取得する撮像ユニット２６と、ステージ３１の移動を検出するセンサー３５とを備えている。 - 特許庁

The imaging device 2 obtains the photographed image of the sample 13, which is magnified by a microscope 1, by a camera part 21 and creates measure images representative of actual dimensions of the picked-up image by a CCU part 23 and displayed the created measure images over the picked-up image on a monitor 3.例文帳に追加

撮像装置２は、顕微鏡１により拡大された標本１３の撮像画像をカメラ部２１により撮像し、その撮像画像における実寸法を示す物差し画像をＣＣＵ部２３において作成して、作成した物差し画像を撮像画像に重ね合わせてモニタ３に表示する。 - 特許庁

Since not only the assistant mirror 34 but also the video camera 35 attached if necessary are attached to the suspension arm 20 not rotated in a right and left direction X or to the body part of an surgical microscope 15 they are not rotated in the right and left direction X even if the weight in the right and left direction X is unbalanced.例文帳に追加

アシスタント鏡３４も、必要に応じて取付けるビデオカメラ３５も、左右方向Ｘで回転しない吊下アーム２０や、手術顕微鏡１５の本体部分に取付けられているため、左右方向での重量バランスが不均衡でも、それらが左右方向Ｘで回転することはない。 - 特許庁

This steel sheet has 80% or less of a ratio of Si-containing oxide occupying in 10 μm length of the steel sheet surface in an average measured on arbitrarily selected five places, when a cross section in the transversal direction to the steel sheet surface is observed with an electron microscope at a magnification of 50,000 times or higher.例文帳に追加

鋼板表面と直交する方向の断面を電子顕微鏡にて倍率５００００倍以上で観察したときに、鋼板表面長さ１０μｍに占めるＳｉ含有酸化物の割合が、任意に選択される５箇所の平均で８０％以下となるようにする。 - 特許庁

In the fluorescence microscope, the imaging part 22 picks up the image for every filter set 1 interlocked with timing to switch the filter set 1 by the filter switching part 18 in timing set by a switching setting part 20, and the picked-up image is automatically updated and displayed in the picture display area G.例文帳に追加

この蛍光顕微鏡は、切替設定部２０で設定されたタイミングでフィルタ切替部１８がフィルタセット１を切り替えるタイミングに連動して撮像部２２が各フィルタセット１毎に撮像し、撮像した画像イメージが画像表示領域Ｇにおいて自動的に更新されて表示される。 - 特許庁

When the antitumor substance is administered into a human body, each erythrocyte in the blood is separated in a true circle state and erythrocytes having abnormal shapes, e.g. acanthrocyte are changed to normal erythrocytes and further, the diameter of leukocyte is made ≥2.5 times larger than that of erythrocyte when the blood is observed by a microscope in a blood cell analysis method.例文帳に追加

また、血液細胞分析法における顕微鏡で観察した場合に血液中の各赤血球は真円形状に分離し、有棘赤血球等の異常形状の赤血球を正常なものとし、更に白血球の径を赤血球の２．５倍以上とする。 - 特許庁

To solve the problem that a stage device of a conventional microscope is not easy to use since an operation handle moves as a top plate stage where an object to be observed is mounted moves and then the operation handle is searched for without turning an eye away from an ocular when a hand is put away from the operation handle.例文帳に追加

従来の顕微鏡のステージ装置は、観察対象物を載置した上板ステージが移動すると、同時に操作ハンドルもその方向へ移動してまい、操作ハンドルから手を離した場合には、接眼レンズから目を逸らさずに探し出しているため、使い勝手が悪い。 - 特許庁

To realize a more accurate full-closed controller which eliminates the need for conventional expensive length measuring scales, by setting a marker or the like with high visibility on a slide glass, a stage or the like of a microscope and using a pattern image recognition method, and to realize a work by using the controller.例文帳に追加

視認度の高いマーカ等を顕微鏡のスライドガラスやステージ等に取り付け、パターン画像認識を利用することによって、従来の高価な測長スケールを全く必要としない、より高精度なフルクローズド制御装置とそれを用いて製作したワークを実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide a cassette for medical examination which can improve the productivity and the reliability in preparing a microscope specimen, in which a lid of the cassette can be easily and stably taken away with a single action, and in which the lid can be taken away while confirming the recording contents of a recording part.例文帳に追加

