「microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(178ページ目) - Weblio英語例文検索

The method of fabricating the acicular sample for field ion microscopy includes a process for machining the desired part of the sample to be observed with a field ion microscope into an acicular shape by irradiating the sample with a focused charged-particle beam, a process for cutting the acicular sample away from a sample base, and a process for fixing the cut acicular sample to an electrode bar.例文帳に追加

電界イオン顕微鏡観察用針状試料の作製方法は、集束した荷電粒子ビームを照射することにより電界イオン顕微鏡で観察する所望の箇所を針状に加工する工程と、針状試料を試料基板から切り離し摘出する工程と、摘出した針状試料を電極棒に固定する工程を含むことを特徴とする。 - 特許庁

In the component for glassy carbon CVD device, when observing a field of view of 50μm×50μm on its surface by a scanning electron microscope, at least five holes of 1-10μ in diameter exist, or the total length of a linear hole of 0.5-5μm in width is at least 50μm in the field of view.例文帳に追加

ガラス状炭素製ＣＶＤ装置用部品であって、該部品の表面について、走査型電子顕微鏡を用いて観察した５０μｍ×５０μｍの視野中に、直径１〜１０μｍの孔が、少なくとも５個存在するか、該視野中に存在する幅０．５〜５μｍの線状孔の全長さが、少なくとも５０μｍであることを特徴とするガラス状炭素製ＣＶＤ装置用部品である。 - 特許庁

The transparent composite material comprises a transparent resin (a) and a glass filler (b) and has ≤150°C temperature expressing the minimum value of light volume when temperature dependence of the permeated light volume is measured by putting the transparent composite material in a deflection microscope in which the deflection axis intersects 90°at an angle expressing the maximum light volume in a transparent mode.例文帳に追加

透明樹脂（ａ）及びガラスフィラー（ｂ）から構成される透明複合体であって、前記透明複合体を偏向軸が９０°に交差した偏向顕微鏡に設置し、透過モードで透過する光量が最大値を示す角度において、透過する光量の温度依存性を測定した場合に、光量の最小値を示す温度が１５０℃以下である透明複合体。 - 特許庁

The confocal measuring system applies a measuring system 2 comprising a scanning trigger supply part 15 corresponding to a scanning cycle of a sample S by the Nieuwpoort disk 10 by detecting rotation of the Nieuwpoort disk 10 to the confocal microscope 1 acquiring a confocal image of the sample S generated by the Nieuwpoort disk 10 and an image acquiring device 20 for acquiring the confocal image of the sample S.例文帳に追加

ニポウ円盤１０によって生成される試料Ｓの共焦点像を取得する共焦点顕微鏡１に対し、ニポウ円盤１０の回転を検出し、ニポウ円盤１０による試料Ｓの走査周期に対応する走査トリガ信号を供給する走査トリガ供給部１５と、試料Ｓの共焦点像を取得する画像取得装置２０とを備える計測システム２を適用する。 - 特許庁

In the scanning probe microscope, the tube scanner is the above-mentioned tube scanner.例文帳に追加

また、試料と、前記試料に対向する探針と、前記試料と前記探針を相対的に２次元走査すると共に、試料と探針との間の距離を変化させるチューブスキャナと、を備え、前記探針と前記試料との間に作用する物理量により検出される信号に基づいて像を表示する走査形プローブ顕微鏡において、チューブスキャナが前記チューブスキャナであることを特徴とする走査形プローブ顕微鏡。 - 特許庁

(b) an average primary particle size of the silica particles measured by a nitrogen adsorption method is 5-100 nm and a coefficient of variation CV value of a particle size of the silica particles measured by an image analysis of a photograph obtained by using a transmission electron microscope is 0-15%; and (c) the polyethylene glycol has a number-average molecular weight of 200-15,000.例文帳に追加

