「microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(77ページ目) - Weblio英語例文検索

To obtain a scanning type probe microscope for effectively inhibiting the decrease in measurement accuracy.例文帳に追加

測定精度の低下を効果的に抑制することができる走査型プローブ顕微鏡を得る。 - 特許庁

ELECTRON BEAM ADJUSTING METHOD, CHARGED PARTICLE OPTICAL SYSTEM CONTROL DEVICE, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子ビームの調整方法，荷電粒子光学系制御装置、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

MAPPING TYPE ELECTRON MICROSCOPE, SEMICONDUCTOR FLAW INSPECTION DEVICE AND MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

写像型電子顕微鏡、半導体欠陥検査装置及び半導体デバイスの製造方法 - 特許庁

To provide a fluorescence microscope capable of realizing multicolor fluorescence observation nearly in real time.例文帳に追加

多色蛍光観察をほぼリアルタイムで実現可能な蛍光顕微鏡等を提供する。 - 特許庁

To provide a laser scanning confocal microscope capable of high speed FRAP experiment.例文帳に追加

高速なＦＲＡＰ実験を可能にするレーザー走査型共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

MALARIA MICROSCOPE, EXCITATION FILTER FOR USE IN THE SAME, AND OBSERVATION METHOD OF MALARIA PLASMODIA例文帳に追加

マラリア顕微鏡及びそれに用いる励起フィルター並びにマラリア原虫の観察方法 - 特許庁

CIRCULAR CYLINDER TYPE PIEZOELECTRIC ACTUATOR AND PIEZOELECTRIC ELEMENT AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THOSE例文帳に追加

円筒型圧電アクチュエータおよび圧電素子ならびにそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SEPARATING DIFFERENT EMISSION WAVELENGTHS IN SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

走査顕微鏡において複数の異なる放射波長を分離するための方法及び装置 - 特許庁

MULTIFUNCTIONAL CANTILEVER, SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND METHOD FOR CUTTING OBJECT TO BE PROCESSED例文帳に追加

多機能カンチレバー及び走査型プローブ顕微鏡並びに加工対象物の切削方法 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of measuring lengths and inspecting defects with one unit.例文帳に追加

一台で、測長と欠陥検査が可能な走査型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

MICRO-GRID FOR HOLDING SPECIMEN OF ELECTRON MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD OF THE SPECIMEN例文帳に追加

電子顕微鏡試料支持用マイクログリッド及び電子顕微鏡試料の作製方法 - 特許庁

To realize a tilt angle variable lens barrel for a microscope at low cost by a compact mechanism.例文帳に追加

顕微鏡の傾斜角度可変鏡筒を低コストで、しかもコンパクトな機構で実現する。 - 特許庁

CONFOCAL SCANNING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE DEVICE AND THREE-DIMENSIONAL TOMOGRAPHIC OBSERVATION METHOD例文帳に追加

共焦点走査透過型電子顕微鏡装置及び３次元断層像観察方法 - 特許庁

PREPARATION METHOD OF SLICED SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE STAND USED THEREFOR例文帳に追加

透過電子顕微鏡用薄片試料の作製方法、及びそれに用いる試料台 - 特許庁

A camera 30 images an observed image of a sample acquired by a microscope 10.例文帳に追加

カメラ３０は、顕微鏡１０により取得される標本の観察像を撮影する。 - 特許庁

SURGERY MICROSCOPE WITH OBSERVATION OBJECT FIELD ILLUMINATION, AND CONTROL METHOD FOR MICROSCOPIC ILLUMINATION例文帳に追加

観察対象野照明を有する手術顕微鏡及び顕微鏡照明制御方法 - 特許庁

METHOD FOR ALIGNING ROTARY AXIS OF CHUCK TABLE AND CENTER OF MICROSCOPE IN CUTTER例文帳に追加

切削装置におけるチャックテーブルの回転軸と顕微鏡の中心との位置合わせ方法 - 特許庁

ATTACHMENT MODULE FOR FUNDUS EXAMINATION AND OPERATION MICROSCOPE WITH IT例文帳に追加

眼底検査用アタッチメントモジュール及び眼底検査用アタッチメントモジュールを付けた手術顕微鏡 - 特許庁

ALIGNMENT MICROSCOPE, METHOD FOR DETECTING MARK AND METHOD FOR MANUFACTURING STACKED SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

アライメント顕微鏡、マーク検出方法及び積層型半導体装置の製造方法 - 特許庁

DISK, AND CELL COUNTING AND OBSERVATION APPARATUS OF CELLS BY OPTICAL MICROSCOPE USING DISK例文帳に追加

ディスク及び該ディスクを用いた光学式顕微鏡による細胞の計数観察装置 - 特許庁

A two-dimensional image of a measurement target object is acquired using a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いて、測定対象物の二次元画像を取得する。 - 特許庁

To perform correction of machine difference for every optical system of an electron microscope without complicating it.例文帳に追加