カセットの蓋をワンタッチで容易且つ安定的に取り去ることができるとともに、記録部の記録内容を確認しながら蓋を取り去ることができるので、顕微鏡標本作成の生産性及び信頼性を向上させる医療検査用カセットを提供する。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope which prevents second laser light from impinging on a light detection system of a first scanning optical system to efficiently detect fluorescence excited by the laser light of the first scanning optical system in the case a plurality of scanning optical systems are used.例文帳に追加

複数の走査光学系を使用した場合においても、第２のレーザ光が第１の走査光学系の光検出系に進入することを防ぎ、第１の走査光学系のレーザ光により励起された蛍光を効率良く検出することが可能な走査型レーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an observation method of an FIB-processed sample by an electron microscope, which enables the identification of a processed part of the sample that is processed into a thin film for a short time by FIB (focused ion beam) and enables the reduction of the time duration from setting of the processed sample to observation of the processed position.例文帳に追加

短時間にＦＩＢで薄膜状に加工された試料の加工部分を見出し、電子顕微鏡への加工済み試料のセットから加工位置の観察までの時間を短縮することができるＦＩＢによる加工試料の電子顕微鏡による観察方法を実現する。 - 特許庁

To provide a measuring method using a scanning probe microscope capable of quantitatively grasping the irregularity of the shape or physical properties of the pattern on a two-dimensional plane, the relation between the shape and physical properties of the pattern, pattern arrangement precision and the like in the analysis of the pattern having feasures in its shape, physical properties or the like.例文帳に追加

形状もしくは物性等に特徴を有するパターンの解析において、二次元平面でのパターン形状や物性のばらつき、パターン形状と物性の関係、パターン配列精度等を定量的に把握することができる測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a lens barrel and a microscope using the lens barrel in which a horizontal distance from the optical axis of an objective lens to the position of an eye point, the height of the eye point and the angle of depression at the time of observation can be varied so that any person can perform observation in natural observation posture and also in posture causing little fatigue regardlessly of his or her build.例文帳に追加

どのような体格の人にも、観察姿勢に無理がなく疲労の少ない姿勢で観察できるように、対物レンズ光軸からアイポイント位置までの水平距離とアイポイントの高さと観察時の俯角を変えることの出来る鏡筒とそれを用いた顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In the transmission electron microscope provided with the sample holder having a side part holding member and a back surface holding member in a sample stand, the sample holder is provided with an abutment part, on which a surface of the sample abuts, between the side part holding member and the back surface holding member.例文帳に追加

試料台に側部保持部材と裏面保持部材とを有する試料ホルダーを備える透過電子顕微鏡において、試料ホルダーの側部保持部材と裏面保持部材との間に、前記試料の表面が当接する当接部を備えることを特徴とする試料ホルダーを提供する。 - 特許庁

To provide an image data display device in which the display size or display position of an image can be freely set without losing visibility even when image data acquired by a confocal microscope system and an image based on a profile of the image are simultaneously displayed, and to provide a program.例文帳に追加

共焦点顕微鏡システムによって取得した画像データと同時にその画像のプロファイルに基づく画像を表示した場合でも視認性を損なわず、画像の表示サイズや表示位置を自由に配置可能な画像データ表示装置及びプログラムを提供すること。 - 特許庁

The microscope is configured such that a field stop 210 is arranged between the sample 116 placed on a stage 105 and a condenser lens 202 and the light reflectivity of the surface S1 on a side opposite to an objective lens 113 of the field stop 210 is higher than that of the surface of the stage 105.例文帳に追加

本発明の顕微鏡は、ステージ１０５上に載置された標本１１６とコンデンサレンズ２０２との間に視野絞り２１０を配置し、視野絞り２１０の対物レンズ１１３に対向する側の面Ｓ１を、ステージ１０５の表面よりも光反射率を高く構成している。 - 特許庁

The scanning probe microscope comprises a probe holding mechanism A for pushing to hold a probe B having fixed a cantilever 6 provided with a probe 5 at its end by a lever 21 by a force acting equally on three clamp surfaces 3a, 3b, and 3c in a lower surface of a clamp body 1.例文帳に追加

本発明の走査型プローブ顕微鏡は、先端に探針５を設けたカンチレバー６を固着したプローブＢを、クランプ本体１の下面の３つのクランプ面３ａ，３ｂ，３ｃに等しく作用する力でレバー２１によって押し付けて保持するプローブ保持機構Ａを備えている。 - 特許庁

In this evaluation method of the porous aggregate, a liquid whose refractive index difference from a refractive index of components is below 1 is impregnated into the porous aggregate formed by aggregating the plurality of components, and then observed by a microscope, to thereby confirm existence of a component larger than 0.4 μm.例文帳に追加

