「microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(80ページ目) - Weblio英語例文検索

The pitch-based carbon short fiber filler has >10 to ≤40 μm average fiber diameter (L1) observed under an optical microscope, a closed graphene sheet in observation of a filler end face under a transmission type electron microscope, and a substantially flat surface observed under a scanning electron microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡で観測した平均繊維長（Ｌ１）が１０μｍ以上４０μｍ以下であって、透過型電子顕微鏡によるフィラー端面観察においてグラフェンシートが閉じており、走査型電子顕微鏡での観察表面が実質的に平坦であるピッチ系炭素短繊維フィラー。 - 特許庁

The fixing device having a clamp device for holding the microscope holder at a selected position and for fixing the microscope holder on the carrier device has lock devices (115, 215, 315 and 415) for additionally fixing the microscope holder on the carrier device.例文帳に追加

顕微鏡ホルダを選択された位置に保持するためのクランプ装置を有すると共に担持装置に顕微鏡ホルダを固定するための固定装置において、前記顕微鏡ホルダを前記担持装置に付加的に固定するためのロック装置（１１５、２１５、３１５、４１５）を有することを特徴とする。 - 特許庁

In the microscope observation apparatus provided with a probe microscope having a relatively high magnification optical system and a stereomicroscope having a low magnification optical system, such a constitution that an optical axis L1 of the probe microscope is arranged between two optical axes L2, L3 of the stereomicroscope is adopted.例文帳に追加

相対的に高倍率の光学系を有するプローブ型顕微鏡と低倍率の光学系を有する実体顕微鏡とを備える顕微鏡観察装置において、前記プローブ型顕微鏡の光軸Ｌ１を、実体顕微鏡の２つの光軸Ｌ２，Ｌ３間に配置する構成を採用した。 - 特許庁

To provide a focus controller which is applicable to a digital image type microscope, in particular a confocal microscope, and can apply a digital image forming method only by slightly adding an adjusting operation and, the application of which to defocusing is limited to the range of about 5 to 8×λ/NA^2 in the confocal microscope.例文帳に追加

デジタル画像式顕微鏡、それも特に共焦点顕微鏡に使用でき、僅かな調整操作を加えるだけでデジタル式画像形成法が適用することができ、共焦点顕微鏡では、デフォーカシングへの適用が約５〜８×λ／ＮＡ^２の範囲に限定されるフォーカス制御装置 - 特許庁

To provide a scanning type probe microscope for stabilizing the measurement of a force gradient and a displacement current, for example, in an atomic force microscope for improving accuracy, and at the same time to provide a high-density information-reproducing apparatus using the configuration of the scanning-type probe microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡などにおける力勾配の測定と変位電流の測定を安定させ、精度を高めることを可能にする走査型プローブ顕微鏡を提供するとともに、この走査型プローブ顕微鏡の構成を用いた高密度の情報再生装置を提供する。 - 特許庁

In an electronic microscope 5 for observing the defects detected by an optical defect inspection apparatus or an optical visual inspection apparatus, an optical microscope 14 for redetecting defects is mounted thereupon and a distribution filter is inserted in its pupil surface, when the optical microscope 14 is used to observe dark field.例文帳に追加

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡5において、欠陥を再検出する光学顕微鏡14を搭載し、この光学顕微鏡14で暗視野観察する際に瞳面に分布フィルタを挿入する構成とする。 - 特許庁

To facilitate a focusing operation for an optical microscope or the like onto a sample surface or a backface of a cantilever, to allow automatic focusing by a simple method, and to make a focusing method suitable for automatic measurement, in a scanning type probe microscope compounded with the optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡等が複合された走査型プローブ顕微鏡で、試料表面やカンチレバーの背面への光学顕微鏡等の焦点合せ操作を容易に行え、簡易な方法で自動的な焦点合せを可能とし、測定の自動化に適した焦点合せ方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface shape measuring device capable of performing proper measurement to a measuring object having a large aspect ratio (height/width or height), especially a probe microscope such as an atomic force microscope or a magnetic force microscope which is a high-resolution surface shape measuring device.例文帳に追加