電子顕微鏡の電子光学系毎の機差補正を複雑にすることなく行う。 - 特許庁

MICROSCOPE CONTROL DEVICE, IMAGE MANAGEMENT SERVER, IMAGE PROCESSING METHOD, PROGRAM, AND IMAGE MANAGEMENT SYSTEM例文帳に追加

顕微鏡制御装置、画像管理サーバ、画像処理方法、プログラム及び画像管理システム - 特許庁

QUANTUM LINE-SUPPORTED ATOMIC FORCE MICROSCOPIC METHOD, AND QUANTUM LINE-SUPPORTED ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

量子線支援原子間力顕微法および量子線支援原子間力顕微鏡 - 特許庁

To provide a method for simplifying astigmatism correcting work of a scanning type charged particle microscope.例文帳に追加

走査形荷電粒子顕微鏡の非点収差補正作業の簡易化方法に関する。 - 特許庁

The front tip of the probe 2 is detected by a microscope 6a fitted to a wafer stage 4.例文帳に追加

ウェハステージ４に取り付けた顕微鏡６ａでプローブ針２の先端を検出する。 - 特許庁

SPECIMEN FOR OBSERVATION, ITS PREPARATION METHOD, AND OBSERVATION METHOD BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

観察用試料およびその作製方法ならびに透過電子顕微鏡による観察方法 - 特許庁

To provide a microscope which can be changed over from a laser scanning microscope to a total reflection fluorescent microscope inexpensively and speedily without the need for a new offset mechanism and a drive unit, moreover, correspondingly to a plurality of objective lenses with different pupil positions.例文帳に追加

レーザー走査型顕微鏡から全反射蛍光顕微鏡へと、新たなオフセット機構と駆動装置を必要とすることなく安価かつ迅速に、しかも、瞳位置の異なる複数の対物レンズに対応して、切り替えることができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an atomic force microscope having low sensitivity to low frequency environmental noise.例文帳に追加

低周波環境ノイズに対して感度が低い原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of reducing labor for searching an analysis point.例文帳に追加

解析箇所を探す手間を少なくすることが可能な走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The electron microscope and the processing system constituted for executing this method are provided.例文帳に追加

並びに、この方法を実施するように構成された電子顕微鏡及び加工システム。 - 特許庁

LASER SCAN TYPE MICROSCOPE HAVING COLLIMATOR OPTICAL SYSTEM AND/OR PIN HOLE OPTICAL SYSTEM例文帳に追加

視準器光学系および／またはピンホール光学系を有するレーザ走査型顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE DEVICE, NANO TWEEZERS DEVICE, AND SAMPLE SURFACE SHAPE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡装置、ナノピンセット装置および試料表面形状観察方法 - 特許庁

To measure the deviation of an electron beam scanning axis with a stage moving axis of a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査電子顕微鏡の電子ビーム走査軸とステージ移動軸のずれを測定する - 特許庁

To provide a sample supporting cartridge and a sample holder suitable for observation by a microscope.例文帳に追加

顕微鏡観察用に適した試料支持用カートリッジ及び試料ホルダーを提供する。 - 特許庁

INTERFEROMETER, MICROSCOPE FOR SURGICAL OPERATION, AND INTERFEROMETRIC MEASURING METHOD FOR MOVING SPEED OF OBJECT例文帳に追加

干渉計、手術用顕微鏡、および対象物の運動速度の干渉測定法 - 特許庁

OBSERVATION METHOD FOR FINE THREE-DIMENSIONAL SHAPE ON SURFACE OF SAMPLE USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いた試料表面の微細立体形状の観察法 - 特許庁

To provide a laser scanning microscope capable of acquiring sample images of high image quality.例文帳に追加

高画質の標本画像を取得することができるレーザ走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING RESIST PATTERN, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE TYPE DIMENSION MEASURING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

レジストパターン測定方法、走査電子顕微鏡型測長装置及び半導体装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING DIMENSION OF CIRCUIT PATTERN BY USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いた回路パターンの寸法計測装置およびその方法 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope having improved operability for adjustment of an alignment coil.例文帳に追加

アライメントコイルの調整の操作性を向上させた走査電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

DICING SAW AND METHOD FOR PREPARING SAMPLE PIECE FOR ELECTRONIC MICROSCOPE OBSERVATION USING IT例文帳に追加

ダイシング装置およびそれを用いた電子顕微鏡観察用試料片の作成方法 - 特許庁

METHOD OF DETERMINING PROCESSING POSITION IN CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS, AND INFRARED MICROSCOPE USED IN IT例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置での加工位置決め方法及びそれに用いる赤外顕微鏡 - 特許庁

ANIMATION FUNCTION USING THREE-DIMENSIONAL COMPUTER GRAPHICS ON SCANNING ELECTRON MICROSCOPE OR SIMILAR EQUIPMENT例文帳に追加

走査形電子顕微鏡あるいは類似装置における三次元ＣＧ（ＣｏｍｐｕｔｅｒＧｒａｐｈｉｃｓ）を用いたアニメーション機能 - 特許庁

MEANS FOR ADJUSTING QUANTITY OF LIGHT OF A PLURALITY OF LASER LIGHT SOURCES, AND LASER MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

複数のレーザー光源の光量調整手段及びそれを用いるレーザー顕微鏡 - 特許庁