（ａ）：前記シリカ粒子の形状係数ＳＦ１が１．００〜１．２０であること（ｂ）：前記シリカ粒子の窒素吸着法により求められる平均一次粒子径が５〜１００ｎｍであって、且つ透過型電子顕微鏡写真の画像解析から求められる粒子径変動係数ＣＶ値が０〜１５％であること（ｃ）：前記ポリエチレングリコールは、数平均分子量が２００〜１５０００であること - 特許庁

The scanning laser microscope 100 is equipped with a stage 101 on which a specimen 105 is placed, a first scanning optical system A for scanning the specimen 105 placed on the stage 101 with a first light beam, a second scanning optical system B for scanning the specimen 105 placed on the stage 101 with a second light beam, and a detecting optical system C for obtaining the confocal scanning image.例文帳に追加

走査型レーザー顕微鏡１００は、標本１０５が載置されるステージ１０１と、ステージ１０１に載置された標本１０５に対して第一光ビームを走査する第一走査光学系Ａと、ステージ１０１に載置された標本１０５に対して第二光ビームを走査する第二走査光学系Ｂと、共焦点走査画像を得るための検出光学系Ｃを備えている。 - 特許庁

The thermoplastic resin composition is obtained by compounding 15-50 wt.% polyamide resin (a) and 50-85 wt.% polylactic acid resin (b), and forming a phase structure, wherein, in resin phase separation structure observed by an electron microscope, the polyamide resin (a) forms a continuous phase and the polylactic acid resin (b) forms a continuous phase or a dispersed phase.例文帳に追加

ポリアミド樹脂（ａ）１５〜５０重量％およびポリ乳酸樹脂（ｂ）５０〜８５重量％を配合してなる熱可塑性樹脂組成物であり、かつ電子顕微鏡で観察される樹脂相分離構造においてポリアミド樹脂（ａ）が連続相、ポリ乳酸樹脂（ｂ）が分散相または連続相となる相構造を形成することを特徴とする熱可塑性樹脂組成物。 - 特許庁

The scanning probe microscope 100 comprises a cantilever 110 for examining a sample, mechanism 120 for scanning the cantilever 110, light source section 140 emitting a light beam, mirror 170 for directing a light beam from the light source 140 toward the cantilever 110, and section 160 for detecting a light beam reflected on the cantilever 110.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡１００は、試料を調べるためのカンチレバー１１０と、カンチレバー１１０を走査するための走査機構１２０と、光ビームを射出する光源部１４０と、光源部１４０からの光ビームをカンチレバー１１０に方向付ける方向付けミラー１７０と、カンチレバー１１０で反射された光ビームを検出するための光検出部１６０とを備えている。 - 特許庁

An optical magnification device for varying the distance between an observer's eye (1) and an object (7), e.g. for a binocular magnifier or a microscope, in which focusing onto the object (7) is accomplished by means of progressive and/or multifocal lenses (3) displaceable perpendicular to the observation beam(s) 2.例文帳に追加

観察者の眼と被検試料との間の距離調節装置と、少なくとも２つの光学レンズとを有するとりわけ顕微鏡又は望遠眼鏡等の光学拡大装置において、光学レンズの少なくとも一方は、前記被検試料（７）上で合焦するよう、観察光ビームの光軸（２）に対し横断方向に摺動可能な多焦点レンズ及び／又はプログレッシブレンズ（３）として構成する。 - 特許庁

The silica-titania composite oxide particle produced by a vapor deposition method has a titania content of 50 wt.% or more, a BET specific surface area of 100 m^2/g or less, a containing rate of a silica single particle and a titania single particle by electron microscope observation of 10% or less, favorably 5% or less, and a hydrophobic surface.例文帳に追加

気相法によって製造されたシリカ・チタニア複合酸化物粒子であって、チタニアの含有量が５０重量％以上、ＢＥＴ比表面積が１００ｍ^2／ｇ以下、電子顕微鏡観察下においてシリカ単独粒子およびチタニア単独粒子の割合が１０％以下、好ましくは５％以下であり、表面が疎水化されているシリカ・チタニア複合酸化物粒子。 - 特許庁