アスペクト比（高さ／幅又は高さ）が大きい測定対象に対し、適切な測定ができる表面形状測定装置を提供するもので、特に、高分解能な表面形状測定装置である原子間力顕微鏡や磁気力顕微鏡などのプローブ顕微鏡の提供を目的とする。 - 特許庁

The pitch-based carbon short fiber filler has a mean fiber length (L1) of 40 μm or more but less than 80 μm observed with an optical microscope, a closed graphene sheet by filler end face observation with a transmission electron microscope, and a substantially flat surface observed with a scanning electron microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡で観測した平均繊維長（Ｌ１）が４０μｍ以上８０μｍ未満であって、透過型電子顕微鏡によるフィラー端面観察においてグラフェンシートが閉じており、走査型電子顕微鏡での観察表面が実質的に平坦であるピッチ系炭素短繊維フィラー。 - 特許庁

To provide a microscope which reduces an image blurring arising from the deformation of the microscope by various kinds of the heat propagating to the microscopic body, such as a heat from generating sources varying with respective observation methods, a heat from environmental temperature, etc., maintains the stability of the stage of the microscope and has a simple and inexpensive constitution.例文帳に追加

各観察法により異なる発生源をもつ熱や、環境温度からの熱等の、顕微鏡本体に伝搬する各々の熱による顕微鏡の変形から生ずる像ボケを軽減し、かつ顕微鏡のステージの安定度を維持し、また簡易で安価な構成の顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The image forming lens system 6 is fixed relative to the objective lens system 2, then, the observation position of the microscope is hardly deviated, and also, the microscope is provided with plural relay optical systems whose power are different from each other and also provided with the switching mechanisms for switching the relay systems, then, the power of the microscope is varied.例文帳に追加

対物レンズ系２に対して結像レンズ系６が相対的に固定されているので、顕微鏡の観察位置がずれにくく、また、互いに倍率の異なる複数のリレー光学系を備え、それらを切り替える切替機構を備えるので、顕微鏡の倍率を変更することができる。 - 特許庁

The surface of the sample is shaven off by ion milling and the scanning image by the scanning electron microscope is observed while the surface of the sample is removed by chemical etching and the scanning image by the scanning electron microscope is again observed to prepare the sample for the scanning electron microscope.例文帳に追加

イオンミリングによって試料の表面を削り取り、走査電子顕微鏡による走査像を観察し、ケミカルエッチングによって試料の表面を除去し、再度、走査電子顕微鏡による走査像を観察することによって、走査顕微鏡用の試料を作製する。 - 特許庁

To provide an optical axis correcting method for a microscope, capable of automatically measuring a shift amount of an optical axis between magnifications in a microscope having a zoom lens, and automatically correcting the position of an imaged object in each magnification of the microscope according to the measured shift amount of the optical axis.例文帳に追加

ズームレンズを備える顕微鏡における倍率間の光軸のずれ量を自動的に測定し、測定された光軸のずれ量に基づいて顕微鏡の各倍率における被撮像物の位置を自動的に補正することができるような顕微鏡の光軸補正方法を提供する - 特許庁

The microscope stage drive mechanism is provided with; an inner drive shaft having a plunger head; an outer drive shaft which is arranged coaxially with the inner drive shaft and has a pinion; and a means for freely detachably fixing the microscope stage drive mechanism to the microscope stage.例文帳に追加

そして、プランジャ・ヘッドを有する内側駆動軸；該内側駆動軸について、共軸状に配置された外側駆動軸、ここに該外側駆動軸がピニオンを有する；および、該顕微鏡ステージ駆動機構を顕微鏡ステージに脱着自在に固定する手段；以上の要素を備える顕微鏡ステージ駆動機構。 - 特許庁