構成要素が複数集合した多孔性集合体に、該構成要素の屈折率に対して屈折率差が１以下の液体を含浸させた後、顕微鏡で観察することにより、０．４μｍ以上の構成要素の有無を確認することを特徴とする多孔性集合体の評価方法。 - 特許庁

The period of micro waviness of this substrate for an information recording medium is 2 μm to 4 mm, and the main surface of the substrate has a wa of 5 nm or less and an Rmax of 12 nm or less, where wa (95% PV value) is the maximum height of the microwaviness and Rmax is the maximum height measured by an atomic force microscope.例文帳に追加

情報記録媒体用基板は、微小うねりの周期が２μｍ〜４ｍｍであって、この微小うねりの最大高さをwa（95％PV値）とし、原子間力顕微鏡によって測定した最大高さをRmaxとしたとき、該基板主表面のwaが5nm以下、Rmaxが12nm以下であることを特徴とする。 - 特許庁

wt. polyamide, (B) 0.005-1 pt. wt. ethylene bis-oleic acid amide and (C) 0.01-2 pt. wt. barium stearate is characterized in that the mean value A and standard deviation B of a spherical crystal diameter observed by a polarlizing optical microscope satisfy the following formula (1): B/A≤0.3.例文帳に追加

ポリアミド（Ａ）１００重量部に対し、エチレンビスオレイン酸アミド（Ｂ）０．００５〜１重量部、ステアリン酸バリウム（Ｃ）０．０１〜２重量部からなり、偏光光学顕微鏡で観察した球晶直径の平均値Ａ、標準偏差Ｂが、次の（１）式を満たすことを特徴とするポリアミド樹脂組成物。 - 特許庁

A method of managing an etching width includes a step of forming contact arrays R1, R2 having different intervals of contacts C1, C2, a step of wet etching an insulating layer with resist patterns corresponding to these contact arrays R1, R2 as masks, and a step of then observing the discoloring of the resist patterns of these contact arrays R1, R2 by a metallurgical microscope.例文帳に追加

コンタクトＣ１、Ｃ２の間隔が互いに異なるコンタクトアレイＲ１、Ｒ２を形成し、これらのコンタクトアレイＲ１、Ｒ２に対応したレジストパターンをマスクとして、絶縁層のウェットエッチングを行った後に、これらのコンタクトアレイＲ１、Ｒ２のレジストパターンの変色を金属顕微鏡にて観察する。 - 特許庁

As for the cover glass used for the total reflection illuminating fluorescence microscope, a substantially transparent thin film whose Young's modulus is 0.5 to 2KPa and whose refractive index is 1.4 to 1.5 exists on one surface of a glass substrate, and the thin film is formed such that many particulates are dispersed and fixed on its surface which is not in contact with the glass substrate.例文帳に追加

ガラス基板の片面上にヤング率０．５〜２ＫＰａで、屈折率１．４〜１．５の実質的に透明な薄膜が存在し、該薄膜はガラス基板と接していない表面に多数の微粒子が分散固定された全反射照明蛍光顕微鏡に用いるカバーガラスである。 - 特許庁

This substrate for information recording medium is characterized in that the period of the microscopic waviness is in 2 μm to 4 mm, wa of the substrate main surface is 5 nm or less and Rmax is 12 nm or less, where a maximum height of this microscopic waviness is wa (95% peak value) and a maximum height measured by an atomic force microscope is Rmax.例文帳に追加

情報記録媒体用基板は、微小うねりの周期が２μｍ〜４ｍｍであって、この微小うねりの最大高さをwa（95％PV値）とし、原子間力顕微鏡によって測定した最大高さをRmaxとしたとき、該基板主表面のwaが5nm以下、Rmaxが12nm以下であることを特徴とする。 - 特許庁

At the cover part 6, a panel and open and close doors 11a, 11b and a window part 14 or the like are mounted on a frame part 29, and in the frame part 29, the rear part frame body surrounding the electron microscope main body part 1 and the rear part side of the pedestal cabinet 24 and the front part frame body surrounding the front part side are coupled.例文帳に追加

カバー部６は、枠部２９にパネルや開閉扉１１ａ，１１ｂ，窓部１４などが取り付けられたものであり、枠部２９は、電子顕微鏡本体部１や架台筐体２４の後部側を囲む後部枠体と前部側を囲む前部枠体とが連結されたものである。 - 特許庁

