「microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(84ページ目) - Weblio英語例文検索

The new microscope surpasses conventional instruments in image resolution and analytical functions. 例文帳に追加

新型顕微鏡は、像分解能と分析機能において従来(通常)の装置より勝っている。 - 科学技術論文動詞集

The wave-optical theory of electron microscope images can be expressed in terms of a two-stage Fourier transform. 例文帳に追加

電子顕微鏡像の波動光学理論は、2段階のフーリエ変換で表わすことができる。 - 科学技術論文動詞集

Many parts in the microscope column, for example lens apertures, are rapidly contaminated by hydrocarbons. 例文帳に追加

顕微鏡の中の多くのパーツ、例えばレンズ絞りは、炭化水素によって急速に汚染される。 - 科学技術論文動詞集

This Cs corrector is located between the objective and first intermediate lenses in the microscope column. 例文帳に追加

このCsコレクタは、その顕微鏡の鏡筒の対物レンズと第1中間レンズの間に置かれている。 - 科学技術論文動詞集

These particles were assembled on a straight line using an atomic force microscope (AFM) in the contact mode. 例文帳に追加

これらの粒子は、原子間力顕微鏡(AFM)を使ったコンタクトモードで、一直線上に集められた。 - 科学技術論文動詞集

A microscope 132 for mark detection obtains the image of the mark 14 of the mask 10.例文帳に追加

マーク検出用顕微鏡１３２は、マスク１０のマスク識別マーク１４の画像を取得する。 - 特許庁

In 1988, Osumi observed autophagy in yeast cells under a light microscope for the first time ever.例文帳に追加

1988年，大隅氏は酵母細胞内でのオートファジーを光学顕微鏡で史上初めて観察した。 - 浜島書店 Catch a Wave

The metal foreign matter is observed in an appearance color close to black by polarized light observation of a stereoscopic microscope or a metallurgical microscope and the internal pore and cut are observed in an appearance color close to white.例文帳に追加

金属異物は実体顕微鏡あるいは金属顕微鏡の偏向観察等で黒色に近い外観色にて観察され、また内部ポアおよびキレは白色に近い外観色にて観察される。 - 特許庁

To stably displace the focal position of an optical microscope under an optical microscope at a high speed without causing overshooting and vibration.例文帳に追加

光学顕微鏡下において、その焦点位置をオーバーシュートや振動を起こすことなく高速、かつ、安定に変位させることを可能にする顕微鏡ステージ、および焦点位置計測装置・システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a polarization correction optical system that corrects changes in a polarization state caused by an optical system constituting a microscope device, and to provide a microscope device equipped with the polarization correction optical system.例文帳に追加

顕微鏡装置を構成する光学系により生じる偏光状態の変化を補正する偏光補正光学系及びこの偏光補正光学系を備える顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope device for transmission type bright-field observation which can obtain an image of a non-transmission label together with a microscope image without providing any optical system for reflection lighting.例文帳に追加

反射照明用の光学系を設けなくとも、顕微鏡画像と共に非透過性ラベルの画像を取得することのできる透過型明視野観察用の顕微鏡装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A plurality of first reflection surfaces (17,17a) and a plurality of second reflection surfaces (16,16a) respectively facing the first reflection surfaces and also arranged in an optical path of the microscope are arranged in between the microscope and the minute flow field.例文帳に追加

複数の第１反射面(17,17a)と、第１反射面の各々に対面し且つ顕微鏡の光路に配置された複数の第２反射面(16,16a)とが顕微鏡と微小流動場との間に配置される。 - 特許庁

To provide: a microscope having a cornice light shielding member to which mutual walls of the light shielding member contact when being contracted and which is not distorted awfully due to shifting of a bent portion; and a microscope lens barrel.例文帳に追加

縮めた場合に遮光部材の相互の壁が接し、屈曲部の位置がずれて醜く歪むことのない蛇腹形式の遮光部材を有する顕微鏡および顕微鏡鏡筒を提供する。 - 特許庁

The rack for microscope freely turnably supports the supporting column on which an optical system unit is mounted around a supporting axis and holds the column in a desired tilted position, and the microscope is equipped with the rack.例文帳に追加