The work function measuring instrument 100A is constituted so as to calculate the work function of the probe 2A of a conductive cantilever 1A from the known work function value of each region of a standard sample 3A calculated by photoelectron spectroscopy and the surface potential value of each region of the standard sample 3A measured by a scanning Kelvin force microscope having the conductive cantilever 1A.例文帳に追加

仕事関数測定装置１００Ａは、光電子分光法により求められた標準試料３Ａの各領域の既知の仕事関数値と、導電性カンチレバー１Ａを有する走査型ケルビンフォース顕微鏡により計測された標準試料３Ａの各領域の表面電位値とから、導電性カンチレバー１Ａの深針２Ａの仕事関数を算出する。 - 特許庁

The near field scanning optical microscope laser processing device is comprised of a laser beam source 110 generating a laser beam with the peak wavelength, an NSOM prove 110, a binding substrate 124 formed by materials substantially transmitting the laser peak wavelength, an NSOM mount holding the NSOM probe and the binding substrate controllably, an NSOM controller, and a photodetector combined optically with the NSOM mount.例文帳に追加

ピーク波長を有するレーザ光を発生するレーザ光源１１０と、ＮＳＯＭプローブ１１０と、レーザピーク波長をほぼ伝達する材料によって形成した結合サブストレート１２４と、ＮＳＯＭプローブおよび結合サブストレートを制御可能に保持するＮＳＯＭマウントと、ＮＳＯＭコントローラと、ＮＳＯＭマウントに光学的に結合される光検出器とを有する。 - 特許庁

The microscope device includes the predetermined rotatable optical element which is present on an optical axis and is configured to adjust optical environment, a rotating means which rotates the optical element, and a control means which controls the rotating means to control so that the rotating direction of the optical element is a first rotating direction at least when stopping the rotation of the optical element.例文帳に追加

光軸上に存在し、光学環境を調整するための回転可能な所定の光学素子と、前記光学素子を回転させる回転手段と、少なくとも前記光学素子の回転を停止させる場合、前記回転手段を制御して、該光学素子の回転方向を第１の回転方向で制御する制御手段と、を備える顕微鏡装置により、上記課題の解決を図る。 - 特許庁

To provide a near-field light detection method and a device therefor having excellent spatial resolution and detection sensitivity of a near field, measuring a space distribution of near-field light by examining an electric potential distribution of surface plasmon excited by the near-field light by a Kelvin force microscope having spatial resolution of an atom to a nanometer order.例文帳に追加

本発明は、原子〜ナノメートルの空間分解能を持つケルビンフォース顕微鏡により、このこの近接場光により励起される表面プラズモンの電位分布を調べることにより、近接場光の空間分布を計測するものであり、空間分解能と近接場の検出感度に優れる近接場光検出方法およびその装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

This confocal laser scanning microscope having at least one detector 4 to detect detecting light 3 coming from at least one laser beam source 1 for irradiating a sample 2 is provided with additional light source 5 and 8 which are not single mode (TEM00) laser beam sources in order to extend the use of the CLSM while using the light source which is inexpensively acquired and operated.例文帳に追加

試料（２）を照射するための少なくとも１つのレーザ光源（１）および試料からくる検出光（３）を検出するための少なくとも１つの検出器（４）を有する共焦点レーザ走査顕微鏡は、獲得および運転が低コストである光源の使用に関して、ＣＬＳＭ用途を拡張するために、単一モード（ＴＥＭ００）レーザ光源ではない追加光源（５，８）が設けられる。 - 特許庁

Thymine is fixed on a conductive surface of a substrate, a bias voltage applied between a probe and the substrate is varied with a distance between the probe of the scanning probe microscope and thymine fixed, a tunneling current flowing between the probe and thymine is measured, to find an inflection bias voltage wherein a variation rate of the tunneling current logarithmically transformed with respect to the bias voltage varies.例文帳に追加