To enable a microscope or its stand to be used also for room illumination or illumination for the microscope or its stand (except for an area to be viewed through the microscope) and, optionally, for light for other information purposes by universally using the microscope or its stand and implementing at least one additional light source besides a light source provided for an object field illumination.例文帳に追加

顕微鏡或いはそのスタンドを汎用的に使用し、対象域照明用の光源の他に追加的な少なくとも１つの光源を実装することにより、顕微鏡或いはそのスタンドを、室内照明又は顕微鏡或いはそのスタンドの照明（顕微鏡による観察領域を除く）のためにも、場合により別の情報目的用の光のためにも利用可能とする。 - 特許庁

To provide a rack for microscope which easily gives necessary supporting force when a column is held at a desired tilted position, and to provide a microscope equipped with the rack, further to provide a rack for microscope in which tilting operation of the column is easily performed with small force, and to provide a microscope equipped with the rack.例文帳に追加

支柱を所望傾倒位置に保持する際、必要な保持力を容易に確保することが可能な顕微鏡用架台及びその架台を備えた顕微鏡を提供することを目的とし、更に、前記支柱の傾倒操作に際し、小さな力で容易に傾倒操作することが可能な顕微鏡用架台及びその架台を備えた顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a test piece carrier for a transmission type electron microscope and its manufacturing method, a test piece for the transmission type electron microscope and its manufacturing method, as well as observation and crystal structure analysis methods using the test piece for the transmission type electron microscope, wherein observation using the transmission type electron microscope can obtain observation data of an object to be observed in various directions.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡を用いた観測により、種々の方向における観測対象物の観測データを取得することが可能な、透過型電子顕微鏡用試料保持体およびその製造方法、透過型電子顕微鏡用試料およびその製造方法、並びに、透過型電子顕微鏡用試料を用いた観測方法および結晶構造解析方法を提供する。 - 特許庁

To enable using of a plurality of scanners having different characteristics in one laser scanning microscope.例文帳に追加

１台の走査型顕微鏡において、特性の異なった複数のスキャナを使用可能とする。 - 特許庁

To provide a culture microscope apparatus which causes less temperature changes in an installation environment and is easily cleaned.例文帳に追加

設置環境の温度変化が少なく、洗浄が容易な培養顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide an arrangement for catching lighting beam in a laser scanning microscope and to provide a method using the arrangement.例文帳に追加

レーザ走査型顕微鏡における照明光線捕捉のための配置およびその方法 - 特許庁

A photo cutting microscope 2 for observing the surface of the workpiece is disposed at a prescribed position along the line.例文帳に追加

ラインに沿った所定の位置に、ワーク表面を観察する光切断顕微鏡２を配置する。 - 特許庁

This fluorescence microscope has a light source for emitting the excitation light, a stage to be mounted with the sample and a turret section 3.例文帳に追加

励起光を出射する光源と、試料を搭載するステージと、ターレット部３とを有する。 - 特許庁

A reference mark BM is provided on the entrance part 24b of the mask mark detection microscope 24.例文帳に追加

また、基準マークＢＭをマスクマーク検出顕微鏡２４の光入射部２４ｂに配置する。 - 特許庁

To provide an illumination device for microscope, which can easily adapt to different working distances.例文帳に追加

種々異なる作動距離に簡単に適合できる顕微鏡用照明装置を提供する。 - 特許庁

To enable a user to easily photograph a good microscope observation image by fewer operations.例文帳に追加

簡単に、かつ少ない操作で、良質な顕微鏡の観察画像を撮影することを可能とする。 - 特許庁

To provide a confocal microscope capable of correcting uneven brightness of an image at high speed.例文帳に追加

画像の明るさムラの補正を高速に行うことが可能な共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To realize a confocal microscope capable of high-accurately detecting a sample surface at a high speed.例文帳に追加