光学系ユニットを設ける支柱を支持軸の廻りに回動自在に支持すると共に、所望の位置に傾倒させた状態で保持する顕微鏡用架台及びその架台を備えた顕微鏡。 - 特許庁

To provide a digital protractor to be built in a measuring microscope that can take measures for reducing power consumption and enhance the degree of freedom in design of the measuring microscope.例文帳に追加

測定顕微鏡に組み込まれるデジタルプロトラクターにおいて、消費電力低減対策をとることができ、測定顕微鏡の設計の自由度を上げることができるデジタルプロトラクターを提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope system for surgery operation which displays an observation image that an operator desires as a microscopic observation image by properly controlling the image displayed in a microscope visual field.例文帳に追加

顕微鏡視野内に表示させる画像を適宜制御することにより、顕微鏡観察像に術者の所望する観察画像が表示される手術用顕微鏡システムを提供すること。 - 特許庁

Furthermore, it is equipped with moving means 21 to 25 moving the incident optical axis O2 on the microscope for the assistant 3 in a direction nearly orthogonal to the incident optical axis O1 of the master side microscope 2.例文帳に追加

さらに、助手用顕微鏡３への入射光軸Ｏ２を主側顕微鏡２の入射光軸Ｏ１に対して略直交する方向に移動させる移動手段２１−２５を備えている。 - 特許庁

To provide a method of preparing a sample for direct observation of an iron oxide reduction in a transmission electron microscope capable of analyzing on the spot a reduction process of an iron oxide simply in the transmission electron microscope.例文帳に追加

透過電子顕微鏡内で簡便に酸化鉄の還元過程をその場解析できるような酸化鉄還元透過電子顕微鏡内直接観察用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a polarization microscope type crystal orientation analysis apparatus in which analysis is easily performed even in a state that a temperature load is applied on a sample, and to provide a polarization microscope type crystal orientation analysis method.例文帳に追加

試料へ温度負荷を印加した状態でも容易に解析可能な偏光顕微鏡型の結晶方位解析装置および偏光顕微鏡方式の結晶方位解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope control device capable of controlling the intensity and/or acceleration voltage of an electron beam applied to a sample to a low value and enabling acquisition of an electron microscope image having a high S/N ratio.例文帳に追加

試料に対して照射する電子ビームの強度や加速電圧を低く抑え、かつ高いＳ／Ｎの電子顕微鏡画像を得ることを可能とする電子顕微鏡制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide a focusing unit that can vary the moving speed and movement quantity of a focusing part over wide ranges by operating the focusing handle of a microscope, and the microscope equipped with the same.例文帳に追加

顕微鏡の焦準ハンドルを操作することによって、焦準部の移動速度や移動量を広い範囲で変化させることができる焦準装置およびそれを備えた顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a compound scanning probe microscope, capable of accurately displaying a positional relation between the visual field of the objective lens of an optical microscope and the cantilever of an SPM unit, and to provide a method for displaying the position of the cantilever.例文帳に追加

光学顕微鏡の対物レンズの視野とＳＰＭユニットのカンチレバーとの位置関係を正確に表示できる複合型走査プローブ顕微鏡及びそのカンチレバー位置表示方法を提供する。 - 特許庁

To provide an illuminator for a microscope having a function equivalent to that of an aperture diaphragm provided in the conventional illuminator for a microscope by solving a problem caused by changing the conventional illuminator to an illuminator whose surface light source is arranged just under a sample.例文帳に追加

本発明は、従来型の顕微鏡用照明装置を、面光源が試料の直下に配置する照明装置に変更することによって引き起こる問題を解決することを課題とする。 - 特許庁

The total reflection microscope is equipped with an inverted microscope, a total reflection illumination optical system for total reflection illumination, the stage cover constituted of a fixed cover 124 and an attachable/detachable cover 125, and an auxiliary illumination part.例文帳に追加

全反射顕微鏡は、倒立顕微鏡と、全反射照明のための全反射照明光学系と、固定カバー１２４と着脱カバー１２５からなるステージカバーと、補助照明部とを備えている。 - 特許庁

To provide a sample fixing table allowing the location of a foreign substance to be rapidly and efficiently identified within an electron microscope image; an electron microscope equipped with it; and a position identifying method of the foreign substance.例文帳に追加