表面が導電性をもつ基板表面にチミンを固定し、走査型プローブ顕微鏡のプローブとチミン間の距離を固定した状態でプローブと基板間に加えるバイアス電圧を変化させてプローブとチミンとの間に流れるトンネル電流を測定し、バイアス電圧に対する対数変換されたトンネル電流の変化率が変化する変曲バイアス電圧を求める。 - 特許庁

The scanning electron microscope includes at least two memories for temporarily storing image data; a control part for starting to transfer first image data stored in the first memory out of the two memories, to the external device and setting imaging conditions for the second image data; and a memory selecting part for temporarily storing the second image data imaged under the set imaging conditions, into the second memory.例文帳に追加

画像データを一時格納する少なくとも２個のメモリと、該メモリのうちの第一のメモリへ格納された第一の画像データの外部装置への転送の開始とともに、次の第二の画像データの撮像条件設定を行う制御部と、該設定された撮像条件で撮像された第二の画像データを第二のメモリへ一時格納させるメモリ選択部とを備える。 - 特許庁

The preprocessing device 2 prepares the test water so as to meet a measurement condition, and the particle amount quantifying device 3 obtains an image of the test water by using a microscope and processes the image thereby quantifying the amount of colored particles, and the transparency calculating device 4 refers to a calibration curve measured beforehand and calculates the transparency from a value obtained by the particle amount quantifying device 3.例文帳に追加

前処理装置２は検水を測定条件に合わせ調製するものであり、粒子定量化装置は３、顕微鏡による該検水の画像を取り込み、該画像の処理をして着色粒子量を定量化するものであり、透視度算出装置４は、予め測定された検量線を参照し、前記粒子定量化装置３で得られた値から透視度を算出するものである。 - 特許庁

A cantilever provided with a spherical member in a tip part of a probe is used in this scanning probe microscope for measuring the sample surface properties, comprising the cantilever having the fine probe in its tip part, a means for detecting a displacement of the cantilever, a means for oscillating the cantilever or the sample at a fixed cycle by a desirable amplitude quantity, and a sample moving means for moving the sample.例文帳に追加

先端に微小な探針を有するカンチレバーとカンチレバーの変位を検出する手段とカンチレバーまたは試料を一定周期で所望の振幅量で振動させる手段と試料を移動させる試料移動手段からなり、試料の表面物性を測定する走査型プローブ顕微鏡において、探針の端部に球状のものを設けたカンチレバーを使用することにした。 - 特許庁

A unit region where the pattern is formed is detected from the acquired image of the scanning probe microscope to calculate various characteristics in the detected unit region, and the irregularity of the various characteristics in a measuring region, the correlation between respective characteristics, the two-dimensional arrangement precision of each region in the measuring region and the like are displayed to easily grasp the characteristics of the pattern.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡の取得画像から、パターンを形成する単位領域の検出を行い、各検出単位領域内における各種特性を算出し、測定領域内での各種特性のばらつき、各特性間の相関、測定領域内での各領域の二次元配列精度等を表示してパターンの特性が容易に把握できるようにする。 - 特許庁

An SEM control means 41 of a scanning electron microscope device body 10 is set at a maintenance mode via a computer 50 processing an operation function about an observation operation processed with a normal SEM control means 41, or an output function about an observation operation via a data telecommunication line 80 from a maintenance computer 60 of a development base, a service center or the like of the manufacturer.例文帳に追加

メーカの開発拠点・サービスセンタのメンテナンスコンピュータ６０から、データ通信回線８０を介して、通常のＳＥＭ制御手段４１との間で実行する観察作業に関わる操作機能や観察作業に関わる出力機能を実行するコンピュータ５０を経由して、走査電子顕微鏡装置本体１０のＳＥＭ制御手段４１をメンテナンスモードに設定する。 - 特許庁