The scanning probe microscope 1 has a constitution with the lever excitation mechanism 1a, a moving means 5 for moving relatively a probe 3a and a sample S, a measuring means 6 for measuring displacement in the vibration state of the lever 3c, and a control means 8 for collecting observation data.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡１を、レバー加振機構１ａと、探針３ａと試料Ｓとを相対的に移動させる移動手段５と、レバー３ｃの振動状態の変位を測定する測定手段６と、観測データを採取する制御手段８とを備えて構成した。 - 特許庁

When pictures are taken of element distribution of a sample and spectrum using the transmission type electron microscope of a energy filtering type, photography time of spectrum data concerning the element distribution or the spectrum pictured through a spectrometer, is time-shared so that it can respond to a drift of the sample.例文帳に追加

エネルギーフィルタ方式の透過型電子顕微鏡を用いて、試料の元素分布或いはスペクトルを撮影する場合に、分光計を通して撮影される元素分布或いはスペクトルに関する分光データの撮影時間を試料のドリフトに対応し得るように時分割する。 - 特許庁

The microscope uses the plurality of scanning optical system, and the problem is solved by controlling the 2nd scanning optical system so as to stop the irradiation with the laser light in the area, where scanning by the 1st scanning optical system and scanning by the 2nd scanning optical system overlap each other.例文帳に追加

複数の走査光学系と、この複数の走査光学系のうち第１の走査光学系の走査と第２の走査光学系の走査とが重なる領域で、第２の走査光学系のレーザ光の照射を停止する制御を行うことにより、上記課題の解決を図る。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a plate made of a resin that is suitable, when measuring the fluorescence intensity of each spot, using a microarray scanner in high-throughput screening applications in the movement of a biopolymer by a fluorescent microscope, the observation of the reaction of living organisms, gene relation, or drug design development.例文帳に追加

蛍光顕微鏡による生体高分子の動き、生物反応の観察、遺伝子関連、又は創薬開発におけるハイスループットスクリーニング用途におけるマイクロアレイスキャナーを用いた、スポット別の蛍光強度を測定する場合において好適な樹脂製プレートと製造方法を提供する。 - 特許庁

The scanning charged particle microscope device is capable of taking a high-resolution image in various conditions by calculating a beam intensity waveform based on imaging conditions and sample information, and by carrying out image restoration by using a resolution deterioration factor as a subject of a deterioration model in addition to the beam intensity waveform.例文帳に追加

撮像条件や試料情報に基づいてビーム強度波形を計算し、また、ビーム強度波形以外による分解能劣化要因も劣化モデルの対象として画像復元を行うことにより、様々な条件において高分解能な画像を取得することを可能とした。 - 特許庁

To provide an optical detecting circuit capable of expanding an optical detection dynamic range without making the SN of an optical detection signal and height data of a sample dark part worse and acquiring image data of good quality even if a sample has a large luminance difference, and a laser microscope equipped with the optical detecting circuit.例文帳に追加

試料暗部の光検出信号および高さデータのＳ／Ｎを劣化させずに光検出ダイナミックレンジを拡大し、輝度差が大きい試料であっても良質の画像データを取得することが可能な光検出回路および該光検出回路を備えたレーザー顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In the comparison step, a tool microscope 31 is used to observe the mark from the convex lens surface of the reference lens through the hole of the lens holder, and the actual fitting position of the lens holder is compared with the reference position of the reference lens to confirm the fitting accuracy of the lens holder.例文帳に追加

上記比較ステップは、工具顕微鏡３１を用いて、基準レンズの凸側レンズ面の側からレンズホルダの中空状孔を通して上記印を観察し、レンズホルダの実際の取付位置と基準レンズの基準位置とを比較して、レンズホルダの取付精度を確認する。 - 特許庁

The subject is solved by the active carbon obtained by activating the oil raw coke whose rate of optical anisotropic organization under polarization microscope observation is 90% or more and rate of an anisotropic organization classified as a sphere in the optical anisotropic organization is 50% or more.例文帳に追加

偏光顕微鏡観察下での光学的異方性組織の割合が９０％以上であり、かつ、光学的異方性組織における球状と分類される異方性組織の割合が５０％以上である石油生コークスを賦活して得られる活性炭により上記課題が達成される。 - 特許庁

The iris device to be used for an electron microscope has a structure obtained by laminating a silicon oxide film and an independent thin film on a silicon substrate successively from the silicon substrate side, and the independent thin film has a Young's modulus larger than that of the silicon oxide film and tensile stress.例文帳に追加