異物の場所を電子顕微鏡画像の中で素早く、効率的に特定できる試料固定台及びそれを備えた電子顕微鏡、並びに、その異物の位置特定方法を提供する。 - 特許庁

This slide glass-fluid chip 10 holds an observation object in the microscope, and fixes it onto the stage S, by providing sucking parts 13, 14 allowing suction onto a stage plane of the microscope.例文帳に追加

このスライドガラス・流体チップ１０は、顕微鏡の観察対象物を保持し、顕微鏡のステージ平面に対し吸着可能な吸着部１３，１４を設けることでステージＳに固定可能である。 - 特許庁

The body fluid is blood or sputum, and a Raman spectroscopic microscope or a transmission electron microscope is used for a detection method to detect the particles accumulated on the phagocytes.例文帳に追加

上記体液は血液または喀痰であることを特徴とし、検出方法はラマン分光顕微鏡や透過型電子顕微鏡を用いて、該食細胞に蓄積した上記粒子を検出する。 - 特許庁

Even if the main body base 1 thermally deforms or flexes, the detection position of the photoelectron microscope 4 and the fixed reflector 21 are displaced by the same quantity to cancel a detection error of the photoelectron microscope 4.例文帳に追加

本体ベース１の熱変形やたわみが生じても、光電顕微鏡４の検出位置と固定反射鏡２１が等量だけ変位し、光電顕微鏡４の検出誤差を相殺できる。 - 特許庁

To provide a heterodyne beat probe scanning probe tunnel microscope capable of easily and unfailingly detecting a weak RF signal, and a method of specifying a heterodyne beat signal by the scanning probe tunnel microscope.例文帳に追加

微小なＲＦ信号検出を容易かつ確実に行うことのできるヘテロダインビートプローブ走査プローブ顕微鏡、更にはこの走査プローブ顕微鏡によるへテロダインビート信号の特定方法を提供する。 - 特許庁

To observe a contact point with an observed sample satisfactorily with a scanning electron microscope by using a contact substance in a reaction container to come in contact with the observed sample in the scanning microscope.例文帳に追加

本発明は、走査顕微鏡内で反応容器の接触物質を用いて被観察試料と接触させ、その接触場所を走査電子顕微鏡で良好に観察することを課題とする。 - 特許庁

To provide an optical device for a microscope, a measuring microscope and an image measuring machine, capable of observing easily an inner wall of a cylindrical member, without requiring a special lighting system.例文帳に追加

特別な照明装置を必要とすることなく、筒状部材の内壁の観察を簡易に行うことができる顕微鏡の光学装置、測定顕微鏡、および画像測定機を提供すること。 - 特許庁

Consequently, a contrast transfer function of the TEM according to the present invention is considered to be equal to that of a single-sideband microscope at low frequencies and that of a normal microscope at high frequencies.例文帳に追加

結果として、この発明に従ったＴＥＭのコントラスト伝達関数は、低い周波数でシングルサイドバンドの顕微鏡のもの及び高い周波数については正常な顕微鏡のものに等しいことになる。 - 特許庁

To provide a microscope for adding luminance data detected by a multi-channel optical detector and displaying the addition result, the microscope which is configured such that the fluorescence emitted from a specimen can be observed with accurate intensity.例文帳に追加

多チャネル光検出器により検出した輝度データを合算して表示する顕微鏡において、標本から発せられた蛍光を正確な強度で観察することのできる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope system which makes it easy to confirm the position of an inserted endoscope and also makes the orientation of the endoscope in a microscope image for an surgical operation easy to know.例文帳に追加

挿入した内視鏡の位置を容易に確認することができ、手術用顕微鏡観察像における内視鏡のオリエンテーションをわかりやすくすることが可能な顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

A communication means 50 is provided to communicate between an endoscope controller 5 which controls the movement of endoscope equipment 2 and a microscope controller 32 which controls the movement of microscope equipment 3.例文帳に追加

内視鏡装置２の動作を制御する内視鏡コントローラ５と、顕微鏡装置３の動作を制御する顕微鏡コントローラ３２との間で通信を行う通信手段５０を設けたものである。 - 特許庁