To provide an apparatus to generate the harmonics of the irradiated laser beam from a fine area by irradiating the laser beam on the fine area of the nanometer order of a non-linear optical substance layer, a scan probe microscope to analyze the molecular orientation structure with the resolution of the nanometer order using this harmonic generator, and a display device of extremely high screen quality by the pixels of the nanometer order.例文帳に追加

非線型光学物質層のｎｍオーダーの微細領域にレーザー光を照射し、該微細領域から該照射レーザー光の高調波を発生させる装置、更にこの高調波発生装置を用いてｎｍオーダーの分解能で分子配向構造を分析できる走査プローブ顕微鏡およびｎｍオーダーの画素による極めて高画質の表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for quantitatively measuring the surface potential distribution of a solid, especially a semiconductor with high space dissolving capacity using a scanning type tunnel microscope by solving the conventional technical problem that the distance between a probe and the surface of a sample and the thickness of the depleted layer of the surface of the sample are unclear and the measurement in the depleted layer region is difficult, and an apparatus therefor.例文帳に追加

探針／試料表面距離が不明、試料表面の空乏層 厚が不明、空乏層領域での計測が困難、という従来技術の問題点を解決し、固体表面、特に半導体表面の表面電位分布を、走査型トンネル顕微鏡を用いて高い空間分解能で定量的に計測する方法とそのための装置を提供する。 - 特許庁

In the case of measuring the surface area of the cured product subjected to desmear processing in a measuring region having a size of 100 μm×100 μm by using an atomic force microscope when the cured product subjected to the desmear processing by using the thermosetting film is obtained, the surface area of the cured product subjected to the desmear processing in the measuring region is 20000 μm^2 or larger.例文帳に追加

上記熱硬化性フィルムを用いたデスミア処理された硬化物を得たときに、原子間力顕微鏡を用いて、１００μｍ×１００μｍの大きさの測定領域における上記デスミア処理された硬化物の表面積を測定した場合に、測定領域における上記デスミア処理された硬化物の表面積が２００００μｍ^２以上である。 - 特許庁

The system comprises an optical tweezers unit 2 which holds a particle 20, a lens 10 and an actuator 16 which move the particle 20 toward the object 35, a tetrameric photodetector 15 which measures a force acting on the object 35 from the particle 20, and a confocal unit 3 and a microscope unit 4 which enlarge the object 35 to observe.例文帳に追加

微粒子２０を保持する光ピンセットユニット２と、微粒子２０を測定対象物の方へ移動させるレンズ１０およびアクチュエーター１６と、微粒子２０から測定対象物３５に作用する力を計測する４分割光検出器１５と、測定対象物３５を拡大して見ることが可能な共焦点ユニット３および顕微鏡ユニット４とを備えている。 - 特許庁

In the probe 10 of the scanning tunneling microscope and its manufacturing method, the probe 10 is formed from metal such as tungsten, a tip surface 12 of the probe 10 has a buffer layer such as a carbonization coating film, and a carbon nanotube 13 is extended from the buffer layer such as the carbonization coating film of the tip surface 12 of the probe 10.例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡の探針１０において、探針１０はタングステン等の金属で形成され、探針１０の先端表面１２は炭化コーティング膜等のバッファー層を有し、探針１０の先端表面１２の炭化コーティング膜等のバッファー層からカーボンナノチューブ１３が延設されている走査型トンネル顕微鏡の探針１０とその製造方法である。 - 特許庁

The high pressure sample container for the optical microscopic observation 10 for observing the sample under high pressure by a microscope includes: a container body 12; a cover 14 detachably attached to the container body 12; and an observation window 32 provided in at least one of the container body 12 and the cover 14 and emitting light emitted from the sample.例文帳に追加

本発明は、高圧力下における試料を顕微鏡観察するための光学顕微観察用高圧力試料容器１０であって、容器本体１２と、この容器本体１２に着脱可能に装着される蓋体１４と、前記容器本体１２及び前記蓋体１４の少なくとも一方に設けられ、試料から放射される光を放出する観察窓３２とを備えている。 - 特許庁