シリコン基板上に、前記シリコン基板側から順にシリコン酸化膜、自立薄膜が積層された構造であり、前記自立薄膜は前記シリコン酸化膜よりもヤング率が大きく、かつ引張応力を有することを特徴とする電子顕微鏡に用いる絞り装置。 - 特許庁

There is provided the CVD coated cutting tool insert including: a TiCxNy layer having a low tensile stress level of 50-390 Mpa; and Al_2O_3 having surface smoothness having a high average Ra of 0.12 μm or lower measured by an interatomic force microscope (AFM) technology.例文帳に追加

本発明は、５０〜３９０Ｍｐａの低引張応力レベルを有するＴｉＣ_ＸＮ_Ｙ層と、原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）技術によって測定される平均Ｒａが０．１２μｍ以下の高い表面平滑度を有するＡｌ_２Ｏ_３と備えるＣＶＤ被覆切削工具インサートに関する。 - 特許庁

Because an excitation light irradiation part 18 of a semiconductor laser irradiation device is disposed on the attachment 16 detachably set on an observation light intake 15 of a surgical microscope 1, the excitation light irradiation part 18 can be conveniently removed when it is not in use and maintenance (such as replacement and adjustment) becomes easier.例文帳に追加

半導体レーザー照射装置の励起光照射部１８が手術顕微鏡１の観察光の取入口１５に着脱自在なアタッチメント１６に備えられているため、不使用時には外しておくことができ便利であると共に、メンテナンス（交換調整等）も容易である。 - 特許庁

In the scanning charged-particle microscope, a passage opening for limiting the passage of charged-particle beams is arranged between a charged particle beam source and a scanning deflector, and the passage opening has a member for limiting the passage of charged-particle beams at the center of the opening.例文帳に追加

荷電粒子線の通過を制限する通過開口を、荷電粒子源と走査偏向器の間に配置し、当該通過開口は、その開口中心に荷電粒子線の通過を制限する部材を備えてなることを特徴とする走査形荷電粒子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To determine steps or unevenness formed on a sample by a simple technique or obtain three-dimensional information by using a charge particle beam device such as a scanning electron microscope, and particularly to provide a determination method or its device suitable for unevenness determination of a line and space pattern formed on a sample.例文帳に追加

走査電子顕微鏡等の荷電粒子線装置で、簡単な手法で試料上に形成された段差及び凹凸の判定、或いは３次元情報を得ることにあり、特に試料上に形成されたライン＆スペースパターンの凹凸判定に好適な判定方法、及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a three-dimensional membrane structure measuring method of a scanning probe microscope capable of measuring the surface shapes of respective layers at every manufacturing process in a manufacturing process of a semiconductor device having a multilayered structure to synthesize the measurement results and capable of analyzing and evaluating those measuring results using the data of a multilayer.例文帳に追加

多層構造を有する半導体デバイスの製造プロセスで、各層の表面形状を製造工程毎に計測し、それらの計測結果を合成し、多層のデータを用いて解析・評価することができる走査型プローブ顕微鏡の立体膜構造測定方法等を提供する。 - 特許庁

To provide a reembedding method of a slice for microscopic observation capable of improving efficiency and allowing an organism cell to be observed quickly in a method for embedding a thick slice in resin again and then slicing it again to obtain a thin slice and observing it by an electron microscope.例文帳に追加

厚切り切片を再び樹脂に包埋してから再びスライスして薄切切片とし、これを電子顕微鏡によって観察する方法で、効率の向上を図り、短時間で生物の細胞の観察ができる顕微鏡観察用切片の再包埋方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for measuring ice crystal structure inside of sample, with which the three-dimensional structure or the size distribution of an ice crystal can be measured by dying a sample with a fluorescent reagent so as to selectively react with a main component comprising the sample and observing the sample, while using fluorescent microscope functions.例文帳に追加

試料を構成する主成分と選択的に反応する蛍光試薬により染色し、蛍光顕微鏡機能を用いて観測することにより、氷結晶の三次元構造やサイズ分布を計測することができる試料内の氷結晶構造の計測方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of measuring a three-dimensional shape of a sample including a sharp tip part, in particular, a portion with two faces constituting a ridge line where the angle formed by the faces is 120° or less, or a sample having a conical part or a pyramid part with 120° or less of apex angle, using a confocal microscope.例文帳に追加

鋭利な先端部、特に稜線を構成する２面のなす角度が１２０度以下の部分を含む試料もしくは頂点の角度が１２０度以下の円錐部や角錐部を有する試料の三次元形状を、コンフォーカル顕微鏡を用いて計測する方法を提供すること。 - 特許庁