試料表面を高速・高精度で検出することが可能な共焦点顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide a new microscope capable of three-dimensional observation of the sample state.例文帳に追加

試料の状態を３次元的に観測することが可能な新規な顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Then, a working position of the sample is determined by using the optical microscope whose position is adjusted.例文帳に追加

その後、位置調整が行われた光学顕微鏡が用いられて試料加工位置が決められる。 - 特許庁

The low contact resistance is realized by controlling a position of the probe by an atomic force microscope method.例文帳に追加

また、原子間力顕微鏡法により探針位置を制御して、低接触抵抗を実現する。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope which is capable of correcting image deviation and makes it possible to obtain proper images.例文帳に追加

画像ずれを補正でき良好な画像を得られる走査型レーザ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The shield cover 51 is arranged so as to cover a sample 53 placed on a stage 12 of the microscope.例文帳に追加

遮蔽カバー５１は、顕微鏡のステージ１２上の標本５３を覆うように設置される。 - 特許庁

To improve versatility of a microscope having a body which can be attached and removed to and from a support stage.例文帳に追加

本体部が支持台に対して着脱可能な顕微鏡の汎用性を向上させる。 - 特許庁

To prevent a misstep caused as the result of a judgment by a naked eye and a microscope magnification.例文帳に追加

肉眼や顕微鏡拡大による判断で発生し得る間違いをあらかじめ防止する。 - 特許庁

TRANSMITTED LIGHT BASE FOR MICROSCOPE AND METHOD FOR CONTROLLING ILLUMINATION INTENSITY OF TRANSMITTED LIGHT BASE例文帳に追加

顕微鏡用の透過光ベースおよび透過光ベースの照明強度を制御するための方法 - 特許庁

OBJECT STATE DETECTING DEVICE, INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE AND LIGHT DISK DEVICE USED THEREOF例文帳に追加

物体の状態検出装置、並びにそれを利用した原子間力顕微鏡、及び光ディスク装置 - 特許庁

To provide a video type microscope for surgery which prevents a housing from touching the body of a patient.例文帳に追加

被術者の身体にハウジングが当たることのない手術用ビデオ型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To enable to easily and correctly measure the length of a testpiece from its image on a transmission electron microscope.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡の画像上で試料の長さを簡単かつ正確に測定する。 - 特許庁

To provide a scanning microscope free from image quality deterioration and to obtain a excellent scanned image.例文帳に追加

本発明は、画質劣化のない良質な走査画像が得られる走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of observing samples in various stress states.例文帳に追加

様々な応力状態にある試料の観察が可能な走査型プローブ顕微鏡の提供。 - 特許庁

To provide a confocal microscope apparatus which facilitates an adjustment job when obtaining a confocal image, and is reduced in size.例文帳に追加

共焦点画像を得る際の調整作業を容易にし、かつ装置を小型化すること - 特許庁

ELECTRON SOURCE HAVING CARBON NANOTUBE, ELECTRON MICROSCOPE USING IT, AND ELECTRON BEAM DRAWING DEVICE例文帳に追加

カーボンナノチューブを有する電子源とそれを用いた電子顕微鏡および電子線描画装置 - 特許庁

ARRANGEMENT FOR ADJUSTING LASER OUTPUT AND/OR PULSE WIDTH OF SHORT-PULSE LASER IN MICROSCOPE例文帳に追加

顕微鏡における短パルスレーザーのレーザー出力および／またはパルス幅調整のための配置 - 特許庁

To reduce the size and weight of a microscope body while guiding the image of a specimen to a position easy to view.例文帳に追加

顕微鏡本体の小型軽量化を図りつつ、覗きやすい位置に標本の像を導く。 - 特許庁

To provide a stage device, capable of being used suitably for a TIS measurement of an alignment microscope.例文帳に追加

アライメント顕微鏡のＴＩＳ計測に好適に用いることができるステージ装置を提供する。 - 特許庁