The method for manufacturing the concentrated composition containing the α-sulfofatty acid alkyl ester salt comprises concentrating the composition containing the α-sulfofatty acid alkyl ester salt to a water content of 13% or lower by a simple concentration operation so that the phase state of the composition has been converted, after concentrated, into a hexagonal phase state at 70°C as confirmed by observation by a polarization microscope.例文帳に追加

α−スルホ脂肪酸アルキルエステル塩を含有する組成物を簡易濃縮操作により水分量を１３％以下に濃縮するにあたり、濃縮後の組成物の相状態が偏光顕微鏡観察で確認した際に７０℃の温度でヘキサゴナル相状態となっていることを特徴とするα−スルホ脂肪酸アルキルエステル塩含有濃縮組成物の製造方法。 - 特許庁

The microscope apparatus is provided with the first scanning optical system A for obtaining the scanning image of a specimen and the second scanning optical system B for developing a specific phenomenon in the specific area of the specimen, means 30 for performing laser scanning independently with each of the first scanning optical system and the second scanning optical system and operation recording means 23 for recording the operation of the laser scanning.例文帳に追加

標本の走査画像を得るための第１の走査光学系Ａと、標本の特定の部位に特異現象を発現させるための第２の走査光学系Ｂと、前記第１の走査光学系と前記第２の走査光学系のそれぞれについて、独立してレーザ走査を行う手段３０と、前記レーザ走査の動作を記録する動作記録手段２３と、を備えた。 - 特許庁

It is preferable to set the irradiation spot of the pulse laser by setting a threshold for the thickness distribution data obtained with the microscope and setting the sample area on the sample base having the thickness over the threshold as the ionization area or by checking against a calibration curve which indicates the relation between the thickness of the sample and the mass spectrum of ions generated by laser irradiation.例文帳に追加

パルスレーザーの照射場所の設定は顕微鏡によって求められる厚さ分布データに対して閾値を設定し、当該閾値以上の厚さを有するサンプル台上の試料領域をイオン化領域として設定することにより行うか、或いは試料の厚さとレーザー照射で生じるイオンの質量スペクトルとの関係を示す検量線と照合することにより行うのが好ましい。 - 特許庁

The microscope for observing a specimen cultured in a culture vessel is provided with a focusing part to adjust the focus to at least two planes comprising the first plane containing the specimen in the culture vessel and the second plane different from the first plane based on a prescribed condition and an image taking part to take images on the first and the second planes to form images.例文帳に追加

培養容器で培養される試料を観察する顕微鏡であって、培養容器において試料が存在する第１の面と、所定の条件に基づいて、第１の面と異なる第２の面との少なくとも２つの面に対して焦点調節を行う焦点調節部と、第１の面と第２の面とにおいて、撮像して画像を生成する撮像部とを備える。 - 特許庁

In the imaging recipe generating apparatus for SEM observation of a semiconductor pattern using a scanning type electronic microscope, a CPU (CAD image generating unit) 1251 for generating a CAD image by conversion into the image on the basis of the CAD data is constituted with an image quantizing width determining processing unit 12511, a luminosity information assignment processing unit 12512, and a pattern shape conversion processing unit 12513.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いて半導体パターンをＳＥＭ観察するための撮像レシピ作成装置において、ＣＡＤデータを基に画像に変換してＣＡＤ画像を作成するＣＰＵ（ＣＡＤ画像作成部）１２５１を、画像量子化幅決定処理部１２５１１と明度情報付与処理部１２５１２とパターン形状変形処理部１２５１３とで構成する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope that can concurrently perform SEM observation and sample processing in a single instrument, automatically return the specimen holder to its home position after the processing, and rapidly introduce it into the sample chamber.例文帳に追加

本発明は走査電子顕微鏡に関し、更に詳しくは試料加工室を持つ走査電子顕微鏡に関し、一つの装置でＳＥＭ観察と試料加工を同時進行で行なうことができ、かつ処理後の試料ホルダの位置を自動的にホームポジションに戻すことができ、試料室への導入を速やかに行なうことができる走査電子顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁

This electron microscope is provided with the visible light imaging part for imaging a visible light observation image which is attached to the sample table 33 movable at least on the XY plane, and the visible light imaging part is adjusted in a position and an angle in which the visible light observation image of the sample mounted on the sample table 33 is imaged in a state being attached to the sample table 33.例文帳に追加

この電子顕微鏡は、少なくともＸＹ平面上を移動可能な前記試料台３３上に装着される、可視光観察像撮像用の可視光撮像部を備え、可視光撮像部は試料台３３に装着された状態で、試料台３３上に裁置される試料の可視光観察像を撮像可能な位置及び角度に調整されている。 - 特許庁

The lighting device for lighting an object to be observed with a microscope is provided with: a plurality of single wavelength light sources different from one another in wavelength; a contrast detecting part which detects a level of contrast of the observation image made by observing the lighted object; and an intensity ratio setting part which sets an intensity ratio of the plurality of single wavelength light sources depending on the contrast detected by the contrast detecting part.例文帳に追加

顕微鏡で観察する被観察物を照明する照明装置であって、互いに波長の異なる複数の単波長光源と、照明された被観察物を観察した観察像のコントラストの大きさを検出するコントラスト検出部と、コントラスト検出部により検出されたコントラストに応じて、複数の単波長光源の強度比を設定する強度比設定部とを備える。 - 特許庁

In a confocal laser microscope 100, an information recording part 10 is configured to record luminance information detected by an optical detector 6 and position information acquired by a position detection part 8 in association with each other by a specific moving method for changing a sample 5 and/or an objective lens 4 to either the increasing direction or reducing direction of their mutual relative distance by a driving mechanism 7.例文帳に追加

共焦点レーザ顕微鏡１００において、情報記録部１０は、駆動機構７で試料５および／または対物レンズ４を、互いの相対距離の増大方向または縮小方向のいずれかの方向へ変化させる特定移動方法により、光検出器６が検出した輝度情報と位置検出部８が取得した位置情報とを相互に関連付けて記録する。 - 特許庁

In this analysis method using the electron microscope for analyzing the material distribution condition of the material inside the capsule of the observation sample including the capsule, the observation sample including the capsule is prepared by irradiating the capsule storing a compound having a polymerizing group with ultrasonic waves.例文帳に追加

カプセルを含む観察用試料のカプセル内の材料の分布状態を電子顕微鏡により解析する方法であって、前記カプセルを含む観察用試料として、重合性基を有する化合物が内包されたカプセルに超音波を照射した観察用試料を用いることを特徴とするカプセル内の材料の分布状態を電子顕微鏡により解析する方法。 - 特許庁

To provide a laser scanning microscope in which an optical filter and a mechanical driving part requiring high position reproducing accuracy are not necessitated and the change of a device constitution is not necessitated for the various kinds of the combinations of exciting wavelength and a fluorescent pigment, by which the multiexcited fluorescent image of a sample multi-colored can be obtained by one photodetector by having a high S/N and whose constitution is simple.例文帳に追加

光学フィルタや高度な位置再現精度を要する機械駆動部を必要とせず、励起波長や蛍光色素の各種組み合わせに対しても装置構成の変更を必要としない、多重染色された標本の多重励起蛍光像を一つの光検出装置でも高いＳ／Ｎをもって得ることの出来る、簡易な構成のレーザ走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This autocollimetor for irradiating an object to be measured with parallel light, and for measuring the inclination of the object to be measured by confirming reflected light thereof has a collimator lens for collimating the light to irradiate the object to be measured into the parallel light, and a microscope lens provided to be put in and out freely between the collimator lens and the object to be measured to converge the parallel light by the collimator lens.例文帳に追加