The optical system of the microscope is provided with a reflection mirror which is arranged in the optical system between the objective lens of the microscope and the observation image and changes the direction of an optical path by reflection.例文帳に追加

本発明の顕微鏡の光学系は、顕微鏡における対物レンズと、観察像との間の光学系内に設置され、反射により光路の方向を変更する反射用ミラーを有する。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus for a microscope capable of accurately performing time-lapse photography at optional photographing intervals without requiring addition of hardware and special hardware processing, and to provide an imaging method for a microscope and a program therefor.例文帳に追加

ハードウェアの追加や特別なハードウェア処理を必要とせず、任意の撮影間隔で精度よくタイムラプス撮影できる顕微鏡撮像装置と顕微鏡撮像方法およびそのプログラムを提供する。 - 特許庁

Furthermore, because the optical microscope 15 is out of a vacuum chamber, when an ion etching process of the sample 6 is carried out, no stain caused by particles dispersed from the sample in the ion etching process is formed on a lens of the optical microscope 15.例文帳に追加

また、試料６のイオンエッチングの際には光学顕微鏡１５が真空チャンバ外にあるので、イオンエッチングによって試料から飛散した粒子で光学顕微鏡１５のレンズが汚れることはない。 - 特許庁

Since the microscope has the vacuum region using the removal sample holder, the volume of air requiring evacuation before imaging is reduced remarkably, and the microscope can be evacuated rapidly.例文帳に追加

取外し可能なサンプルホルダを用いて真空を含むことによって、撮像の前に真空排気を必要とする空気の容積が著しく低減され、顕微鏡を迅速に真空排気することができる。 - 特許庁

This evaluating device is equipped with a 1st microscope 21A having a laser light source with wavelength causing an OBIC phenomenon and a 2nd microscope 21B having a laser light source with wavelength causing no OBIC phenomenon.例文帳に追加

ＯＢＩＣ現象が発生する波長のレーザ光源を備えた第１マイクロスコープ２１Ａと，ＯＢＩＣ現象が発生しない波長のレーザ光源を備えた第２マイクロスコープ２１Ｂを備える。 - 特許庁

A band filter 27 for intercepting illumination light from an optical microscope is placed between the scintillator 21 and the incident side surface 23a of the photomultiplier 23, thereby it is possible to perform simultaneous observation with the optical microscope.例文帳に追加

シンチレーター２１とフォトマルチプライヤー２３の入射側面２３ａとの間には、光学顕微鏡の照明光を遮断するバンドフィルター２７を配置し、光学顕微鏡との同時観察を可能とする。 - 特許庁

To elongate life of and improve electrooptic performance of a thermionic cathode for a device using electron beams such as a lithography device, a scanning electron microscope (SEM), and a transmission electron microscope (TEM).例文帳に追加

リソグラフィ装置、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）、透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）などの電子ビーム利用装置のための熱陰極の寿命を延ばすとともに電子光学的性能を改善する。 - 特許庁

To provide a scan type laser microscope apparatus capable of improving the degree of freedom in terms of the wavelength selectivity of laser light while attaining the miniaturization of an illuminating apparatus, and to provide a microscope illumination apparatus.例文帳に追加

照明装置の小型化を図りながら、レーザ光の波長選択性の自由度を向上させることのできる走査型レーザ顕微鏡装置及び顕微鏡用照明装置を提供すること。 - 特許庁

In the case that the digital camera 31 is used at an eyepiece lens section 34 of the microscope 32, the digital camera 31 is mounted on the eyepiece lens section 34 of the microscope 32 via the optical adaptor 1.例文帳に追加

ディジタルカメラ３１を顕微鏡３２の接眼レンズ部３４側で使用するような場合には、光学アダプタ１を介してディジタルカメラ３１を顕微鏡３２の接眼レンズ部３４に取り付ける。 - 特許庁

To establish a method for analyzing a distribution condition of a material inside a capsule by means of an electron microscope by preparing an observation sample observable by the electron microscope from a sample containing the capsule.例文帳に追加

カプセルを含む試料から、電子顕微鏡による観察が可能な観察用試料を作製することにより、カプセル内の材料の分布状態を電子顕微鏡により解析する方法を確立する。 - 特許庁