被測定物に対して平行光を照射し、その反射光を確認することにより被測定物の傾きを測定するオートコリメータであって、前記被測定物への照射光を平行光とするためのコリメートレンズと、前記コリメートレンズと前記被測定物との間に出し入れ自在に設けられ、前記コリメートレンズによる平行光を集光する顕微鏡レンズとを有する。 - 特許庁

An illumination means 10 which is attached to the slit lamp microscope and can irradiate the eye of the patient with light, a control box 11 which allows the illumination means 10 to emit light by synchronizing with timing that the video capture means 5 fetches a photographing picture from the imaging device 4, and a cable 12 for providing electric power from the control box 11 to each illumination means 10 are included.例文帳に追加

細隙灯顕微鏡に取り付けられて患者の眼に光を照射し得る照明手段１０と、ビデオキャプチャー手段５が撮像装置４から撮影画像を取り込むタイミングに同期して、照明手段１０から光を照射させるコントロール・ボックス１１と、コントロール・ボックス１１から各照明手段１０に電力を供給するケーブル１２を備える。 - 特許庁

The toner for electrostatic image development includes at least a binder resin, a colorant and a charge control agent, wherein the surface potential of an arbitrary surface of the toner particles for electrostatic image development after contact charging measured by a surface potential measuring mode of a scanning probe microscope varies from the surface potential before the contact charging by ≥±1,000 mV.例文帳に追加

少なくともバインダー樹脂、着色剤、荷電制御樹脂を含む静電荷像現像用トナーであって、走査型プローブ顕微鏡の表面電位測定モードで測定した接触帯電処理後の該静電荷像現像用トナー粒子の任意の表面の表面電位が、該接触帯電処理前の表面電位に対し正又は負に１，０００ｍＶ以上変化することを特徴とする静電荷像現像用トナー。 - 特許庁

The evaluation method of the formation of the serum protein composite to the biometal includes a process <1> for incubating the biometal in serum, a process <2> for washing the biometal with a buffer solution, a process <3> for washing the biometal with refined water and a process <4> for observing the presence of the formation of the serum protein composite to the biometal by a scanning electron microscope.例文帳に追加

生体用金属に対する血清タンパク質複合体形成の評価方法であって、少なくとも、＜１＞生体用金属を血清中でインキュベーションする工程、＜２＞緩衝液で洗浄する工程、＜３＞精製水で洗浄する工程、および、＜４＞生体用金属に対しての血清タンパク質複合体形成の有無を走査型電子顕微鏡で観察する工程を含むことを特徴とする。 - 特許庁

This system comprises a camera 9 for photographing a medium under cell culture via a microscope, multivaluating means 3 and 5 for multivaluating two-dimensional image data photographed by the camera 9, and run length measuring means 3 and 5 for determining the run length of an image data portion corresponding or not corresponding to cells in a straight measurement line crossing the two-dimensional image data multivaluated by the means 3 and 5.例文帳に追加

顕微鏡を介して細胞培養している培地を撮影するカメラ９と、カメラ９で撮影した２次元画像データを多値化する多値化手段３、５と、多値化手段３、５で多値化した２次元画像データを横切る直線状の計測ラインにおける細胞に対応する画像データ部分のランレングス、または、細胞に対応していない画像データ部分のランレングスを求めるランレングス計測手段３、５とを備えた構成とする。 - 特許庁

An inverted microscope 1 includes a reflection member 15 for reflecting at least part of an infinite luminous flux condensed by an objective optical system 3, an imaging optical system 16 for condensing the infinite luminous flux reflected by the reflection member 15 to form an image of a subject A, and an eyepiece optical system 20 for enlarging the image of the subject A formed by the imaging optical system 16.例文帳に追加

対物光学系３により集光された無限遠光束の少なくとも一部を反射する反射部材１５と、該反射部材１５により反射された無限遠光束を集光して被写体Ａの像を結像させる結像光学系１６と、該結像光学系１６により結像される被写体Ａの像を拡大する接眼光学系２０とを備える倒立顕微鏡１を提供する。 - 特許庁